background image

 

 

Mikroelektronika 

Mikroelektronika 

TECHNOLOGIA 

TECHNOLOGIA 

GRUBOWARSTWOWA

GRUBOWARSTWOWA

WYKŁAD 6

WYKŁAD 6

background image

 

 

TECHNOLOGIA GRUBOWARSTWOWA

TECHNOLOGIA GRUBOWARSTWOWA

Plan wykładu:

Plan wykładu:

1. Informacje ogólne

1. Informacje ogólne

2.

2.

 

 

Etapy wytwarzania

Etapy wytwarzania

3. Układy wysokotemperaturowe

3. Układy wysokotemperaturowe

4. Układy niskotemperaturowe 

4. Układy niskotemperaturowe 

(polimerowe)

(polimerowe)

5. 

5. 

Układy wielowarstwowe typu MCM 

Układy wielowarstwowe typu MCM 

(LTCC)

(LTCC)

background image

 

 

stacking

stacking

laminating

laminating

filing vias

filing vias

preconditionin
g

preconditionin
g

slitting

slitting

blanking

blanking

forming vias

forming vias

printing

printing

cofiring

cofiring

post-firing

post-firing

post-
printing

post-
printing

Etapy wytwarzania układu 

Etapy wytwarzania układu 

LTCC

LTCC

J.Kita 13th European Microelectronics and Packaging Conference, Strasbourg 2001

background image

 

 

Du Pont 943-A5 Green 

Du Pont 943-A5 Green 

Tape

Tape

Low loss, lead free glass/ceramic tape compatible with 

Low loss, lead free glass/ceramic tape compatible with 

Au, Ag and mixed metal conductors

Au, Ag and mixed metal conductors

 

 

Dielectric constant at 10 GHz

7.4

Loss tangent at 10 GHz

0.001

Breakdown voltage

> 1 kV/25 μm

TCE

4.5 ppm/K

Density

3.2 g/cm

3

Camber

< 75 μm/in

Surface smoothness

< 40 μin

Thermal conductivity

4.8 W/mK

Via diameter

100 μm

Line/space resolution

100 μm

Fired thickness

112 μm

background image

 

 

Du Pont 943-A5 Green 

Du Pont 943-A5 Green 

Tape

Tape

50 Ω MICROSTRIP ATTENUATION

 

D.I. Amey et al., Proc. Int. Symp. on Microelectronics IMAPS USA, 

D.I. Amey et al., Proc. Int. Symp. on Microelectronics IMAPS USA, 

2000

2000

background image

 

 

Since 1989 Murata has delivered over 950 million pcs of multilayer LTCC based 

components 

(LC Filters , Baluns, Couplers, Chip Antenna, RF Diode SW, Rx Devices) 

SUBSTRATE

length and width    

max 10 mm

thickness

1 – 2 mm

layer thickness

 

50 m (25, 100, 150 m optional)

CONDUCTOR

line width/space

100 m / 100 m

via diameter

130 m

 

RESISTOR

range

50  - 100 k

tolerance

5%

TCR

300 ppm/K

 

BURIED CAPACITOR

C

1 pF/mm

2

 x layer

tolerance

5%

TCC

80  20 ppm/K

 

STRIP LINE INDUCTANCE

impedance

100  max

spiral or radial

 

100 nH max

 
 

Murata LTCC 

RF receive device used in Sanyo PDC phone:

1.1 mm thick, 20 layers, integrated L and C, 3 $
  

SOREP LTCC 

switch diplexer module for dual band GSM

Siemens mobile phone, 200 000 units/month 1.5 $ – 2 $ each

5 layers, integrated L, C for filter and diplexer

 

Chiang S-K, Proc. IEMT/IMC, Japan 2000

MURATA

MURATA

background image

 

 

 

 

     

 

fine line patterning

       

 micromachining of LTCC tapes

       

 lamination

       

 making of cavities, holes and channels

       

 bonding of LTCC tapes to other materials

LTCC processing for microsystems

LTCC processing for microsystems

background image

 

