Politechnika Lubelska

w Lublinie

Laboratorium Metrologii

Ćwiczenie nr LV1

Imię i Nazwisko:

Jakub Machometa

Marcin Łupina

Michał Kryszczuk

Semestr: IV

Grupa: 4.3

Rok akademicki:

2009/2010

Temat: Próbkujące pomiary parametrów sygnałów napięciowych.

Data wyk.:

19.04.2010r

Ocena:

  1. Cel ćwiczenia:

Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z problematyką wyznaczania parametrów sygnałów napięciowych próbkujących układach pomiarowych, a w szczególności zbadanie wpływu sposobu próbkowania na błędy pomiaru.

  1. Schemat:

0x01 graphic

Rys.1. Schemat blokowy próbkującego układu pomiarowego.

  1. Wyniki pomiarów:

    1. Badanie szybkości próbkowania na błędy przetwarzania:

Parametry sygnału:

Asyg=

325,27V

fsyg=

50Hz

φsyg=

Parametry próbkowania:

SR=

zmienne

Tp=

200ms

n=

zmienne

Lp.

SR

n

Umax

URSM

Usr

δ Umax

δ URSM

δ Usr

współ.

szczytu

ks

współ.

kształtu

kk

-

SPS

-

V

V

V

%

%

%

-

-

1

500

100

308,142

230,001

200,216

-5,2659

0

-3,3117

1,33974

1,414214

2

600

120

280,799

230,001

202,321

-13,6719

0

-2,2951

1,22086

1,13681

3

700

140

315,876

230,001

203,586

-2,888

0

-1,6842

1,37337

1,12975

4

800

160

301,129

230,001

204,405

-7,4219

0

-1,2884

1,30925

1,12522

5

900

180

319,077

230,001

204,966

-1,9039

0

-1,0175

1,38729

1,12214

6

1000

200

308,752

230,001

205,367

-5,0781

0

-0,8238

1,3424

1,11995

7

2000

400

325,27

230,001

206,647

0

0

-0,2057

1,41421

1,11301

8

3000

600

325,27

230,001

206,884

0

0

-0,0914

1,41421

1,11174

9

4000

800

325,27

230,001

206,967

0

0

-0,0514

1,41421

1,11129

10

5000

1000

325,27

230,001

207,005

0

0

-0,0329

1,41421

1,11109

11

6000

1200

325,27

230,001

207,026

0

0

-0,0228

1,41421

1,11097

12

7000

1400

325,27

230,001

207,039

0

0

-0,0168

1,41421

1,11091

13

8000

1600

325,27

230,001

207,047

0

0

-0,0129

1,41421

1,11086

14

9000

1800

325,27

230,001

207,052

0

0

-0,0102

1,41421

1,11083

15

10000

2000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

Tab.1. Wpływ szybkości próbkowania na błędy przetwarzania.

0x01 graphic

Wyk.1. Wykres zależności błędów δ Umax, δ URSM, δ Usr, w funkcji szybkości próbkowania SR.

    1. Badanie wpływu długości okna pomiarowego na błędy przetwarzania:

Parametry sygnału:

Asyg=

325,27V

fsyg=

50Hz

φsyg=

Parametry próbkowania:

SR=

1000

Tp=

zmienne

n=

zmienne

Lp.

Tp

Nokr

Umax

URSM

Usr

δ Umax

δ URSM

δ Usr

współ.

szczytu

ks

współ.

kształtu

kk

-

ms

-

V

V

V

%

%

%

-

-

1

200

10000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

2

180

9000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

3

160

8000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

4

140

7000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

5

120

6000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

6

100

5000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

7

80

4000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

8

60

3000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

9

40

2000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

10

39

1950

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

11

38

1900

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

12

37

1850

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

13

36

1800

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

14

35

1750

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

15

34

1700

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

16

33

1650

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

17

32

1600

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

18

31

1550

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

Tab.2. wpływ szybkości próbkowania na błędy przetwarzania.

0x01 graphic

Wyk.2. Wykres zależności błędów δ Umax, δ URSM, δ Usr, w funkcji długości okna pomiarowego.

