METODYKA OPRACOWYWANIA WYNIKÓW POMIAROWYCH, METPOM Radzio, POLITECHNIKA RADOMSKA


POLITECHNIKA RADOMSKA

im. Kazimierza Pułaskiego

WYDZIAŁ TRANSPORTU

LABORATORIUM

MIERNICTWA

Data:

Wykonali:

Grupa:

Zespół:

Rok akademicki:

Temat:

Metodyka opracowań wyników pomiarowych

Nr ćwiczenia:

1

Ocena:

1. Cel ćwiczenia:

Celem ćwiczenia jest wykorzystanie komputera z przetwornikami A/C i C/A do badania charakterystyk diod półprzewodnikowych.

2. Schemat połączeń stanowiska do badania charakterystyk elementów półprzewodnikowych:

0x01 graphic

3. Schemat badanego przez nas układu:

0x01 graphic

4. Tabela pomiarowa:

Lp.

UC/A

UA/C

UD

dUD

ID

dID

Uwagi:

[V]

[V]

[V]

[%]

[mA]

[%]

1

-10

-6,895

-6,895

2,1579E-01

-1,1500E-02

4,1234E-02

2

-9,5

-6,895

-6,895

2,1579E-01

-9,6481E-03

4,1259E-02

3

-10

-6,895

-6,895

2,1579E-01

6,2574E-02

4,1234E-02

4

-9

-6,89

-6,89

2,1594E-01

-7,8148E-03

4,1287E-02

5

-8,5

-6,88

-6,88

2,1622E-01

-6,0000E-03

4,1319E-02

6

-8

-6,87

-6,87

2,1651E-01

-4,1852E-03

4,1356E-02

7

-7,5

-6,86

-6,86

2,1679E-01

-2,3704E-03

4,1397E-02

8

-7

-6,846

-6,846

2,1720E-01

-5,7037E-04

4,1445E-02

9

-6,5

-6,504

-6,504

2,2756E-01

1,4815E-05

4,1538E-02

10

-6

-6,006

-6,006

2,4478E-01

2,2222E-05

4,1666E-02

11

-5,5

-5,508

-5,508

2,6510E-01

2,9630E-05

4,1817E-02

12

-5

-5,005

-5,005

2,8973E-01

1,8519E-05

4,1999E-02

13

-4,5

-4,507

-4,507

3,1953E-01

2,5926E-05

4,2221E-02

14

-4

-4,009

-4,009

3,5674E-01

3,3333E-05

4,2497E-02

15

-3,5

-3,506

-3,506

4,0505E-01

2,2222E-05

4,2855E-02

16

-3

-3,008

-3,008

4,6880E-01

2,9630E-05

4,3329E-02

17

-2,5

-2,505

-2,505

5,5892E-01

1,8519E-05

4,3996E-02

18

-2

-2,007

-2,007

6,9265E-01

2,5926E-05

4,4991E-02

19

-1,5

-1,509

-1,509

9,1463E-01

3,3333E-05

4,6647E-02

20

-1

-1,006

-1,006

1,3619E+00

2,2222E-05

4,9970E-02

21

-0,5

-0,508

-0,508

2,6775E+00

2,9630E-05

5,9843E-02

22

0

0

0

0,0000E+00

23

0,5

0,493

0,493

2,7583E+00

2,5926E-05

6,0142E-02

24

1

0,708

0,708

1,9268E+00

1,0815E-03

5,2063E-02

25

1,5

0,742

0,742

1,8394E+00

2,8074E-03

5,0074E-02

26

2

0,762

0,762

1,7917E+00

4,5852E-03

4,9065E-02

27

2,5

0,776

0,776

1,7597E+00

6,3852E-03

4,8448E-02

28

3

0,786

0,786

1,7376E+00

8,2000E-03

4,8034E-02

29

3,5

0,801

0,801

1,7054E+00

9,9963E-03

4,7678E-02

30

4

0,811

0,811

1,6846E+00

1,1811E-02

4,7424E-02

31

4,5

0,82

0,82

1,6663E+00

1,3630E-02

4,7219E-02

32

5

0,83

0,83

1,6465E+00

1,5444E-02

4,7036E-02

33

5,5

0,835

0,835

1,6368E+00

1,7278E-02

4,6910E-02

34

6

0,845

0,845

1,6176E+00

1,9093E-02

4,6765E-02

35

6,5

0,854

0,854

1,6008E+00

2,0911E-02

4,6640E-02

36

7

0,864

0,864

1,5825E+00

2,2726E-02

4,6518E-02

37

7,5

0,869

0,869

1,5735E+00

2,4559E-02

4,6439E-02

38

8

0,879

0,879

1,5558E+00

2,6374E-02

4,6333E-02

39

8,5

0,889

0,889

1,5386E+00

2,8189E-02

4,6233E-02

40

9

0,894

0,894

1,5301E+00

3,0022E-02

4,6171E-02

41

9,5

0,903

0,903

1,5150E+00

3,1841E-02

4,6087E-02

5. Przykładowe obliczenia:

0x01 graphic

6. Charakterystyka przejściowa badanej diody:

0x01 graphic

Wnioski:

W ćwiczeniu wykorzystaliśmy komputer z podłączonym stanowiskiem zawierającym przetworniki analogowo-cyfrowy i cyfrowo-analogowy do zdejmowania charakterystyk diod półprzewodnikowych. Badaliśmy diody Zenera i prostownicze.

  1. Dioda Zenera 3,3 V. Zauważamy, że dioda w kierunku przewodzenia cechuje się niskim spadkiem napięcia wynoszącym około 0,6 V. Z wykresu widać, że rezystancja dynamiczna w kierunku przewodzenia jest bardzo mała (wzrostowi prądu towarzyszy bardzo niewielki wzrost napięcia przewodzenia). Ze względu na to, że jest to dioda stabilizacyjna, w kierunku zaporowym powyżej pewnej wartości napięcia (ok. 2,2 V) prąd zaczyna szybko rosnąć. Z wykresu widać, że rezystancja dynamiczna w kierunku przewodzenia ( nachylenie charakterystyki) jest niższe niż dla kierunku przewodzenia.

  2. Dioda Zenera 3,3 V. Badaliśmy taką samą diodę, co w p. 1, ale z inną wartością rezystancji szeregowej, a dokonywany był pomiar spadku napięcia na rezystorze. Otrzymany wykres jest bardzo zbliżony do poprzedniego.

  3. Dioda Zenera 6,8 V. Mierzony był spadek napięcia na rezystorze szeregowym. Dioda zachowywała się bardzo podobnie do poprzednich lecz tutaj zauważamy dużo lepszą stabilizację napięcia wstecznego (ok. 6,8 V).

Na podstawie pomiarów dokonaliśmy oceny błędów. Okazało się we wszystkich przypadkach, że błąd pomiaru ΔUD był najmniejszy dla największych bezwzględnych wartości napięcia wyjściowego przetwornika C/A i wynosił około 0,2 %. Gdy wartość ta zbliżała się do zera błąd ten gwałtownie rósł.

Natomiast błędy ΔID przyjmowały wartości bardzo małe z tendencją wzrostu w miarę zwiększania się napięcia wyjściowego przetwornika C/A.

1

1



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
METODYKA OPRACOWYWANIA WYNIKÓW POMIAROWYCH, MET0DYKA-spr., POLITECHNIKA RADOMSKA
Metrologia-lab-Metodyka opracowań wyników pomiarowych, METPOM S, POLITECHNIKA RADOMSKA
Metrologia-lab-Metodyka opracowań wyników pomiarowych, Metodyka opracowań wyników pomiarowychspr, PO
METODYKA OPRACOWYWANIA WYNIKÓW POMIAROWYCH, MET0DY s G, POLITECHNIKA RADOMSKA
B Kamys Statystyczne metody opracowania wyników pomiarów
Metrologia-lab-Metodyka opracowań wyników pomiarowych, Metodyka, RADOM
B Kamys Statystyczne metody opracowania wyników pomiarów
ćwiczenie 2 Statystyczne opracowanie wyników pomiarów, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Metrolo
Analiza błędów Statystyczne opracowanie wyników pomiarów
Opracowanie wyników pomiaru
Opracowanie wyników pomiarowych - błędy, bledy, Gęstość jest cechą substancji określającą masę jedno
Metrologia-lab-Pomiary Kompensacyjne, POMKOM 1, POLITECHNIKA RADOMSKA
Metrologia-lab-Pomiary Oscyloskopowe, OSCYL P, POLITECHNIKA RADOMSKA
Zastosowanie programów statycznych do opracowania wyników pomiarów
Metrologia-lab-Pomiary Kompensacyjne, KOMP S, POLITECHNIKA RADOMSKA
31, 31, Opracowanie wyników pomiarów M
31, 31, Opracowanie wyników pomiarów M
7 Opracowanie wyników pomiaru metodą analityczną

więcej podobnych podstron