 

 

 

FINE LINE PATTERNING

FINE LINE PATTERNING

         

 

 

 

 

fine line printing

fine line printing

        

        

 

 

 

 

FODEL photosensitive pastes (etching of unfired films)

FODEL photosensitive pastes (etching of unfired films)

         

         

 

 

 

 

photoimageable paste (etching of fired films)

photoimageable paste (etching of fired films)

         

         

 

 

 

 

gravure printing method

gravure printing method

         

         

 

 

 

 

laser patterning

laser patterning

 

 

 

 

jet printing

jet printing

 

 

background image

 

 

before 
firing

after 
firing

J.Kita et al. ISSE’02

- space width – 80 m

- minimal path width – 
150
 m

Laser 

Laser 

patterning

patterning

Thick-Film Microsystems Laboratory, Wroclaw University of Technology, Poland

background image

 

 

Gravure offset

Gravure offset

Direct Gravure Printing (DGP) Process

Direct Gravure Printing (DGP) Process

J. Hagberg, S. Lepp

J. Hagberg, S. Lepp

ä

ä

vuori et al., 14th European IMAPS Conf. 2003

vuori et al., 14th European IMAPS Conf. 2003

background image

 

 

Embossing

Embossing

  

  

LTCC process with embossing step

LTCC process with embossing step

 

 

A. Albrecht et al., 14th European IMAPS Conf. 2003

A. Albrecht et al., 14th European IMAPS Conf. 2003

Master for a spiral coil

Master for a spiral coil

background image

 

 

  

laser micromachining

laser micromachining

  

  

numerically contolled milling 

numerically contolled milling 

method

method

  

  

jet vapor etching 

jet vapor etching 

  

  

photolithographic patterning 

photolithographic patterning 

  

  

using of photoformable LTCC 

using of photoformable LTCC 

tapes 

tapes 

  

  

casting 

casting 

  

  

embossing 

embossing 

 

 

 

MIC

MIC

ROMACHINING OF LTCC TAPES

ROMACHINING OF LTCC TAPES

MAKING OF CAVITIES, HOLES AND CHANNELS

MAKING OF CAVITIES, HOLES AND CHANNELS

  

deposition of thick films to compensate auto-

deposition of thick films to compensate auto-

supported

supported

   

   

 structures

 structures

  

  

use of sacrificial materials

use of sacrificial materials

  

  

use of fugitive paste

use of fugitive paste

  

  

bonding of fired LTCC tapes

bonding of fired LTCC tapes

 

background image

 

 

3D possibilities

3D possibilities

 

 

M. Massiot et al., 14th European IMAPS Conf. 2003

M. Massiot et al., 14th European IMAPS Conf. 2003

background image

 

 

3D possibilities

3D possibilities

 

 

M. Massiot et al., 14th European IMAPS Conf. 2003

M. Massiot et al., 14th European IMAPS Conf. 2003

background image

 

 

J. Kita et al., European Microelectronics Packaging and Interconnection Symposium, IMAPS CRACOW 

2002, 16-18 June

P

P

1

1

             

             

<

<

P

P

= 2P

= 2P

1

1

      

      

<

<

P

P

6P

6P

1

1

0.1 mm width

0.1 mm width

0.5 mm width

0.5 mm width

1 mm width

1 mm width

Construction of channels

Construction of channels

Construction of channels

Construction of channels

Influence of lamination pressure on channel quality

Influence of lamination pressure on channel quality

Thick-Film Microsystems Laboratory, Wroclaw University of 
Technology, Poland

background image

 

 

 

 

Gongora Rubio M.R. et al., Sens. & Act. 2001

Milling

Milling

Acetone jet reactor

Acetone jet reactor

background image

 

 

 

 

Gongora Rubio M.R. et al., Sens. & Act. 2001

Gongora Rubio M.R. et al., Sens. & Act. 2001

fugitive paste

fugitive paste

auto supported structure

use of dry photoresit film

use of dry photoresit film

background image

 

 

