Ćwiczenie 22

Sygnałem S fotoczułego elementu półprzewodnikowego jest zmiana przewodnictwa elektrycznego, natężenia prądu lub napięcia pojawiającego się na jego wyjściu pod wpływem padającego promieniowania. Wielkość sygnału zależy od gęstości widmowej strumienia promieniowania φ(λ) oraz od czułości widmowej fotodetektora C(λ).

Celem określenia C(λ) dla danego fotodetektora oświetla się go światłem zbliżonym do monochromatycznego, czyli o małym zakresie długości fal Δλ położonym w otoczeniu wybranej długości fali λ. Zakres ten powinien być na tyle mały, aby C(λ) i φ(λ) wewnątrz niego były praktycznie stałe. Wówczas związek między sygnałem S wygenerowanym w tych warunkach i czułością widmową C mamy następujący związek

Padający na fotodetektor strumień światła o szerokości widmowej Δλ jest równy

Ostatecznie czułość widmową wyznacza się korzystając ze wzoru

Często używa się pojęcia względnej czułości widmowej C_w(λ) jako stosunek C(λ) do maksymalnej czułości widmowej C_max., czyli

0x08 graphic
Źródłem światła o określonej długości fali jest monochromator. Działanie monochromatora oparte jest na zjawisku rozszczepienia światła białego w pryzmacie (Rys.1). Światło z żarówki Ż przechodzi przez szczelinę Sz₁, po czym rozszczepia się w pryzmacie P. Szczelina Sz₂ wycina z wielobarwnej wiązki światła „monochromatyczny” strumień, który następnie trafia do detektora FD. Kontrolowany obrót pryzmatu pozwala na płynną zmianę długości fali światła oświetlającego detektor.

Zależność φ(Δλ) układu monochromatora została określona wcześniej za pomocą termoogniwa, znormalizowana i stabelaryzowana (Tab.1). Należy podkreślić, że wartość φ_n(Δλ_i) odpowiada względnemu strumieniowi światła o długości λ_i odniesionym do strumienia przy λ=490nm.

Fotoopornik FR jest elementem półprzewodnikowym, w którym generowane są nośniki ładunku przez pochłaniane fotony. W efekcie oświetlony fotoopornik zmienia swoją przewodność elektryczną σ. Pomiar przewodności wykonujemy mierząc oporność R omomierzem Ω i obliczając z zależności σ=1/R (Rys.2).

2b. Pomiar względnej czułości widmowej fotodiody i fotoogniwa.

Fotodioda FD jest półprzewodnikowym złączem p-n, w którym pochłonięte fotony powodują powstanie dodatkowych elektronów i dziur. Energia fotonów musi być większa od szerokości przerwy energetycznej materiału diody. Dzięki temu foton może być pochłonięty przez elektron z pasma walencyjnego. Wzbudzony elektron przechodzi do pasma przewodnictwa i przepływa do obszaru n. Przejście elektronu powoduje powstanie w paśmie walencyjnym dziury, która kieruje się do obszaru p. Fotodioda może pracować na dwa sposoby:

1.jako źródło fotoprądu jeżeli złącze zasilane jest w kierunku zaporowym (Rys.4a)

2.jako źródło napięcia jeżeli doprowadzenia diody pozostaną rozwarte(Rys.3).

W tym ostatnim przypadku fotodioda pracuje jako ogniwo fotoelektryczne. Działające na tej zasadzie fotoogniwa powszechnie stosowane są w technice (np. zasilanie kalkulatorów, sond kosmicznych, elektrownie słoneczne…).

Fototranzystor jest zmodyfikowanym układem tranzystora bipolarnego (emiter-baza-kolektor), w którym pochłonięte fotony powodują powstanie dodatkowych elektronów i dziur na złączu baza-emiter. Praktycznie, zjawisko kreacji pary elektron-dziura jest takie samo jak w fotodiodzie. Czułość fototranzystora jest większa od czułości diody, ponieważ w fototranzystorze fotoprąd jest dodatkowo wzmacniany. Pomiar czułości fototranzystora dokonuje się w układzie pokazanym na rysunku 4b.

3.1. Zmierzyć wartości sygnału otrzymanego z fotodetektora w funkcji długości fali świetlnej w zakresie 490-710nm (15-20 pomiarów). Skorygować wyniki uwzględniając charakterystykę źródła fali poprzez podzielenie każdej wartości S(Δλ_i) przez odpowiednią wartość φ_n(Δλ_i). Następnie unormować wyniki dzieląc każdą wartość sygnału S(Δλ_i) przez jego maksymalną wartość S_m(Δλ_i). W ten sposób otrzymamy dane o wartości względnej czułości widmowej danego czujnika światła.

3.2. Narysować wykres względnej czułości zbadanych fotoelementów.

Otrzymane wykresy względnej czułości widmowej fotodetektorów mają charakter jakościowy, dlatego analizy niepewności pomiaru nie przeprowadzać.

λ_i [nm]	490	500	510	520	530	540	550	560	570	580	590
φ_n( Δλ_i)	1,0	1,1	1,3	1,6	1,9	2,2	2,5	2,8	3,3	3,8	4,4
λ_i [nm]	600	610	620	630	640	650	660	670	680	690	700
φ_n( Δλ_i)	5,0	5,7	6,2	7,2	8,0	8,8	9,8	11,1	12,1	13,4	14,7