    1. Badanie wpływu częstotliwości sygnału na błędy przetwarzania:

Parametry sygnału:

Asyg=

325,27V

fsyg=

zmienne

φsyg=

Parametry próbkowania:

SR=

1000

Tp=

50ms

n=

50

Lp.

Tp

Nokr

Umax

URSM

Usr

δ Umax

δ URSM

δ Usr

współ.

szczytu

ks

współ.

kształtu

kk

-

ms

-

V

V

V

%

%

%

-

-

1

48

20,83

322,952

229,187

206,848

0,7127

-0,3535

-0,87

1,40912

1,108

2

48,2

20,75

323,901

228,732

206,86

-0,421

-0,5514

-0,1031

1,41607

1,10574

3

48,4

20,66

324,879

228,263

206,908

-0,1201

-0,7555

-0,0797

1,42327

1,10321

4

48,6

20,58

324,4

232,337

209,063

-0,2675

1,016

0,9607

1,4245

1,08656

5

48,8

20,49

324,477

227,783

209,637

-0,2437

-0,9642

1,2382

1,39625

1,11133

6

49

20,41

324,59

222,008

208,476

-0,2091

0,8727

0,6775

1,39905

1,11287

7

49,2

20,33

324,122

231,65

207,878

-0,3528

0,7171

0,3885

1,39919

1,1436

8

49,4

20,24

324,981

231,267

207,268

-0,0888

0,5506

0,0939

1,40522

1,11579

9

49,6

20,16

324,507

230,862

206,646

-0,2347

0,3746

-0,2064

1,40563

1,11719

10

49,8

20,08

324,603

230,439

206,012

-0,2052

0,1906

-0,5123

1,40863

1,11857

11

50

20,00

308,752

230,001

205,367

-5,0781

0

-0,8238

1,3424

1,11995

12

50,2

19,92

324,603

229,551

205,528

-0,2052

-0,1956

-0,7461

1,41408

1,11688

13

50,4

19,84

324,507

229,093

205,678

-0,3247

-0,3948

-0,6739

1,41649

1,11384

14

50,6

19,76

324,981

228,63

205,816

-0,0888

-0,5958

-0,6074

1,42143

1,11085

15

50,8

19,69

324,122

228,167

205,942

-0,3528

-0,7972

-0,5465

1,42055

1,10792

16

51

19,61

324,468

227,707

206,056

-0,2466

-0,9973

-0,4912

1,42494

1,10507

17

51,2

19,53

324,973

227,253

206,159

-0,0913

-1,1947

-0,4417

1,43001

1,10232

18

51,4

19,46

324,459

232,659

206,25

-0,2492

1,1559

-0,3978

1,39457

1,12805

19

51,6

19,38

324,368

232,253

207,265

-0,2774

0,9793

0,0924

1,39661

1,12056

20

51,8

19,31

324,719

231,833

208,76

-0,1694

0,965

0,8145

1,40066

1,11052

21

52

19,23

323,585

231,401

208,308

-0,5181

0,6088

0,596

1,39837

1,11086

Tab.3. wpływ częstotliwości na błędy przetwarzania.

Parametry sygnału:

Asyg=

325,27V

fsyg=

51,29Hz

φsyg=

Parametry próbkowania:

SR=

zmienne

Tp=

50ms

n=

zmienne

Lp.

SR

n

Nokr

Umax

URSM

Usr

δ Umax

δ URSM

δ Usr

-

SPS

-

-

V

V

V

%

%

%

0

1000

50

19,49698

324,381

227,052

206,201

-0,2734

-1,2822

-0,4212

1

975

48,75

19,00955

323,586

230,06

206,681

-0,5177

0,0256

-0,1894

2

923

46,15

17,99571

319,242

229,974

204,983

-1,8533

-0,0114

-1,0097

3

872

43,6

17,00136

323,261

230,02

207,622

-0,6175

0,0041

0,2648

4

821

41,05

16,00702

301,129

230,048

204,525

-7,422

0,0207

-1,2305

5

769

38,45

14,99318

322,294

229,964

206,314

-0,9151

-0,0158

-0,3667

Tab.4. wpływ szybkości próbkowania w stosunku do częstotliwości sygnału.

0x01 graphic

Wyk.3. Wykres zależności błędów δ Umax, δ URSM, δ Usr, w funkcji częstotliwości sygnału.