Pomiary chropowatości powierzchni - sprawko 2, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty


Laboratorium z metrologii

Data:

29 III 2000 r.

Imię i nazwisko:

Ocena:

Wydział, rok, grupa: IMiR, II A, grupa 3

Temat:

Pomiary chropowatości powierzchni. (ćw. 5)

Uwagi:

  1. Tabela wyników pomiarów chropowatości metodą stykową powierzchni obrabianej poprzez struganie profilometrem Hommeltester T1000E.

Kąt płaszczyzny przekroju

Ra

m]

Rq

m]

RzDin

m]

RzISO

m]

RzJap

m]

RmDin

m]

RmJap

m]

Rt

m]

Pc

m]

Rp

m]

Rpm

m]

R3z

m]

Pt

m]

Sm

m]

0o

4,70

5,68

25,10

26,11

36,17

27,37

39,81

29,87

75

16,68

13,96

17,86

39,81

133,30

22o30'

4,91

5,92

45o

4,90

6,12

67o30'

4,23

5,16

90

1,91

2,54

  1. Pomiar chropowatości metodą stykową profilografometrem Kalibr.

0x01 graphic

gdzie :

  1. mierzony przedmiot

  2. głowica pomiarowa

  3. mechanizm posuwu

  4. wzmacniacz

  5. filtr

  6. rejestrator

  7. moduł opracowujący sygnał pomiarowy

  8. wskaźnik

Prędkość posuwu papieru: 80 mm/min

Prędkość przesuwu czujnika profilografometru po badanym materiale: 0,2 mm/min

1 mm na wydruku na osi x to 0,0025 mm

Długość odcinka pomiarowego 0,45 mm

10 mm na wydruku na osi y to 0,5 m

Pomiar w milimetrach

Pomiar w m 1 mm=0,05 m

Ymin

-40

-36

-23

-10

-44

-2

-1,8

-1,15

-0,5

-2,2

Ymax

2

14

14

22

24

0,1

0,7

0,7

1,1

1,2

0x01 graphic

  1. Pomiar chropowatości metodą optyczną:

Pomiar w działkach

Pomiar w m 1dz=0,476 m

Ymin

33

30

32

31

32

15,7

14,3

15,2

14,8

15,2

Ymax

73

84

89

74

95

34,7

39,9

42,4

35,1

45,2

Mi

40

54

57

43

63

19

25,6

27,2

20,3

30

Mmax= 30,0 m

, m

0x01 graphic

Średnica pola widzenia 1,08 mm

Wymagany odcinek pomiarowy 2,0 mm

Wnioski:

Na dokładność pomiarów metodą stykową mają wpływ następujące czynniki: średnica zaokrąglenia ostrza wzorującego oraz jego nacisk na badaną powierzchnie. Jednakże ta metoda ma wiele zalet w stosunku do metody optycznej: duży zakres pomiarowy przyrządów , co wynika z dużego zakresu powiększeń; możliwość utrwalenia wyniku pomiaru w postaci profilogramu; krótki czas pomiaru lub sporządzania profilogramu. W metodzie optycznej odczyt jest niedokładny dlatego że obraz jest niejednokrotnie zamazany a wymogiem wobec badanej płytki jest konieczność dobijania światła od jej powierzchni.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Pomiary chropowatości powierzchni - sprawko 3, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
Pomiary chropowatości powierzchni - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
Pomiary chropowatości powierzchni - sprawko 3, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
2. Sprawozdanie 21.01.2015 - Pomiary chropowatości powierzchni, Studia ATH AIR stacjonarne, Rok II,
pomiar chropowatości powierzchni sprawozdanie
pomiar chropowatości powierzchni, Techniki i systemy pomiarowe
Pomiar chropowatości powierzchni
pomiar chropowatości powierzchni sprawozdanie
Pomiary elektryczne wielkości elektrycznych i nieelektrycznych – pomiar prądu, napięcia, rezystancji
Pomiary średnic i odległości otworów z zastosowaniem metod numerycznych - sprawko 4, Uczelnia, Metro
Interferencyjne pomiary długości i kąta - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
Podstawy doboru przyrządów pomiarowych - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
Interferencyjne pomiary długości i kąta - sprawko 2, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
Interferencyjne pomiary długości i kąta - sprawko 4, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
Interferencyjne pomiary długości i kąta - sprawko 3, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
Pomiary średnic i odległości otworów z zastosowaniem metod numerycznych - sprawko 3, Uczelnia, Metro
Pomiary gwintów walcowych zewnętrznych - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
Pomiary długości i kąta w warunkach kontroli końcowej wyrobu - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Spra

więcej podobnych podstron