201 półprzewodniki i przewodniki, Politechnika Poznańska (PP), Fizyka, Labolatoria, fiza sprawka, elektromagnetyzm


Numer ćwiczenia

201

Data:

07.11.2013r.

Imię i Nazwisko

Ostrowski Krzysztof

Wydział:

Elektryczny

Semestr

I

Grupa 1

Nr lab. 5

Prowadzący

Dr Krzysztof Łaspa

Przygotowanie

Wykonanie

Ocena

Temat: Wyznaczanie zależności przewodnictwa od temperatury dla przewodników i półprzewodników.

  1. Podstawy teoretyczne.

Przewodnictwo elektryczne jest wielkością zależną od temperatury, przy czym różny jej wpływ obserwujemy dla przewodników i półprzewodników. Ma to swoje odzwierciedlenie w ogólnym prawie Ohma dla gęstości prądu, co wyrażamy zależnością:

0x01 graphic
.

Jak widzimy gęstość prądu j (czyli stosunek prądu do powierzchni przekroju) jest wprost proporcjonalna do natężenia pola elektrycznego E. σ, współczynnik proporcjonalności, to wielkość oznaczająca przewodnictwo elektryczne, które jest przedmiotem naszych badań.

Przewodnictwo elektryczne bezpośrednio zależy od koncentracji oraz od ruchliwości nośników ładunku w materiale. Koncentracja, to w zasadzie liczba danych nośników w jednostce objętości materiału przewodzącego, ruchliwość natomiast opisujemy jako stosunek prędkości unoszenia nośników do natężenia pola elektrycznego.

Poniższy wzór prezentuje zależność przewodnictwa od opisanych wyżej wielkości dla obu rodzajów nośników:

0x01 graphic
,

Koncentracja elektronów n i dziur p oraz ruchliwość elektronów μn i dziur μp zależą od temperatury i rodzaju materiału w przypadku półprzewodników. W przewodnikach (metalach), gdzie znaczenie mają tylko elektrony, koncentracja nośników jest bardzo duża, zatem o zależności temperaturowej przewodnictwa decyduje ruchliwość nośników.

Dla metali zwykło się mówić o oporze. W tym wypadku przewodnictwo elektryczne zmniejsza się wraz ze wzrostem temperatury, ponieważ zmniejsza się ruchliwość ładunków. Opór, jako wielkość proporcjonalna do odwrotności przewodnictwa (R~1/ σ), opisuje zależność:

0x01 graphic
,

gdzie R0 jest oporem w temperaturze T0, a α średnim współczynnikiem temperaturowym oporu. Należy przy tym zaznaczyć, że powyższy wzór można stosować dla niewielkiego zakresu zmienności temperatury, gdyż α również jest od niej zależny.

W półprzewodnikach, jak już wcześniej zostało powiedziane, koncentracja nośników jest zależna od temperatury, przy czym rozróżniamy ich dwa rodzaje - elektrony w paśmie przewodnictwa i dziury w paśmie walencyjnym. Liczba pierwszych odpowiada liczbie drugich w materiale, dlatego koncentracje dla obu są takie same (n = p). Rozróżniamy też typy półprzewodników - samoistne oraz domieszkowe typu n i typu p, z czego dwa pozostałe dla odpowiednio wysokiej temperatury stają się samoistnymi. Przewodzenie prądu elektrycznego polega na przechodzeniu elektronów na wyższy poziom energetyczny. W półprzewodnikach typu n przejście elektronów odbywa się z poziomów domieszkowych, tzw. donorowych do pasma przewodnictwa, a w półprzewodnikach typu p z pasma walencyjnego na poziomy domieszkowe tzw. akceptorowe, doprowadzając tym samym do powstawania dziur, jako nośników ładunku w paśmie walencyjnym. W półprzewodnikach samoistnych przejście elektronów następuje bezpośrednio z pasma walencyjnego do pasma przewodnictwa. Opisane zjawisko ilustruje poniższy obrazek.

