background image

PODSTAWY 

METROLOGII

Wykład 13

Statystyczne badanie 

wyrobów

background image

Podział metod 

statystycznych

Statystyczna

kontrola

jakości

(SKJ)

Badanie

zdolności

jakościowej

(Cp, Cm)

Zaawansowane

metody

statystyczne

(DOE)

Statystyczne

sterowanie

procesami

(SPC, SSP)

METODY

STATYSTYCZNE

W ZARZĄDZANIU

JAKOŚCIĄ

background image
background image

Przyczyny niepowodzeń

w przedsiębiorstwach

błędne plany, decyzje ...

„odchylenia” w dążeniu
do dobrze określonych celów

background image

Rozkład normalny

x

f(x)

background image
background image
background image

Produkcja jest ustabilizowana 

(statystycznie uregulowana), 

właściwość  X  

- ma rozkład normalny albo 

bliski rozkładowi 

normalnemu

background image

Badanie normalności 

rozkładu

0,001

0,005

0,010

0,050

0,100

0,200

0,300

0,400

0,500

0,600

0,700

0,800

0,900

0,950

0,990

0,995

0,999

x

P

0

-1

-2

1

2

y

x

 

1,2

0

1,3

0

1,4

0

1,5

0

1,6

0

1,7

0

1,8

0

1,9

0

2,0

0

2,1

0

2,2

0

2,3

0

2,4

0

2,5

0

x

 



• testy statystyczne (np. Kołmogorowa, 

Pearsona)

• metoda graficzna

background image
background image
background image
background image

Wybór metody

background image

Wybór metody

background image

Liczbowa ocena właściwości

• Kontrola na podstawie liczbowej oceny 

właściwości jest szczególnie odpowiednia 
przy jednoczesnym stosowaniu kart 
kontrolnych dla badanej właściwości. 

• W aspekcie poznawczym, przewaga jest po 

stronie kontroli na podstawie liczbowej 
oceny właściwości.

• Kontrola ta daje dokładniejsze informacji o 

wyrobie, a także dostarcza wcześniejszych 
ostrzeżeń, jeśli jakość obniża się.

background image

Procedury kontroli na 

podstawie liczbowej oceny 

właściwości

• Kontrola ciągła serii wyrobów sztukowych, 

dostarczanych przez jednego producenta, stosującego 
ten sam proces produkcyjny.

• W przypadku różnych producentów niniejsza procedura 

powinna być stosowana osobno do każdego z nich.

• Analizowana jest tylko jedna właściwość wyrobów, 

która musi być mierzalna na skali ciągłej.

• Jeśli analizowanych jest kilka właściwości, to procedura 

powinna  być stosowana osobno dla każdej z nich.

background image
background image

Karta kontrolna

SIZE

FSCM NO

DWG NO

REV

"Metka" karty kontrolnej

Dane z pomiarów
 i wyniki obliczeń

Wykres mierzonej cechy

Górna linia kontrolna

Dolna linia kontrolna

Pomiary
1
2
3

Linia centralna

background image

Podział kart kontrolnych

p

n p

c

u

o c e n a

a l t e r n a t y w n a

X - R

X - S

IX - M R

C U S U M

k .  s p e c j a l n e

o c e n a

l i c z b o w a

K a r t y   k o n tr o l n e

background image

Karty kontrolne przy 

ocenie liczbowej

Jak sterować procesami, gdy 

mamy wyniki pomiarów

background image

Karta X średnie - R

LCL D R

3

Karta

X

R

Górna linia kontrolna

UCL X A

2

  R

UCL D R

4

Linia środkowa

X  

X

k

R

R

k

Dolna linia kontrolna

LCL X A

2

 