CZUJNIKI I 

CZUJNIKI I 

PRZETWORNIKI

PRZETWORNIKI

Czujnik temperatury

Czujnik temperatury

Czujnik gazu

Czujnik gazu

Układ grzejny

Układ grzejny

Układ chłodzący

Układ chłodzący

Czujnik ciśnienia

Czujnik ciśnienia

Czujnik przepływu

Czujnik przepływu

Czujnik zbliżeniowy

Czujnik zbliżeniowy

Mikrozawór

Mikrozawór

Mikropompa

Mikropompa

background image

 

 

Czujnik temperatury

Czujnik temperatury

Termistory

Termistory

(T. Zawada)

(T. Zawada)

RTD (Pt)

RTD (Pt)

(J. Kita)

(J. Kita)

Laboratorium Mikrosystemów Grubowarstwowych WEMiF

Laboratorium Mikrosystemów Grubowarstwowych WEMiF

background image

 

 

Czujnik gazu

Czujnik gazu

Czujnik temperatury

Czujnik temperatury

Thick-Film Microsystems Laboratory, Wroclaw University of Technology, Poland

background image

 

 

J. Kita, 13th European Microelectronics and Packaging Conference, Strasbourg 

2001

Optimisation of meander 

pattern

Optimisation of meander 

pattern

Heater 

area

Heater 

area

Układ grzejny

Układ grzejny

background image

 

 

J. Kita et al.. European Microelectronics Packaging and Interconnection Symposium, IMAPS CRACOW 

2002, 16-18 June

Układ chłodzący

Układ chłodzący

cross-

cross-

section

section

   

   

water cooler

water cooler

top view

top view

background image

 

 

Układ chłodzący (Micro Jet 

Układ chłodzący (Micro Jet 

Array)

Array)

 

 

K. Saxena et al., 14th European IMAPS Conf. 2003

K. Saxena et al., 14th European IMAPS Conf. 2003

Cross section of LTCC based MJA

Cross section of LTCC based MJA

Silicon based thermal test chip 

Silicon based thermal test chip 

Test set up

Test set up

Micro Jet array

Micro Jet array

Top layers of MJA 

Top layers of MJA 

Cross section of MJA cooling package

Cross section of MJA cooling package

 

 

G. Wang et al., IMAPS Cer. Interconnect Technology Conf., Denver 2004

G. Wang et al., IMAPS Cer. Interconnect Technology Conf., Denver 2004

background image

 

 

Czujnik ciśnienia

Czujnik ciśnienia

8

7

6

5

4

3

2

1

Thick-Film Microsystems Laboratory, Wroclaw University of Technology, Poland

background image

 

 

 

 

Gongora Rubio M.R. et al., Sens. & Act. 2001

Czujnik 

Czujnik 

przepływu

przepływu

background image

 

 

 

 

 

Block diagram of 
proximity sensor

 

Coil geometry and 

interconnection for 

proximity sensor

Czujnik zbliżeniowy

Czujnik zbliżeniowy

 
            

 

Fabricated set with six multilayer proximity sensors 

and its response to aluminum target.

 

M. R. Gongora-Rubio et al. Sens. Act. 

2000

background image

 

 

 

 

Gongora Rubio M.R. et al., Sens. & Act. 2001

Mikrozawó

Mikrozawó

r

r

background image

 

 

 Multilayer ceramic 
design

 Cofired ball check 
valves

 Piezoelectrically 
driven,
   PZT unimorph

Cofired balls inside

D.L. Wilcox and M. Oliver, IMAPS ATW Providence RI, 
USA, May 2002
Motorola Labs

Mikropompa z elementem 

Mikropompa z elementem 

piezoelektrycznym

piezoelektrycznym

background image

 

 

Inne zastosowania

Inne zastosowania

Reaktor przepływowy PCR

Reaktor przepływowy PCR

Ogniwa paliwowe

Ogniwa paliwowe

Fotonika

Fotonika

Spektrometr

Spektrometr

Obudowy MEMS i MOEMS

Obudowy MEMS i MOEMS

Osłony ceramiczne

Osłony ceramiczne

background image

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 
 

 