0x01 graphic

Liczba elektronów (koncentracja nośników) przechodzących na wyższy poziom energetyczny zależy wykładniczo od różnicy poziomów oraz od temperatury i wyrażona jest wzorem:

0x01 graphic
, 0x01 graphic
, 0x01 graphic
,

kolejno dla półprzewodników samoistnych, półprzewodników typu n, półprzewodników typu p. Eg jest szerokością pasma zabronionego, Ed i Ea różnicami energii dla półprzewodników domieszkowych, k stałą Boltzmanna, T temperaturą bezwzględną.

Podwyższanie temperatury półprzewodników domieszkowych prowadzi do zwiększania liczby nośników przechodzących na wyższy poziom energetyczny do momentu, kiedy ich koncentracja przestaje wzrastać na skutek nasycenia domieszkowego - w półprzewodnikach typu n wszystkie elektrony opuszczają poziomy donorowe, a w półprzewodnikach typu p wszystkie elektrony zapełniają poziomy akceptorowe. Jest to pewien zakres temperatury, dla której nie zmienia się wartość koncentracji, a liczba nośników samoistnych jest bardzo mała. Przekroczenie tego zakresu oraz dalsze zwiększanie temperatury doprowadza do powstawania przejść międzypasmowych. Wówczas koncentracja nośników ponownie zaczyna wzrastać, lecz znacznie gwałtowniej, niż w przypadku przewodnictwa domieszkowego.

Przyjęliśmy, że w wypadku metali pomijamy wielkość koncentracji, ponieważ dla tego rodzaju materiału jest ona bardzo duża, więc nie zależy od wartości temperatury. W inny sposób traktujemy półprzewodniki, bowiem choć ruchliwość nośników, podobnie jak w metalach, zmniejsza się wraz ze wzrostem temperatury, to zmiany te są na tyle wolne, że mogą zostać pominięte. Zatem ostatecznie stwierdzamy, że przewodnictwo w metalach zależy głównie od ruchliwości nośników, natomiast w półprzewodnikach od ich koncentracji.

Uwzględniając wzory, które pojawiły się wcześniej, temperaturową zależność przewodnictwa dla półprzewodnika możemy wyrazić w następującym wzorze:

0x01 graphic
.

Edom jest jedną z dwóch wielkości, Ed lub Ea, w zależności od tego, z jakim rodzajem półprzewodnika domieszkowego mamy do czynienia. Stałe C zawierają ruchliwość i wielkość n0.

W odpowiednio niskiej temperaturze można zaniedbać pierwszy składnik powyższego wzoru. Wiemy już bowiem, że koncentracja nośników samoistnych jest wtedy bardzo mała, przez co nie wpływa ona znacząco na wartość przewodnictwa. Mówimy wówczas o przewodnictwie domieszkowym:

0x01 graphic
.

Natomiast w wysokiej temperaturze, kiedy dojdzie do nasycenia poziomów domieszkowych, pomijamy składnik drugi, gdyż nie wpływa on w dalszym ciągu na wielkość przewodnictwa. W tym wypadku mówimy o przewodnictwie samoistnym:

0x01 graphic
.

Zależność temperaturową przewodnictwa półprzewodnika wygodnie jest analizować za pomocą wykresu tej zależności w skali półlogarytmicznej. Logarytmując którykolwiek z dwóch powyższych wzorów, na przewodnictwo domieszkowe lub samoistne, otrzymujemy wyrażenie postaci:

0x01 graphic
.

Wykres zależności przewodnictwa półprzewodnika przedstawiać się będzie w postaci linii łamanej, co ilustruje poniższy obrazek.

0x08 graphic
W zakresie wartości temperatury stosowanym w laboratorium fizycznym obserwujemy tylko przewodnictwo domieszkowe.

Ostatnie równanie może zostać wykorzystane do znalezienia energii poziomu domieszkowego w półprzewodniku. Oznaczając E = Edom oraz stosując związek 0x01 graphic
1/R, otrzymujemy równanie:

0x01 graphic
,

które na wykresie 0x01 graphic
przedstawia linię prostą o współczynniku nachylenia 0x01 graphic
. Współczynnik ten możemy wyznaczyć także stosując regresję liniową. Kiedy jest on nam znany, możliwe jest wyznaczenie wartości Edom.