R

Wykreślany punkt

X

X

n

R X

X

max

min

UCL

- górna linia kontrolna

LCL

- dolna linia kontrolna

R

- rozstęp

X

- wartość mierzonej cechy

k

- liczba próbek

n

- liczba pomiarów w próbce

A

2

, D

3

, D

4

- stałe

background image

Stałe statystyczne

Stałe statystyczne

n

A

2

A

3

B

3

B

4

D

3

D

2

1,880

2,659

0

3,267

0

3,267

3

1,023

1,954

0

2,568

0

2,575

4

0,729

1,628

0

2,266

0

2,282

5

0,577

1,427

0

2,089

0

2,115

6

0,483

1,287

0,003

1,970

0

2,004

7

0,419

1,182

0,118

1,882

0,076

1,924

8

0,373

1,099

0,185

1,815

0,136

1,864

9

0,337

1,,032

0,239

1,761

0,184

1,816

10

0,308

0,975

0,284

1,716

0,223

1,777

background image

Karta IX-MR

Karta

IX

MR

Górna linia kontrolna

UCL

X

2,66 MR

 

UCL 3,27 MR

Linia środkowa

X  

X

k

MR

MR

k

Dolna linia kontrolna

LCL

X

2,66 MR

brak

Wykreślany punkt

X

MR

X

X

i

i 1

UCL

- górna linia kontrolna

LCL

- dolna linia kontrolna

MR

- ruchomy rozstęp

X

- wartość mierzonej cechy

k

- liczba próbek

background image

Karty kontrolne przy 

ocenie alternatywnej

Jak sterować procesami bez 

mierzenia wyrobów

background image

Ocena alternatywna

Wada

Niespełnienie wymagania zawiązanego
z zamierzonym użytkowaniem
lub uzasadnionymi oczekiwaniami, włączając te, które 
są związane z bezpieczeństwem

Niezgodność

Niespełnienie wyspecyfikowanego wymagania

background image

Karty p i np

Karta

p

np

Górna linia kontrolna

 

UCL p 3

p 1 p

n

 

UCL np 3 np1

 p

Linia środkowa

p

k

p

np

np

k

Dolna linia kontrolna

 

LCL p 3

p 1 p

n

 

LCL np 3 np1

 p

Wykreślany punkt

p

k

n

wn

np

UCL

- górna linia kontrolna

LCL

- dolna linia kontrolna

k

- liczba próbek

k

wn

- liczba wyrobów niezgodnych w próbce

n

- liczba pomiarów w próbce

np

- liczba braków w próbce

11

background image

Karty c i u

background image

Specjalne karty kontrolne

Karty do nadzorowania 

specyficznych procesów

background image

Karta celu

Karta stosowana przy krótkich seriach produkcyjnych

Wartością monitorowaną jest różnica pomiędzy 

wartością zakładaną (nominalną) a zmierzoną

Monitorowane jest odchylenie parametrów wyrobu od ideału

prz

X w cel

.

.

.

X 

background image

Karta proporcjonalna

Karta stosowana przy krótkich seriach produkcyjnych

Wartością monitorowaną jest stosunek wartości uzyskanej

do wartości nominalnej 

Monitorowane jest odchylenie parametrów wyrobu od ideału

prz

X

w cel

.

.

X 

background image

Karta MA

Karta stosowana do obserwowania przesunięć w procesie,

które ciężko zobaczyć na kartach typu X-R

Można regulować „czułość” karty na przesunięcia procesu

background image

Wskaźniki zdolności

Ile produkujemy braków 

(wadliwość obliczeniowa)

background image

Wskaźniki zdolności jakościowej

Badać można zdolność całych procesów

lub tylko poszczególnych maszyn

Na podstawie wskaźnika, określić można m.in. wadliwość

produkcji jakiej należy się spodziewać

przy danym procesie (lub maszynie)

background image

Wskaźnik zdolności Cp

6

LSL

USL

C

p

USL (LSL) - górna (dolna) granica tolerancji
6

- naturalny rozrzut procesu 

background image

Wskaźnik zdolności Cpk

3

3

min

LSL

x

;

x

USL

C

pk

USL (LSL) - górna (dolna) granica tolerancji

background image
background image

Zachowanie Cp

[mm]

LSL

USL

W

a

rt

o

ś

ć

 w

s

k

a

ź

n

ik

a

 C

p

background image

Zachowanie Cpk

[mm]

W

a

rt

o

ś

ć

 w

s

k

a

źn

ik

a

 C

p

k

p

k

LSL

USL

background image

Wskaźniki

Cp=Cpk=1

X

śr.

