KATEDRA TECHNIK WYTWARZANIA

I AUTOMATYZACJI

………………………………………..

(imię i nazwisko)

gr. ……… kierunek ………… rok akad. ………..

Data odrobienia

ć

wiczenia

.…………

Data oddania

sprawozdania

.…………

Ocena

.……

Podpis

.………

Uwagi

………………………………….

………………………………….

METROLOGIA I KONTROLA JAKOŚCI - LABORATORIUM

Temat: POMIARY CHROPOWATOŚCI POWIERZCHNI

Cel ćwiczenia

Zapoznanie studentów z metodami pomiarów struktury geometrycznej powierzchni,

metodologią przeprowadzania pomiarów chropowatości powierzchni oraz analizą wyników

pomiarów.

Literatura:

Pawlus P: Topografia powierzchni. Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów 2005.

PN-ISO 3274:1997. Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: metoda

profilowa. Charakterystyki nominalne przyrządów stykowych (z ostrzem odwzorowującym).

PN-ISO 4288:1997 Wymagania geometryczne wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni.

Zasady i procedury oceny struktury geometrycznej powierzchni metodą profilową.

1.

Ocena chropowatości powierzchni poprzez porównanie w wzorcami

chropowatości

-

materiał: . . . . . . . . . . .

-

sposób obróbki:. . . . . . . . . . .

-

kształt powierzchni: . . . . . . . . . . .

-

skazy powierzchni: . . . . . . . . . . .

Parametry odczytane z wzorca:

Ra = . . . . . . . . . . .

Rz = . . . . . . . . . . .

Rt = . . . . . . . . . . .

Rp = . . . . . . . . . . .

2.

Pomiar chropowatości powierzchni

-

nazwa profilometru: . . . . . . . . . . .

-

odcinek pomiarowy: . . . . . . . . . . .

Zmierzone parametry:

Ra = . . . . . . . . . . .

Rz = . . . . . . . . . . .

Rt = . . . . . . . . . . .

Rp = . . . . . . . . . . .

Rv = . . . . . . . . . . .

RSm = . . . . . . . . . . .

Rmr = . . . . . . . . . . .

3.

Pomiar topografii powierzchni

-

nazwa profilometru: . . . . . . . . . . .

-

obszar pomiaru: . . . . . . . . . . .

Zmierzone parametry:

Sa = . . . . . . . . . . .

Sz = . . . . . . . . . . .

St = . . . . . . . . . . .

Sp = . . . . . . . . . . .

Sv = . . . . . . . . . . .

4.

Wyznaczenie położenia linii średniej m i obliczenie parametru Ra

dla przedstawionego profilogramu

=

Vx

. . . . . . .

=

Vz

. . . . . . .

Vz

z

h

i

i

=

,

Vz

a

m

m

=

Położenie linii średniej na wykresie [mm]:

=

=

∑

=

n

z

a

n

i

i

m

1

. . . . . . . . . . [mm]

Wartość parametru Ra [µm]:

∑

=

=

−

=

n

i

i

h

m

n

Ra

1

1000

. . . . . . . . . . [µm]