Kompensacyjna metoda pomiaru napięcia [ćw] 1999 04 08


POLITECHNIKA WROCŁAWSKA

WYDZIAŁ ELEKTRONIKI

TEMAT : Kompensacyjna metoda pomiaru napięcia.

Paweł Krukowski

Grzegorz Krupa

Elektronika i Telekomunikacja

DATA: 8.IV.99

OCENA:

0x08 graphic

Parametry źródła:

Ew = R * 10mA

  1. Wyregulowanie prądu nominalnego.

W celu wyznaczenia prądu wyjściowego źródła napięcia wzorcowego korzystamy z prawa Ohma.

0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic

Ew = 101,87 Ω * I => I = 10 mA

  1. Pomiar stabilności źródła prądowego przy zmianie rezystancji obciążenia prądowego R i określenie jej wpływu na dokładność Ew.

klasa

R [Ω]

Ew [V]

ΔR [Ω]

0,05

1000

1,0191

0,5

0,05

200

1,0191

0,1

0,05

100

1,0191

0,05

0,05

20

1,0191

0,01

0,05

10

1,0191

0,005

0,1

2

1,0191

0,002

0,1

1

1,0191

0,001

0x01 graphic

  1. Pomiar napięcia stałego metodą kompensacyjną.

  1. Pomiar Ex - źródło napięciowe z regulacją dekadową i komparatorem analogowym

R1 = 683,8 Ω Ex1 = 683,8 Ω * 10 mA = 6,838 V

Δ R1 = 680 Ω * 0,05 % + 3 Ω * 0,1 % + 0,8 Ω * 0,5 % = 0,35 Ω

δ R1 = 0,052 %

R1 = 683,80 Ω ± 0,35 Ω

R2 = 970,5 Ω Ex2 = 970,5 Ω * 10 mA = 9,705 V

Δ R2 = 970 Ω * 0,05 % + 0,5 Ω * 0,5 % = 0,5 Ω

δ R2 = 0,052 %

R2 = 970,5 Ω ± 0,5 Ω

Ex = Rx * I

Gdzie I to prąd wyjściowy wyznaczany w pkt. 1

  1. źródło napięciowe z regulacji dekadową i komparatorem dwustanowym

R1 = 961,1 Ω Ex1 = 961,1 Ω * 10 mA = 9,611 V

Δ R1 = 960 Ω * 0,05 % + 1 Ω * 0,1 % + 0,1 Ω * 0,5 % = 0,5 Ω

δ R1 = 0,053 %

R1 = 961,1 Ω ± 0,5 Ω

R2 = 557,5 Ω Ex2 = 557,5 Ω * 10 mA = 5,575 V

Δ R2 = 550 Ω * 0,05 % + 7 Ω * 0,1 % + 0,5 Ω * 0,5 % = 0,3 Ω

δ R2 = 0,054 %

R2 = 557,5 Ω ± 0,3 Ω

Ex = Rx * I

  1. Automatyczna regulacja wzorca w następujących układach pomiarowych :

0x01 graphic
0x01 graphic

  1. źródło napięciowe z regulacją binarną i komparator dwustanowy.

Ew = 0,01 * ( 256 + 128 + 8 + 2 + 1 ) = 3,95 V

ΔEw = ± 0,2 % * 3,95 V ± 10 mV = ± 8 mV ± 10 mV = ± 18 mV

δEw = 0,5 %

Ew = 3,950 V ± 0,018 V

Ew = 0,01 * ( 256 + 4 + 1 ) = 2,61 V

ΔEw = ± 0,2 % * 2,61 V ± 10 mV = ± 5,3 mV ± 10 mV = ± 16 mV

δEw = 0,62 %

Ew = 2,610 V ± 0,016 V

  1. źródło napięciowe z regulacją binarną i komparator analogowy

Ew = 0,01 * ( 256 + 128 + 16 + 2 ) = 4,02 V

ΔEw = ± 0,2 % * 4,02 V ± 10 mV = ± 8 mV ± 10 mV = ± 18 mV

δEw = 0,5 %

Ew = 4,020 V ± 0,018 V

Ew = 0,01 * ( 512 + 256 + 128 + 64 + 32 + 8 + 2 + 1) = 10,03 V

ΔEw = ± 0,2 % * 10,03 V ± 10 mV = ± 20 mV ± 10 mV = ± 30 mV

δEw = 0,3 %

Ew = 10,03 V ± 0,03 V

  1. Wpływ rezystancji wewnętrznej obiektu pomiarowego na błąd czułości układu przy zastosowaniu:

  1. komparatora analogowego i źródła regulowanego dekadowo

Ropornicy

[Ω]