  1. Wyniki pomiarów.

Pomiary wykonywane były zgodnie z opisem zawartym w „metodyce pomiarowej”. Badany zakres temperatury, uwzględniony w pomiarach, mieści się w granicach 24-90 ºC. Wykonano 23 pomiarów dla każdego z materiałów - przewodnika i półprzewodnika. Poniżej znajduje się tabela z otrzymanymi odczytami.

Lp.

przewodnik

półprzewodnik

T [º]

R [Ω]

T [º]

R [kΩ]

1

24,0

110,0

24,0

199,0

2

27,0

111,0

27,0

172,6

3

30,0

112,1

30,0

151,1

4

33,0

113,3

33,0

133,9

5

36,0

114,4

36,0

118,2

6

39,0

115,7

39,0

108,1

7

42,0

116,3

42,0

86,4

8

45,0

117,6

45,0

81,8

9

48,0

119,0

48,0

73,2

10

51,0

120,0

51,0

65,3

11

54,0

121,1

54,0

59,2

12

57,0

122,2

57,0

52,9

13

60,0

123,4

60,0

47,7

14

63,0

124,4

63,0

42,9

15

66,0

125,5

66,0

38,6

16

69,0

126,7

69,0

35,0

17

72,0

127,7

72,0

31,7

18

75,0

128,8

75,0

28,6

19

78,0

129,8

78,0

26,0

20

81,0

131,0

81,0

23,6

21

84,0

132,1

84,0

21,6

22

87,0

133,2

87,0

19,6

23

90,0

134,3

90,0

17,9

  1. Obliczanie wielkości fizycznych, wykresy.

0x01 graphic

Wykreślenie zależności 0x01 graphic
dla przewodnika.

0x01 graphic

Wykreślenie zależności 0x01 graphic
dla półprzewodnika.

Obliczenie ln(1/R) oraz 1/T dla półprzewodnika.

Przykładowy rachunek dla pierwszego pomiaru.

0x01 graphic

Wyniki dla pozostałych pomiarów zostały przedstawione w tabeli poniżej. Do obliczeń wykorzystałem program StatS.

T [º]

T [K]

R [kΩ]

ln(1/R) [ln(1/Ω)]

1/T [1/K]

24,0

297,15

199,0

-12,2010601

0,003365

27,0

300,15

172,6

-12,05873206

0,003332

30,0

303,15

151,1

-11,92569715

0,003299

33,0

306,15

133,9

-11,80484853

0,003266

36,0

309,15

118,2

-11,68013338

0,003235

39,0

312,15

108,1

-11,590812

0,003204

42,0

315,15

86,4

-11,36674295

0,003173

45,0

318,15

81,8

-11,31203252

0,003143

48,0

321,15

73,2

-11,2009507

0,003114

51,0

324,15

65,3

-11,08674732

0,003085

54,0

327,15

59,2

-10,98867682

0,003057

57,0

330,15

52,9

-10,87615862

0,003029

60,0

333,15

47,7

-10,77268668

0,003002

63,0

336,15

42,9

-10,6666271

0,002975

66,0

339,15

38,6

-10,56100756

0,002949

69,0

342,15

35,0

-10,46310334

0,002923

72,0

345,15

31,7

-10,36407196

0,002897

75,0

348,15

28,6

-10,261162

0,002872

78,0

351,15

26,0

-10,16585182

0,002848

81,0

354,15

23,6

-10,06900199

0,002824

84,0

357,15

21,6

-9,980448594

0,0028

87,0

360,15

19,6

-9,883284845

0,002777

90,0

363,15

17,9

-9,792555992

0,002754

Następnie rysuję wykres zależności wielkości ln(1/R) od wielkości 1/T.

0x01 graphic

Powyższa linia przedstawia przewodnictwo domieszkowe.

