PRZEZNACZENIE UKŁADU POMIAROWEGO:
Laserowy interferencyjny układ pomiarowy przeznaczony jest do pomiaru parametrów geometrycznych elementów maszyn, odchyłek kształtu i położenia prowadnic, dokładności pozycjonowania oraz parametrów kinematycznych zespołów przesuwnych urządzeń technologicznych lub przyrządów pomiarowych.
Kontrolowane mogą być: parametry geometryczne liniowe i kątowe, odchyłki kształtu (prostoliniowości i płaskości), odchyłki położenia (równoległości i prostopadłości), dokładności pozycjonowania translacyjnego i rotacyjnego, parametry kinematyczne (droga i jej fluktuacje, prędkość i jej fluktuacje, zmiany kątowego położenia zespołów przesuwnych podczas ruchu w płaszczyźnie prostopadłej do kierunku ruchu). Pomiar: mierzone mogą być elementy prowadzące oraz przesuwne o dowolnej konfiguracji. Zastosowanie badaniach odbiorczych oraz ocenie jakości urządzeń technologicznych, przy sprawdzaniu przyrządów pomiarowych.
OPIS SYSTEMU: ocena jakości prowadnic urządzeń technologicznych realizowana jest w oparciu o kryterium odchyłek kształtu i położenia elementów bazujących lub prowadzących. System umożliwia przeprowadzanie korekcji położenia prowadnic w oparciu o przyjęte kryteria. Wieloparametryczna ocena prezentowana jest w postaci :wskaźników syntetycznych ujmujących łącznie odchyłki kształtu i położenia, funkcji błędów prowadnicy względem przyjętych elementów odniesienia, analizy harmonicznej.
Zastosowanie: do oceny jakości prowadnic urządzeń technologicznych, do korekcji położenia prowadnicy wg założonych kryteriów, do identyfikacji przyczyn występujących odchyłek kształtu i położenia prowadnic, do analizy jakościowej i ilościowej odchyłek kształtu i położenia zespołu prowadnic.
System oceny jest preferowany do:kontroli i oceny prowadnic wielkogabarytowych urządzeń technologicznych.
PRZEZNACZENIE I BUDOWA SYSTEMU: System przeznaczony jest do komputerowego wspomagania i automatyzacji zadań pomiarowych realizowanych interferometrami laserowymi poprzez: sterowanie procesem badawczym automatyczne zbieranie danych i wyników z urządzenia pomiarowego oraz formowanie ich zgodnie z procedurą programu analizującego, czytanie i uaktualnianie danych, analizę danych zgodnie z przyjętą procedura i kryteriami, graficzną lub tabelaryczną prezentację wyników.
Sterowanie procesem pomiarowym obejmuje :sterowanie laserowym interferometrem pomiarowym, sterowanie posuwami lub ruchami ustawczymi i roboczymi kontrolowanego urządzenia technologicznego.
Zastosowanie :automatyzacja procesów kontrolno-pomiarowych urządzeń technologicznych, możliwości aplikacji do przyrządów pomiarowych jedno lub wieloparametrycznych współpracujących z komputerem poprzez interface, opracowanie świadectw sprawdzenia wyrobów.
PARAMETRY POMIARÓW- PRZEMIESZCZENIA KĄTOWE:
Parametry: zakres mierzonych odległości +|- 25000μrad / +|- 1,5 °, rozdzielczość 1μrad, dokładność pomiaru +|- 2μrad/ +|-0,4” PRZEMIESZCZENIA LINIOWE:
Parametry: zakres pomiaru (przy pomiarze w 1 osi: 0-30 m, przy pomiarze w 3 osiach: 0-10 m), rozdzielczość 0,1μm, dokładność pomiaru +|- 5x10-7L +|- 0,2μm.
PRĘDKOŚĆ: zakres pomiaru ( przy pomiarze w 1 osi 0-200 mm/s, przy pomiarze w 3 osiach 0-200 mm/s), rozdzielczość 0,0001 mm/s, dokładność pomiaru +|- 5x10-7L +|- 0,2 μm. PROSTOLINIOWOŚĆ: zakres pomiarowy +|- 200μm/ +|- 2000μm, rozdzielczość 0,1μm/1μm, dokładność pomiaru 5% wskazania. POCHYLENIE: zakres pomiaru +|- 200μm/m, rozdzielczość 1μrad/m, dokładność pomiaru 2μm/m. WŁAŚCIWOŚCI WIĄZKI LASEROWEJ: monochromatyczność- cząstki drgają z jedną określoną częstotliwością i wiązka jest jednokolorowa,
spójność- posiada zdolność dzielenia się na dowolną ilość wiązek, które następnie mogą łączyć się na zasadzie interferencji fal na długości drogi koherencji,
natężenie wiązki laserowej- ma dużą gęstość mocy, kierunkowość - posiada bardzo mały kąt rozbieżności. Wiązka laserowa jest wiązką spolaryzowaną (to uformowanie powierzchni wektorom cząstek w wiązce laserowej) i może być modulowana (uformowanie zmiany drgań cząstek w wiązce laserowej wg określonej funkcji).
KRYTERIA REZONATORA: zwierciadła rezonatora w przypadku zwierciadeł płaskich muszą być do siebie równoległe, w przypadku sferycznych ich osie muszą leżeć na jednej linii, odległość pomiędzy powierzchniami odbijającymi zwierciadeł musi stanowić całkowitą wielokrotność długości fali wiązki laserowej.
LASER PÓŁPRZEWODNIKOWY: (DIODA LASEROWA): złącze pn i np, doprowadzone zasilanie, rezonator. Laser oparty na półprzewodniku, rodzaj diody luminescencyjnej o dużej wydajności (nośniki ładunku - dziury i elektrony - zostają wstrzyknięte w obszar złącza, rekombinują wysyłając promieniowanie rezonowane optycznie przez wypolerowany kryształ).