background image

POLITECHNIKA KRAKOWSKA im. T. Kościuszki

Wydział Mechaniczny

Instytut Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji 

                                        M6

Kierunek studiów: Zarządzanie i Inżynieria Produkcji
Specjalność         : Informatyka w Systemach Zarządzania Produkcją

STUDIA NIESTACJONARNE

PRACA DYPLOMOWA

INŻYNIERSKA

Analiza metod statystycznych w walidacji metod

i systemów pomiarowych.

      Kolasa Marcin 

  Suwaj Sebastian

Promotor:

dr inż. Marek Kowalski

Kraków, rok akad. 2007/2008

1

background image

Składamy serdeczne podziękowania 

Panu dr inż. Markowi Kowalskiemu

                                                                                     za pomoc i opiekę  przy wykonaniu 

niniejszej pracy. 

2

background image

                                                  KARTA  PRACY  DYPLOMOWEJ

POLITECHNIKA KRAKOWSKA

WYDZIAŁ MECHANICZNY

INSTYTUT TECHNOLOGII MASZYN I 

AUTOMATYZACJI PRODUKCJI

Zakład/Katedra :

Inżynierii procesów produkcyjnych

Nr pracy:

Autor pracy: Suwaj Sebastian

Promotor

dr inż. Marek Kowalski

Temat: Analiza metod statystycznych w walidacji metod i systemów pomiarowych.

………………….                                                                      ……………………………. 
Podpis promotora

        Kierownika specjalności

Uzgodniona ocena pracy: 
……………………………………………………………………..

 
………………….                 …………………..                            ……………………….... 
Podpis promotora

Podpis recenzenta

        Dyrektora Instytutu
          ds. Dydaktyki

3

background image

                                                  KARTA  PRACY  DYPLOMOWEJ

POLITECHNIKA KRAKOWSKA

WYDZIAŁ MECHANICZNY

INSTYTUT TECHNOLOGII MASZYN I 

AUTOMATYZACJI PRODUKCJI

Zakład/Katedra :

Inżynierii procesów produkcyjnych

Nr pracy:

Autor pracy: Kolasa Marcin

Promotor

dr inż. Marek Kowalski

Temat: Analiza metod statystycznych w walidacji metod i systemów pomiarowych.

……………………………

………………………….........

Podpis promotora

        Kierownika specjalności

Uzgodniona ocena pracy: 
……………………………………………………………………..

...................................

....................................

........................................ 

Podpis promotora

Podpis recenzenta

        Dyrektora Instytutu
          ds. Dydaktyki

4

background image

Rozgraniczenie zakresu merytorycznego prac 

współautorskich

Temat pracy dyplomowej: 

Analiza metod statystycznych w walidacji metod i 

systemów pomiarowych.

Zakres tematyczny (zagadnienia)

Rozdział

Autor

1.Cel i zakres pracy

         1.

Suwaj Sebastian 

2.Wprowadzenie

         2.
      (2.1,2.2)

Suwaj Sebastian

3.Klasyfikacja i opis metod 
pomiarowych

        3.
   (3.1,3.2)

Suwaj Sebastian

4.Walidacja metody pomiarowej

        4. 
(4.1,4.2,4.3,4.4,4.5
4.6,4.7)

Suwaj Sebastian

5.Przydatność środków kontrolnych

        5.
   (5.1,5.2,5.3,5.4)

Suwaj Sebastian

6. Wnioski

        7

Suwaj Sebastian

                                                                     
                                                                                        .........................

       

podpis promotora

                                  

5

background image

Rozgraniczenie zakresu merytorycznego prac 

współautorskich

Temat pracy dyplomowej: 

Analiza metod statystycznych w walidacji metod i 

systemów pomiarowych.

Zakres tematyczny (zagadnienia)

Rozdział

Autor

1.Cel i zakres pracy

         1.

Kolasa Marcin 

2.Wprowadzenie

         2.
      (2.3)

Kolasa Marcin

3.Klasyfikacja i opis metod 
pomiarowych

        3.
   (3.3,3.4)

Kolasa Marcin

4.Walidacja metody pomiarowej

        4. 
(4.8,4.9,4.10,4.11
4.12)

Kolasa Marcin

5.Przydatność środków kontrolnych

        5.
   (5.5,5.6,5.7)

Kolasa Marcin

6.Analiza zdolności systemu

        6
     (6.1)

Kolasa Marcin

7. Wnioski

       7

Kolasa Marcin

                                                                     

  
............................................

       

podpis promotora 

6

background image

SPIS TREŚCI:

1.CEL I ZAKRES PRACY………………………………………………………………. 9

2.WPROWADZENIE……………………………………………………………………10

2.1 Zastosowanie metod statystycznych..............................................................................10

2.2 SPC jako zasada ciągłego doskonalenia jakości………………………………………11

2.3 Fazy kwalifikacji procesów............................................................................................15

3. KLASYFIKACJA I OPIS METOD POMIAROWYCH……………………………18

3.1 Podział metod pomiarowych…………………………………………………………..18

3.2 Cechy metod pomiarowych...........................................................................................21

3.3 Sterowanie systemem pomiarowym…………………………………………………...23

3.4 Cykl doskonalenia systemu pomiarowego…………………………………………….27 

4. WALIDACJA METODY POMIAROWEJ………………………………………... 30 

4.1 Podstawowe pojęcia………………………………………………………………….. 30 

4.2 Pojęcie walidacji………………………………………………………………………31 

4.3 Walidacja metod pomiarowych i badawczych……………………………………….. 31

4.4 Walidacja nowej metody............................................................................................... 32

4.5 Badanie równorzędności metod pomiarowych............................................................. 36

4.6 Zastosowanie testu „f”………………………………………………………………...37

4.7 Zastosowanie testu „t”………………………………………………………………...37

4.8 Metoda Placketta-Burmana…………………………………………………………... 38

4.9 Powtarzalność i odtwarzalność………………………………………………………..40

4.10 Badania przyrządu do pomiaru………………………………………………………47

4.11 Charakteryzacja przyrządu do pomiaru……………………………………………...50

4.12 Przykładowa walidacja(instrukcja) przyrządu pomiarowego………………………..53

5. PRZYDATNOŚĆ  ŚRODKÓW KONTROLNYCH……………………………….. 56

5.1 Przydatność środków kontrolnych…………………………………………………… 56

5.2 Badania zdolności środków kontrolnych……………………………………………...67

5.3 Narzędzia do sterowania systemem pomiarowym- karty kontrolne…………………..79

5.4 Karty kontrolne dla danych zmiennych……………………………………………….85

5.5 Karta średnich i rozstępów…………………………………………………………… 87

5.6 Wyliczanie granic kontrolnych………………………………………………………..97

5.7 Interpretacja dla zdolności systemu pomiarowego…………………………………..100

7

background image

6. ANALIZA ZDOLNOŚCI SYSTEMU…………………..…………………………..131

6.1 Analiza zdolności systemu momentu wkręcania……………………..........................131

7 .PODSUMOWANIE I WNIOSKI...............................................................................138

8. LITERATURA………………………………………………………………………140

8

background image

CEL I ZAKRES PRACY 

Cel   pracy:   Analiza   metod   statystycznych   w   walidacji   metod   systemów 

pomiarowych   czyli   dokładny   opis   i   charakteryzacja   metod   pomiarowych   opartych   na 

badaniach   statystycznych   stosowanych   w   procesie   walidacji   metod   pomiarowych   oraz 

systemów pomiarowych dla oceny stopnia ich przydatności merytorycznej i warunkach 

produkcyjnych.

Zakres pracy dotyczy metod, środków i systemów  pomiarowych wykorzystywanych  w 

metrologii długości i w badaniach twardości.

