Braja 24, Studia, II rok, Fizyka Eksperymentalna


Ćw.24 - Badanie efektu Halla

Zespół numer 11

  1. Kotlarski Marek

  2. Jaguścik Krzysztof

  3. Braja Sławomir

Data wykonania ćwiczenia:

12.11.2007

R.A 2007/08

Grupa pon./11:00

Semestr III

Spis Treści

  1. Podstawy teoretyczne str.1

  2. Obliczenia i wyniki doświadczenia str.4

  3. Wnioski str.7

Celem ćwiczenia było określenie ilości nośników prądu (koncentracji nośników w próbce półprzewodnika) poprzez analizę efektu Halla powstającego w hallotronie.

Podstawy teoretyczne

Efekt Halla - zjawisko powstawania różnicy potencjałów Uh (napięcia Halla) na ściankach półprzewodnika (równoległych do kierunku prędkości poruszania się nośników prądu sterowania IS) umieszczonego w polu magnetycznym o indukcji B o zwrocie prostopadłym do kierunku prędkości nośników prądu oraz kierunku działającej na nie siły Lorentza.

Hallotron (Rys.1) - warstwa półprzewodnika naparowana na nieprzewodzące podłoże o bardzo niewielkiej grubości d = (100±1)μm, długości l=(10±0,1)mm, zaopatrzona w cztery elektrody. Przez prostopadłościenną próbkę półprzewodnika płynie, w kierunku y (a więc przez przekrój dh gdzie h = (2,5±0,1)mm - szerokość naparowanej warstwy), prąd elektryczny o natężeniu IS. Napięcie Halla UH mierzymy w kierunku osi x, prostopadle do pola magnetycznego, skierowanego wzdłuż osi z i prądu płynącego przez próbkę w kierunku osi y.

Poniższy rysunek przedstawia schemat układu do badania efektu Halla.0x08 graphic

Rys. 1. Wyidealizowany schemat układu do badania efektu Halla.

Do wykonania pomiarów niezbędne było zbudowanie obwodu wg poniższego rysunku.

0x08 graphic

Rys. 2. Schemat obwodu do pomiaru koncentracji, poprzez pomiar napięcia Halla UH oraz ruchliwości, poprzez pomiar spadku napięcia U na hallotronie.

E - źródło napięcia stałego, A - amperomierz, H - Hallotron, R - opornica dekadowa (Rmin=0,1 Ω), Uh oraz U - woltomierze

Koncentracja nośników została wyznaczona ze wzoru:

0x01 graphic
(*),

gdzie:

Uh - pomierzone napięcie Halla

B - indukcja pola magnetycznego, w którym znajduje się układ pomiarowy

IS - natężenie prądu sterującego

e - ładunek nośnika prądu (1,6*10-19 C)

d - grubość warstwy półprzewodnika

n - koncentracja ładunków (wartość szukana w doświadczeniu)

Obliczenia i wyniki doświadczenia

  1. Wyznaczenie koncentracji nośników przy stałej indukcji pola magnetycznego oraz zależności napięcia Uh od natężenia prądu sterującego IS:

B=0,12±0,005 T

Natężenie prądu sterującego IS [mA]

Napięcie Halla Uh [mV]

3,1±0,0003

57,6±0,0003

3,32±0,0003

61,7±0,0003

3,58±0,0003

66,4±0,0003

3,88±0,0004

71,9±0,0003

4,23±0,0004

78,4±0,0003

4,66±0,0004

86,2±0,0004

5,18±0,0005

95,7±0,0004

5,49±0,0005

100,9±0,0004

5,83±0,0005

107,5±0,0004

6,24±0,0006

114,3±0,0004

6,68±0,0006

122,8±0,0005

7,21±0,0007

132,0±0,0005

7,82±0,0007

143,1±0,0005

8,55±0,0008

156,0±0,0006

9,45±0,0009

172,0±0,0006

10,54±0,001

190,8±0,0007

12,00±0,001

214,0±0,0007

12,37±0,001

219,0±0,0008

0x01 graphic

Wyznaczenie koncentracji nośników ze wzoru (*):

0x01 graphic

Błąd obliczenia koncentracji (różniczka zupełna):

0x01 graphic

Δn1=2,202*1019 => n2=4,262*1020±2,202*1019

  1. Wyznaczenie koncentracji nośników przy stałym natężeniu prądu sterującego oraz zależności napięcia Uh od indukcji pola magnetycznego B:

IS=3 mA ± 0,000015

Indukcja pola magnetycznego B [T]

Napięcie Halla Uh [mV]

0,028±0,007

17,9±0,054

0,052±0,008

27,3±0,082

0,075±0,008

37,8±0,114

0,097±0,008

47,4±0,142

0,12±0,009

57,8±0,174

0,143±0,009

67,4±0,202

0,166±0,01

77,1±0,231

0,188±0,01

86,4±0,259

0,212±0,01

95,5±0,287

0,222±0,01

100,0±0,300

0x01 graphic

Wyznaczenie koncentracji nośników ze wzoru (*):

0x01 graphic

Błąd obliczenia koncentracji:

0x01 graphic

Δn2=6,604*1015 => n2=4,402*1020±6,604*1015

Wnioski

Wykresy zależności pomiędzy napięciem Halla a natężeniem sterującym i indukcją pola magnetycznego są wykresami funkcji liniowych, co jest zgodne z teorią. Powstałe funkcje liniowe przecinają oś Y w bliskim sąsiedztwie początku układu współrzędnych, co wskazuje na stosunkowo niewielkie błędy systematyczne popełnione w trakcie wykonywania doświadczenia, a także na niedoskonałość użytego sprzętu, np. brak symetrii między płytkami hallotronu.

Obliczone wartości koncentracji nośników są do siebie zbliżone, co wskazuje na poprawność wykonania ćwiczenia. Metoda wyznaczenia nośników przy stałym natężeniu prądu sterującego okazała się metodą dokładniejszą.

1



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
sprawozdanie 24, Studia, II rok, Fizyka Eksperymentalna
24 - Sprawozdanie z Halotronu poprawione, Studia, II rok, Fizyka Eksperymentalna
24 - Sprawozdanie z Halotronu, Studia, II rok, Fizyka Eksperymentalna
Lab Fiz322a, Studia, II rok, Fizyka Eksperymentalna
Spr z fizy 31, Studia, II rok, Fizyka Eksperymentalna
Spr 42, Studia, II rok, Fizyka Eksperymentalna
Fizyka1, Studia, II rok, Fizyka Eksperymentalna
Cwiczenie 19, Studia, II rok, Fizyka Eksperymentalna
protokół fiza, Studia, II rok, Fizyka Eksperymentalna
Spr z fizy 35, Studia, II rok, Fizyka Eksperymentalna
FIZLAB~1, Studia, II rok, Fizyka Eksperymentalna
Spr 34, Studia, II rok, Fizyka Eksperymentalna
sprawozdanie z Halla, Studia, II rok, Fizyka Eksperymentalna

więcej podobnych podstron