Toruń, dn.16.12.2005r.
Paweł Olszowy
ZADANIE 8
Badanie charakterystyki prądowo-napięciowej dla pastylek z polimeru przewodzącego w układzie struktur barierowych
Au-SP-Au i Al.-SP-Al.
Podstawy teoretyczne zadania:
Jednobarierowe struktury metal - półprzewodnik są znane i często wykorzystywane od bardzo dawna, jednak w ostatnich latach coraz szersze uznanie znalazły struktury dwubarierowe metal - półprzewodnik - metal. Struktury dwubarierowe zbudowane są z dwóch diod połączonych w układzie „back to back”. Schemat struktury dwubarierowej przedstawia poniższy schemat:
Złącza A i B są wykonane najczęściej, choć nie zawsze, z tego samego metalu. Metal ten „napyla” się na warstwę półprzewodnika najczęściej metodą PhVD (Physical Vapour Deposition). Metoda ta ze względu na temperaturę, która panuje w układzie podczas jej przebiegu, nazywana jest metodą zimnego nakładania. Poza metodą PhVD cienkie warstwy metali można także nanosić na warstwę półprzewodnika, lub innego ciała stałego, metodą CVD (Chemical Vapour Deposition), MOCVD (Metalorganic Chemical Vapour Deposition) oraz metodą „zol - żel”.
Rodzaj zastosowanego metalu nie jest przypadkowy. Zazwyczaj przy doborze metalu, który ma służyć jako bariera półprzewodnika, kierujemy się wartością pracy wyjścia elektronu oraz oczywiście ceną metalu. Ze względu na olbrzymią wartość pracy wyjścia elektronu, złoto najczęściej jest stosowane jako materiał barierowy. Ze względu na wysoką pracę wyjścia, warstwą złota pokrywa się również elektrody. Pokrycie elektrody warstwą złota zapobiega „pompowaniu” elektronów do substancji badanej, a więc nie powoduje przekłamań dokonywanych pomiarów.
Zastosowanie różnych metali, o różnej pracy wyjścia elektronu, powoduje powstawanie różnych wysokości bariery na złączu metal - przewodnik. Jeżeli na obu złączach zastosujemy identyczne metale, wówczas wysokości barier na złączach są jednakowe a układ M-SP-M jest symetryczny. Jeżeli zastosujemy różne metale na złączach, to otrzymamy układ niesymetryczny. Istotnym czynnikiem, wpływającym również na własności elektryczne układu M-SP-M, jest także grubość warstwy półprzewodnikowej (d). Jeżeli warstwa półprzewodnika jest stosunkowo gruba (~0,1cm), to układ jest równoważny dwu niezależnym złączom metal - półprzewodnik połączonym szeregowo. Po przyłożeniu napięcia jedno złącze będzie spolaryzowane zaporowo, natomiast drugie przewodząco. Przy niezbyt wysokim przyłożonym napięciu (<50V), transport nośników prądu jest wynikiem emisji ponadbarierowej.
Charakter zależności I = f(V) pozwala stwierdzić zgodność jej przebiegu z prawem Ohma. Jeżeli wykreślona zależność ma charakter prostoliniowy, wówczas w badanym układzie jest spełnione prawo Ohma. Jeżeli charakter zależności jest inny od prostoliniowego, to złącze ma charakter prostowniczy. Pozwala to wyznaczyć wysokość bariery na złączu metal - półprzewodnik. Do tego celu można posłużyć się poniższą zależnością:
dla
Gdzie:
q - ładunek elementarny;
I - gęstość prądu;
V - napięcie prądu;
A - stała Richardsona;
IS - prąd nasycenia.