9

background image

2. WPROWADZENIE

2.1 Zastosowanie metod statystycznych.

Od początku lat 70, kiedy metody statystycznego sterowania procesami (SPC = 

Statistica Process Control ) produkcji = zostały odkryte  w uprzemysłowionych  krajach 

zachodu,   trwa   ciągła   dyskusja   na   temat   sensu   i   bezsensu   użycia   SPC.   Wynikiem   tej 

dyskusji   jest   potwierdzone   przez   rzeczywistość   i   doświadczenie   przekonanie,   że 

inteligentne zastosowanie metody statystycznej regulacji procesów odegrają ważną rolę w 

dalszym   rozwoju   produkcji   przemysłowej.   Nowoczesne   przedsiębiorstwo   nie   może 

zrezygnować   z   uzyskanego   dzięki   wykorzystaniu   SPC   doskonaleniu   jakości   swoich 

produktów. Do konsekwentnego zastosowania SPC w przyszłości zmusi przedsiębiorstwa 

także wzmożona konkurencja. Korzyści uzyskane w ten sposób przez przedsiębiorstwa 

pozwolą na umocnienie ich pozycji rynkowej. W ciągu tak długiego okresu  nie udało się 

ustalić jednolitego dla wszystkich użytkowników i systematycznego sposobu użytkowania 

SPC. Potrzeba dalszych działań  istnieje zwłaszcza w kwestii ustalenia obowiązującej dla 

całego   przemysłu   metody   określania   wskaźników   jakości   i   zdolności.   Gdyby,   dzięki 

ujednoliceniu metod postępowania udało się przemawiać tym samym językiem w całym 

przemyśle, byłby to  wielki skok w kierunku podwyższania jakości produktów. Narzędzia 

doskonalenia   jakości  można   podzielić   na  dwie  kategorie.  Pierwsza  kategoria   obejmuje 

nadzór   i   ulepszanie   bieżącej   produkcji   seryjnej.   Należy   do   niej   także   SPC.   Tę   grupę 

narzędzi   zapewnienia   jakości   nazywa   się   narzędziami   online.   Drugą   kategorię   tworzy 

między   innymi   cała   dziedzina   metod   eksperymentalnych.   Narzędzia   te   mają   na   celu 

zdobycie ważnych informacji o jakości produktów już w fazie konstrukcji i służą analizie 

statystycznej   szeregów   pomiarowych.   Narzędzia   te   nazywane   są   narzędziami   offline. 

Ważną rolę jako narzędzia zapewnienia jakości w metodyce eksperymentalnej spełniają 

techniki   Shainina   i   Taguchiego.   Analizy   statystyczne   i   eksperymenty   wykonane   tymi 

technikami pozwalają na rozpoznanie ryzyka jakościowego już w bardzo wczesnej fazie 

planowania,   a   także   przy   względnie   niskim   nakładzie   pracy.   Poprzez   ukierunkowane 

stosowanie   środków   statystycznych   można   zapobiec   pojawianiu   się   wad   i   problemów 

jakościowych  w późniejszej fazie produkcji seryjnej. Należy mieć nadzieję, że metoda 

SPC, która opiera się na aktualnej propozycji norm ISO, bardzo szybko przejęta zostanie 

przez przemysł jak metoda standardowa. Oznaczało by to znaczne ułatwienie pozwalające 

10

background image

na   stosowanie   jednakowych   metod   kontroli   jakości   przez   wszystkich   odbiorców   i 

producentów.

2.2 SPC jako zasada ciągłego doskonalenia jakości.

          Pierwotne rozumienie definicji jakości jako utrzymania w granicach tolerancji nie 

stwarza zbytniej zachęty do doskonalenia jakości produktów. Dopóki parametry 

produktów utrzymują się w przewidzianych konstrukcyjnie granicach tolerancji nikt nie 

będzie na bazie tej teorii myślał o ulepszeniach w procesie produkcyjnym. Uczestnicy 

procesu produkcji muszą jednak wszyscy wnieść wkład w doskonalenie jakości. Tylko tak 

można wykorzystując technicznie możliwe i ekonomicznie uzasadnione metody 

produkcyjne produkować wyroby posiadające oczekiwane docelowo własności z możliwie 

małym statystycznie rozrzutem ich parametrów. Konieczność takiego sposobu podejścia 

wynika z wymagań klientów domagających się coraz dobitniej produktów wysokiej 

wartości. Gotowość do realizacji tych życzeń, czyli dążenie do uzyskania jak najlepszych 

produktów, musi zaznaczyć się w sposobie myślenia i zrozumieniu problemu jakości 

przez wszystkich mających swój wkład w proces produkcji.

Podany poniżej eksperyment myślowy daje jaśniejszy obraz omawianych współzależności 

i podkreśla konieczność postępowania według zasady ciągłego doskonalenia jakości w 

każdym nowoczesnym i uwrażliwionym na problem jakości przedsiębiorstwie. Najpierw 

rozpatrzymy pierwotne wyobrażenie o jakości. Wszystkie produkty znajdujące się 

wewnątrz granic tolerancji określane są tutaj jako równie dobre.  

  Rys1. Ocena według schematu: dobry - zły

        Nie rozróżnia się tutaj między produktami, których wartości rzeczywiste leżą 

dokładnie w środku przedziału tolerancji i takimi, których wartości leżą wewnątrz, ale już 

przy granicach przedziału. Zgodnie z pierwotną definicją wszystkie takie wyroby uważane 

są za jednakowo dobre. Z punktu widzenia użytkownika decyzja ta jest jak najbardziej 

11

background image

wątpliwa. Porównując wyrób o parametrach tuż poza granicą tolerancji z wyrobem jeszcze 

wewnątrz tej granicy trudno jest zrozumieć, dlaczego z punktu widzenia zastosowań jeden 

wyrób miałby bez ograniczeń nadawać się do użytku a drugi należy zaszeregować jako 

całkowicie nieprzydatny. Oba te wyroby różnią się tylko minimalnie swoimi wartościami 

rzeczywistymi i z pewnością nie mogą tak bardzo odbiegać w swojej użyteczności od 

zamierzeń, jak o tym usiłuje przekonać konwencjonalny sposób myślenia. 

Dla uzyskania dokładniejszego obrazu problemu jakości potrzebne jest stworzenie modelu 

jakości, który lepiej opisywałby ograniczenie jakościowe spowodowane odchyłkami od 

wartości docelowej. Modelem idealnym opisu takiej sytuacji jest model funkcji strat. 

Szczególnie ważne dla zrozumienia tego modelu jest stwierdzenie, że strata czyli 

ograniczenie jakości rozkłada się na cały zakres parametru produktu. 

Taguchi opisał te straty bardzo trafnie jako straty dla społeczeństwa a wyrażając przez to 

konieczność uwzględnienia w modelu możliwie wszystkich czynników , które maja wpływ 

na jakość produktu. Według jego modelu jakości strata stanowi wielkość ciągłą, której 

minimum odpowiada tzw. wartości docelowej. Wartość docelowa jest parametrem 

zależnym od przeznaczenia wyrobu a jego wartość optymalna odpowiada oczekiwaniu 

klientów. Przy poprawnym planowaniu i realizacji produkcji wartość docelowa odpowiada 

wartości oczekiwanej albo nominalnej ze specyfikacji produktu. Im bardziej wyrób lub 

jego cecha odbiega od zadanej wartości docelowej, tym większa jest strata spowodowana 

taką odchyłką. 

Rys 2. Funkcja strat Taguchiego

W omawianym modelu zależność ta ma kształt paraboli, której minimum odpowiada 

wartości docelowej. Na podstawie tego modelu można stwierdzić naocznie jak ważne jest 

12

background image

ukierunkowanie produkcji na wartość docelową i ograniczenie w ten sposób strat do 

minimum. Po nałożeniu funkcji strat na krzywą rozkładu nominalnego można się 

natychmiast przekonać naocznie, że proces o nominalnym rozkładzie wartości cech 

produkowanych elementów wykazuje znacznie mniejsze straty niż proces w którym 

przewidziane granice specyfikacji wypełnione są tylko przez rozkład prostokątny. 