=X

nomin.

LSL

USL

Cp=Cpk< 1

LSL

USL

X

śr.

=X

nomin.

Cp=1 > Cpk

LSL

USL

'

X

śr.    

X

nomin.

Cp=1 > Cpk

LSL

USL

X

śr.           

X

nomin.

background image

Wskaźniki

Cp=1,7 > Cpk

LSL

USL

X

śr.              

X

nomin.

Cp=1,7 > Cpk

'

LSL

USL

X

śr.       

X

nomin.

Cp=Cpk=1,7

LSL

USL

X

śr 

= X

nomin.

background image

Badanie zdolności

jakościowej maszyn

background image

Źródła zmienności

Własność wyrobu

ma zmienną 

wartość

Człowiek

Maszyna

Zarządzanie Pomiar

Technologia

Materiał

background image

Eliminowanie

źródeł zmienności

• zapewnić powtarzalne pomiary
• wykorzystać tylko jednego 

operatora

• zapewnić jednorodny surowiec 

(w miarę możliwości)

background image

Wskaźnik C

m

lub

6

T

T

C

d

g

m

8

T

T

C

d

g

m

background image

Wskaźnik C

mk

σ

3

x

T

;

σ

3

T

x

min

C

g

d

mk

background image

Kiedy badać zdolność 

maszyny?

• zakup nowej maszyny
• odbiór maszyny po remoncie
• rozpoczynanie produkcji - seria 

próbna

background image

Analiza systemu 

pomiarowego

Czy możemy polegać na naszych 

pomiarach?

background image

Dokładność

Jest to odchylenie wartości średniej z pomiarów od faktycznej 
wielkości mierzonej właściwości 

W

artość

rzeczyw

ista

W

artość średnia

z dokonanych pom

iarów

D

okładność

background image

Powtarzalność

Powtarzalność

Operator A

Część nr 1

Jest to wariancja, zmienność wyników pomiarów uzyskanych 
przy mierzeniu przez danego operatora jednej, tej samej 
części kilkanaście razy 

background image

Odtwarzalność

Jest to zmienność występująca pomiędzy wartościami średnimi 
z pomiarów dokonywanych przez różnych operatorów, podczas 
mierzenia tym samym przyrządem tych samych części 

O p e ra to r A

C zę ś ć  n r 1

O p e ra to r C

C zę ś ć  n r 1

O p e ra to r B

C zę ś ć  n r 1

O d tw a rz a ln oś ć

background image

Statystyczna kontrola odbiorcza

background image

Kontrola odbiorcza

Kontrola odbiorcza są to działania prowadzone 
w celu ustalenia, czy dostarczona lub oferowana 
do  dostarczenia  jednostka  wyrobu,  partia 
wyrobów lub usługa jest możliwa do przyjęcia. 
Jej 

podstawowym 

zadaniem 

jest 

więc 

niedopuszczenie  do  przyjęcia  niezgodnej  z 
założeniami 

(określonymi 

specyfikacji 

technologicznej,  normach,  umowach  z  klientem 
itp.) partii surowca lub wyrobów gotowych. 

background image

Ocena alternatywna

Ocena  alternatywna  polega  na  rejestrowaniu 
występowania  lub  niewystępowania  określonej, 
interesującej 

odbiorcę 

cechy 

zbiorze 

kontrolowanych  jednostek,  a  następnie  zliczeniu 
liczby  takich  wystąpień  (lub  niewystąpień)  w 
kontrolowanej jednostce, grupie produktów itd. 
Podstawą 

oceny 

jest 

zazwyczaj 

procent 

jednostek niezgodnych w kontrolowanej grupie.

background image

Ocena liczbowa

Ocena  liczbowa  polega  na  mierzeniu  i 
rejestrowaniu  wartości  liczbowych  właściwości 
każdej jednostki z kontrolowanego zbioru. 
Podstawą  oceny  partii  ze  względu  na  daną 
własność są wyniki pomiarów uzyskane z próbki.

background image

Definicje

Partia  jest  to  określona  ilość  danego  wyrobu, 
materiału 

lub 

usługi 

tworząca 

całość, 

przedstawiona jednorazowo do kontroli.

