background image

11. Kontakty metal-półprzewodnik „n” i 

„p” (złącza omowe i prostujące)

Michał Morek

background image

Wstęp

Kontakt metal półprzewodnik określany jest 

skrótem m-s (ang. metal-semiconductor).

Historycznie rzecz biorąc diody typu m-s były 

pierwszymi praktycznie wykorzystywanymi 
przyrządami półprzewodnikowymi.

Kontakt m-s może posiadać liniową lub 

nieliniową charakterystykę prądowo-napięciową 
I(U).

background image

Wstęp

Złącza m-s wykorzystywane jako kontakty 

struktury półprzewodnikowej z zewnętrznymi 
wyprowadzeniami powinny mieć charakterystykę 
liniową tak aby nie wpływać na charakterystyki 
elementu właściwego. Tego typu złącza to kontakty 
omowe
. Charakteryzują się niewielkimi 
rezystancjami niezależnymi od kierunku polaryzacji.

Złącza m-s o nieliniowej charakterystyce I(U) 

wykorzystywane są jako diody – popularnie zwane 
diodami Schottky’ego, w których występuje kontakt 
prostujący
.

background image

Uproszczony model kontaktu 
m-s
 (1)

Uproszczony model kontaktu m-s zakłada brak 
występowania stanów powierzchniowych. W takim 
przypadku o charakterze złącza (tj. charakterze 
przebiegu zależności I=f(U)) decyduje różnica prac 
wyjścia elektronów z metalu 

m

 i półprzewodnika 

s

.

Praca wyjścia elektronu 

 jest to praca jaką należy 

wykonać aby przenieść elektron z poziomu Fermiego 
do poziomu próżni lub inaczej minimalna energia 
kinetyczna elektronu potrzebna do opuszczenia 
przez niego powierzchni ciała stałego.

background image

Uproszczony model kontaktu 
m-s
 (2)

Możliwe są cztery przypadki zależności pomiędzy 

m

 i 

s

:

– dla półprzewodnika typu „n”:

(1) 

m

 < 

s

(2) 

m

 > 

s

– dla półprzewodnika typu „p”:

(3) 

m

 < 

s

(4) 

m

 > 

s

W przypadku (1) i (4) złącze m-s jest kontaktem 
omowym, 
natomiast w przypadku (2) i (3) kontaktem 
prostującym 
(Schottky’ego).

background image

Uproszczony model kontaktu m-s 
(3)

kontakt omowy, pp. typu „n”

 

R

s

>>R

a

>>R

m

background image

Uproszczony model kontaktu m-s 
(4)

kontakt prostujący, pp. typu „n”

 

R

d

>>R

s

>>R

m

background image

Przepływ prądu przez kontakt 
m-s

J

nm

 – strumień elektronów przechodzących ponad barierą z metalu do pp. (prąd 

emisji 

termoelektrycznej)

J

ns

  - strumień elektronów przechodzących ponad barierą z pp. do metalu.

J

pm

 – strumień dziur płynących z metalu do pp, jest to inaczej str. elektr. 

przechodzących 

z pasma walencyjnego pp. do pustych poziomów 

energetycznych w metalu.
J

ps

 – strumień dziur płynących z pp. do metalu jest to inaczej str. elektr.  

przechodzących z pasma walencyjnego metalu do pustych poziomów 
energetycznych w metalu.

-

+

+

-

background image

C

z

(U) – reprezentuje pojemność złącza,

R

s

 – rezystancja szeregowa obszaru neutralnego półprzewodnika.

R

u

 – rezystancja równoległa upływu,

Brak pojemności dyfuzyjnej!

Schemat zastępczy

background image

Charakterystyka I=f(U) złącza 
m-s

 







1

m

U

exp

J

J

T

nm

T

 - 

potencjał elektrokinetyczny

J

nm

 - 

prąd emisji termoelektrycznej

background image

Rzeczywisty kontakt m-s

Model pasmowy półprzewodnika
 typu „n” posiadającego stany 
powierzchniowe

W rzeczywistym kontakcie m-s stany 
powierzchniowe mają duży wpływ na 
właściwości styku. 
Przy dużych gęstościach właściwości 
złącza m-s zależne są od stanów 
powierzchniowych nie zaś od pracy 
wyjścia. Charakterystyczne dla dużych 
gęstości stanów powierzchniowych jest 
magazynowanie na powierzchni 
półprzewodnika dużych ilości ładunków 
ujemnych lub dodatnich. Przyczyną 
tego magazynowania jest wyłapywanie 
elektronów przez stany powierzchniowe 
lub usuwanie ich z tych stanów 
Powstaje wtedy  warstwa 
półprzewodnika o zmienionym typie, 
warstwa inwersyjna. Powstanie tej 
warstwy powoduje, że przy powierzchni 
półprzewodnika występuje złącze p-n i 
właściwości styku m-s w tym przypadku 
są takie jak właściwości złącz p-n. 

background image

Literatura

1) W. Marciniak – „Przyrządy półprzewodnikowe i 

układy scalone”, WNT, Warszawa 1979,

2) PDM - instrukcja do ćwiczenia 11 „Badanie 

kontaktów metal-półprzewodnik”

background image

Dziękuję za uwagę!

Dziękuję za uwagę!


Document Outline