Cel ćwiczenia :

Celem ćwiczenia jest poznanie wybranych układów oraz zakresu ich zastosowań, do pomiarów elementów typu rezystory, kondensatory i cewki :

Zad.1. Pomiary rezystancji mostkiem Wheatstone'a

Celem ćwiczenia było zbadanie zależność czułości napięciowej mostka Wheatstone'a od wartości rezystancji R1 i R2 w jego gałęziach, dla podanej wartości Rx i napięcia Uz . W celu wyznaczenia czułości najpierw zrównoważono mostek przy pomocy rezystora Rp regulowanego dekadowo, a następnie rozstrojono go od stanu równowagi przez niewielką zmianę rezystancji mierzonej Rx. Do tego celu wykorzystaliśmy multimetr cyfrowy 34401A . Schemat połączenia pokazuje rysunek :

0x01 graphic

Tabela zawiera wyniki pomiarów:

R1 []

Rx []

U [mV]

SU=U/Rx [mV/]

10

219

-10,02

0,046

100

22,1

-10,002

0,45

1000

6,1

-10,56

1,73

10000

20

-10,9

0,545

Na podstawie powyższych wyników pomiarów ustalono wartość rezystora R1, dla którego czułość mostka Wheatstone'a była największa. W tabeli rezystancję tę zaznaczono czcionką pogrubioną. Dla tej rezystancji przeprowadzono następnie pomiary czułości mostka w funkcji rezystora R2.

Tabela zawiera wyniki pomiarów:

R2 []

Rx []

U [mV]

SU=U/Rx [mV/]

10

100

-10,15

0,1015

100

9

-9,00

1,00

1000

9

-12,55

1,42

10000

8,9

-10

1,12

Wykres przedstawia zależność czułości od rezystancji R1:

0x01 graphic

Wykres przedstawia zależność czułości od rezystancji R2:

0x01 graphic

Na podstawie powyższych wykresów można określić dla jakich wartości oporników R1 i R2 czułość mostka Wheatstone'a jest największa:

R1 = 1000 

R2 = 1000 

Dzieje się tak , dlatego że wartości wzorcowe R1 i R2 są zbliżone do wartości mierzonej Rx . To zapewnia największą czułość naszego mostka.

Zad.2. Pomiary małej rezystancji mostka Thomsona

Celem ćwiczenia był pomiar rezystancji ścieżki obwodu drukowanego . Schemat połączenia pokazuje rysunek :

0x01 graphic

Doprowadziliśmy mostek do równowagi , a w tym stanie rezystancja mierzona wyraża się wzorem :

0x01 graphic

gdzie: R=R1=R2 to wartości rezystancji na mostku

RN to rezystancja wzorcowa

RP to opór odczytany z ekranu miernika

W trakcie pomiarów ustalono, że:

RN = 0,1 

R = 1000 

RP = 320 

Po podstawieniu do wzoru otrzymujemy wynik: RX = 32 m. Teraz zakładając, że przewodność właściwa miedzi wynosi 56 m/mm2 oraz szerokość ścieżki równą 2 mm, zaś odstęp pomiędzy zaciskami 0,05 m można policzyć grubość ścieżki, stosując wzór:

0x01 graphic

Podstawiając dane otrzymujemy: gr = 0,014 mm.

Zad.3.Pomiar rezystancji 2 i 4 zaciskowym multimetrem cyfrowym

Ćwiczenie polegało na pomiarze rezystancji ścieżki obwodu drukowanego . Pomiar ten przeprowadziliśmy dla cztero i dwuzaciskowej funkcji multimetru pomiaru rezystancji.

Schematy połączenia pokazują rysunki :

0x01 graphic

0x01 graphic

Rezystor wzorcowy :

R2w = 0,134  R4w = 0,105 

Błąd R2w= 25%

Błąd R4w= 5%

Ścieżka obwodu drukowanego :

R2w = 0,065  R4w = 0,032 

Wnioski :

Dokładność pomiaru małych rezystancji , mniejszych niż 1 ohm , mostkiem Wheatstone'a szybko maleje wraz ze zmniejszaniem się mierzonej rezystancji . Jest to spowodowane głównie rezystancją styków i doprowadzeń , których wartość zaczyna być porównywalna z wartością mierzonej rezystancji . Dlatego wyniku pomiaru jest dokładniejszy dla metody czteroprzewodowej .