Próbka jest to jedna lub więcej jednostek losowo 
pobranych  z  partii  przeznaczonej  do  oceny, 
służących  dostarczeniu  informacji  o  tej  partii 
(próbka musi być reprezentatywna i losowa).

background image

Rodzaje kontroli

Kontrola  normalna  -  kontrola  stosowana  wówczas,  gdy 
nie  ma  podstaw  do  przypuszczenia,  że  poziom  jakości 
wyrobu różni się od poziomu akceptowanego.

Kontrola  ulgowa,  mniej  ostra  od  kontroli  normalnej, 
stosowana  jest  wtedy,  gdy  z  badania  określonej  liczby 
kolejnych  partii  za  pomocą  kontroli  normalnej  wynika,  że 
poziom jakości wyrobów jest wyższy od założonego.

Kontrola  obostrzona,  ostrzejsza  od  kontroli  normalnej, 
stosowana  jest  wtedy,  gdy  z  badania  określonej  liczby 
kolejnych  partii  za  pomocą  kontroli  normalnej  wynika,  że 
poziom jakości wyrobów jest niższy od założonego.

background image

Kontrola wg oceny 

liczbowej

Warunkiem  jej  stosowania  jest  spełnienie 
następujących wymagań:

 badana własność musi być określona liczbowo, a jej rozkład musi 

być normalny (lub zbliżony do normalnego),

 wyrób  nie  może  być  oceniany  ze  względu  na  zbyt  wiele 

właściwości
(w  przeciwnym  razie  koszty  oceny  znacząco  rosną  i  poleca  się 
stosowanie kontroli wg oceny alternatywnej),

 personel  powinien  być  wykwalifikowany,  tzn.  być  w  stanie 

stosować tego typu metody.

background image

Znaki literowe - ocena 

liczbowa

Liczność

Specjalne poziomy kontroli

Ogólne poziomy kontroli

partii

S-3

S-4

I

II

III

2 do 8

9 do 15

16 do 25

26 do 50
51 do 90

91 do 150

151 do 280
281 do 500

501 do 1200

1201 do 3200

3201 do 10000

10001 do 35000

35001 do 150000

150001 do 500000

 5000001 i więcej

B
B
B

B
B
B

B

C

D

E

F

G

H

H (I dla m. R)

H (J  dla m. R)

B
B
B

B
B

C

D

E

F

G

H

I

J

K

K (L dla m. R)

B
B
B

C
D

E

F

G

H

I

J

K

L

M

N

B
B

C

D

E

F

G

H/I

1

J

K

L

M

N

P

P

C
D

E

F

G

H

I

J

K

L

M

N

P
P

P

1

 stosować H dla liczności partii 281 do 400 oraz I dla liczności partii 401 do 500

background image

Metoda R

Postępowanie:

 określić poziom i rodzaj kontroli,
 ustalić dopuszczalną wadliwość w

2

,

 z  tabeli  odczytać  znak  literowy  planu  badania,  a 

następnie  właściwą  dla  danego  planu  badania  liczność 
próbki n oraz parametr k,

 obliczyć  wartość  średnią  z  pobranej  próbki  oraz  rozstęp 

R,

 obliczyć 

jeżeli 

         Q

g

  k

g 

 i Q

d

  k

d

 - partię uznać za zgodną z 

wymaganiami, 

         Q

g

 < k

g 

 lub Q

d

 < k

d

 - partię uznać za niezgodną z 

wymaganiami.

