Tylus - sprawozdanie, Zaawansowane metody badań materiałów


Wydział Chemiczny

Politechnika Wrocławska

Data: 05.01.2012r.

Imię i Nazwisko

Adam Szukalski, Joanna Jaworska, Joanna Olejarz, Joanna Kozieł, Katarzyna Izbaner

Nr indeksu

162585, 162958, 162927

Zaawansowane metody badań materiałów

Tytuł ćwiczenia

Analiza materiałowa na podstawie widma XPS

  1. Wstęp teoretyczny.

  2. Warunki pomiarów:

  1. Przebieg analizy.

Analizę widm przeprowadzono w programie Specs Lab XPS. Kolejne etapy pracy i uzyskane wyniki przedstawiono na rysunkach poniżej.

Rys. 1. Analizowane obszary.

0x01 graphic

Dla pierwszego wiersza wartość parametru w kolumnie „Const” jest największa (wynosi 30). W związku z tym, rozdzielczość tego pomiaru jest gorsza od pozostałych (dla reszty Const = 5), lecz jednocześnie badaniu podlegają wszystkie elektrony.

Kolumna o nazwie „Scans” informuje o ilości poczynionych skanów w danym pomiarze. I tak, pierwszy - najmniej dokładny pomiar charakteryzował się tylko jednym skanem, drugi - dwoma, a trzeci i czwarty - trzema skanami. Im więcej skanów, tym lepiej, bowiem pomiar staje się wówczas dokładniejszy.

Kolumna „Step” informuje o wartości „skoku” w wykonywanym pomiarze. Im ta wartość jest mniejsza, tym lepiej, bowiem wyniki są dokładniejsze - pomiar następuje częściej. Skok o wartości 0,5 (dla pomiaru 1.) jest duży i daje mało dokładne wyniki. Dla wartości poniżej 0,04 (dla pomiarów 2., 3., 4.) wyniki są dokładniejsze.

Analiza ilościowa pierwiastków.

Rys. 2. Widok ogólny widma.

0x01 graphic

Na podstawie widma można stwierdzić, że w badanym związku występują pierwiastki takie jak:

C, N, O. Następnym krokiem jest przypisanie pików do odpowiednich pierwiastków.

Rys. 3. Podstawowe parametry badanych pierwiastków.

0x01 graphic

Analiza energetyczna wiązań chemicznych.

Rys. 4. Określenie ilości oraz położenia maksimum dla poszczególnych sygnałów pochodzących od atomów C. Dopasowanie krzywymi według modelu matematycznego. Wersja pierwsza.

0x01 graphic

Przybliżenie wykonano dla dwóch atomów C. Na podstawie dolnej krzywej można wnioskować, iż jego niedokładność wynika z nieuwzględnienia 3 atomu węgla. Stąd widoczne odchylenia. W związku z tym przeprowadzono kolejne dopasowanie, które przedstawiono poniżej.

0x08 graphic
Rys. 5. Określenie ilości oraz położenia maksimum dla poszczególnych sygnałów. Dopasowanie krzywymi według modelu matematycznego. Wersja druga - poprawiona.

W tym przypadku uzyskano dużo dokładniejsze przybliżenie. Na rys. 6 przedstawiono dokładne parametry tego dopasowania.

Rys. 6. Dokładne dopasowanie sygnałów przez krzywe wraz z określeniem ich parametrów (udział procentowy danego modelu matematycznego - Gaussian/Lorentzian, położenie maksimum, szerokość połówkowa) oraz obliczenie energii wiązań pomiędzy wybranymi pierwiastkami.

0x01 graphic

Na rys. 5 można zauważyć, iż piki pochodzące od atomów wegla b i c są porównywalne. W związku z tym w danych programu zmieniono wysokość piku c na wartość równą wysokości piku b. Stąd po kolejnych obliczeniach nastąpiła zmiana zawartości procentowej atomów C ( dla b i c wartości są równe).

Rys. 7. Dokładne dopasowanie sygnałów przez krzywe wraz z określeniem ich parametrów (udział procentowy danego modelu matematycznego - Gaussian/Lorentzian, położenie maksimum, szerokość połówkowa) oraz obliczenie energii wiązań pomiędzy wybranymi pierwiastkami.

0x01 graphic

Kolejnym krokiem było przeprowadzenie kalibracji widma względem atomu węgla a ( wartość energii wiązania: 284,6 eV). W wyniku kalibracji całe widmo ulega przesunięciu (zmiany wartości w kolumnie Center).

Rys. 8. Dokładne dopasowanie sygnałów przez krzywe wraz z określeniem ich parametrów (udział procentowy danego modelu matematycznego - Gaussian/Lorentzian, położenie maksimum, szerokość połówkowa) oraz obliczenie energii wiązań pomiędzy wybranymi pierwiastkami.

0x01 graphic

Rys. 9. Efekt końcowy dopasowania krzywej dla sygnałów pochodzących od atomów węgla.

0x01 graphic

Po odpowiednim dopasowaniu atomów C, przystąpiono do wykonania przybliżeń pików od kolejnych atomów (N, O).

Rys. 10. Dopasowanie krzywej dla sygnału pochodzącego od atomu azotu.

0x01 graphic

Rys. 11. Dopasowanie krzywej dla sygnału pochodzącego od atomu tlenu.

0x01 graphic

Rys. 12 przedstawia końcowe wyniki dla całego procesu analizy widma XPS.

Rys. 12. Dokładne dopasowanie sygnału pochodzącego od wszystkich atomów występujących w widmie przez krzywe wraz z określeniem ich parametrów (udział procentowy danego modelu matematycznego - Gaussian/Lorentzian, położenie maksimum, szerokość połówkowa) oraz obliczenie energii wiązań pomiędzy wybranymi pierwiastkami.

0x01 graphic

  1. Wnioski.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Fallus, Zaawansowane metody badań materiałów
spr do jasia, Zaawansowane metody badań materiałów
masalski, Zaawansowane metody badań materiałów
socjologia metody badan., Materiały WSPOL, socjologia
rentgenografia strukturalna, Materiały studia, Metody badań materiałów
Metody badań materiałów-dyfraktometr-sprawko, metody badań materiałów
irek sprawko od anety, AGH WIMIIP Metalurgia, semestr 2, metody badań materiałów
04 Statyczne metody badań materiałów i konstrukcji
Metody Badań Materiałów - ćwiczenia (Uniwersytet Śląski), Materiałoznawstwo
Metody Badań Materiałów - ćwiczenia (Uniwersytet Śląski), Materiałoznawstwo
materiały i sprawka z lat poprzednich, Nieniszczące metody badań materiałów budowlanych, Nieniszcząc
Metody Badań Materiałów - ćwiczenia (Uniwersytet Śląski), Materiałoznawstwo
sprawozdanie - sejsmika, Metody badań geofizycznych
04 Statyczne metody badań materiałów i konstrukcji
Badanie właściwości aplikacyjnych i eksploatacyjnych powłok polimerowych - sprawozdanie, metody bada
5 Metody badań własności mechanicznych materiałów inżynierskich Twardość Udarność
sprawozdanie z badan materiałów, Studia, Mibm, semestr I, Pnom, Pnom
Metody i techniki badań materiałów, notatki

więcej podobnych podstron