Z a k ł a d M e t a l o z n a w s t w a i M e t a l u r g i i P r o s z k ó w W M i I M AGH

0x08 graphic

L A B O R A T O R I U M Z M E T A L O G R A F I I

Imię i Nazwisko

Sobczak Paweł

WMiIM

III MOC

DATA

12.I.2004

OCENA

NR./TEMAT:

Pomiar charakterystyk ziarna płaskiego.

0x08 graphic

Szczegółowa charakterystyka ćwiczenia (zadania, metoda, wyposażenie,...)

Program ćwiczenia:

  1. Wyznaczenie NA metodą Jeffreisa na podstawie zdjęcia struktury polikrystalicznej tytanu.

n1=86, liczba ziaren należących całkowicie do obszaru pomiarowego;

n2=37, liczba ziaren częściowo należących do obszaru pomiarowego;

0x01 graphic

g=400, powiększenie;

a=100 mm, długość boku kwadratu - obszaru pomiarowego A;

Arz=0,0625 mm2, rzeczywiste pole obszaru pomiarowego

0x01 graphic

  1. Tabela nr 1 (zbiorcze wyniki całej grupy).

i

1

2

3

4

5

6

7

(NA)i

1028

1688

1488

1552

1504

1456

1480

(NL)i

31

41

35

33

38

25

36

  1. Statystyczne opracowanie wyników pomiarów.

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

  1. Wyznaczenie:

0x01 graphic

0x01 graphic

      1. Ocena NL≈PL.

wg. następujących założeń;

0x01 graphic

NL≈PLNL=41;

      1. Wyniki zbiorcze - całej grupy. (patrz. tabela pkt. 2);

      1. Wyznaczyć;

        1. średnią cięciwę ziarna płaskiego 0x01 graphic
          [mm],

0x01 graphic

        1. średnią długość właściwą 0x01 graphic
          [1/mm2],

0x01 graphic

          1. Pomiary charakterystyk ziarna płaskiego.

i

metoda pomiaru

oznaczenie

nazwa

jednostka

1.

Porównawcza

G

nr wzorca

-

2.

Zliczanie ziaren wewnątrz obszaru pomiarowego

NA

liczność względna

-

a

średnia powierzchnia

mm2

d

średnia średnica

mm

3.

Zliczanie ziaren przeciętych przez obiekt geometryczny

NL

liczność względna

-

l

średnia cięciwa

mm

LA

średnia długość właściwa

mm-1

0x08 graphic

Załączniki: (rysunki, tabele, programy komputerowe, itd.)