R

T

x

Q

R

x

T

Q

d

d

g

g

background image

Metoda R

W

a

d

l

i

w

ć

 

d

o

p

u

s

z

c

z

a

l

n

a

 

w

2

 

-

 

k

o

n

t

r

o

l

a

 

n

o

r

m

a

l

n

a

0

,

1

0

0

,

1

5

0

,

2

5

0

,

4

0

0

,

6

5

1

,

0

0

1

,

5

0

2

,

5

0

4

,

0

0

6

,

5

0

1

0

,

0

n

k

k

k

k

k

k

k

k

k

k

k

k

B3

0

,

5

8

7

0

,

5

0

2

0

,

4

0

1

0

,

2

9

6 B

C4

0

,

6

5

1

0

,

5

9

8

0

,

5

2

5

0

,

4

5

0

0

,

3

6

4

0

,

2

7

6 C

D5

0

,

6

6

3

0

,

6

1

4

0

,

5

6

5

0

,

4

9

8

0

,

4

3

1

0

,

3

5

2

0

,

2

7

2 D

E7

0

,

7

0

2

0

,

6

5

9

0

,

6

1

3

0

,

5

6

9

0

,

 

5

2

5

0

,

4

6

5

0

,

4

0

5

0

,

3

3

6

0

,

2

6

6 E

F1

0

0

,

9

1

6

0

,

8

6

3

0

,

8

1

1

0

,

7

5

5

0

,

7

0

3

0

,

6

5

0

0

,

5

7

9

0

,

5

0

7

0

,

4

2

4

0

,

3

4

1 F

G1

5 1

,

0

4

0

,

9

9

9

0

,

9

5

8

0

,

9

0

3

0

,

8

5

0

0

,

7

9

2

0

,

7

3

8

0

,

6

8

4

0

,

6

1

0

0

,

5

3

6

0

,

4

5

2

0

,

3

6

8 G

H

2

5 1

,

1

0

1

,

0

5

1

,

0

1

0

,

9

5

1

0

,

8

9

6

0

,

8

3

5

0

,

7

7

9

0

,

7

2

3

0

,

6

4

7

0

,

5

7

1

0

,

4

8

4

0

,

3

9

8 H

I 3

0 1

,

1

0

1

,

0

6

1

,

0

2

0

,

9

5

9

0

,

9

0

4

0

,

8

4

3

0

,

7

8

7

0

,

7

3

0

0

,

6

5

4

0

,

5

7

7

0

,

4

9

0

0

,

4

0

3 I

J 4

0 1

,

1

3

1

,

0

8

1

,

0

4

0

,

9

7

8

0

,

9

2

1

0

,

8

6

0

0

,

8

0

3

0

,

7

4

6

0

,

6

6

8

0

,

5

9

1

0

,

5

0

3

0

,

4

1

5 J

K6

0 1

,

1

6

1

,

1

1

1

,

0

6

1

,

0

0

0

,

9

4

8

0

,

8

8

5

0

,

8

2

6

0

,

7

6

8

0

,

6

8

9

0

,

6

1

0

0

,

5

2

1

0

,

4

3

2 K

L8

5 1

,

1

7

1

,

1

3

1

,

0

8

1

,

0

2

0

,

9

6

2

0

,

8

9

9

0

,

8

3

9

0

,

7

8

0

0

,

7

0

1

0

,

6

2

1

0

,

5

3

0

0

,

4

4

1 L

M

1

1

5 1

,

1

9

1

,

1

4

1

,

0

9

1

,

0

3

0

,

9

7

5

0

,

9

1

1

0

,

8

5

1

0

,

7

9

1

0

,

7

1

1

0

,

6

3

1

0

,

5

3

9

0

,

4

4

9 M

N

1

7

5 1

,

2

1

1

,

1

6

1

,

1

1

1

,

0

5

0

,

9

9

4

0

,

9

2

9

0

,

8

6

8

0

,

8

0

7

0

,

7

2

6

0

,

6

4

4

0

,

5

5

2

0

,

4

6

0 N

P2

3

0 1

,

2

1

1

,

1

6

1

,

1

2

1

,

0

6

0

,

9

9

6

0

,

9

3

1

0

,

8

7

0

0

,

8

0

9

0

,

7

2

8

0

,

6

4

6

0

,

5

5

3

0

,

4

6

2 P

k

k

k

k

k

k

k

k

k

k

k

k

0

,

1

0

0

,

1

5

0

,

2

5

0

,

4

0

0

,

6

5

1

,

0

0

1

,

5

0

2

,

5

0

4

,

0

0

6

,

5

0

1

0

,

0

W

a

d

l

i

w

ć

 