Zad.4. Pomiar małej rezystancji metodą techniczną .

Ćwiczenie polegało na pomiarze rezystancji ścieżki obwodu drukowanego metodą techniczną w układzie pomiarowym przedstawionym poniżej :

0x01 graphic

Pomiar składał się z dwóch etapów . Pierwszy polegał na zmierzeniu za pomocą multimetru 34401A napięcia na rezystorze wzorcowym , zaś drugi polegał na dołączeniu multimetru do zacisków U1 i U2 na mierzonej rezystancji Rx.

Rezystancję ścieżki wyznaczamy z zależności :

0x01 graphic

URx = 32,06 mV

URn = 99,03 mV

Rn = 0,1 

k = 0,32

Wyniki pomiarów rezystancji ścieżki obwodu drukowanego są dokładne dla metody przeprowadzonej mostkiem Thomasona i metodą techniczną , a odbiegają tylko przy metodzie pomiaru multimetrem cyfrowym . Pomiar jest różny z powodu zastosowania tu dwu lub cztero przewodowego połączenia , które wywołuje niewielki błąd pomiaru rezystancji wzorcowej Rn.

Zad.5. Pomiar rezystancji elementu nieliniowego metodą techniczną .

Celem ćwiczenia było wyznaczenie charakterystyki prądowo-napięciowej oraz rezystancji żarówki metodą techniczną w układzie pomiarowym przedstawionym na rysunku :

0x01 graphic

Podczas ćwiczeni zmieniałem napięcie wyjściowe zasilacza BS 525 , tak aby wskazania prądu amperomierza M 4650 odpowiadały wartościom z tabelki .

Tabela przedstawia wyniki pomiarów i obliczeń :

IDC [mA]

2

4

8

12

16

20

UDC [V]

0,2432

0,835

2,75

5,374

8,7

12,635

R [Ώ]

121,6

208,75

343,75

447,8333

543,75

631,75

Wykres rezystancji R w funkcj prądu R = f(I)

0x01 graphic

Możemy wywnioskować ,że rezystancja zmienia się nieliniowo w funkcji prądu . Wykres obrazuje nasz wniosek .

Zad.6. Pomiar pojemności kondensatora o dużym współczynniku stratności D miernikiem HM 8018 .

Celem ćwiczenia było zbadanie wpływu wartości współczynnika stratności D kondensatora na wynik pomiaru jego pojemności w równoległym i szeregowym układzie zastępczym . Rysunek pokazuje schemat połączenia :

0x01 graphic

Dla szeregowego: Dla równoległego :

0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic

Tabela przedstawia wyniki pomiarów i obliczeń dla połączenia szeregowego :

Rd [Ώ]

0

100

200

300

500

700

Cx [nF]

149,8

146,2

137,1

124

95,5

70,9

Rx [Ώ]

0

100

200

300

500

700

Ds

0

0,1503

0,3006

0,4509

0,7515

1,0521

δCx [%]

-0,3326

-2,7278

-8,7824

-17,498

-36,460

-52,827

Tabela przedstawia wyniki pomiarów i obliczeń dla połączenia równoległego :

Rd [Ώ]

100

10

5

2

1

0,6

Cx [nF]

149,8

149,7

149,8

149,8

150

149,6

Gx [μS]

15

104

205

505

1000

1671

Dp

0,00998004

0,069195

0,136394

0,335995

0,665336

1,111776

δCx [%]

-0,3326679

-0,3992

-0,33267

-0,33267

-0,1996

-0,46574

Na wspólnym wykresie wykreślono zależność błędu pomiaru pojemności δCx od współczynnika stratności Dp (Równoległe połączenie) i DS (Szeregowe połączenie):

0x01 graphic

Możemy zauważyć bardzo dużą rozbieżność naszych wykresów. Pomiar układu równoległego zapewnia nam niski błąd przy niewielkim współczynniki stratności , ponieważ mierzona pojemność jest cały czas bliska rzeczywistej. Pomiar układu szeregowego wskazuje nam na szybki wzrost błędu pojemności wraz ze wzrostem współczynnika stratności . Jest to spowodowane dużym spadkiem pojemności mierzonej w porównaniu z pojemnością rzeczywistą badanego kondensatora.

