POLITECHNIKA POZNAŃSKA Instytut Technologii Mechanicznej LABORATORIUM ZAKŁAD METROLOGII I SYSTEMÓW POMIAROWYCH |
Wykonawcy:
|
|||
|
Wydział/kierunek/grupa BMIZ/MCHT1/lab1 |
|||
|
Rok studiów/sem./Rok akad. II / III / 2013/2014 |
|||
4Data wykonania ćwiczenia: 22.10.2013 |
Data oddania sprawozdania: 05.11.2013 |
Ocena: |
Podpis prowadzącego: |
Uwagi: |
SPRAWOZDANIE z ćwiczenia nr 4 TEMAT: Badanie dokładnośći pomiarów |
||||
Pomiary
α =0.05
Płytka zerowa: średnia pomiarowa: -0.0098mm
Średnia wariancji: 0,0017
Przedział łufności P{0.00023< <0.00065}=1-α
Płytka pierwsza(w23): średnia pomiarowa: 22,9953mm
Średnia wariancji: 0,0000052
Przedział ufności P{0.0000033< <0.0000093}=1-α
Płytka druga(w61): średnia pomiarowa: 60,9918mm
Średnia wariancji: 0,0000021
Przedział ufności P{0.0000013< <0.0000037}=1-α
Płytka trzecia(w100): średnia pomiarowa: 99,99mm
Średnia wariancji: 0,0000015
Przedział ufności P{0.0000015< <0.0000043}=1-α
Próba Bartletta
K=4
N=31
M=N*K
C=1.41
L.P. |
|
|
|
|
w0 |
0,00036 |
4,13 |
1,42 |
42,57 |
w23 |
0,000052 |
4,13 |
1,42 |
42,57 |
w61 |
0,000021 |
4,13 |
1,42 |
42,57 |
w100 |
0,000024 |
4,13 |
1,42 |
42,57 |
170,29
|
Wyznaczanie obszaru krytycznego
=(7,815 ; ∞ )
M R
Wnioski:
Na podstawie uzyskanego parametru M są podstawy do odrzucenia H .
Wykazaliśmy stopień rozproszenia błędów pomiarowych dla podanych wysokości. Więc ukazaliśmy ze wysokość zależy od błędu pomiarowego.s