Korzystając z programu StatS, za pomocą regresji liniowej obliczam współczynnik nachylenia a oraz jego błąd Δa.

a = -3910,85

Δa = 19,9354

Znając współczynnik nachylenia oraz korzystając z przekształconego wzoru, który pojawił się w „podstawach teoretycznych”, a który służył właśnie do obliczenia tegoż współczynnika, mogę obliczyć energię poziomu domieszkowego Edom, gdyż:

0x01 graphic
.

Stała Boltzmanna k wynosi:

0x01 graphic

Na podstawie danych obliczam Edom.

Wyrażone w dżulach:

0x01 graphic
.

Wyrażone w elektronowoltach:

0x01 graphic
,

0x01 graphic
.

Następnie obliczam niepewność uzyskanej wartości energii poziomu domieszkowego stosując różniczkę zupełną.

0x01 graphic

0x01 graphic

Zaokrąglam błąd do dwóch cyfr znaczących:

0x01 graphic
.

Wynik w ostatecznej postaci wyrażony kolejno w dżulach i elektronowoltach prezentuje się następująco:

0x01 graphic
,

0x01 graphic
.

Wnioski.

Celem ćwiczenia było wyznaczenie zależności przewodnictwa od temperatury dla przewodników i półprzewodników. Dokonane pomiary i wykreślone charakterystyki dowiodły, że temperatura istotnie wpływa na przewodnictwo elektryczne materiałów przewodzących. Jednocześnie obserwujemy odmienne zachowanie przewodników i półprzewodników wobec zmienności tejże wielkości. W przypadku przewodników (metali) opór rośnie liniowo wraz ze wzrostem temperatury, natomiast maleje wykładniczo w półprzewodnikach. Drugi wniosek dotyczy energii poziomu domieszkowego. Otrzymane wyniki pokazują, że wielkość tej energii jest ujemna. Mówiłoby to nam tyle, że aby pobudzić elektron do przejścia na wyższy poziom energetyczny, potrzebna jest taka wartość energii, która zsumowana z otrzymaną wielkością, dawałaby wartość większą bądź równą zero.

- 8 -



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
123, Politechnika Poznańska (PP), Fizyka, Labolatoria, fiza sprawka, elektromagnetyzm
307 (2), Politechnika Poznańska (PP), Fizyka, Labolatoria, fiza sprawka, optyka
Poprawki do cwiczenia nr 104, Politechnika Poznańska (PP), Fizyka, Labolatoria, fiza sprawka, mechan
Poprawki do cwiczenia nr 105, Politechnika Poznańska (PP), Fizyka, Labolatoria, fiza sprawka, mechan
Nr ćwiczenia 307, Politechnika Poznańska (PP), Fizyka, Labolatoria, fiza sprawka, optyka
307 (2), Politechnika Poznańska (PP), Fizyka, Labolatoria, fiza sprawka, optyka
Sprawozdanie 0, Politechnika Poznańska (PP), Fizyka, Labolatoria, sprawozdania fizyka
Cw 307, Politechnika Poznańska (PP), Fizyka, Labolatoria, sprawozdania fizyka
cw 206 pareki, Politechnika Poznańska (PP), Fizyka, Labolatoria, sprawozdania fizyka
Cw 307 poprawione, Politechnika Poznańska (PP), Fizyka, Labolatoria, sprawozdania fizyka
Ćw 107 parecki, Politechnika Poznańska (PP), Fizyka, Labolatoria, sprawozdania fizyka
MES - Projekt-Tabela, Politechnika Poznańska (PP), MES, Labolatoria
spraw1, Politechnika Poznańska (PP), Automatyka, Labolatoria, Lab 1
spraw2skonczone, Politechnika Poznańska (PP), Automatyka, Labolatoria, Lab 2
03 - Pomiar twardości sposobem Brinella, MiBM Politechnika Poznanska, IV semestr, labolatorium wydym
02 - Statyczna próba skręcania, MiBM Politechnika Poznanska, IV semestr, labolatorium wydyma, sprawk
TABELK~1, MiBM Politechnika Poznanska, IV semestr, labolatorium wydyma, sprawka
nasza labora, MiBM Politechnika Poznanska, IV semestr, labolatorium wydyma, sprawka

więcej podobnych podstron