background image

Jacek Kabziński

Automatyka i sterowanie

 

————————————————————————————————————————

background image

 

2 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

 Częstotliwość próbkowania – wpływ na pracę układu dyskretnego 

 

)

(t

f

 

 

)

(

*

t

f

   

)

(t

x

 

5

.

0

=

T

 

2T

10T 

20T

background image

 

3 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

)

(t

f

 

 

)

(

*

t

f

   

)

(t

x

 

5

.

0

=

T

 

1

x(t)

f(u)

IMPULSATOR

T

Ekstrapolator

1

f(t)

 

 

T

kT

t

kT

kT

f

t

x

+

<

=

)

(

)

(

 

[

]

)

(

1

)

(

1

)

(

)

(

0

T

kT

t

kT

t

kT

f

t

x

k

=

=

 

)

(

)

(

)

(

1

1

1

)

(

)

(

*

0

)

1

(

0

s

f

s

E

e

kT

f

s

e

e

s

e

s

kT

f

s

x

kTs

k

Ts

Ts

k

kTs

k

=

=

⎥⎦

⎢⎣

=

=

+

=

 

Filtr?? 

Czy częstotliwości z wejścia są 
zniekształcane przez impulsowanie? 

Czy będą na wyjściu?

background image

 

4 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

)

(

)

(

)

(

)

(

)

(

0

*

kT

t

t

f

kT

t

kT

f

t

f

k

k

=

=

−∞

=

=

δ

δ

 

Przeprowadzimy analizę częstotliwościową tej funkcji. 
 

Podstawy częstotliwościowej analizy sygnałów: 
 
 
Okresową funkcję f(t) o okresie T , spełniającą warunki Dirichleta można przedstawić w postaci sumy 
szeregu Fouriera 

)

t

n

sin

b

t

n

cos

a

(

a

)

t

(

f

A

n

n

A

n

ω

ω

=

+

+

=

1

0

 

T

A

π

ω

2

=

 

+

=

T

t

t

dt

)

t

(

f

T

a

0

0

1

0

,  

+

=

T

t

t

A

m

tdt

m

cos

)

t

(

f

T

a

0

0

2

ω

,  

+

=

T

t

t

A

m

tdt

m

sin

)

t

(

f

T

b

0

0

2

ω

m=1,2,.... 

lub: 

background image

 

5 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

)

t

n

sin

b

t

n

cos

a

(

a

)

t

(

f

A

n

n

A

n

ω

ω

=

+

+

=

1

0

=

−∞

=

n

t

jn

n

A

e

c

ω

,    

n

n

a

b

tan

j

n

n

n

n

n

e

b

a

jb

a

c

1

2

2

2

1

2

+

=

=

=

=

T

t

jn

T

T

t

jn

dt

e

)

t

(

f

T

dt

e

)

t

(

f

T

A

A

0

2

2

1

1

ω

ω

 

 
Transformatę Fouriera (nieokresowej) funkcji x(t) określa: 

{

}

=

=

dt

e

)

t

(

x

)

j

(

X

)

t

(

x

t

j

ω

ω

 

a transformatę odwrotną 

{

}

=

=

ω

ω

π

ω

ω

d

e

)

j

(

X

)

t

(

x

)

j

(

X

t

j

2

1

1

 

gdy x(t)=0 dla t<0 to 

ω

ω

ω

j

s

t

j

)

s

(

X

dt

e

)

t

(

x

)

j

(

X

=

=

=

0

 

 

background image

 

6 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

Gdy x(t) jest okresowa, to ma rozwinięcie w szereg Fouriera 

−∞

=

=

n

t

jn

n

A

e

c

)

t

(

x

ω

 

wtedy: 

{

}

=

=

dt

e

)

t

(

x

)

j

(

X

)

t

(

x

t

j

ω

ω

=

∫ ∑

−∞

=

dt

e

e

c

t

j

n

t

jn

n

A

ω

ω

=

−∞

=

dt

e

e

c

t

j

t

jn

n

n

A

ω

ω

=

(

)

t

jn

n

n

A

e

c

ω

−∞

=

=

)

n

(

c

A

n

n

ω

ω

δ

π

−∞

=

2

 

 

background image

 

7 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

Zastosujmy to do funkcji 

)

(

)

(

)

(

)

(

)

(

0

*

kT

t

t

f

kT

t

kT

f

t

f

k

k

=

=

−∞

=

=

δ

δ

 

Funkcja 

)

kT

t

(

k

−∞

=

δ

 jest okresowa o kresie T .  

Współczynniki jej szeregu Fouriera: 

=

=

2

2

1

1

T

T

t

jn

n

T

dt

e

)

t

(

T

c

A

ω

δ

 n=1,2,.. 

czyli 

T

,

e

T

)

kT

t

(

A

t

jk

k

k

A

π

ω

δ

ω

2

1

=

=

−∞

=

−∞

=

 

background image

 

8 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

t

jk

k

*

A

e

)

t

(

f

T

)

t

(

f

ω

−∞

=

=

1

 

{

}

=

=

dt

e

)

t

(

f

)

j

(

F

)

t

(

f

t

j

*

*

*

ω

ω

 

(

)

+

−∞

=

−∞

=

=

=

dt

e

)

t

(

f

T

dt

e

e

)

t

(

f

T

)

j

(

F

t

k

j

k

t

j

k

t

jk

*

A

A

ω

ω

ω

ω

ω

1

1

 

(

)

(

)

ω

ω

ω

+

=

−∞

=

A

k

*

k

j

F

T

)

j

(

F

1

 gdzie 

{

}

=

=

dt

e

)

t

(

f

)

j

(

F

)

t

(

f

t

j

ω

ω

 

 

przesunięte o wielokrotność 

T

A

π

ω

2

=

 transformaty Fouriera funkcji

 f(t) 

Załóżmy, że 

0

=

)

j

(

F

ω

 dla 

1

ω

ω

>

 

1

2

ω

ω

>

A

 

background image

 

9 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

 

0

=

)

j

(

F

ω

 dla 

1

ω

ω

>

 i 

1

2

ω

ω

>

A

 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

2

A

ω

2

A

ω

A

ω

)

j

(

G

ω

1

ω

 

1

ω

A

ω

2

A

ω

A

ω

2

1

=

k

2

=

k

1

=

k

A

ω

)

j

(

F

ω

1

ω

 

1

ω

)

j

(

F

*

ω

1

ω

 

1

ω

A

ω

2

A

ω

A

ω

2

1

=

k

2

=

k

1

=

k

background image

 

10 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

 
Stosujemy filtr idealny o transmitancji widmowej 

<

<

=

2

0

2

1

A

A

dla

dla

)

j

(

G

ω

ω

ω

ω

ω

 

jego odpowiedź impulsowa: 

{

}

=

=

ω

ω

π

ω

ω

d

e

)

j

(

G

)

t

(

g

)

j

(

G

t

j

2

1

1

=

2

2

2

1

A

A

d

e

t

j

ω

ω

ω

ω

π

2

2

1

2

A

A

j

t

j

t

e

e

jt

ω

ω

π

=

1

2

A

sin

t

t

ω

π

=

1

2

2

A

A

sin

t

T

t

ω

ω

=

1

2

2

A

A

sin

t

T

t

ω

ω

=

 

 
 

T

2T

background image

 

11 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

Tw. Shannona 
Jeżeli 

0

=

)

j

(

F

ω

 dla 

1

ω

ω

>

 to F(j

ω

) jest jednoznacznie określona przez ciąg f(kT) i f(t) jest dana 

przez  

−∞

=

=

k

A

A

)

kT

t

(

)

kT

t

(

sin

)

kT

(

f

)

t

(

f

2

2

ω

ω

 

background image

 

12 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

Moduł transmitancji widmowej 
ekstrapolatora zerowego rzędu 
 
 

A

ω

A

ω

2

2

A

ω

0,637 

background image

 

13 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

0

=

)

j

(

F

ω

 dla 

1

ω

ω

>

 

 ale 

1

2

ω

ω

<

A

 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

2

A

ω

A

ω

1

ω

2

ω

)

j

(

F

ω

)

j

(

F

*

ω

1

ω

A

ω

2

A

ω

A

ω

2

1

=

k

2

=

k

1

=

k

1

ω

1

ω

2

2

ω

ω

ω

alias

)

(

j

(

F

A

)

(

j

(

F

2

ω

background image

 

14 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

Środki zaradcze: 

1. Podnieść 

A

ω

 tak by 

1

2

ω

ω

>

A

 czyli zmniejszyć T.  W praktyce

1

10

5

ω

ω

÷

>

A

 

2. Obciąć widmo f(t) do  2

A

ω

 przez filtr dolnoprzepustowy przed próbkowaniem 

 

 

background image

 

15 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

 

 

background image

 

16 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

 

background image

 

17 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

Wolne próbkowanie (undersampling) może być stosowane świadomie. Przetwornik A/C może 
przetwarzać informację zakodowana w modulowanym sygnale nośnym o dużej częstotliwości i 
wytwarzać sygnał o częstotliwości niższej.    
 Stosowanie przetwornika próbkującego poniżej częstotliwości Nyquista może być opłacalne finansowo. 
Np. Sygnał nośny 10MHz jest modulowany sygnałem o paśmie 100kHz (±50kHz ośrodku 10MHz). 
Próbkowanie z częstotliwością  4MHz daje składniki (f1+f2 i f1-f2) o częstotliwości 14MHz i 6Mz, i 
składniki (2f1, 2f2, 2f1+f2, f1+2f2, | 2f1-f2 |, | f1-2f2) | o częstotliwości 8MHz, 20MHz, 18MHz, 2MHz, 
24MHz i 16MHz. Sygnał o częstotliwości 2MHz jest tym, o który chodzi. Z sygnału 10MHz przez 
próbkowanie wytworzono “alias” 2MHz. W sposób cyfrowy można teraz “odzyskać” sygnał o 
częstotliwości  50kHz. Nie wymaga to kosztownej obróbki analogowej, wystarczy odpowiednie 
oprogramowanie.  
 
Szybkie próbkowanie (oversampling) może być używane do redukcji szumów w przypadku zakłócenia 
szumem białym. Zbieramy więcej próbek, niż to konieczne do odtworzenia sygnału, potem filtrując dane 
redukujemy poziom zakłóceń.  

background image

 

18 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

Transmisja sygnałów w układzie regulacji 

W układzie regulacji tor główny od sygnału uchybu powinien tłumić częstotliwości 

2

A

ω

ω

>

 i widmo 

sygnału wyjściowego powinno być takie jak wejściowego. Jeżeli widmo to jest ograniczone przez 

ω

1

to trzeba wybrać 

1

2

ω

ω

>

A

, a w praktyce 

1

10

5

ω

ω

÷

>

A

 

 
Okres próbkowania wpływa na model układu dyskretnego – na transmitancje dyskretne i na macierze 
opisu w przestrzeni stanów  

=

=

=

+

T

c

A

t

t

c

T

k

A

T

A

B

d

e

B

d

e

B

e

A

c

c

c

0

)

)

1

((

0

,

τ

τ

τ

τ

 

gdy 

0

det

c

A

  

[

]

c

T

A

c

T

c

A

B

I

e

A

B

d

e

B

c

c

=

=

1

0

τ

τ

”  

 
ma więc wpływ na dynamikę układu dyskretnego i nawet na jego stabilność. 
 

background image

 

19 

Automatyka i sterowanie 17

 Częstotliwość próbkowania 

 

 

Sterowalność: 
Jeżeli wartościami własnymi układu ciągłego są s

i

, to wartościami własnymi układu po dyskretyzacji są 

T

s

i

e

. Jeżeli dwie różne wartości własne przejdą na tą samą wartość własną układu dyskretnego, to układ 

dyskretny nie będzie sterowalny, mimo że układ ciągły jest całkowicie sterowalny. 

2

2

1

1

ω

σ

ω

σ

j

s

,

j

s

+

=

+

=

 

(

)

(

)

T

j

T

j

e

e

2

1

ω

σ

ω

σ

+

+

=

 

(

)

1

2

1

=

T

j

e

ω

ω

 

"

,

,

q

,

q

T

2

1

2

2

1

=

±

=

ω

ω

π

 

gdy 

0

2

1

>

=

=

ω

ω

ω

 

"

,

,

q

,

q

T

2

1

=

±

=

ω

π

 

 

 

Jeżeli wartości sterowania są ograniczone to 
istotny jest „zakres sterowalności” =obszar w 
przestrzeni stanów osiągalny z 0 w N krokach 
przy ograniczonym sterowaniu. Dla zwiększenia 
„zakresu sterowalności” zaleca się wybierać 
częstotliwość próbkowania 3 do 6 razy większą 
od częstotliwości dla której następuje utrata 

sterowalności czyli 

3

6

π

ω

π

<

T

.