pomiar zaleznosci opornosci metali i polprzewodnikow od temperatury


POMIAR ZALEŻNOŚCI OPORNOŚCI METALI I PÓŁPRZEWODNIKÓW OD TEMPERATURY

  1. Wstęp Teoretyczny

Ciała stałe ze względu na własności przewodnictwa elektrycznego dzielą się na:

przewodniki, półprzewodniki i dielektryki. W każdym ciele stałym atomy lub cząstki tworzą uporządkowany układ przestrzenny, zwany siecią krystaliczną, który to układ utrzymuje się dzięki siłom wzajemnego oddziaływania. W pojedynczym atomie elektrony mogą mieć tylko pewne wartości energii.

Energetyczne właściwości danego atomu przedstawia model pasmowy atomu.

Model pasmowy ciała stałego różni się zasadniczo od modelu dla wyodrębnionego atomu. Wynika to ze wzajemnego oddziaływania atomów tworzących siatkę krystaliczną. Prawa mechaniki kwantowej ograniczają liczbę elektronów na jednym poziomie energetycznym do dwóch, powoduje to powstanie licznych nowych poziomów energetycznych leżących blisko siebie w obrębie danej warstwy. Poziomy energetyczne tworzą wówczas pasma energetyczne. Pasmo walencyjne, inaczej zwane pasmem podstawowym, utworzone zostaje przez rozszczepienie poziomów walencyjnych poszczególnych atomów. Pasmo przewodnictwa, inaczej pasmo zewnętrzne zawiera wyższe poziomy energetyczne od poziomów pasma walencyjnego.

W przewodnikach pasmo przewodnictwa i walencyjne zachodzą na siebie. Istnieje duża

koncentracja elektronów - powstaje tzw. gaz elektronowy, które pod wpływem zewnętrznego pola elektrycznego tworzą uporządkowany ruch ładunków - prąd.

Dla dielektryków elektrony wypełniają całkowicie pasmo walencyjne, które jest oddzielone

szerokim pasmem zabronionym od pasma przewodnictwa. Elektrony nie mogą przechodzić na wyższe poziomy energetyczne.

Własności przewodnictwa prądu dla półprzewodników zmieniają się w zależności od

warunków. Przewodzenie prądu może odbywać się na zasadzie ruchu ładunków ujemnych

(elektronów) i dodatnich (dziur). Model pasmowy jest podobny do modelu pasmowego dielektryka, z tym że pasmo zabronione jest stosunkowo wąskie, dzięki czemu przy niewielkim wzbudzeniu nieliczne elektrony przechodzą z pasma walencyjnego do pasma przewodnictwa. W paśmie walencyjnym pozostają ruchome jony dodatnie nazywane dziurami. Prąd elektryczny w półprzewodnikach jest związany z ruchem dziur w paśmie walencyjnym i ruchem elektronów w paśmie przewodnictwa. Półprzewodniki, w których uwolnienie jednego elektronu powoduje powstanie jednej dziury nazywamy samoistnymi. Półprzewodniki niesamoistne są to półprzewodniki, w których zniekształcono strukturę sieci krystalicznej. Dla różnych zakresów temperatur w półprzewodnikach wyróżniamy przewodnictwo samoistne (elektrony generowane są z pasma podstawowego), bądź przewodnictwo domieszkowe (elektrony generowane są dzięki atomom domieszek). Istnieją dwa rodzaje półprzewodników niesamoistnych typu p i typu n.

Głównym parametrem przewodników jest opór elektryczny stawiany przepływowi prądu, jest to parametr zależny od temperatury. Przewodność zależy od koncentracji swobodnych nośników ładunku. W przypadku przewodników ze wzrostem temperatury maleje ruchliwość i konduktancja, zwiększa się więc ich rezystancja. W przypadku półprzewodników stosuje się różne kombinacje materiałów, w zależności od potrzeb uzyskuje się odpowiednie zależności rezystancji od temperatury, np.: PTC(Positive Temperature Coefficient) - ze wzrostem temperatury w pewnym zakresie rośnie rezystancja, NTC(Negative Temperature Coefficient) - ze wzrostem temperatury spada rezystancja, CTR(Critical Temperature Resistor) - wzrost temperatury w pewnym wąskim przedziale powoduje gwałtowną zmianę rezystancji.

  1. Cel ćwiczenia

W ćwiczeniu należy zmierzyć zależność oporności półprzewodnika i metalu od temperatury, w zakresie od temperatury ciekłego azotu (80K) aż do temperatury pokojowej (300K). Oporność jest mierzona multimetrami zaś do pomiaru temperatury zastosowano termoparę.

0x01 graphic

Rys. 1. Schemat termopary.