 

 

 

95 C  

52 C  

72 C  

 

 

 

 

 

 

 

 

D.L. Wilcox and M. Oliver, IMAPS ATW Providence RI, 
USA, May 2002
Motorola Labs

Chou C.F. et al., Microel. Eng. 2002

Reaktor przepływowy PCR (

Reaktor przepływowy PCR (

Polymerase 

Polymerase 

Chain Reactor)

Chain Reactor)

background image

 

 

Pavio J. et al. Adv. Microel. 2002

Pavio J. et al. Adv. Microel. 2002

Ogniwa 

Ogniwa 

paliwowe

paliwowe

background image

 

 

 

 

Hiltunen J.A., ECTC 2002

Fiber to edge emitting laser alignment

Fotoni

Fotoni

ka

ka

background image

 

 

Photonic 

Photonic 

package

package

 

 

Principle of demonstrator module

Principle of demonstrator module

K. Kautio et al., IMAPS Cer. Interconnect Technology Conf., Denver 2004

K. Kautio et al., IMAPS Cer. Interconnect Technology Conf., Denver 2004

Demonstrator module

Demonstrator module

Schemat of modeled system

Schemat of modeled system

Photoimaged fiber grooves

Photoimaged fiber grooves

Punched and laminated fiber

Punched and laminated fiber

grooves on LTCC – V or U-shape

grooves on LTCC – V or U-shape

Laser die and fiber

Laser die and fiber

Processing of photoimaged

Processing of photoimaged

      

      

alignment grooves

alignment grooves

background image

 

 

0

200

400

600

800

1000

200

250

300

350

400

Wavelength (nm)

In

te

n

si

ty

 (

a.

u

.)

Dia. =250 m

Separation = 190 

Gas: XeI
V = 300 V
I = 150 

Pressure = 20-60 Torr

Ceramic Micro Hollow Cathode Discharge

Ceramic Micro Hollow Cathode Discharge

Integrated UV 

Light  Source

V

Collaboration with G. Eden, B. Vojak, 

Univ. of Illinois, Urbana, Illinois

XeI*

B-X

253 
nm

Iodine
206 nm

XeI*

B-A

320 
nm

I*

2

342 
nm

D.L. Wilcox and M. Oliver, IMAPS ATW Providence RI, 
USA, May 2002
Motorola Labs

Fotonika

Fotonika

 

 

(wyładowanie katodowe)

(wyładowanie katodowe)

background image

 

 

Ion Mobility Spectrometer

Ion Mobility Spectrometer

 

 

D. Plumlee et al., IMAPS Cer. Interconnect Technology Conf., Denver 2004

D. Plumlee et al., IMAPS Cer. Interconnect Technology Conf., Denver 2004

Fired prototype device

Fired prototype device

Tyndall gate segment

Tyndall gate segment

Multi-segment assembly of IMS

Multi-segment assembly of IMS

LTCC IMS segment layout

LTCC IMS segment layout

background image

 

 

 

 

Novel 

Novel 

structures

structures

K. Peterson et al., IMAPS Cer. Interconnect Technology Conf., Denver 2003

K. Peterson et al., IMAPS Cer. Interconnect Technology Conf., Denver 2003

Integral windows

Integral windows

Window structure

Window structure

Integral transparent window

Integral transparent window

Prototype

Prototype

Screen printed and 

Screen printed and 

direct write tubes

direct write tubes

 

 

IMS tube with integral

IMS tube with integral

resistors and electrodes

resistors and electrodes

Integral transparent window

Integral transparent window

Rolled Ion Mobility Spectrometer

Rolled Ion Mobility Spectrometer

background image

 

 

Schuenemann M. et al., Proc. Conf. ECTC 2000, USA

Schuenemann M. et al., Proc. Conf. ECTC 2000, USA

Obudowy

Obudowy

background image

 

 

