background image
background image

1935 r – Max Knoll projektuje pierwszy 

elektronowy mikroskop transmisyjny.

 

1938 

– niemiecki fizyk Manfred von Ardenne 

zainstalował do mikroskopu transmisyjnego 

cewki odchylające wiązki. 

Był to prototyp 

skaningowego mikroskopu elektronowego

1942 – w USA Zworykin, Hillier i Snyder 

zbudowali pierwszy SEM.

1948 –  początek prac nad mikroskopią 

skaningową w Europie w Cambridge Smith 

– Oatley i McMullan

1965 – angielska firma Cambridge Scientific 

Instruments Ltd. zaoferowała pierwszy 

komercyjny model SEM – Stereosan.

background image

Podstawowe 
elementy 
mikroskopu to: 

kolumna, 
komora ze 
stolikiem próbek 
i detektorami 
oraz układ 
próżniowy.
 

background image

Wiązka elektronów 
kierowana na badaną 
próbkę nie jest statyczna. 
Specjalne 

cewki 

odchylające

 sprawiają, że 

w sposób regularny omiata 
dany obszar preparatu.     
W momencie, gdy wiązka 
elektronów pada na 
powierzchnię część z nich 
jest rozpraszana, część 
wnika do wnętrza próbki 
powodując emisję wtórnych 
elektronów, promieni 
rentgenowskich oraz 
światła widzialnego

background image

W pobliżu oświetlanej 

elektronami próbki ustawione 

są specjalne 

detektory

, które 

wykrywają elektrony 

rozproszone, wtórne lub któryś 

z rodzajów promieniowania 

przetwarzając rejestrowane 

sygnały na sygnały cyfrowe. 

Sygnały cyfrowe są następnie 

przetwarzane na obraz 

wyświetlany na monitorze. 

elektronowy mikroskop 

skaningowy, pozwala osiągnąć 

rozdzielczość rzędu 0,1 

nanometra - 0,0000000001 

metra). Pozwalają one na coraz 

dokładniejsze obserwacje 

świata atomów i cząsteczek.

background image
background image

Rodzajem SEM jest 

skaningowy 
mikroskop tunelowy

 

(STM ), który został 
skonstruowany 
przez Gerda 
Binninga i Heinricha 
Rohrera w 1986 
roku. 

Uzyskanie obrazu 
powierzchni jest 
możliwe dzięki 
wykorzystaniu 

zjawiska 
tunelowego

background image

Warunkiem wykonania pomiaru w 
skaningowym
mikroskopie elektronowym jest 
umieszczenie próbki 

w próżni

 oraz 

przewodnictwo elektryczne

 

próbki.
Dlatego badaną próbkę napyla się w tzw. 
napylarce
próżniowej cienką warstwą metalu (najlepiej 
złotem).
Zaletą tak uzyskanych próbek jest ich           
          trwałość i możliwość  powtarzania 
obrazowania.       W SEM preparat nie musi 
być
bardzo cienki, tak jak jest to wymagane w 
zwykłym
mikroskopie elektronowym.

background image

Pobieranie małej próbki badanego 
materiału

Możliwość badań próbek różnej wielkości

Wysoka rozdzielczość

Błyskawiczna ocena składu jakościowego 
i ilościowego

Pełny zakres oznaczeń składu 
chemicznego (od boru do uranu)

Łatwa preparatyka 

background image

zbadanie i poznanie wielu organizmów, wniknięcie do 
komórki               i poznanie licznych jej funkcji, również 
tych najmniejszych organizmów jakimi są bakterie i wirusy,

 badanie produktów spożywczych,

 badanie struktury krystalicznej i jej defektów,

 w przemyśle elektronicznym i innych gałęziach przemysłu 
nowoczesnego,

 w laboratoriach fizycznych i chemicznych,

 w archeologii i badaniach historycznych,

 w kryminalistyce i innych dziedzinach, gdzie wymagana 
jest precyzja i dokładne sprawdzenie wytworzonych 
materiałów

background image

Badanie mikrostruktur substancji pochodzenia 
roślinnego (np. ziaren zbóż i roślin 
strączkowych, ziaren skrobi) oraz zwierzęcego 

Badanie żeli hydrokoloidów (np. skrzepu 
kazeiny) 

 Badanie preparatów hydrokoloidów (np. 
kazeinianów, stabilizatorów, zagęstników, 
substancji żelifikujących)

Ocena zafałszowań w produktach spożywczych

Analiza zanieczyszczeń biologicznych w 
żywności,     

Identyfikacja alergenów

background image
background image
background image
background image
background image

Document Outline