Rys 3. Straty w zależności od wyśrodkowania i rozrzutu procesu

Rozwijając ten model dalej pokazać można w jaki sposób produkcja rozrzutu wynosi 

zmniejszenie strat. Widać też, jak ważne staje się nie tylko zwrócenie uwagi na rozrzut 

procesu, ale i dążenie do uzyskania wartości średniej jako docelowej nawet wtedy, gdy 

rozrzut zajmuje tylko niewielką część przedziału tolerancji. Dyskusji podlegać może z 

pewnością problem, czy omawiane tutaj wyobrażenia opisują dokładnie produkcję i 

obowiązują bez ograniczeń dla każdego procesu produkcyjnego. Ważne jest w tym miejscu 

jednak tylko i jedynie zrozumienie, że myślenie i działanie skoncentrowane zaledwie na 

utrzymaniu w granicach specyfikacji nigdy nie spełni wymagań dążenia do ciągłej 

poprawy jakości

  

Rys 4. Mały rozrzut, minimalne straty. 

13

background image

Zmiana wyobrażeń o jakości prowadzi do konieczności zmiany sposobu postępowania 

zarówno w produkcji jak i w sposobie wykorzystania urządzeń produkcyjnych. By 

przetrwać w sytuacji ostrej konkurencji konieczne jest dzisiaj spełnienie daleko idących 

oczekiwań klientów i dostarczenie towarów o optymalnej jakości. Nie wystarczy już 

oferować wyrobów wykorzystujących cały przedział dopuszczalnej tolerancji.

Rys 5. Straty w wyniku zmiany wyśrodkowania procesu 

Pracownicy związani z produkcją muszą w pełni wykorzystywać wszystkie możliwości 

ukierunkowania procesu produkcyjnego na uzyskiwanie wartości docelowej (nominalnej). 

Jednocześnie dążyć należy do utrzymania rozrzutu procesu na minimalnym poziomie i 

ciągłej redukcji tego rozrzutu jednak z zachowaniem wymagań rachunku ekonomicznego. 

Ważne jest zrozumienie, że traktowanie jakości na zasadzie: „tolerancja należy do 

produkcji” nie jest zgodne z dzisiejszym rozumowanie problemu uzyskiwania i 

doskonalenia jakości.

Rys 6. Wykorzystanie całego przedziału tolerancji.

14

background image

W zrozumieniu jakości musi wszystkich użytkowników  procesu produkcji obowiązywać 

zasada: Tylko ciągłe dążenie do utrzymania wartości docelowej zapewnia wysoki stopień 

zadowolenia klienta.

Rys 7. Wykorzystanie tolerancji ukierunkowane na wartość docelową

Z rysunków wynika bardzo wyraźnie, że proces wykorzystujący w trakcie produkcji cały 

przedział tolerancji dostarcza gorszej jakości ni z proces, który produkuje w oparciu o 

zasadę ukierunkowania na wartość docelową. 

2.3 Fazy kwalifikacji procesów.

               Rodzaj użytych metod statystycznych i sposób interpretacji wyników zależą od 

fazy kwalifikacji maszyn i procesów produkcyjnych. Zasadniczo rozróżnia się następujące 

fazy analizy kwalifikacyjnej:

- podczas kupna i oddawania do użytku urządzeń produkcyjnych

-przed rozpoczęciem produkcji seryjnej

-po rozpoczęciu produkcji seryjnej

Odbiór   maszyn   produkcyjnych   oparty   jest   na   badaniu   zdolności   krótkoterminowej   i 

możliwy jest tylko wtedy, gdy podczas badania uda się ocenić wyłącznie samą maszynę. 

Jeśli sytuacja taka nie występuje do odbioru maszyny wykorzystać należy tymczasową 

zdolność procesu.

15

background image

Ocena maszyn  i procesów produkcyjnych  opiera się na danych  zebranych  przy użyciu 

systemu  pomiarowego.  Przed  każdą  analizą   udowodniona  musi  być   najpierw  zdolność 

urządzenia   pomiarowego.   Wadliwe   lub   nieodpowiednie   środki   pomiarowe   dostarczają 

wartości   nie   odpowiadających   rzeczywistemu   zachowaniu   urządzenia   czy   procesu. 

Prowadzi do ocen z konieczności nie poprawnych.

Celem   wstępnej   kwalifikacji   systemów   i   następnie   ciągłego   nadzorowania   procesów 

produkcyjnych jest:

- wykazanie ich zasadniczej zdolności

- kwalifikacja procesów produkcyjnych

- rozpoznanie istotnych zmian w bieżącej produkcji.

        Kwalifikacja wstępna systemu i ocena procesu przed rozpoczęciem produkcji seryjnej 

są przedsięwzięciami jednorazowymi. Procedury te nazwane są też badaniem zdolności 

maszyn albo badaniem zdolności procesu produkcyjnego. Działanie to podejmowane jest 

często offline. W tym celu wykonuje się pewną liczbę produktów następnie mierzonych i 

badanych   zgodnie   z   przyjętymi   wcześniej   zasadami.   Ze   względu   na   wymagania 

porównywalności i powtarzalności wyników ważne jest by analizy danych dokonywane 

były zawsze według tych samych zasad postępowania.

Uzyskane wyniki porównuje się z kryterium odbioru. Jeśli maszyny, urządzenia i procesy 

ocenione są jako zdolne tzn. nadające się do wykorzystania, należy stwierdzić czy systemy 

te   nie   podlegają   istotnym   zmianom   w   czasie   użytkowania.   W   tym   celu   z   produkcji 

pobierane  są próby losowe wykonywanych  elementów  a wyniki  ich pomiarów  badane 

zgodnie z wymaganiami SPC przy użyciu techniki kart kontroli jakości.

Pomiary wyświetlane są online i analizowane zgodnie z zasadami statystyki.

Odchylenia muszą być ukazane w formie łatwej do zrozumienia dla użytkownika wraz z 

propozycjami   ewentualnych   reakcji   i   kroków   zaradczych.   System   taki   musi   stanowić 

pomoc dla użytkownika i ingerować możliwie mało lub wcale w jego środowisko pracy.

System sterowania procesem może być opisany jako system ze sprzężeniem zwrotnym. 

Statystyczne Sterowanie Procesem (SPC) jest jednym z typów systemu ze sprzężeniem 

zwrotnym. Istnieją także inne takie systemy, które nie są jednak systemami statystycznymi. 

Dla omówienia tego systemu  ważne są jego następujące cztery elementy:

Proces   -   Przez   proces   rozumie   się   całą   kombinację   dostawców,   wytwórców,   ludzi, 

wyposażenia, materiałów wejściowych, metod i środowiska, które współpracują razem dla 

wytworzenia wyjścia, i klientów, którzy używają wyjścia. Całkowita wydajność procesu 

zależy   od   porozumiewania   się   dostawcy   z   klientem,   od   sposobu   w   jaki   proces   został 

16

background image

zaprojektowany i wdrożony, oraz od tego, jak on działa i jak jest zarządzany. Pozostała 

część systemu sterowania procesem jest użyteczna tylko wtedy, gdy przyczynia się albo do 

utrzymania poziomu doskonałości, lub poprawiania całkowitych osiągów procesu.

Informacja o wydajności  (osiągach) - Wiele  informacji  o aktualnych  osiągach  procesu 

można wyczytać przez  badanie wyjścia procesu. Jednak najbardziej pomocna informacja o 

osiągach   procesu   pochodzi   ze   zrozumienia   samego   procesu   i   jego   wewnętrznej 

zmienności.   Charakterystyki   procesu   (takie   jak   temperatury,   czasy   cyklu,   szybkości 

podawania,   nieobecność,   obrót,   opóźnienia,   lub   liczba   przerw)   powinny   być 

najważniejszymi   punktami   skupienia   naszych   wysiłków.   Musimy   ustalić   pożądane 

wartości   docelowe   tych   charakterystyk,   które   wpływają   na   najbardziej   produktywne 

funkcjonowanie procesu, a potem monitorować, jak blisko lub jak daleko jesteśmy od tych 

docelowych   wartości.   Jeżeli   informacje   te   są   zebrane   i   zinterpretowane   we   właściwy 

sposób,   mogą   one   pokazać,   czy   proces   działa   w   sposób   zwykły   (normalny),   czy 

odbiegający   od   zwykłego.   Wtedy   mogą   być   podjęte   stosowne   działania,   gdy   takie   są 

potrzebne, dla skorygowania procesu lub właśnie wytworzonego wyjścia. Jeżeli działanie 

jest wymagane, musi być przeprowadzone we właściwym czasie i musi być właściwe, w 

przeciwnym razie wysiłki przy zbieraniu informacji staną się bezużyteczne.

Oddziaływanie na proces - Oddziaływanie na proces często jest najbardziej ekonomiczne, 

gdy podjęte jest w celu zapobiegania, aby ważne charakterystyki  nie odchylały się zbyt 

daleko od wartości docelowych. Utrzymuje to stabilność i zmienność wyjścia procesu w 

zakresie dopuszczalnych granic. Działanie takie może się składać ze zmian w operacjach 

lub   bardziej   podstawowych   elementach   procesu.   Wydruki   działań   powinny   być 

monitorowane   i   powinny   być   podejmowane   dalsze   analizy   i   działania,   jeśli   są   tylko 

konieczne. Oddziaływanie na wyjściu - działanie na wyjściu jest najmniej ekonomiczne 

gdy   jest   ono   ograniczone   do   wykrywania   i   korygowania   wyrobów   będących   poza 

specyfikacjami, bez ukierunkowania się na zasadnicze problemy procesu.

17

background image

3. KLASYFIKACJA I OPIS METOD POMIAROWYCH

3.1 Podział metod pomiarowych. 

Metoda Pomiarowa

bezpośrednia

Sposób postępowania

Podstawowa

(bezwzględna)

pośrednia

złożona

Porównawcza

(względna)

Bezpośredniego 

porównania

różnicowa

wychyleniowa

Efekt mierzenia

Przez

podstawienie

Przez

przedstawienie

koincydencyjna

Zerowa

Rys 8. Podział  metod pomiarowych.

Pomiar – czynności doświadczalne mające na celu wyznaczenie wartości wielkości.

Zasada pomiaru – zjawisko fizyczne stanowiące podstawę pomiaru 

zjawisko termoelektryczne wykorzystywane do pomiaru temperatury,

równowaga pary sił w wagach równoramiennych, 

spadek ciśnienia wykorzystywany do pomiaru natężenia przepływu.

Sposób pomiaru – kolejności niezbędnych do wykonania pomiaru.

Czynności pomiarowe mogą zawierać obliczenia niezbędne do wyznaczenia wartości 

wielkości mierzonej.

Metoda pomiarowa – sposób porównywania zastosowany w pomiarach.

Podstawowa metoda pomiarowa, 

Porównawcza metoda pomiarowa, 

Zerowa metoda pomiarowa,

18

background image

Metoda pomiarowa bezpośrednia – metoda pomiarowa, dzięki której wartość wielkości 

mierzonej otrzymuje się bezpośrednio, bez potrzeby wykonywania dodatkowych obliczeń 

opartych zależności funkcyjnej wielkości mierzonej od innych wielkości.

Pomiar masy na wadze z podzielnią albo na wadze równoramiennej,

Pomiar długości za pomocą przymiaru kreskowego lub końcowego.

Metoda pomiarowa pośrednia – metoda pomiarowa, dzięki której wartości mierzonej 

wielkości otrzymuje się pośrednio z pomiarów bezpośrednich innych wielkości 

związanych odpowiednio z wielkością mierzoną.

Pomiar gęstości ciała na podstawie pomiarów jego masy i jego objętości,

Pomiar oporu właściwego przewodnika na podstawie pomiarów jego oporu 

elektrycznego, jego długości i pola jego przekroju. 

Metoda pomiarowa złożona – metoda polega na bezpośrednim wyznaczeniu wartości 

pewnej ilości wielkości albo na pośrednim wyznaczeniu wartości tych wielkości 

grupowych w różnych kombinacjach, co wymaga rozwiązań odpowiednich układów 

równań.

Pomiar masy poszczególnych odważników kompletu, gdy znana jest masa jednego 

z nich i gdy są znane wyniki porównań mas różnych możliwych kombinacji 

odważników. 

Metoda pomiarowa podstawowa – metoda pomiarowa oparta na pomiarach wielkości 

podstawowych wchodząca do definicji wielkości.

Pomiar wartości ciśnienia za pomocą manometru obciążnikowo tłokowego opiera 

się na definicji ciśnienia jako stosunku siły normalnej do pola przekroju, na które 

działa ta siła;

Pomiar przyspieszenia siły ciężkości opiera się na pomiarze drogi przebytej 

określonym czasie przez ciało spadające swobodnie;

Pomiar wartości ciśnienia za pomocą manometru U – rurkowego wyprowadza się 

najpierw z pomiarów gęstości, przyspieszenia siły ciężkości i długości; pomiar 

dwóch pierwszych sprowadza się do pomiarów wielkości podstawowych: 

długości, masy i czasu.

Metoda pomiarowa porównawcza – metoda pomiarowa oparta na porównaniu wartości 

wielkości mierzonej z inną wartością tej samej wielkości lub też ze znaną wartością innej 

wielkości jako funkcji wielkości mierzonej.

19

background image

Metoda pomiarowa bezpośredniego porównania – metoda pomiarowa porównawcza 

polegająca na porównywaniu całkowitej wartości wielkości mierzonej z wartością znaną 

tej samej wielkości, która w postaci wzorca wchodzi bezpośrednio do pomiaru 

Pomiar długości za pomocą przymiaru z podziałkom, 

Pomiar objętości ciecz za pomocą pojemnika, 

Pomiar masy za pomocą wagi przez zrównoważenie mierzonej masy ciała, 

odpowiednią sumą mas odważników .

Metoda pomiarowa przez podstawienie – metoda pomiarowa bezpośredniego porównania 

polegająca na zastąpieniu wartości wielkości mierzonej wartością znaną tej samej 

wielkości, wybraną w ten sposób, aby skutki wywołane przez te dwie wartości były takie 

same. 

Wyznaczanie masy za pomocą wagi i odważników metodą podstawieniową  Bordy.

Metoda pomiarowa przez przestawienie – metoda pomiarowa bezpośredniego porównania 

polegająca na zrównoważeniu wartości wielkości mierzonej najpierw ze znaną wartością A 

tej wielkości, następnie na podstawieniu wielkości mierzonej na miejsce A i ponownym 

zrównoważeniu jej ze znaną wartością B tej samej wielkości. Jeżeli pozycja wskazówki 

pokazującej równowagę jest jednakowa obu przypadkach to wartości wielkości mierzonej 

jest równa √AB

Wyznaczenie masy za pomocą wagi i odważników kontrolnych. 

Metoda pomiarowa różnicowa – metoda pomiarowa porównawcza oparta na porównaniu 

wartości wielkości mierzonej z niewiele różniącą się od niej znaną wartością tej samej 

wielkości i pomiarze różnicy tych wartości.

Porównanie dwóch długości za pomocą komparatora,

Porównanie dwóch napięć elektrycznych za pomocą woltomierza różnicowego.

Metoda pomiarowa zerowa – metoda różnicowa polegająca na sprowadzeniu od zera 

różnicy między wartościami wielkości mierzonej a wartością znaną tej samej wielkości z 

nią porównywaną.

Wyznaczenie masy za pomocą wagi końcowe i początkowe równowagi są takie 

same,

Wyznaczenie napięcia elektrycznego za pomocą kompensatora,

Pomiar oporności elektrycznej za pomocą mostka Wheatstone’a i wskaźnika zera.

20

background image

Metoda pomiarowa koincydencyjna – metoda różnicowa polegająca na wyznaczeniu przez 

obserwację Koincydencji pewnych wskazów lub sygnałów małej różnicy między wartością 

wielkości mierzonej i z nią porównywanej wartości znanej tej samej wielkości.

Pomiar czasu przy obserwacji koincydencji wzorcowych sygnałów czasu z 

sygnałami porównywanego zera, 

Pomiar długości przedmiotu za pomocą suwmiarki z noniuszem.

Metoda pomiarowa wychyleniowa – metoda pomiarowa porównawcza polegająca na 

określeniu wartości wielkości mierzonej przez wychylenie urządzenia wskazującego.

Pomiar ciśnienia za pomocą manometru ze wskazówką, 

Pomiar napięcia elektrycznego za pomocą woltomierza z plamka świetlną,

Pomiar masy za pomocą wagi uchylnej.

3.2 Cechy metod pomiarowych.

                Pod pojęciem statystyki należy rozumieć metody  pozyskiwania, gromadzenia 

porządkowania   i   analizy   danych   obserwacyjnych   tak,   aby   na   podstawie   zdobytego 

materiału móc podjąć praktyczne decyzje w produkcji.

Produkowany element charakteryzuje się najczęściej wieloma cechami. Zwykle mówi się 

nie o elementach, wyrobach, częściach, wzorcach i tym podobnych lecz o nośnikach cech. 

Ich przejawem nazywa się wynik obserwacji danych cech. Przejawem cech mierzalnych są 

wartości pomiarowe, przejawy cech zliczanych nazywa się wartościami numeracyjnymi.

Cechy o ciągłym rozkładzie wartości.

Podczas   obserwacji   cechy   te   dostarczają   wyników   pomiarowych.   Umieszczone   na   osi 

liczbowej wartości pomiarów zająć mogą każdy dowolny punkt tej osi. Dla przykładu:

-wiek osoby

-miesięczne koszty produkcji.

Cechy o dyskretnym rozkładzie wartości:

Wyniki ich obserwacji są liczbami całkowitymi. Miedzy dwoma sąsiednimi liczbami na 

wartości żadna inna obserwacja nie jest możliwa. Dla przykładu:

-liczba braków w próbie

-liczba zakłóceń produkcji

-liczba części produkowanych w ciąga godziny.

21

background image

Cechy porządkowe:

O   cechach   tych   mówimy   gdy  obserwacja   nośnika   cechy   dostarcza   wyników   dających 

umieścić się na skali porządkowej. Dla przykładu:

- wydajność:   niewystarczająca, wystarczająca, dobra, nadzwyczajna.

Cechy znamionowe:

Mówimy   o   nich   kiedy   uzyskiwanym   wartościom   cechy   nie   można   przypisać   żadnego 

znaczenia   porządkującego.   Wynik   obserwacji   cechy   umieścić   można   tylko   na   skali 

nominalnej.   Kategorie   nie   podlegają   żadnej   hierarchii.   Można   przyjąć   dowolne 

uporządkowanie wartości. Dla przykładu

- płeć: żeński/męski

- aktywność: aktywny/nieaktywny.

Celem   analizy   prób   statystycznych   jest   uogólnienie   obserwowanego   zachowania 

interesującej nas cechy na stanowiącą podstawę tej analizy populacje generalną.

Prowadzi to do wykorzystania różnego typu rozkładów statystycznych, które albo:

-   jako   rozkłady   prawdopodobieństwa   opisują   populację   z   której   pochodzą   wartości 

obserwowane

albo

-   jako   rozkłady   parametryczne   znajdują   zastosowanie   przy   obliczaniu   wskaźników 

statystycznych jak przedziały przypadkowości rozrzutu albo przedziały ufności, bądź w 

testach statystycznych.

Zależnie od typu wartości cech wyrobu rozkładu prawdopodobieństwa dzielą się na:

- dyskretne

- rozkład hipogeometryczny

- rozkład dwumianowy

- rozkład Poissona

- ciągłe

- rozkład normalny

- rozkład Weibulla

- rozkład Rayleigh

- rozkład normalny zwinięty

- funkcja Pearsona

- transformacja Johnsona

- rozkład mieszany.

Do rozkładów parametrycznych należą:

22

background image

- rozkład normalny

- rozkład Studenta

- rozkład Snedecora

3.3 Sterowanie systemem pomiarowym.

                         Celem sterowania systemem pomiarowym jest podejmowanie optymalnych 

ekonomicznie   decyzji   dotyczących   działań   wpływających   na   proces.   Oznacza   to 

zrównoważenie konsekwencji podejmowania działania, gdy jest ono zbędne (nadmierne 

sterowanie lub "wtrącanie się") w przeciwieństwie do nie podjęcia działania, gdy jest ono 

niezbędne   (niewystarczające   sterowanie).   Z   niebezpieczeństwami   tymi   trzeba   jednak 

umieć sobie radzić w kontekście  wcześniej wspomnianych  dwóch źródeł zmienności  - 

przyczyn specjalnych i zwykłych .

Mówi się, że proces działa w stanie sterowania statystycznego, gdy jedynymi  źródłami 

zmienności są zwykle przyczyny. Jedną z funkcji systemu sterowania procesem jest wtedy 

zapewnienie sygnałów statystycznych, gdy obecne są specjalne przyczyny zmienności, i 

aby   zapobiegać   dawaniu   fałszywych   sygnałów,   gdy   takie   przyczyny   nie   występują. 

Umożliwia   to   podejmowanie   prawidłowego   działania   (działań)   w   odniesieniu   do   tych 

specjalnych przyczyn (albo usunięcia ich, albo, gdy są korzystne, wprowadzenia ich jako 

stałego sposobu postępowania).

Przy   omawianiu   zdolności   procesu,   rozważyć   trzeba   dwa   nieco   kontrastujące   ze   sobą 

zagadnienia:

Zdolność procesu jest ustalana zmiennością pochodzącą od zwykłych przyczyn. Ogólnie 

przedstawia ona najlepsze osiągi (tj. minimalny rozrzut) samego procesu, jak pokazano 

podczas funkcjonowania procesu w stanie sterowania statystycznego, w czasie gdy dane 

były zbierane, niezależnie od tego, gdzie mogą być granice specyfikacji w stosunku do 

położenia i/lub rozrzutu procesu.

Klienci   jednak,   wewnętrzni   lub   zewnętrzni,   zazwyczaj   są   zainteresowani   ogólnym 

wynikiem procesu, i tym, jak się on ma w odniesieniu do ich wymagań (określonych jako 

specyfikacje), niezależnie od zmienności procesu.

Ogólnie,   odkąd   system   pomiarowy   sterowany     może   być   opisany   przy   pomocy 

przewidywalnego   rozkładu,   z   tego   rozkładu   można   oszacować   proporcje   części 

mieszczących się w granicach specyfikacji. Tak długo, jak proces jest w stanie sterowania 

statystycznego i nie ulegnie zmianie jego położenie, rozrzut lub kształt, będzie on wciąż 

wytwarzał części mieszczące się w specyfikacji w tym samym rozkładzie. Jeżeli rozrzut 

23

background image

procesu jest nie do przyjęcia, strategia ta umożliwia wytworzenie minimalnej liczby sztuk 

części nie mieszczących  się w specyfikacji. Od działania  na system mającego na celu 

ograniczenie zmienności pochodzącej od zwykłych  przyczyn  jest zazwyczaj wymagane 

poprawienie   zdolności   procesu   (i   jego   wyjścia)   celem   konsekwentnego   spełnienia 

specyfikacji. W skrócie: proces najpierw musi być  doprowadzony do stanu sterowania 

statystycznego poprzez wykrywanie specjalnych przyczyn zmienności i przeprowadzanie 

związanych   z   nimi   działań.   Wtedy   jego   osiągi   są  przewidywalne,   a  jego  zdolność   do 

spełnienia   oczekiwań   klienta   może   być   oceniona.   Jest   to   podstawą   do   ciągłego 

doskonalenia.

Każdy proces podlega klasyfikacji opartej na zdolności i sterowaniu. Proces może być 

zakwalifikowany do jednego z  4 przypadków, jak podano to w tablicy poniżej:

KONTROLA

SPEŁNIENIE WYMAGAŃ

JEST POD KONTROLĄ

NIE JEST POD KONTROLĄ

AKCEPTOWALNE

PRZYPADEK 1

PRZYPADEK 3

NIEAKCEPTOWALNE

PRZYPADEK 2

PRZYPADEK 4

Proces  musi  znajdować się w stanie sterowania  statystycznego,  a właściwa zmienność 

(zdolność) musi być mniejsza, niż tolerancja wynikająca z dokumentacji, aby proces mógł 

być zaakceptowany. Idealną sytuacją jest mieć proces jak w Przypadku 1, gdzie proces jest 

w stanie sterowania statystycznego, a jego zdolność do spełnienia wymagań jest możliwa 

do zaakceptowania. W Przypadku 2 proces jest w stanie sterowania statystycznego, ale 

posiada nadmierną zmienność spowodowaną zwykłymi  przyczynami, która musi zostać 

zredukowana. W Przypadku 3 proces spełnia wymagania w sposób akceptowalny, ale nie 

jest w stanie sterowania; należy wykryć specjalne przyczyny zmienności i muszą być w 

stosunku do nich podjęte odpowiednie działania. W Przypadku 4 proces ani nie jest w 

stanie   sterowania,   ani   nie   jest   możliwy   akceptacji;   muszą   być   zredukowane   zarówno 

zwykle, jak i specjalne przyczyny zmienności.