Zad.7. Pomiar kondensatorów o małych wartościach pojemności .

Celem ćwiczenia było zaobserwowanie jaki wpływ ma zbliżanie i oddalanie przewodów oraz dotykanie ich ręką na wynik pomiaru . Pomiar wykonaliśmy dla kondensatora o pojemności 100pF , łącząc go dwóch przewodów , co ilustruje rysunek :

0x01 graphic

W pierwszej części doświadczenia kondensator połączono z miernikiem RLC przy pomocy zwykłych, nieekranowanych przewodów. W ten sposób można było obserwować wpływ zakłóceń na dokładność pomiaru. Przy różnym ułożeniu kabli i dotykaniu izolacji szukano maksymalnego i minimalnego wyniku pomiaru:

Cmax = 161 pF Cmin = 109,4 pF

Następnie zmieniono przewody na jeden przewód ekranowany. Eksperyment wykazał, że ułożenie przewodu nie wpływało na wynik pomiaru, natomiast duży wpływ miało dotykanie kabli i podłączenie (C2) lub rozłączenie (C1) ekranu przewodu:

C1 = 113,6 pF C2 = 158,7 pF

Wnioski: Przewód ekranowany wpływa dodatnio na stabilność i zmniejszenie błędu pomiaru lecz tylko wtedy, gdy ekran podłączony jest do masy miernika. W innym przypadku ekran działa jak druga okładka dodatkowego kondensatora, którego pierwszą okładką są przewody pomiarowe.

Zad.8. Pomiar indukcyjności i rezystancji miernikiem LC

Celem ćwiczenia było zmierzyć indukcyjność Lx oraz rezystancję badanego dwójnika na zakresie pomiarowym 200mH za pomocą miernika HM 8018. Schemat połączenia pokazuje rysunek :

0x01 graphic

Wyniki pomiarów:

LX = 41,1 mH RX = 14 

Ogólny wzór opisujący impedancję szeregowego połączenia cewki Lx i rezystancji Rx ma postać: Zx=Rx+jωLx . Stąd obliczamy moduł |Zx| i kąt przesunięcia fazowego x:

Obliczam:

0x01 graphic

Zad.9.Pomiar cewek o małych wartościach indukcyjności

Celem ćwiczenia było wykonanie pomiaru indukcyjności i rezystancji szeregowej cewki 10 μH za pomocą miernika LC przy dwu i cztero przewodowym połączeniu .

Lx2 = 34,3 μH Rx2 = 0,47 Ώ

Lx4 = 9,7 μH Rx4 = 0,95 Ώ

Metoda przy cztero przewodowym połaczeniu jest dokładniejsza , ponieważ pomiar jest bardzo zbliżony do wartości rzeczywistej.

Zad.10. Pomiar pojemności kondensatora multimetrem cyfrowym Metex M-46CD

Celem ćwiczenia było sprawdzenie jaki wpływ ma rezystancja bocznikująca kondensatora na wynik pomiaru pojemności .

Tabela przedstawia wyniki pomiarów i obliczeń:

Rd [kΏ]

50

20

10

7

5

4

Cx [nF]

164,3

165,41

168,74

172,9

181,08

189,66

δCx [%]

9,533333

10,27333

12,49333

15,26667

20,72

26,44

Wykres przedstawia błąd pojemności Cx w funkcji rezystancji Rd :

0x08 graphic

Na podstawie wyników w tym zadaniu i w zadaniu pomiaru kondensatora o dużym współczynniku stratności D , możemy ocenić przydatność stosowanych mierników do tych pomiarów . Miernik Metex M -4650CR w pomiarze z rezystancją bocznikującą o dużej wartości nadaje się lepiej niż gdy rezystancja jest mała . Zaś mirnik HM 8018 nadaje się do pomiaru kondensatorów o małym współczynniku stratności , gdyż błąd pomiaru jest proporcjonalny do tego współczynnika .