background image

 

 

Przetworniki  

Przetworniki  

Cyfra/Analog i 

Cyfra/Analog i 

Analog/Cyfra

Analog/Cyfra

Technika cyfrowa

Technika cyfrowa

Ernest Jamro, Agnieszka Dąbrowska

Ernest Jamro, Agnieszka Dąbrowska

Katedra Elektroniki, AGH

Katedra Elektroniki, AGH

background image

 

 

Kwantowanie

Sygnał kwantowany

Sygnał cyfrowy

N

ref

V

q

2

q – kwant – waga napięciowa 
najmniej znaczącego bitu 
przetwarzania

V

ref

 – napięcie referencyjne (lub 

zakres pomiarowy: V

max

-V

min

)

N- liczba bitów przetwornika

Przykład: 

V

ref

=1V, 

N=10, 

q= 
1/10241mV

background image

 

 

Błąd kwantyzacji

SNR – Signal-to-Noise Ratio – stosunek sygnału do 
szumu

2

2

noise

signal

noise

signal

U

U

P

P

SNR

 

Analog 

Q(x)-po 
kwantyzacji

 

Q

err

(x)-bład kwantyzacji

 

background image

 

 

Błąd kwantyzacji – c.d.

 

P

err

(x)

 

-Q/2

 

Q/2

 

1/Q

 

12

1

2

2

/

2

/

2

2

Q

de

e

Q

err

Q

Q

]

/

[

2

12

2

1

1

)

(

2

2

/

2

2

/

2

2

2

/

2

/

2

2

2

V

V

Q

du

u

Q

du

u

Q

dt

t

f

U

U

SNR

N

Q

Q

N

Q

Q

noise

Signal

N

N

Dla przebiegu trójkątnego w pełnym 
zakresie pomiarowym

równomierny rozkład 

błędu kwantyzacji

]

[

02

.

6

)

2

log(

20

)

2

log(

10

)

log(

10

2

dB

N

N

SNR

SNR

N

dB

]

[

761

.

1

02

.

6

sin

dB

N

SNR

dB

Sinusoida – pełny zakres pomiarowy: 
wartość skuteczna równa się 

N

N

Q

Q

SNR

2

2

1

sin

2

2

3

12

)

2

2

(

2

2

1

Q

N

background image

 

 

Próbkowanie

Próbkowanie

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Przebieg wejściowy

Impulsy próbkujące

Dyskretny przebieg wejściowy

Dyskretny przebieg wejściowy

z pamiętaniem stanów

background image

 

 

Układy próbkująco-pamiętające

Układy próbkująco-pamiętające

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• czas akwizycji – czas pomiędzy 

zamknięciem klucza a ustaleniem 
wartości napięcia wyjściowego 
równej wartości napięcia wejściowego
z zadaną dokładnością (0,2s – 25ns)

• dokładność: 8 – 12 bitów

• maksymalna szybkość narastania:
 

(0,5-900 V/s)

• zwis (spadek napięcia na kondensatorze

pamiętającym w fazie pamiętania): 
1mV/s – 1kV/s

background image

 

 

Zakres pomiarowy (ang. Full 

Scale)

 

y

 

00

 

01

 

10

 

11

 

brak

 

x

 

Zakres  

Zakres pomiarowy = 2

N

Q

Największa reprezentowana wartość: (2

N

-1) 

Q

Przykład:

N=8, V

ref

=1V, V

max

=255/256=0.996V

Uwag na reprezentację liczb: z przesunięciem – 
najczęstsza reprezentacja liczb w przetwornikach 
AC i CA

background image

 

 

Aliasing

Właściwy obraz

Aliasing

Potrzeba stosowania filtru dolnoprzepustowego na 
wejściu przetwornika

background image

 

 

Parametry statyczne 

Parametry statyczne 

przetworników

przetworników

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• Rozdzielczość – stosunek przedziału kwantyzacji Q do pełnego zakresu prze- 

twornika FS, jest równa odwrotności liczby poziomów kwan- 
tyzacji, najczęściej określana liczbą bitów N słowa cyfrowego

• Dokładność przetwornika (bezwzględna lub względna) – największa różnica 

między rzeczywistą a przewidywaną wartością sygnału ana- 
logowego dla danego słowa cyfrowego 

• Błąd przesunięcia (bezwzględny lub względny) – 

różnica między rzeczywistą 
a idealną wartością sy- 
gnału analogowego dla mini- 
malnej wartości cyfrowej

background image

 

 

Parametry statyczne 

Parametry statyczne 

przetworników

przetworników

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• Błąd skalowania (wzmocnienia ang. 
gain error) – 
różnica między przewidywaną i 
ekstrapolowaną wartością rzeczywistą 
sygnału analogowego 

dla pełnego 

zakresu przetwornika

• Nieliniowość całkowa (ang. Integral 
Nonlinearity - INL) – największe 
odchylenie rzeczywistej charakterystyki 
przetwarzania od linii prostej

background image

 

 

Parametry statyczne 

Parametry statyczne 

przetworników

przetworników

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• Nieliniowość 
różniczkowa
 
(ang. Differencial 
Nonlinearity – DNL ) – 
charakteryzuje lokalne 
odchylenia charakterystyki 
od linii prostej

|DNR | < 1 LSB
błąd pominiętych kodów 
(ang. No-missing codes) dla 
A/C lub  przetwornik 
monotoniczny dla C/A

|DNR

|

> 1 LSB

przyrost liczby wejściowej D 
powoduje zmniejszanie 
sygnału wyjściowego 
(niemonotoniczność)

A/C

C/A

background image

 

 

Parametry dynamiczne 

Parametry dynamiczne 

przetworników C/A

przetworników C/A

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• Czas ustalania (konwersji) – czas, po 
którym 

sygnał wyjściowy ustali się z 

dokładnością  

lepszą niż 0,5LSB dla 

najgorszego  przypadku 

zmiany liczby 

wejściowej (0FS)

• Czas przełączania – czas zmiany napięcia 
wyjściowe-

go przetwornika od wartości 

początkowej do 

90% zakresu zmiany 

napięcia wyjściowego

• Maksymalna częstotliwość przetwarzania – maksymalna liczba konwersji na 

sekundę, częstotliwość graniczna = 1/czas konwersji

• Szpilki napięcia (ang. glitch) – szpilki związane z przenikaniem przez pojemności 

pasożytnicze cyfrowych sygnałów przełączających klucze analogowe

background image

 

 

Parametry dynamiczne 

Parametry dynamiczne 

przetworników A/C

przetworników A/C

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• Czas konwersji – czas potrzebny do jednego całkowitego przetworzenia sygnału

analogowego na wartość cyfrową z pełną specyfikowaną dokładnością

• Błąd dynamiczny przetwarzania A/C – równy 
zmianie wartości sygnału wejściowego 
następującej w czasie wykonywania 
konwersji przez przetwornik A/C

U=2fAT

 

U<FS/2

N

 w czasie konwersji T

c

f

max

=(2

N+1 

 T

c

)

-1

background image

 

 

Przetwornik z siecią wagową

Przetwornik z siecią wagową

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• wolny (przez 
zastosowanie 
wzmacniacza 
operacyjnego)

• wymagane duże i 
bardzo dokładne 
rezystancje

• klucze analogowe 
przełączają duże 
napięcia

• Duże błędy DNL
Nie stosowany w 
praktyce

background image

 

 

Przetwornik C/A z 

łańcuchem rezystorów 

(ang. Resistor String)

Zalety:

•Wymaga takich samych rezystorów

•Rezystory nie musza być bardzo dokładne

•Małe błędy statyczne

Wady:

Duża liczba użytych elementów 2

N

, dlatego N=8-

12bitów

Przykład: AD5332: Dual 8-Bit DAC

AD5343: Dual 12-Bit DAC

Typ     Max

background image

 

 

Przetwornik z drabinką R-2R

Przetwornik z drabinką R-2R

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• wskazane użycie jak największych 

rezystancji – kompromis
między szybkością działania 
a dokładnością przetwornika

• napięcie na kluczach jest małe

• minimalny wpływ nieliniowości 

kluczy na dokładność 
przetwornika

• wzmacniacz operacyjny ogranicza

szybkość działania

background image

 

 

Przetwornik z drabinką R-

Przetwornik z drabinką R-

2R – 

2R – 

Wytłumaczenie działania

Wytłumaczenie działania

background image

 

 

Impuls Napięcia 

(ang. Glitch Impulse: 

[Vps]) 

Impuls powstaje głównie przy zmianie najstarszego bitu, 
jego przyczyną różna szybkość włączania i wyłączania się 
kluczy np. w przetworniku z drabinką R-2R

 

0111...11 

1000...00 

t

ON

<t

OFF 

t

ON

>t

OFF 

background image

 

 

Przetwornik C/A z pojemnościami 

Przetwornik C/A z pojemnościami 

wagowymi

wagowymi

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• dwie fazy działania przetwornika: I – ładowanie pojemności do napięcia U

ref

II – odpowiednie kondensatory łączone do wejścia wzmacniacza 
operacyjnego 

• szybszy niż przetwornik z siecią wagową, ograniczenie tylko szybkością 

działania kluczy oraz czasem ładowania pojemności

• wada: duży zakres wartości pojemności

• pojemności pasożytnicze – rozdzielczość przetwornika 7 – 8 bitów

background image

 

 

Przetwornik C/A z siecią C-2C

Przetwornik C/A z siecią C-2C

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• dwie fazy działania: I – ładowanie kondensatorów (U

ref

U

ref

/2, U

ref

/4, ...)

II – Kf  zamknięty (rozładowuje C), Ka – złączenie górnych węzłów 
do masy, Kb – dołączenie odpowiednich kondensatorów do WO

background image

 

 

A/C bezpośredniego porównania

A/C bezpośredniego porównania

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Równoległe (flash)

Równoległe (flash)

• najszybsze przetworniki A/C
• ograniczona rozdzielczość (max. 12 bit)
• czas konwersji <1ns dla układów z 

tranzystorami MESFET

• częstotliwość: 20-500MHz
• komparatory ograniczają szybkość 

i dokładność przetwarzania

• wzrost poboru mocy (0,25-7,5W)
• skomplikowany dekoder
• trudności w doborze dzielnika

R

1

= R/2 

(zero= 
1/2LSB

2.5 LSB

1.5 LSB

0.5 LSB

background image

 

 

A/C bezpośredniego porównania

A/C bezpośredniego porównania

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Szeregowe

Szeregowe

wagowy

z podwajaniem

background image

 

 

A/C bezpośredniego porównania

A/C bezpośredniego porównania

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Szeregowo-równoległe

Szeregowo-równoległe

• 8-16 bitów
• częstotliwość: 0,2-40MHz
• moc strat: 0,04-20W

background image

 

 

Kompensacyjne przetworniki A/C

Kompensacyjne przetworniki A/C

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Kompensacja równomierna

Kompensacja równomierna

• oparty na zasadzie zliczania impulsów zegara
• długi czas przetwarzania (max. 2

n

t

c

)

• rzadko stosowany 

background image

 

 

Kompensacyjne przetworniki A/C

Kompensacyjne przetworniki A/C

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Kompensacja równomierna - nadążny

Kompensacja równomierna - nadążny

background image

 

 

Kompensacyjne przetworniki A/C

Kompensacyjne przetworniki A/C

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Kompensacja wagowa

Kompensacja wagowa

• krótki czas przetwarzania (nt

c

)