Rźródła

[Ω]

ΔRopornicy

[Ω]

Δ Rźródła

[Ω]

10000

90,3

5

0,047

2000

90,5

1

0,048

1000

90,5

0,5

0,048

200

90,5

0,1

0,048

100

90,5

0,05

0,048

  1. komparatora dwustanowego i źródła regulowanego dekadowo

Ropornicy

[Ω]

Rźródła

[Ω]

ΔRopornicy

[Ω]

Δ Rźródła

[Ω]

10000

89,900

5

0,054

2000

89,900

1

0,054

1000,0

89,900

0,5

0,054

200,0

89,900

0,1

0,054

100,00

89,900

0,05

0,054

Przykładowe obliczenia dla pkt. 5.

0x01 graphic

Δ Rźródła = 80 Ω * 0,05 % + 9 Ω * 0,1 % + 0,9 Ω * 0,5 % = 0,054 Ω

Rźródła = 89,900 Ω ± 0,054 Ω

  1. Wnioski.

Na dokładność pomiaru metodą kompensacyjną wpływają przede wszystkim dokładność, rozdzielczość i stałość wzorcowych elementów zastosowanych w układzie.
Wyznaczone przez nas (w pkc.1) napięcie wzorca Ew = 1,0191 V, ma bardzo bliską wartość do wartości ogniwa normalnego (wzorca napięcia) Westona En = 1,018646 w temp 20oC. Przybliżając napięcie dla naszego wzorca do wzorca Westona popełniamy tylko 0,045% błędu.

Obserwując pomiary z pkt.2 wywnioskować możemy, iż stabilność źródła nie zależy od rezystancji obciążenia prądowego.

W komparatorze dwustanowym napięcia typu nie jest możliwe dokładne ustawienie zrównoważenia, ponieważ nie ma diody położenia środka, są tylko dwie diody (lewa i prawa).

Z przeprowadzonej przez nas analizy błędów wynika, iż pomiary nie były obciążone dużymi błędami, co wskazuje na dość dobrą dokładność przeprowadzonych pomiarów.

0x01 graphic



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Kompensacyjna metoda pomiaru napięcia [ćw] 1993 12 01
kompensacyjna metoda pomiaru napięcia (miern)
Pomiar napięcia i prądu stałego przyrządami analogowymi i cyfrowymi [ćw] 1999 04 26
Opis właściwości metrologicznych przetworników pomiarowych [ćw] 1999 07 08
CW4MIERN, Technologia INZ PWR, Semestr 3, Miernictwo i Automatyka, Sprawozdania, Sprawozdania z 1998
Parametry robocze [ćw] 1999 04 14
Pomiar napięć okresowo zmiennych metodą analogowego przetwarzania w przyrządach analogowych i cyfrow
Pomiary wielkości elektrycznych Instrukcja do ćw 08 Pomiar napięć oscyloskopem
Pomiar indukcyjności i pojemności metodą techniczną [ćw] 1999 10 27 (6)
Pomiar napięć okresowo zmiennych metodą analogowego przetwarzania w przyrządach analogowych i cyfrow
Pomiar napięć okresowo zmiennych metodą analogowego przetwarzania w przyrządach analogowych i cyfrow
Pomiar indukcyjności i pojemności metodą techniczną [ćw] 1999 10 27 (1)
Pomiar napięcia i prądu stałego przyrządami analogowymi i cyfrowymi 1999 04 22
Pomiar napięcia powierzchniowego metodami odrywania i Du Nouy’a
,Laboratorium podstaw fizyki, Pomiar napięcia powierzchniowego metodą odrywania i metodą stalagmomet
7.4, 7.4 , Pomiar napięcia powierzchniowego cieczy metodą stalagmometryczną
Cw 5 Pomiar napiecia i pradu stalego przyrzadami analogowymi i cyfrowymi
119, 119jkn, TEMAT: Pomiar napięcia powierzchniowego cieczy metodą

więcej podobnych podstron