M. Massiot, B. Roesner, Proc. 

M. Massiot, B. Roesner, Proc. 

14th Europen

14th Europen

IMAPS

IMAPS

 Conference, 

 Conference, 

Friedrichshafen 2003

Friedrichshafen 2003

 

www.vtt.fi/ict/publica

www.vtt.fi/ict/publica

tions 

tions 

Obudowy

Obudowy

background image

 

 

Obudowy układów MEMS

Obudowy układów MEMS

 

 

D.A. Ramsey et al., IMAPS Cer. Interconnect Technology Conf., Denver 2003

D.A. Ramsey et al., IMAPS Cer. Interconnect Technology Conf., Denver 2003

Optical cross-connect

Optical cross-connect

Blocker LTCC substrate

Blocker LTCC substrate

Equalization and blocking device

Equalization and blocking device

Complete blocker subsystem

Complete blocker subsystem

Equalizer/blocker schematic

Equalizer/blocker schematic

Packaged 256x256 MEMS array

Packaged 256x256 MEMS array

MEMS mirror arrays

MEMS mirror arrays

OXC configuration

OXC configuration

background image

 

 

Laboratorium 

Laboratorium 

Mikrosystemów

Mikrosystemów

    Grubowarstwowych

    Grubowarstwowych

ul. Długa, budynek M3                http://www.tml.wemif.net 

ul. Długa, budynek M3                http://www.tml.wemif.net 

Tematy prac badawczych:

Tematy prac badawczych:

-

 

 

elementy bierne w modułach LTCC

elementy bierne w modułach LTCC

-

 

 

generacja pól temperatury w strukturach grubowarstwowych

generacja pól temperatury w strukturach grubowarstwowych

-

 

 

zintegrowane mikrosystemy przepływowe

zintegrowane mikrosystemy przepływowe

-

 

 

elementy reaktora PCR (Łańcuchowa Reakcja Polimerazy)

elementy reaktora PCR (Łańcuchowa Reakcja Polimerazy)

-

 

 

zastosowanie technologii LTCC w optoelektronice

zastosowanie technologii LTCC w optoelektronice

background image

 

 

Laboratorium Mikrosystemów 

Laboratorium Mikrosystemów 

Grubowarstwowych

Grubowarstwowych

Henryk Roguszczak

Henryk Roguszczak

Andrzej Dziedzic

Andrzej Dziedzic

  

  

Marcin

Marcin

Stefanow

Stefanow

Tomasz Zawada

Tomasz Zawada

Leszek Golonka

Leszek Golonka

http://www.tml.wemif.net

 

   

   

Karol

Karol

 Malecha

 Malecha

     

     

Piotr

Piotr

Markowski

Markowski

  

  

Edward

Edward

     Miś

     Miś

  

  

Grzegorz

Grzegorz

Ostromęcki

Ostromęcki

  

  

Wojciech

Wojciech

Gryniewicz

Gryniewicz

background image

 

 

Aparatur

Aparatur

a

a

system laserowy AUREL

system laserowy AUREL

sitodrukarka DEK

sitodrukarka DEK

piec komorowy

piec komorowy

piec tunelowy BTU

piec tunelowy BTU

background image

 

 

odległość   – 80 m

minimalna szerokość – 
100
 m

Wykorzystanie systemu 

Wykorzystanie systemu 

laserowego

laserowego

przetwornik DC-DC

przetwornik DC-DC

- korekcja rezystorów

- korekcja rezystorów

- wycinanie otworów

- wycinanie otworów

- wykonywanie kanałów

- wykonywanie kanałów

- formowanie ścieżek

- formowanie ścieżek

 

 

background image

 

 

INFRA-RED SCANNING 

INFRA-RED SCANNING 

SYSTEM

SYSTEM

• The developed system consists of:

– High-speed IR detecting head
– XY table (10 m step)
– PC with data acquisition card

XY table

detecting head

•  Basic parameters:

– Temperature range: 20-230C
– Accuracy: 2C
– Geometrical resolution: 300300 

m

2

– Scanning area: 200200 mm

2

Thick-Film Microsystems Laboratory, Wroclaw University of Technology, Poland

Thick-Film Microsystems Laboratory, Wroclaw University of Technology, Poland

background image

 

 

Elementy bierne

Elementy bierne

Surface planar

component

Buried (embedded)

planar component

Electrodes

LTCC tape

Surface 3D 

component

Buried 3D

component

Electrodes

LTCC tape

A g   c o n d u c t o r   p a s t e

L T C C   T a p e

R

R

C

C

L

L

background image

 

 

J. Kita et al., European Microelectronics Packaging and Interconnection Symposium, 
IMAPS CRACOW 2002

DP 951 LTCC 
tape

DP 951 LTCC 
tape

four-layer 
structure

four-layer 
structure

Channels in one 
and two layers

Channels in one 
and two layers

Channels width: 

100 m - 5 mm

Channels width: 

100 m - 5 mm

Kanały

Kanały

background image

 

 

Zintegrowany mikrosystem 
przepływowy

 

Płytka z  m ikrokanałem
przys tosowanym  do detekcji
s ygnału w układzie
transmis yjnym

V-rowek do m ontażu

ś wiatłowodów

Płytka z  m ikrokanałem

przys tosowanym  do
detete kcji fluores cencji

Ś wiatłowody

Mikroukład LTCC z detektorami optycznymi do pomiarów intensywności fluorescencji oraz absorbancji: 

- wycięte laserowo mikrokanały o szerokości około 100 m,
- układ grzejny,

- czujnik temperatury, 

- zintegrowane optyczne elementy detekcyjne 

background image

 

 

Mikrosystem przepływowy

 LTCC

 LTCC

1

1

2

2

background image

 

 

meander heat source

meander heat source

                                       

                                       

 optimized 

 optimized 

heater

heater

Temperature field of heater

Temperature field of heater

s

s

 measured by IR thermo-

 measured by IR thermo-

scanner

scanner

 

 

Układ grzejny

Układ grzejny

Tomasz Zawada

background image

 

 

Układ CE

Układ CE

Przekrój

Widok z góry

Schemat układu CE

Schemat układu CE

(Capillary Electrophoresis - elektroforeza kapilarna)

(Capillary Electrophoresis - elektroforeza kapilarna)

Marcin Stefanow 
2004

background image

 

 

Współpraca :

Współpraca :

  

  

University of Technology, Ilmenau (Niemcy) – Elementy bierne

University of Technology, Ilmenau (Niemcy) – Elementy bierne

•  

•  

Josef Stefan Institute, Ljubljana (Słowenia) - Mikrosystemy LTCC

Josef Stefan Institute, Ljubljana (Słowenia) - Mikrosystemy LTCC

•  

•  

University of Oulu (Finlandia) - Mikrosystemy LTCC, folie LTCC

University of Oulu (Finlandia) - Mikrosystemy LTCC, folie LTCC

•  

•  

Politechnika  Warszawska (Wydział Chemiczny) – Mikrosystemy

Politechnika  Warszawska (Wydział Chemiczny) – Mikrosystemy

 przepływowe (grant KBN)

 przepływowe (grant KBN)

•  

•  

Akademia Medyczna Wrocław – PCR

Akademia Medyczna Wrocław – PCR

•  

•  

Instytut Elektrotechniki Wrocław – warystory

Instytut Elektrotechniki Wrocław – warystory

  

  

Akademia Rolnicza Wrocław – dyspersyjność układów koloidalnych

Akademia Rolnicza Wrocław – dyspersyjność układów koloidalnych

background image

 

 

1st joint ACerS/IMAPS 

1st joint ACerS/IMAPS 

International Conference on Ceramic 

International Conference on Ceramic 

Interconnect and Ceramic Microsystems 

Interconnect and Ceramic Microsystems 

Technologies

Technologies

 

 

(CICMT)

(CICMT)

 

 

Baltimore, April 10-13, 2005

Baltimore, April 10-13, 2005


Document Outline