Wielkość nkT/q wyznacza się z nachylenia prostej przedstawiającej zależność lnI od V w kierunku przewodzenia, otrzymanej przez logarytmowanie powyższego pierwszego równania. Wartość prądu nasycenia wyznacza się ekstrapolując prostą do napięcia V=0. Znając IS oraz A, wysokość bariery
można obliczyć z bezpośrednio wielkości prądu nasycenia. Jeżeli stała A nie jest znana, można ją wyznaczyć wyznaczając zależności I od V w różnych temperaturach, znajdując jednocześnie zależność IS od T. Przekształcając równanie drugie otrzymuje się zależność:
Odkładając na wykresie zależności lnIS/T2 jako 1/T, z nachylenia prostej uzyskujemy wielkość
, z której można wyliczyć
, a przecięcie z osią rzędnych pozwala wyznaczyć lnA, a więc określić stałą Richardsona A dla danego układu.
Literatura
Wojciech Czerwiński, Wpływ budowy wybranych polimerów przewodzących z niezdegenerowanym stanem podstawowym na ich strukturę elektronową i właściwości elektryczne, Wyd. UMK Toruń, Toruń 1994r.
John W. Nicholson, Chemia polimerów, Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa 1996r.
Peter William Atkins, Chemia fizyczna, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 2001.
II. Sposób wykonania ćwiczenia:
Półprzewodnik polimerowy w formie pastylki, z obustronnie naniesionymi elektrodami złotymi umieszczono pomiędzy stykami urządzenia do pomiaru zależności I - V. Następnie urządzenie to zanurzono w termostacie ustawionym na temperaturę 35°C. Po wytermostatowaniu próbki włączono amperomierz i zasilacz prądu stałego. Zmieniając doprowadzane napięcie rejestrowano, za pomocą amperomierza, prąd płynący przez układ Au-SP-Au. Pomiary wykonywano w zakresie napięć od 0-20V (w cyklu wzrost napięcia - obniżanie napięcia 0-20 i 20-0V). Badając zakres napięcia 0-2V, napięcie zmieniano co 0,2V.
III. Otrzymane wyniki:
Zestawienie otrzymanych wyników natężeń przy różnych wartościach przyłożonego napięcia.
L.p. |
Wzrost napięcia |
Spadek napięcia |
||
|
U [V] |
I [nA] |
U [V] |
I [nA] |
1 |
0,00 |
-0,2760 |
29,58 |
7,1400 |
2 |
0,18 |
-0,2178 |
28,63 |
6,9000 |
3 |
0,38 |
-0,1426 |
27,67 |
6,5210 |
4 |
0,56 |
-0,0921 |
26,72 |
6,1000 |
5 |
0,76 |
-0,0352 |
25,77 |
5,8110 |
6 |
0,95 |
-0,0023 |
24,81 |
5,5870 |
7 |
1,14 |
0,0220 |
23,85 |
5,1020 |
8 |
1,33 |
0,0704 |
22,90 |
4,8730 |
9 |
1,53 |
0,1317 |
21,93 |
4,5720 |
10 |
1,72 |
0,2211 |
20,98 |
4,2560 |
11 |
1,90 |
0,2630 |
20,02 |
3,9340 |
12 |
2,86 |
0,3436 |
19,07 |
3,6450 |
13 |
3,81 |
0,5947 |
18,12 |
3,3810 |
14 |
4,76 |
0,9866 |
17,16 |
3,0570 |
15 |
5,73 |
1,1881 |
16,27 |
2,8080 |
16 |
6,68 |
1,8880 |
15,25 |
2,5590 |
17 |
7,64 |
2,2610 |
14,34 |
2,5370 |
18 |
8,60 |
3,0420 |
13,39 |
2,1090 |
19 |
9,56 |
5,2780 |
12,44 |
1,8427 |
20 |
10,51 |
5,6120 |
11,47 |
1,5883 |
21 |
11,47 |
7,7560 |
10,52 |
1,3831 |
22 |
12,43 |
9,1110 |
9,56 |
1,1977 |
23 |
13,39 |
10,2660 |
8,60 |
1,0101 |
24 |
14,34 |
11,5310 |
7,64 |
0,8475 |
25 |
15,25 |
12,3470 |
6,68 |
0,6625 |
26 |
16,21 |
13,0300 |
5,73 |
0,5541 |
27 |
17,16 |
14,4490 |
4,76 |
0,4023 |
28 |
18,11 |
8,2710 |
3,81 |
0,2974 |
29 |
19,06 |
8,8470 |
2,86 |
0,1756 |
30 |
20,02 |
9,2010 |
1,90 |
0,0577 |
31 |
20,98 |
6,1730 |
1,71 |
0,0367 |
32 |
21,93 |
6,1270 |
1,52 |
0,0194 |
33 |
22,89 |
6,1540 |
1,33 |
0,0080 |
34 |
23,85 |
6,3840 |
1,14 |
-0,0120 |
35 |
24,81 |
6,9430 |
0,95 |
-0,0365 |
36 |
25,76 |
6,7840 |
0,76 |
-0,0549 |
37 |
26,71 |
6,6400 |
0,57 |
-0,0610 |
38 |
27,67 |
6,8030 |
0,31 |
-0,0794 |
39 |
28,63 |
6,8580 |
0,18 |
-0,0927 |
40 |
29,58 |
7,1400 |
0,00 |
-0,0956 |
Wartości zaznaczone zostały odrzucone ze względu na błąd jaki powodowały podczas wyznaczania równania prostej, tym samym zaniżały wartości współczynników korelacji i determinacji.
Wykreślenie zależności I=f(V) dla otrzymanych wartości.
Wyznaczenie równań prostych oraz współczynników korelacji (r) i determinacji (r2) dla rosnących i malejących napięć.
WZROST NAPIĘCIA
y = 0,2675x - 0,1751
r = 0,9932
r2 = 0,9864
SPADEK NAPIĘCIA
y = 0,2369x - 0,5483
r = 0,9866
r2 = 0,9734
Na podstawie wyznaczonych wartości współczynników korelacji i determinacji można stwierdzić, iż wykreślone zależności I=f(V) mają charakteer prostoliniowy. Pozwala to na przyjęcie założenia, iż spełnione jest prawo Ohma.
Skoro spełnione jest prawo Ohma można obliczyć wartość przewodnictwa, wyprowadzając wzór na nie z równania Ohma:
Gdzie:
R - opór przewodnika [Ω]
d - grubość pastylki [cm] d = 0,44 mm = 0,044 cm
V - napięcie [V]
S - przekrój elektrody [cm2]
S obliczamy z zależności:
==> S = π (0,3cm)2 = 0,2827 cm2
Obliczenie wartości przewodnictwa badanego półprzewodnika.
WZROST NAPIĘCIA
y = 0,2675x - 0,1751
I = 0,2675*V
0,2675 = σ * S/d = σ * 6,425
σ = 4,1634*10-2 [nS/cm]
σ = 4,1634*10-11 [S/cm]
SPADEK NAPIĘCIA
y = 0,2369x - 0,5483
I = 0,2369*V
0,2369 = σ * S/d = σ * 6,425
σ = 3,6872*10-2 [nS/cm]
σ = 3,6872*10-11 [S/cm]
Zestawienie wyników
Napięcie |
Wzrost |
Spadek |
σ [S/cm] |
4,1634*10-11 |
3,6872*10-11 |
Wnioski:
Na podstawie przeprowadzonego doświadczenia udowodniono, iż zależność napięcia od natężenia prądu ma charakter ohmowy. Charakteryzuje on się tym, iż wykreślona zależnosć I=f(V) ma charakter liniowy.
Na podstawie przeprowadzonego doświadczenia możliwe było wyznaczenie przewodnictwa badanego półprzewodnika. Przewodnictwo wyznaczone przy wzroście napięcia wynosi 4,1634*10-11 S/cm, natomiast przewodnictwo wyznaczone przy spadku napięcia wynosi 3,6872*10-11 S/cm. Różnica między wyznaczonymi wartościami przewodnictwa wynosi ~11%.
Przeprowadzając badanie zależności I - V w różnych temperaturach zaobserwowano by zależność wzrostu przewodnictwa wraz ze wzrostem temperatury. Zjawisko to jest charakterystyczne dla półprzewodników.
8