Sprawdzanie wyposażenia pomiarowego, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Metrologii


Politechnika Poznańska

Laboratorium

Podstaw Metrologii

Wykonali:

Cezary Kędzierski

Roman Machulak

Wojciech Majchrzak

Wydział:

BMiZ

Kierunek:

ZiIP

Semestr:

III

Grupa:

ZP5

Grupa lab:

3

Data:

21.01.2011

Ocena:

Prowadzący:

mgr inż. Lidia Marciniak

Podpis sprawdzającego:

TEMAT: Sprawdzanie wyposażenia pomiarowego.

  1. Schemat stanowiska:

  1. 0x08 graphic
    kabłąk

  2. kowadełko

  3. urządzenie do obciążania wrzeciona

  4. wrzeciono

  5. bęben

  6. sprzęgło

  7. odważniki

  1. Sprawdzenie nacisku pomiarowego i błędów wskazań spowodowanych ugięciem kabłąka:

- nacisk pomiarowy

ciężar szalki: 200g = 0,200kg x 9,806 = 1,961 N

wartość obciążników: 355g = 0,355kg x 9,806 = 3,5N

nacisk pomiarowy: 0,200kg + 0,355g = 0,555kg x 9,806 = 5,5 N

- ugięcie kabłąka

wskazanie mikrometru obciążonego

W0x01 graphic
= 60,43mm

wskazanie mikrometru nieobciążonego

W0x01 graphic
=60,01mm

obciążenie P = 5kg x 9,806 = 49N

wymiar płytki wzorcowej: 60 mm

ugięcie:

- rzeczywiste 0x01 graphic

  1. Sprawdzenie dokładności wskazań:

Zakres mikrometru wynosi: 50mm - 75mm

Dokładność mikrometru: 0,01mm

wymiar [mm]

Odczyt [mm]

Błąd wskazań fi [mm]

Dopuszczalny błąd wskazań fi [0x01 graphic
]

A = 50,00

50,15

0,15

0x01 graphic

+ 2,5 = 52,50

52,51

0,01

+ 5,1 = 55,10

55,10

0,00

+ 7,7 = 57,10

57,79

0,69

+ 10,3 = 60,30

60,28

-0,02

+ 12,9 = 62,90

62,90

0,00

+ 15,0 = 65,00

65,12

0,12

+ 17,6 = 67,60

67,58

-0,02

+ 20,2 = 70,20

70,19

-0,01

+ 22,8 = 72,80

72,81

0,01

+25,0 = 75,00

74,99

-0,01

  1. Wnioski

Z zamieszczonej tabeli można odczytać, że większość błędów wskazań mikrometra są większe niż jego dopuszczalny błąd. Spowodowane to może być zarówno niedokładnością narzędzia pomiarowego, bądź zwiększającą się ilością płytek poszczególnych pomiarów. Wraz ze wzrostem ilości płytek zwiększa się błąd odczytu. Badany mikrometr jest wadliwy.

1



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
ćwiczenie 3 Sprawdzanie przyrządów pomiarowych, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Metrologii
ćwiczenie 2 Statystyczne opracowanie wyników pomiarów, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Metrolo
ćwiczenie 6 Badanie powtarzalności i odtwarzalności pomiarów. Pomiary na wysokościomierzu, ZiIP Poli
przetworniki, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Metrologii
ćwiczenie 5 Tolerancje i pasowania, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Metrologii
pajak, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Zarządzania - PAJĄK
Struktura źródeł błędów w procesie pomiarowym, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wyk
Teoria potrzeb Maslowa, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Zarządzania - PAJĄK
PZ zagadnienia 2012, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Zarządzania - PAJĄK
141231Marketing od siwego, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Marketingu
Dyrektywa dot pomiarow, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wykłady 2011
cw6-zebate, ZiIP Politechnika Poznańska, Techniki Pomiarowe
KLASYFIKACJA PRZYRZADÓW POMIAROWYCH I WZORCÓW MIAR DO POMIARU DŁUGOŚCI, PWR Politechnika Wrocławska,
Cw10, ZiIP Politechnika Poznańska, Techniki Pomiarowe
Zadanie z pasowania otwarte, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wykłady 2011
320, ZiIP Politechnika Poznańska, Fizyka II, Ćwiczenia
Konspekt LOM ZIP. s1, ZiIP Politechnika Poznańska, Obróbka Mechaniczna

więcej podobnych podstron