W   niektórych   okolicznościach   kupujący   może   zezwolić   producentowi   na   prowadzenie 

procesu,   nawet   jeżeli   jest   to   proces   z   Przypadku   3.   Okoliczności   te   mogą   dotyczyć 

następujących sytuacji:

Klient nie jest wrażliwy na zmienność w zakresie specyfikacji .

24

background image

Nakłady   ekonomiczne   związane   z   działaniami   dotyczącymi   specjalnej   przyczyny 

przekraczają   korzyści   dla   któregoś   lub   wszystkich   klientów.   Specjalne   przyczyny 

dopuszczalne   pod   wpływem   czynników   ekonomicznych   mogą   obejmować   zużycie 

narzędzi, przeszlifowanie narzędzi, zmiany cykliczne (sezonowe) itp.

Przyczyna specjalna została zidentyfikowana i udokumentowana jako konsekwentna i 

przewidywalna.

W tych sytuacjach kupujący może wymagać, aby:

Proces był dojrzały, tj. proces przeszedł kilka cykli ciągłego doskonalenia.

Dla specjalnych przyczyn, które mają zostać dopuszczone, pokazano, że występują w 

sposób konsekwentny przez określony i znany okres czasu.

Funkcjonuje   plan   kontroli   procesu,   który   zapewnia   zgodność   całego   wyjścia   ze 

specyfikacją   procesu   i   zabezpiecza   przed   innymi   specjalnymi   przyczynami   lub 

niekonsekwencjami w dopuszczonej specjalnej przyczynie.

Zasadą   przyjętą   w   przemyśle   samochodowym   jest   liczenie   zdolności   tylko   po 

zademonstrowaniu,   że   proces   jest   w   stanie   sterowania   statystycznego.   Zdolność   jest 

stosowana jako podstawa dla przewidywania, jak proces będzie przebiegał przy użyciu 

danych statystycznych pobranych z procesu. Prognozowanie w oparciu o dane z procesu, 

który nie jest stabilny i powtarzalny w czasie ma małą wartość. Przyczyny specjalne są 

odpowiedzialne  za zmiany kształtu,  rozrzutu lub położenia rozkładu procesu, i dlatego 

mogą   niespodziewanie   unieważnić   przewidywania   co   do   zdolności   procesu.   Różne 

wskaźniki i zależności dla zdolności oparte są, między innymi, na wymaganiu, aby dane 

stosowane   do   ich   obliczania   były   zbierane   z   procesów,   które   są   w   stanie   sterowania 

statystycznego.

Wskaźniki   zdolności   mogą   być   podzielone   na   dwie   kategorie:   krótkoterminowe   i 

długoterminowe. Krótkoterminowe rozważania dotyczące zdolności są oparte o pomiary 

zebrane z jednego przebiegu operacji. Dane są analizowane przy użyciu karty kontrolnej, 

aby zapewnić, że proces jest w stanie sterowania statystycznego. Jeżeli nie znaleziono 

żadnych przyczyn specjalnych, można  wyliczyć wskaźnik krótkoterminowy. Jeżeli proces 

nie jest w stanie sterowania, wymagane będą działania dotyczące przyczyn specjalnych. 

Ten typ badań jest stosowany dla weryfikacji początkowych sztuk wytwarzanych przez 

proces   do   zatwierdzenia   przez   klienta.   Innym   zastosowaniem,   czasami   nazywanym 

badaniem   zdolności   maszyny,   jest   weryfikacja,   czy   nowy   lub   zmodyfikowany   proces 

przebiega aktualnie w zakresie parametrów technicznych.

25

background image

Gdy  stwierdzono,  że   system  jest   stabilny  i  zdolny  do  spełnienia  wymagań   w  krótkim 

okresie,   w   następnej   kolejności   przeprowadzany   jest   inny   rodzaj   badań.   Rozważania 

zdolności długoterminowej obejmują pomiary, które są zbierane na przestrzeni dłuższego 

okresu czasu. Dane powinny być zbierane przez wystarczająco długi czas, i w taki sposób, 

aby objęły wszystkie spodziewane źródła zmienności. Wiele z tych źródeł zmienności nie 

może być zaobserwowana w badaniach krótkoterminowych. Gdy zbierze się wystarczającą 

ilość danych, są one nanoszone na kartę kontrolną, i, jeżeli nie zostaną znalezione żadne 

specjalne   przyczyny,   mogą   zostać   wyliczone   długoterminowe   wskaźniki   zdolności   i 

osiągów. Jednym z zastosowań tych badań jest opisanie możliwości spełniania wymagań 

klienta na przestrzeni długich okresów czasu, z uwzględnieniem wielu możliwych źródeł 

zmienności - tj. określić ilościowo osiągi procesu.

Opracowano   szereg   różnych   wskaźników   ponieważ     nie   można   zastosować   w   sposób 

uniwersalny pojedynczego wskaźnika do wszystkich procesów, oraz żaden dany proces nie 

może   być   w   pełni   opisany   przy   użyciu   jednego   wskaźnika.   Na   przykład,   zaleca   się 

używanie wskaźników tj. C

p

 i C

pk

, aby były one połączone z technikami graficznymi dla 

lepszego zrozumienia zależności między szacowanym rozkładem i granicami specyfikacji. 

W   pewnym   sensie   sprowadza   się   to   do   porównania   (i   próby   dopasowania)   „głosu   z 

procesu” do „głosu klienta”.

Wszystkie   wskaźniki   mają   słabości   i   mogą   wprowadzać   w   błąd.   Wszelkie   wnioski 

wyciągnięte   z   wyliczonych   wskaźników   powinny   być   kierowane   przez   odpowiednią 

interpretację danych, z których te wskaźniki są wyliczone.

Zakłady   samochodowe   mają   zestaw   wymagań   dla   zdolności   procesu.   W   zakresie 

odpowiedzialności czytelnika leży skomunikowanie się ze swoim klientem i określenie, 

jakich wskaźników ma używać. W niektórych przypadkach najlepszym wyjściem może 

być  nie stosowanie jakichkolwiek wskaźników. Ważne jest zapamiętanie, że większość 

wskaźników zdolności zawiera we wzorze specyfikację dla wyrobu. Jeżeli specyfikacja 

jest nieodpowiednia, lub nie jest oparta na wymaganiach kupującego, można stracić dużą 

ilość czasu i wysiłku próbując zmusić proces do osiągnięcia zdolności.

26

background image

1. ANALIZOWANIE

      Co może iść źle? 

      jak proces powinien działać?

     Jak przebiega proces?

     Osiąganie stanu sterowania statycznego

     Określanie zdolności.

Rys 9. Stadia i cykle systemu pomiarowego .

3.4 Cykl doskonalenia systemu pomiarowego i sterowanie systemem. 

              Przy stosowaniu koncepcji ciągłego doskonalenia systemu pomiarowego istnieje 

trzyetapowy cykl, który może być użyteczny . Każdy proces podlegający doskonaleniu 

może być umieszczony w którymś miejscu tego cyklu.

