Miarą twardości Brinella jest stosunek siły obciążającej F do powierzchni czaszy kulistej odcisku (mm2).

Przy właściwym doborze siły średnica odcisku d powinna mieścić się w następującym zakresie:

0,25D≤d≤0,6D

Miarą twardości Rockwella jest różnica stałej głębokości K i trwałego przyrostu głębokości odcisku h:

HR = K - h, gdzie:

K - stała umowna wyrażona w jednostkach podziałki zależnych od rodzaju zastosowanego wgłębnika, przy czym wynosi ona dla stożka 100, a dla kulki 130.

Przy uderzeniu część energii zostaje zużyta na odkształcenie plastyczne a pozostała część energii zostaje zwrócona w postaci energii sprężystego odskoku E2.
Twardość charakteryzuje stosunek

E2/E1=h/H, HS

Jeśli wysokość H jest stała, to wystarczy wyznaczyć wysokość odskoku h. Im większa wysokość h tym większa twardość badanego materiału.
Miarą twardości jest wysokość odbicia którą odczytuje się na skali. Sprawdzenia wskazań dokonuje się za pomocą płytek wzorcowych o znanej twardości.
Twardość według tej próby mierzy się w jednostkach niemianowanych HS. Według odpowiednich tabel można przeliczyć twardość HS na twardość w jednostkach np. Brinella

Kulka stalowa o średnicy D = 10 mm z jednej strony dotyka próbki, z drugiej zaś płytki wzorcowej o znanej twardości HB. Przez uderzenie młotkiem w trzpień, dociskany jest on sprężyną do płytki wzorcowej, przez co powstają odciski zarówno na próbce, jak i płytce przy tej samej energii uderzenia.

Znając twardość wzorca i wielkość średnic odcisków, oblicza się twardość badanej próbki z tablic podanych w normie.

Twardością Knoopa ( symbol - HK) nazywa się stosunek obciążenia do pola rzutu powierzchni odcisku na badaną płaską powierzchnię.

Zalety pomiaru twardości metodą Knoopa:

1. Mała głębokość odcisku, ok. 1 / 30 większej przekątnej rombu

(mniejsza niż u Vickersa, ok. 1 / 7 przekątnej kwadratu).

2. Małe błędy pomiaru w porównaniu z metodą Vickersa.

3. Możność badania materiałów bardzo twardych i kruchych, jak np.: szkło, emalia, które przy innych pomiarach pękają.

Przy uderzeniu część energii zostaje zużyta na odkształcenie plastyczne a pozostała część energii zostaje zwrócona w postaci energii sprężystego odskoku E2.
Twardość charakteryzuje stosunek

E2/E1=h/H, HS

Jeśli wysokość H jest stała, to wystarczy wyznaczyć wysokość odskoku h. Im większa wysokość h tym większa twardość badanego materiału.
Miarą twardości jest wysokość odbicia którą odczytuje się na skali. Sprawdzenia wskazań dokonuje się za pomocą płytek wzorcowych o znanej twardości.
Twardość według tej próby mierzy się w jednostkach niemianowanych HS. Według odpowiednich tabel można przeliczyć twardość HS na twardość w jednostkach np. Brinella

Próba Baumanna umożliwia również wykrycie pozostałości jam osadowych, pęcherzy oraz fosforu w stali (fosfor reaguje z emulsją papieru bromosrebrowego, powodując powstawanie jasnożółtych punktów odpowiadających skupieniom fosforków)

Powiększenie całkowite - iloczyn powiększenia własnego obiektywu i okularu, z tym, że obiektyw ma zdolność rozróżniania szczegółów w obserwowanym obiekcie, natomiast okular tylko obraz utworzony przez obiektyw, nie uwidoczniając nowych szczegółów. Daje więc tak zwane powiększenie puste.

Zdolność rozdzielcza - najmniejsza odległość między dwoma punktami na próbce, które mogą być jeszcze rozróżnione przy obserwacji.

Głębia ostrości - zakres odległości w kierunku osi optycznej obiektywu, w którym obserwowane szczegóły są ostre.

W mikroskopii elektronowej mogą być stosowane następujące techniki badawcze:

• odbiciowa, w której wiązka elektronów odbija się od powierzchni próbki,

• emisyjna, gdzie sama próbka jest źródłem elektronów,

• prześwietleniowa (transmisyjna), w której wiązka elektronów tworząca obraz przechodzi przez próbkę.
  Najczęściej jest stosowana technika prześwietleniowa (TEM), gdyż pozwala ona na osiągnięcie znacznie lepszej zdolności rozdzielczej.

W technice prześwietleniowej istnieją dwie zasadniczo różne metody badawcze: bezpośrednia, polegająca na wprowadzeniu wprost do komory przedmiotowej badanego materiału w postaci cienkiej folii metalicznej, proszków lub ultradrobnych cząstek i metoda pośrednia, która opiera się na stosowaniu replik odwzorowujących topografię badanych powierzchni.

Istota metody pośredniej polega na prześwietlaniu nie samego obiektu, lecz jego repliki, to jest cienkiej błonki, dokładnie odwzorowującej strukturę badanej powierzchni.
Repliki jednostopniowe otrzymuje się przez nałożenie cienkiej warstwy masy plastycznej na powierzchnię próbki i jej oderwanie od powierzchni.
Najczęściej jednak są wykonywane repliki dwustopniowe: triafol-węgiel. Sposób ich wykonania polega na tym, że warstwa węglowa jest naparowywana na powierzchnie próbki, ale na matrycy wykonanej z powierzchni próbki w łatwo rozpuszczalnym plastyku o nazwie handlowej "triafol".

---