0x01 graphic

  1. Wyniki Pomiarów

  1. Wzory i jednostki

k = 0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic
0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

  1. Tabele pomiarowe

  2. Tabela przykładowych wyników pomiarów

    UT [V]

    R1 [Ω] (półprzewodnik)

    R2 [Ω] (półprzewodnik)

    R3 [Ω]
    (metal)

    -0,00500

    brak odczytu

    brak odczytu

    31,46

    -0,00495

    brak odczytu

    brak odczytu

    32,45

    -0,00490

    brak odczytu

    brak odczytu

    33,47

    -0,00485

    brak odczytu

    49480000

    34,33

    -0,00480

    brak odczytu

    32960000

    35,43

    -0,00475

    brak odczytu

    23600000

    36,49

    -0,00470

    brak odczytu

    18010000

    37,38

    -0,00465

    brak odczytu

    13850000

    38,29

    -0,00460

    brak odczytu

    10210000

    39,30

    -0,00455

    41070000

    7880000

    40,21

    -0,00450

    28300000

    5980000

    41,19

    -0,00445

    20930000

    4960000

    42,06

    -0,00440

    15500000

    3067000

    42,89

    -0,00435

    11010000

    2840000

    43,84

    -0,00430

    8260000

    2280000

    44,70

    -0,00425

    6310000

    1845000

    45,52

    -0,00420

    4780000

    1492000

    46,35

    -0,00415

    3517000

    1201000

    47,25

    -0,00410

    2692000

    983000

    48,07

    -0,00405

    2071000

    813000

    48,89

    0,00035

    39,79

    228,8

    104,60

    0,00040

    37,82

    217,8

    105,10

    0,00045

    36,07

    207,8

    105,60

    0,00050

    34,53

    198,6

    106,10

    0,00055

    32,96

    198,3

    106,50

    0,00060

    31,37

    180,1

    107,00

    0,00065

    30,24

    182,2

    107,50

    0,00070

    29,08

    164,3

    108,00

    0,00075

    28,09

    157,6

    108,50

    0,00080

    26,92

    150,8

    109,00

    0,00085

    25,87

    145,1

    109,50

    1. Przykładowe obliczenia

    Tabela wyników aproksymacji liniowych

    Półprzewodnik I

    Półprzewodnik II

    Metal

    a

    3390,498229

    2623,050539

    0,409745854

    Δa

    3,552006896

    7,723880895

    0,000539702

    b

    -8,331746650

    -3,808834893

    101,0516487

    Δb

    0,015826201

    0,034414261

    0,040319736

    0x01 graphic

    0x01 graphic

    0x01 graphic

    0x01 graphic

    0x01 graphic

    0x01 graphic

    1. Wnioski

    Wykonując pomiary oporu przy zmieniającej się temperaturze dla trzech różnych materiałów byliśmy w stanie od razu stwierdzić, że dwa z nich to półprzewodniki, a jeden to metal. Opór ogrzewanego półprzewodnika znacząco maleje co spowodowane jest pojawieniem się elektronów w paśmie przewodnictwa i dziur w paśmie walencyjnym. Natomiast opór metalu wzrasta podczas ogrzewania gdyż pojawiają się drgania sieci krystalicznej które zmniejszają ruchliwość nośników co zwiększa opór. Zatem Ω1 i Ω2 to półprzewodniki.

    Dokonując odpowiednich obliczeń ustaliliśmy że przerwa wzbroniona dla Ω1 wynosi ~0,58 eV, a Ω2 ~0,45 eV. Korzystając z tablic można wnioskować że pierwszy półprzewodnik to german ~0,67eV lub antymonek galu ~0,67 eV, drugi to być może siarczek ołowiu ~0,40 eV lub arsenek indu ~0,36 eV. Jednak równie dobrze mogą to być półprzewodniki jak na przykład Ge0,65In0,35Sb którego przerwa wzbroniona wynosi 0.4537 eV dlatego trudno jednoznacznie określić z jakiego materiału wykonane były półprzewodniki. Niewielkie domieszki w strukturze na przykład arsenku indu Al0,04In0,96As zmieniają jego przerwę energetyczną do ~0,4544 eV.

    Ω3 był przewodnikiem dla którego wykonaliśmy odpowiednie obliczenia i obliczyliśmy temperaturowy współczynnik oporu α = 0,00406[1/°C] który w tablicach odpowiada miedzi. Dzięki temu ćwiczeniu dowiedzieliśmy się i zbadaliśmy jak zmienia się opór półprzewodników i metali w zależności od temperatury.



    Wyszukiwarka

    Podobne podstrony:
    044 Pomiar zależności oporności metali i półprzewodników od temperatury sprawozdanie
    44A Pomiar zależności oporności metali i półprzewodników od temperatury
    Pomiar zależności oporności metali i półprzewodników od temperatury, Politechnika Wrocławska, W-5 W
    sprawozdanie POMIAR ZALEŻNOŚCI OPORNOŚCI METALI I PÓŁPRZEWODNIKÓW OD TEMPERATURY
    044 Pomiar zależności oporności metali i półprzewodników od temperatury sprawozdanie
    Pomiar zależności oporności metali i półprzewodników od temperatury DOC
    44A Pomiar zależności oporności metali i półprzewodników od temperatury
    Pomiar zależności oporności metali i półprzewodników od temperatury
    Pomiar zależności rezystancji metali i półprzewodników od temperatury, fizyka 2 wykład i zagadnienia
    Pomiar zaleznosci opornosci metali, Księgozbiór, Studia, Fizyka
    (5)?danie zależności oporu metalu i półprzewodnika od temperatury
    Pomiar zależności oporu półprzewodników od temperatury!!!
    Pomiar zależności oporu półprzewodników od temperatury, laborki
    Pomiar zależności oporu półprzewodników od temperatury
    Badanie zależności metalu i półprzewodnika od temperatury, Akademia Morska, I semestr, FIZYKA, Fizyk
    cw57, Studia, Pracownie, I pracownia, 57 Zależność oporu elektrycznego metalu i półprzewodnika od te

    więcej podobnych podstron