d

o

p

u

s

z

c

z

a

l

n

a

 

w

2

 

-

 

k

o

n

t

r

o

l

a

 

o

b

o

s

t

r

z

o

n

a

background image

Kontrola wg oceny 

alternatywnej

Zastosowanie:

 trudno jest ocenić wyrób metodą liczbową,
 ważny jest prosty sposób kontroli,
 nie  są  potrzebne  dokładne  informacje  o  kontrolowanej  partii 

wyrobów.

Wady:

mała dokładność uzyskanych wyników,

potrzebna  jest  większa  liczność  próbki  w  porównaniu  z  kontrolą 
wg oceny liczbowej.

background image

Znaki literowe - ocena 

alternatywna

Liczność

Specjalne poziomy kontroli

Ogólne poziomy kontroli

partii

S-1

S-2

S-3

S-4

I

II

III

2 do 8

9 do 15

16 do 25
26 do 50
51 do 90

91 do 150

151 do 280
281 do 500

501 do 1200

1201 do 3200

3201 do 10000

10001 do 35000

35001 do 150000

150001 do 500000

 5000001 i więcej

A
A
A
A
B
B
B
B

C
C
C
C
D
D
D

A
A
A
B
B
B

C
C
C
D
D
D

E
E
E

A
A
B
B

C
C
D
D

E
E

F
F

G
G

H

A
A
B

C
C
D

E
E

F

G
G

H

J
J

K

A
A
B

C
C
D

E

F

G

H

J

K

L

M

N

A
B

C
D

E

F

G

H

J

K

L

M

N

P

Q

B

C
D

E

F

G

H

J

K

L

M

N

P

Q

R

background image

Kontrola wg oceny 

alternatywnej

n - liczność próbki
 - stosować pierwszy plan poniżej strzałki

 - stosować pierwszy plan powyżej strzałki

Wadliwość dopuszczalna w

2

 - kontrola normalna

0,04

0,065

0,10

0,15

0,25

0,40

0,65

1,00

1,50

2,50

4,00

n

A

c

     R

c

A

c

     R

c

A

c

     R

c

A

c

     R

c

A

c

     R

c

A

c

     R

c

A

c

     R

c

A

c

     R

c

A

c

     R

c

A

c

     R

c

A

c

     R

c

A

2

A

B

C

3

5

0     1

0     1

B

C

D

8

0     1

D

E

13

0     1

1     2

E

F

20

0     1

1     2

2     3

F

G

32

0     1

1     2

2     3

3    4

G

H

50

0     1

1     2

2     3

3    4

5     6

H

J

80

0     1

1     2

2     3

3    4

5     6

7     8

J

K

125

0     1

1     2

2     3

3    4

5     6

7     8

10   11

K

L

200

0     1

1     2

2     3

3    4

5     6

7     8

10   11

14   15

L

M

315

0     1

1     2

2     3

3    4

5     6

7     8

10   11

14   15

21   22

M

N

500

1     2

2     3

3    4

5     6

7     8

10   11

14   15

21   22

N

P

800

1     2

2     3

3    4

5     6

7     8

10   11

14   15

21   22

P

Q 1250

1     2

2     3

3    4

5     6

7     8

10   11

14   15

21   22

Q

R

2000

2     3

3     4

5     6

R

background image

SPC

KONTROLA ODBIORCZA

background image
background image
background image
background image
background image
background image
background image
background image
background image
background image
background image
background image
background image
background image
background image
background image
background image
background image
background image

Document Outline