• duża nieliniowość różniczkowa C/A

• łatwy do realizacji w układach monolitycznych

• rozdzielczość 8-16 bitów

• przetwornik C/A z drabinką R-2R

• 5-10MSPS przy rozdzielczości 10-12bitów

• moc strat: 15mW-1W

background image

 

 

Metody Czasowo-

Częstotliwościowe

background image

 

 

Metoda czasowa A/C

Metoda czasowa A/C

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Czasowa prosta = Całkowanie pojedyncze

Czasowa prosta = Całkowanie pojedyncze

• niska dokładność (0,1%)

background image

 

 

Metoda czasowa A/C

Metoda czasowa A/C

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Podwójne całkowanie

Podwójne całkowanie

• duża rozdzielczość: 12-26 bitów

• duża dokładność (0,01%)
• duży czas przetwarzania: 20ms-1s (T

1

 

wielokrotność 20ms)

• mała moc strat: 0,6-450mW

background image

 

 

Metoda częstotliwościowa

Metoda częstotliwościowa

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Prosta

Prosta

• napięcie wejściowe zmieniane

na impulsy o częstotliwości 
proporcjonalnej do wartości 
tego napięcia

• mała dokładność (ok.1%)
• rzadko stosowane

background image

 

 

C/A Modulacja Szerokości Impulsu 

C/A Modulacja Szerokości Impulsu 

(ang. Pulse-Width Modulation - 

(ang. Pulse-Width Modulation - 

PWM)

PWM)

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• 

wielkość cyfrowa 

  przetwarzana na ciąg 
  impulsów o stałej amplitudzie 
  i o współczynniku wypełnienia 
  proporcjonalnym do słowa cyfrowego

• relatywnie długi czas konwersji 2

N

/f

clk

• możliwość uzyskania bardzo dużej rozdzielczości

• monotoniczne

• niewielka nieliniowość różniczkowa

•konieczność stosowania dobrego filtru dolnoprzepustowego na 
wyjściu – dlatego przetwornik ten ma głównie znaczenie teoretyczne 
lub też tam gdzie nie trzeba stosować filtru, np. do sterowania 
jasnością diód LED

U

o

 = U

ref 

D/2

N

Przykład:
Częstotliwość przetwornika f

ADC

=100kHz, N=16, f

clk

= 65MHz

background image

 

 

Pulse-Width Modulation - PWM

Pulse-Width Modulation - PWM

background image

 

 

Przetwornik D/A 1-bitowy

przykład obrazu

Oryginał

Nieoptymalne

Optymalne

podobnie jak PWM

Delta-

Sigma

background image

 

 

PWM a Sigma-Delta

 

V

in

 

Signa-Delta 

PWM 

Wypełnienie
= V

in

/V

FS

background image

 

 

Metoda częstotliwościowa

Metoda częstotliwościowa

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Delta sigma A/C

Delta sigma A/C

background image

 

 

Delta-Sigma A/C c.d.

http://en.wikipedia
.org/wiki/Sigma_d
elta

background image

 

 

Delta-Sigma wyższego 

rzędu

2-gi 
rząd

3-rząd

Szumy dla różnych 
częstotliwości

background image

 

 

Nadpróbkowanie

http://en.wikipedia.org/wiki/Oversamplin
g

Możliwe jest uzyskanie większej rozdzielczości bitowej poprzez 
nadpróbkowanie (próbkowanie z większą częstotliwością niż 
częstotliwość Nynquist’a.

N= ½ log

2

(n)

N – dodatkowa rozdzielczość bitowa
n – współczynnik nadpróbkowania

Przykład: n= 4  N=1;  n=16  N=2
Założenie to wynika z błędu standardowego który maleje 
odwrotnie proporcjonalnie z pierwiastkiem liczby pomiarów 
(założenie braku korelacji)


Document Outline