Techniki mikrowiązkowe:

- destrukcyjne: pulsacyjne światło lasera odparowuje niewielką ilość próbki (ablacja laserowa

+ ICP-MS) lub zachodzi wybijanie jonów z próbki (SHRIMP)

- niedestrukcyjne: mikrofluorescencja rentgenowska (XRF) lub skupiona wiązka elektronowa

(EMPA) lub wysokoenergetyczne protony, może tez być strumień neutronów

XRF

- podobne do EMPA ponieważ następuje emisja promieniowania charakterystycznego

- lampa emituje na próbkę prom. X co powoduje wzbudzenie prom. charakterystycznego

ANALIZA JAKOŚCIOWA

- identyfikacja pierwiastków

- zapis widma przy pomocy spektrometru rentgenowskiego

- identyfikacja w oparciu o tablice długości fali charakterystycznego prom. X

ANALIZA ILOŚCIOWA

- porównanie intensywności linii z intensywnością wzorca

- poprawka matrycy na zanieczyszczenia

- charakterystyka układu pomiarowego

- poprawka na tło (trzeba je odciąć)

- wtórna fluorescencja próbki

- sorpcja prom. przez materiał

ODDZIAŁYWANIE ELEKTRONÓW Z MATERIĄ

Im wyższa energia elektronu, tym większy obszar wzbudzenia.

Im większa liczba atomowa tym mniejszy obszar wzbudzenia, ponieważ energia wiązki pozostaje ta sama, ale wzrasta liczba atomowa

- rodzaje elektronów

z bardziej zewnętrznej powłoki; mają niską energię, informują o zewnętrzych

powłokach próbki

- rodzaje promieniowania:

- wewnętrzna jonizacja→ docierające promienie będą wybijały elektrony z bardziej

wewnętrznych powłok, widmo uzależnione będzie od wiązań chemicznych oraz

stanu chemicznego atomu; jest to minimalna wartość energii tj. krytyczne energia

wzbudzenia

- bombardowanie elektronami:

- objętość wzbudzenia:

- Wakans na wewnętrznej powłoce →elektrony z powłoki zewnętrznej przeskoczyły na wewnętrzną, wówczas nadmiar energii uwalniany jest w postaci promieniowania, które jest charakterystyczne dla danego pierwiastka

Linie serii K, dla Z:11-32, ponieważ przeskok następuje z najbliższej powłoki L, α→ z powłoki sąsiedniej (z L na K), β →z drugiej najbliższej powłoki (z M na K). im wyższa powłoka, tym mniejsza energia, ale uzyskuje się linie dla pierwiastków o wyższej Z.

- intensywność linii:

Przy niskim napięciu przyspieszającym linie analityczne są słabo widoczne.

- absorpcja promieniowania:

SPEKTROMETR XRF:

ABSORPCYJNA SPEKTROSKOPIA ATOMOWA

- w ciągłym widmie słońca dostrzeżono prążki (nieciągłości), odkryto nieznany dotąd

pierwiastek He

- źródłem linii absorpcyjnych są wolne atomy

- próba jest w formie roztworu

- stosowana jako plazma niskotemperaturowa

- absorpcja prom. charakterystycznego dla danego pierwiastka