23. Wyznaczanie odchyleń od pionowości metodą bezpośredniego rzutowania wraz z analizą dokładności.

Metoda bezpośredniego rzutowania polega na wyznaczeniu odchylenia krawędzi budynku przez rzutowanie teodolitem kolejnych punktów budynku na łatę umieszczoną poziomo pod budynkiem. W ten sposób składową odchylenia od pionowości punktów obserwowanych otrzymuje się bezpośrednio z odczytów na łacie.

Przebieg prac:

1. Centrowanie i poziomowanie instrumentu na stanowisku pomiarowym

2. Pomiar odległości między stanowiskiem a krawędzią obiektu

3. Ułożenie poziomo i prostopadle do celowych, na poziomie zerowym obiektu łaty niwelacyjnej

4. Obserwacja punktów na krawędzi budynku.

Od poziomu zerowego celujemy na kolejne punkty w taki sposób, aby kreska pionowa krzyża kresek pokrywała się z krawędzią budynku.

Analiza dokładności:

Wychodzimy z twierdzenia Talesa:

u



u

D

d

u 

D

* u  k * (O^i  O^0 )

zakładając

d

mD



^md

D

d

przy czym

m^2

 m^i  m

u

0

m ^2

 2 * (

mD

)^2 * u ^2  2k

2 * m 2

u

D

0

m_u  k * m₀

2

Wpływ błędów instrumentalnych w tej metodzie:

1. Niepionowość osi głównej instrumentu

2. Niepoziomość łaty

3. Nieprostopadłość łaty do osi celowej

---