Podstawowe   rozumienie   systemu   pomiarowego   jest   rzeczą   konieczną   przy   rozważaniu 

udoskonalenia   procesu.   Pomiędzy   pytaniami,   na   które   trzeba   sobie   odpowiedzieć   dla 

lepszego rozumienia procesu, są następujące:

27

2. UTRZYMANIE 

Monitorowanie osiągów systemu pomiarowego

wykrywanie specjalnych przyczyn 

zmienności i działanie

 ukierunkowane. na 

nie

PLANOWANIE

DZIAŁANIE

OKREŚLENIE DZIAŁAŃ DLA 

OSIĄGNIĘCIA 

PLANOWANEGO STANU

PLANOWANIE

DZIAŁANIE

PLANOWANIE

DZIAŁANIE

OKREŚLENIE DZIAŁAŃ DLA 

OSIĄGNIĘCIA 

PLANOWANEGO STANU

OKREŚLENIE 

DZIAŁAŃ DLA 

OSIĄGNIĘCIA 

PLANOWANEGO 

STANU

OCENA STANU PO 

DZIAŁANIU

OCENA STANU PO 

DZIAŁANIU

3. ULEPSZANIE SYSTEMU

zmienianie procesu dla lepszego rozumienia zwykłych 

przyczyn zmienności

regulowanie zmienności od zwykłych przyczyn.

background image

Co system  powinien robić?

Co może pójść źle?

- Co może się zmieniać w tym systemie?

- Co już wiemy o tej zmienności tego systemu pomiarowego?

- Które parametry są najbardziej czułe na zmienność?

Co system robi?

-   Czy   system   pomiarowy   ten   wytwarza   odpady   lub   wyjście   które   wymaga 

przerabiania?

                   - Czy system  ten wytwarza wyjście, które jest w stanie sterowania statystycznego?

         - Czy system  jest wydolny?

- Czy  jest wiarygodny (pewny)?

Można użyć  wielu technik dla uzyskania  lepszego zrozumienia systemu  pomiarowego, 

takich, jak spotkania grup, konsultacje z osobami, które rozwijają lub obsługują system 

pomiarowy („eksperci w danej sprawie”), poprzez przegląd historii procesu lub budowy 

Analizy   Potencjalnych   Wad   i   ich   Skutków   (FMEA).   Karty   kontrolne   opisane   w   tym 

podręczniku   są potężnym   narzędziem,  które  powinno  być   używane.   Te  proste  metody 

statystyczne   pomagają   w   odróżnieniu   zwykłych   i   specjalnych   przyczyn   zmienności. 

Specjalne   przyczyny   zmienności   muszą   być   przypisane   do   źródła   pochodzenia.   Gdy 

osiągnięto stan sterowania statystycznego, może już być wyliczony wskaźnik zdolności, 

aby   wykorzystać   go   przy   ocenianiu   bieżącego   poziomu   procesu   w   odniesieniu   do 

zdolności długoterminowej.

Gdy już osiągnięto lepsze rozumienie systemu pomiarowego,  musi być utrzymywany na 

odpowiednim   poziomie   zdolności.   Osiągi   systemu   pomiarowego     muszą   być 

monitorowane, aby możliwe było podejmowane efektywnych środków mających na celu 

zapobieganie niepożądanym zmianom. Pożądane zmiany także muszą być zrozumiane i 

zinstytucjonalizowane.   Ponownie   proste   metody   statystyczne,   wyjaśnione   w   tym 

podręczniku   mogą   wam   pomóc.   Opracowywanie   i   stosowanie   kart   kontrolnych   oraz 

innych   narzędzi   pozwoli   na   skuteczne   monitorowanie   procesu.   Gdy   użyte   narzędzie 

sygnalizuje, że system pomiarowy uległ zmianie, mogą być podjęte szybkie i skuteczne 

środki dla wyizolowania przyczyny (przyczyn), oraz odpowiednie działania w stosunku do 

niej (do nich).

Zbyt łatwe jest zatrzymanie się na drugim etapie cyklu. Ważne jest uświadomienie sobie, 

że   istnieje   granica   zasobów   w   każdym   przedsiębiorstwie.   Niektóre,   być   może   liczne 

28

background image

procesy,   powinny   pozostać   na   takim   etapie.   Jednakże   niepowodzenie   w   przejściu   do 

następnego   etapu   w   cyklu   może   spowodować   istotne   osłabienie   konkurencyjności. 

Osiągnięcie „klasy światowej” wymaga stałych i planowych wysiłków dla przesunięcia się 

do następnego etapu cyklu doskonalenia systemu pomiarowego.

Do tego miejsca, wysiłek był ukierunkowany na stabilizację systemu pomiarowego i jego 

utrzymanie. Jednak, dla niektórych p, klient będzie czuły nawet na zmienności w granicach 

specyfikacji technicznych. W takich przypadkach nie będzie można zdać sobie sprawy ze 

znaczenia  ciągłego  doskonalenia,  dopóki zmienność  nie zostanie zredukowana. W tym 

miejscu   mogą   być   użyteczne   dodatkowe   narzędzia   dla   analizy   zdolności   systemu, 

włączając   w   to   bardziej   zaawansowane   metody   statystyczne,   takie,   jak   planowanie 

eksperymentów oraz zaawansowane karty kontrolne. Załącznik H podaje kilka pomocnych 

odnośników przeznaczonych  do dalszych  studiów. Doskonalenie systemu pomiarowego 

poprzez   redukowanie   zmienności   zazwyczaj   obejmuje   celowe   wprowadzenie   zmian     i 

mierzenie  ich  efektów. Celem  tego działania  jest  lepsze zrozumienie,  tak,  aby zwykłe 

przyczyny zmienności mogły być w dalszym ciągu redukowane. Celem tej redukcji jest 

poprawiona jakość przy niższym koszcie. Gdy zostały ustalone nowe parametry procesu, 

cykl wraca z powrotem do fazy analizowanie systemu pomiarowego. 

Gdy tylko zmiany zostały zrobione, stabilność systemu pomiarowego wymaga ponownego 

potwierdzenia. .

29

background image

4. WALIDACJA METOD POMIAROWYCH

4.1 Podstawowe pojęcia.

 Pomiar:

Zbiór operacji mających na celu wyznaczenie wartości wielkości.

Wielkość (mierzalna):

Cecha zjawiska, ciała lub substancji, która można wyróżnić  jakościowo

i wyznaczyć ilościowo.

Wielkość mierzona:

Wielkość określona, stanowiąca przedmiot pomiaru.

Wartość wielkości:

Wyrażenie ilościowe wielkości określonej na ogół w postaci iloczynu

liczby i jednostki miary.

Wartość prawdziwa wielkości:

Wartość  rzeczywista; wartość zgodna z definicja wielkości określonej;

wartość, jaka uzyskałoby się jako wynik bezbłędnego pomiaru.

Zasada pomiaru:

Naukowa podstawa pomiaru, np. zjawisko termoelektryczne wykorzystane

do pomiaru temperatury.

Metoda pomiaru:

Logiczny ciąg wykonywanych podczas pomiaru operacji, opisanych

w sposób ogólny (technika pomiaru).

Procedura pomiarowa:

Zbiór operacji opisanych w sposób szczegółowy i realizowanych podczas

wykonywania pomiarów zgodnie z dana metoda (sposób wykonania

pomiaru

Wynik pomiaru:

Wartość  przypisana wielkości mierzonej, uzyskana droga pomiaru.

Wartość zaobserwowana:

Wartość  właściwości otrzymana w wyniku pojedynczej obserwacji.

30

background image

4.2 Pojecie walidacja.

                     Walidacja jest potwierdzeniem, przez zbadanie i przedstawienie obiektywnego 

dowodu,   ze   zostały   spełnione   wymagania   dotyczące   konkretnie   zamierzonego 

zastosowania (EN ISO 8402).

Walidacja   metody   jest   to   proces   ustalania   charakterystyki   sprawności   działania 

(charakterystyki roboczej) i ograniczeń metody oraz identyfikacji czynników, które mogą 

zmienić te charakterystykę i w jakim zakresie tych zmian. Walidacja metody to proces 

sprawdzania, czy metoda jest przydatna do określonych celów, tj. czy można ja zastosować 

do   rozwiązania   określonego   problemu   (opracowanie   metody   do   określonego 

zastosowania). Walidacja to potwierdzenie przez przedstawienie dowodu obiektywnego, ze 

zostały   spełnione   wyspecyfikowane   wymagania;   proces   walidacji   może   się   składać   z 

następujących   działań:   wykonanie   obliczeń   alternatywnych,   porównanie   nowej 

specyfikacji   projektu   z   podobna,   podejmowanie   badan   i   prezentacji,   przeglądanie 

dokumentów przed ich wydaniem (norma PN-EN ISO 9000).

