Techniki i systemy pomiarowe ćw. 8


Techniki i systemy pomiarowe

Laboratorium

POLITECHNIKA LUBELSKA

Wydział Mechaniczny

Ćwiczenie nr 8

Pomiar

chropowatości

powierzchni

Wykonał:

Grupa:

Data:

Ocena:

Podpis:

Dudziacha Mariusz

Krzywdzik Adam

Mróz Tomasz

MD 103.5a

14.12.00

Wartość działki elementarnej bębna: WL=2,56μm

Pomiaru wysokości chropowatości:

Pomiar:

R1

R2

R3

R4

R5

R6

R7

R8

R9

R10

1

405

μm

316

μm

413

μm

351

μm

419

μm

342

μm

411

μm

343

μm

413

μm

337

μm

2

450

μm

333

μm

420

μm

342

μm

412

μm

340

μm

425

μm

332

μm

413

μm

342

μm

3

411

μm

331

μm

424

μm

328

μm

411

μm

317

μm

460

μm

320

μm

410

μm

327

μm

Wyniki pomiaru chropowatości obliczamy z wzoru:

0x01 graphic

0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

Pomiar średniego odstępu chropowatości:

Lp.

I

II

III

1

14μm

19μm

16μm

2

206μm

215μm

215μm

3

405μm

418μm

425μm

4

619μm

628μm

631μm

5

830μm

837μm

837μm

0x01 graphic

Wyniki obliczeń średniego odstępu chropowatości wg. Zależności:

Lp.

I

II

III

S1

192μm

196μm

199μm

S2

199μm

203μm

210μm

S3

214μm

210μm

206μm

S4

211μm

209μm

204μm

Zestawienie podstawowych właściwości metrologicznych mikroskopu Schmaltza :

Wnioski:

Jak widać z powyższych pomiarów i obliczeń wysokość chropowatości Rz i średni odstęp chropowatości S nie są jednakowe . Związane jest to z tym , że podczas obróbki danego materiału występują nierówności związane z budową struktury , co pociąga za sobą nieregularność kształtu - chropowatości. Takie nieregularności kształtu, można wyeliminować poprzez szlifowanie bądź polerowanie, jeżeli wymagana jest duża dokładność powierzchni.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Kopia Metrologia - ćw.09, MECHATRONIKA 1 ROK PWSZ, SEMESTR II, Metrologia techniczna i systemy pomia
lab6, MECHATRONIKA 1 ROK PWSZ, SEMESTR II, Metrologia techniczna i systemy pomiarowe, Laborki
Techniki i systemy pomiarowe-III semestr', ZESTAWY, ZESTAW 1
Gotowy test (może zawierać błędy)v2 (2), Politechnika Poznańska, Mechatronika, Semestr 03, Metrolog
tech i sys pom - cw1 - sprawozdanie, Politechnika Lubelska (Mechanika i Budowa Maszyn), Semestr 3, T
pomiar chropowatości powierzchni, Techniki i systemy pomiarowe
lab7, MECHATRONIKA 1 ROK PWSZ, SEMESTR II, Metrologia techniczna i systemy pomiarowe, Laborki
tech i sys pom - cw2 - sprawozdanie, Politechnika Lubelska (Mechanika i Budowa Maszyn), Semestr 3, T
szablon ćw.6, PWSZ Nowy Sącz, II semestr, METROLOGIA I SYSTEMY POMIAROWE, Metrologia
szablon ćw.4, PWSZ Nowy Sącz, II semestr, METROLOGIA I SYSTEMY POMIAROWE, Metrologia
szablon ćw.3, PWSZ Nowy Sącz, II semestr, METROLOGIA I SYSTEMY POMIAROWE, Metrologia
ćw.1-moje, INSTYTUT METROLOGII I SYSTEMÓW POMIAROWYCH
Ćw 4 Techniczna metoda pomiaru impedancji pętli zwarciowej
Skrypt - Obsługa przyrządów pomiarowych z wykorzystaniem standardu SCPI, Nauka i Technika, Automatyk
Ćw 6 ZASTOSOWANIE STEROWNIKA PLC W KOMPUTEROWYCH SYSTEMACH POMIAROWO DIAGNOSTYCZNYCH
Obsługa aparatury pomiarowej z wykorzystaniem SCPI oraz środowiska VEE PRO, Nauka i Technika, Automa

więcej podobnych podstron