Pomiar stałej dielektrycznej skał.

Podstawy fizyczne:

Jedną z wielu fizycznych własności wykorzystywanych w warunkach laboratoryjnych do analizy próbek skał jest stała dielektryczna ε . Własność ta jest miarą podatności badanej próbki na polaryzację zewnętrznym polem elektrycznym kształtującą wewnętrzną strukturę elektryczną w postaci dipoli, czyli przesuniętych względem siebie ładunków dodatnich i ujemnych. Zjawisko polaryzacji można sobie wyobrazić jako działanie łańcuchów dipolowych formowanych pod wpływem przyłożonego pola wewnętrznego o natężeniu Ez. Przesunięcia ładunków powodują indukowanie się na przeciwległych powierzchniach próbki ładunków powierzchniowych przeciwnego znaku o potencjale U.

U= Ew * l

gdzie:

Ew - średnie przestrzenne natężenie pola elektrycznego wewnątrz próbki

l - uśredniona odległość ładunków powierzchniowych

Analizując makroskopowo zachowanie się próbki dielektrycznej w zewnętrznym polu elektrycznym Ez jako elementu biernego, tzn. nie wnoszącego wkładu w natężenie pola, należy założyć niezmienność wartości potencjału ładunków powierzchniowych U, czyli natężenia pola zewnętrznego Ez związanego z polem wewnętrznym Ew relacją

Ez = ε * Ew

gdzie:

ε-współczynnik proporcjonalności będący miarą podatności badanej próbki na polaryzację, zwany stałą dielektryczną

Stała dielektryczna jest jedną z wielu fizycznych własności którą to wykorzystuje się do badania próbek w zewnętrznym polu elektrycznym, kształtującą wewnętrzną strukturę elektryczną w postaci dipoli.

Przenikalność dielektryczną próżni wynosi:

ε0 - 8,854 * 10-12 [-]

Stałą dielektryczną ε określamy z przyrostu pojemności wzorem:

0x08 graphic
gdzie: Δc- różnica pojemności kondensatora zawierającego między okładkami badanej próbki cd i pojemności kondensatora pustego co Δc= cd- co

l- odległość między elektrodami kondensatora

s- powierzchnia próbki

Elektryczne i elektromagnetyczne własności skał zależy od :

Przeprowadzenie ćwiczenia:

Badaną próbkę umieszczamy w uchwycie pomiarowym tworzącym kondensator, którego okładki połączymy kablem do zacisków pomiarowych. Po zmierzeniu pojemności kondensatora z badaną próbką dla czterech częstotliwości identycznie obliczenia wykonujemy dla kondensatora pustego (bez badanej próbki).

Stałe dielektryczne obliczamy ze wzoru:

0x08 graphic
zaś błąd pomiaru stałej dielektrycznej liczymy wykorzystując prawo przenoszenia błędów:

0x08 graphic

gdzie:

δl = 0,01[cm]

δs = 0,01[cm2]

δc= 2 [pF}

Wyniki dla próbki 11:

Pomiar pojemności w [pF] przy częstotliwości [Hz]

10 kHz

100 kHz

1 MHz

10 MHz

Przyrost pojemności ΔC [pF]

22

15

13

11

ε [-]

1,872

1,046

1,0021

8,092*10-5

δε

2,8*10-6

Wyniki dla próbki 30A

Pomiar pojemności w [pF] przy częstotliwości [Hz]

10 kHz

100 kHz

1 MHz

10 MHz

Przyrost pojemności ΔC [pF]

134

64

28

13

ε [-]b

δε

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic