PROMIENIOWANIE RENTGENOWSKIE

Dyfrakcja: ugięcie fali na przeszkodzie małej w porównaniu z długością fali.

Fala wskutek dyfrakcji interferuje z falą nieugiętą i z innymi falami ugiętymi.

Podejście Lauego:

Laue traktował dyfrakcję promieni X tak jak dyfrakcję światła na siatce

dyfrakcyjnej, a kryształ jako zbiór atomów w 3D sieci krystalicznej.

Od czego zależy intensywność refleksu dyfrakcyjnego?

Tekstura (istnienie wyróżnionego kierunku krystalograficznego na powierzchni materiału); W nowoczesnych materiałach znajomość teksturowanie powierzchni stosuje się celowo jako metodę wpływu na właściwości fizyczne.

W zależności od tego, czy próbka jest mono- czy polikrystaliczna,

stosuje się różne przyrządy i metody badań.

- Monokryształy: metoda Lauego i metoda obracanego kryształu.

- Polikryształy: pomiar za pomocą kamery Debye'a Scherrera lub dyfraktometru

rentgenowskiego.

METODA LAUEGO:

Rejestruje się promienie albo po przejściu przez kryształ, albo odbite od kryształu.

Każdy punkt odpowiada innej rodzinie płaszczyzn sieciowych. Intensywność refleksów dyfrakcyjnych niesie informację o rodzaju atomów, centrowaniu komórki elementarnej itd.

Metoda Lauego można wyznaczyć:

a) odległości międzypłaszczyznowe, a co za tym idzie, rozmiar komórki elemen-tarnej.

b) Orientację kryształu

c) Symetrię komórki elementarnej

d) Niektóre defekty struktury.

METODA OBRACANEGO KRYSZTAŁU:

Celem pomiaru jest zarejestrowanie intensywności możliwie dużej ilości refleksów (hkl)

Dlatego używa się tzw dyfraktometru cztero-kołowego aby można było obracać kryształ i detektor.

KAMERA DEBYE'A SCHERRERA:

Próbka jest nieruchoma, a klisza lub nowoczesny detektor w postaci folii czułej na promieniowanie X, umieszczony jest dookoła próbki (rejestruje się promieniowanie ugięte pod wszystkimi kątami jednocześnie).

DYFRAKTOMETR:

Detektor obejmuje mały zakres kątów. W czasie pomiaru następuje obrót detektora i lampy lub detektora i próbki.