Walidacja  jest procesem oceny wyrobów  lub metod  dla zapewnienia ich zgodności ze 

stawianymi   im   wymaganiami.   Wstępnymi   warunkami   spełnienia   tych   wymagań   są 

prawidłowo   działającej   odpowiednio   udokumentowane   przyrządy   pomiarowe   (sprzęt   i 

oprogramowanie), komputer oraz atestowane metody analityczne. Po wyborze urządzeń i 

konkretnej metody oraz stwierdzeniu, że są po walidacji, poddaje się je, przed i po miedzy 

analizami próbek, badaniu przystawalności systemu. Ostatecznym celem procesu walidacji 

metody jest dostarczenie dowodu, że umożliwia ona niezawodnie i w sposób odtwarzalny 

realizacje czynności, jakie ma na celu. 

   

4.3 Walidacja metod pomiarowych i badawczych.

         Ogólne czynniki wpływające na niepewność pomiaru można podzielić na trzy grupy

-czynniki techniczne związane z wyposażeniem pomiarowym, metodami pomiaru, jakością 

próbek

-czynniki ludzkie

-czynniki środowiskowe.

Czynniki   techniczne   są   ściśle   związane   z   charakterystykami   konstrukcyjnymi   i 

funkcjonalnymi  wyposażenia pomiarowego, a także z samym obiektem badań.

Wpływ   tych   czynników   można   zminimalizować   m.in.   przez   dokładne   zdefiniowanie 

wyposażenia   pomiarowego   wykorzystywanego   w   danej   metodzie   pomiarowej, 

31

background image

ustanowienie procedur nadzorowania wyposażenia   zapewnienie spójności pomiarowej z 

wzorcami wyższego rzędu.

Czynniki ludzkie są ściśle związane z kompetencjami personelu lab. określanymi przez 

wykształcenie, szkolenie w miejscu pracy zdobyte doświadczenie.

Czynniki środowiskowe dotyczą głównie warunków otoczenia w jakich przeprowadzone 

są badania .

Wpływ   tych   czynników   powinien   być   uwzględniony   w   stosowanych   metodach 

pomiarowych.

Sposób postępowania podczas walidacji metody pomiarowej pomiarowej jest uzależniony 

od tego czy jest to

-nowa metoda

-metoda stosowana winnych laboratoriach

-modyfikacja stosowanej metody

-metoda standardowa

Start

Sprecyzowanie

wymagań

Specyfikacja

metody pomiarowej

Specyfikacja sposobów

oceny niepewności

Tworzenie niepewnosci

Czy spełnione

wymagania

Metoda

zwalidowana

Tak

Nie

Rys.10. Procedura walidacji metod pomiarowych.

4.4 Walidacja nowej metody

         Głównym celem walidacji metody pomiarowej jest wykazanie że uzyskane wyniki 

obarczone są niepewnością nie  większą od wymaganej przez  klienta.

32

background image

Proces   walidacji   jest   w   tym   przypadku   ściśle   powiązany   za   procedurą   doboru   lub 

opracowania nowej metody .

Dobór metody do wymagań klienta.

start

Przeprowadzić

walidację metody

Opracować nową

metodę

Czy walidacja dała

pozytywny wynik

Wykonać badania

Sprawdzić spełnienie 

wymagań

koniec

Wybrać istniejącą meto

dę lub opracować nową

Wykonanie badań

nie jest możliwe

Czy klient zgadza się

na zmianę wymagań

Czy możliwe jest

opracowanie nowej 

metody

Nie

Tak

Nie

Tak

Tak

Nie

Rys.11. Dobór metody do wymagań klienta.

Proces walidacji można podzielić na następujące etapy:

 -planowanie walidacji

-ustalenie wymagań

-weryfikacja projektu

-zaplanowanie testów

-wykonanie testów

-ocena wyników.

W przypadku tworzenia nowej metody wymagania te powinny być tworzone z przyszłym 

użytkownikiem ponieważ wtedy można najlepiej określić jej funkcjonalność.

33

background image

Specyfikacja

wymagań klienta 

Kwalifikacja

działania

Specyfikacja

funkcjonalna

Kwalifikacja

operacyjna

Specyfikacja projektowa

aparatury badawczej

Kwalifikacja instalacji 

aparatury

Wdrażanie metody

 

Rys.12. Schemat „modelu V” walidacji.

      

Każdemu etapowi tworzenia metody przypisane są odpowiednie etapy kwalifikacji 

ze   względu   na   błędy   jakie   za   sobą   niesie   wykonywanie   tej   samej   metody   w   innych 

warunkach   środowiskowych.   Dzięki   temu   można   mieć   większe   zaufanie   do   tego   że 

tworzona metoda będzie spełniała podstawowe jej wymagania.

Specyfikacja   wymagań   powinna   zawierać   metody   oraz   opisywać   oczekiwania   jakie 

powinna spełniać metoda i jej oprogramowanie. Tworząc plan walidacja w szczególności 

opracowując testy do sprawdzenia przyszłej metody, należy tak je skonstruować aby w 

możliwie   wyczerpujący   sposób   można   było   sprawdzić   poprawność   jej   działania. 

Specyfikacja funkcjonalna powinna szczegółowo opisywać funkcje metody.

Ma ona odniesienie  do etapu wdrażania  metody obejmującego  kwalifikację operacyjną 

oraz testowanie wszystkich krytycznych funkcji metody . Powinna być ona tworzona jak 

poprzednia przy współpracy z przyszłym użytkownikiem.

Specyfikacja projektowa powinna zdefiniować metodę w taki sposób, aby było możliwe jej 

opracowanie. Podczas walidacji metody pomiarowej należy zwrócić szczególna uwagę na 

ocenę powtarzalności i odtwarzalności wybranej metody.

W celu wyznaczenia odtwarzalności metody pomiarowej należy dokonać jej sprawdzenia 

w rożnych  warunkach, którą można  uzyskać  badając metodę  w różnych  laboratoriach. 

34

background image

Walidacja   powinna   rozpocząć   się   od   etapu   planowania.   W   planie   walidacji   powinny 

znaleźć odzwierciedlenie następujące elementy:

-precyzyjne   określenie   odpowiedzialności   wraz   z   przypisaniem   jej   do   poszczególnych 

osób prowadzących walidację

-wykaz dokumentów definiujących metodę i jej przeznaczenie

-relacje metody z innymi elementami

-wykaz parametrów kontrolnych wraz ze wskazaniem parametrów krytycznych.

Ważnym krokiem wstępnym w procesie planowania walidacji jest określenie złożoności 

metody. Zespół walidacyjny powinien podczas kwalifikacji wstępnej dokonać sprawdzenia 

dostępności   wszystkich   niezbędnych   dokumentów   takich   jak   specyfikacja     wymagań, 

niezbędne procedury testowe oraz wzory protokołów i raportów.

35

background image

Specyfikacja wymagań
Specyfikacja funkcjonalna

Plan walidacji

Przegląd specyfikacji

Przegląd projektu

Specyfikacja

Projekt

Specyfikacja projektowa 
Specyfikacja niezbędnego
Sprzętu pomiarowego
Specyfikacja oprogramowania

Tworzenie metody
Tworzenie oprogramowania
Integracja metody z oprogramowaniem

Opracowanie

Opracowanie metody

I przegląd kodu

Kontrola u dostawcy

Kwalifikacja instalacyjna

Kwalifikacja działania

Raport z walidacji

Testowanie modułów metody
Test integracyjny oprogramowania 
Test wyposażenia pomiarowego

Testy wstępne 

Wdrożenia metody 
Instalacja oprogramowania
Instalacja wyposażenia
Integracja oprogramowania

a

Wdrażanie

Testy przyjęcia systemu

Testy przyjęcia

Raport ostateczny z walidacji 

Raport

Praca ciągła

Utrzymanie i kontrola bieżąca

Działanie

Rys.13 Powiązanie działań walidacyjnych z poszczególnymi fazami realizacji.

4.5 Badanie równorzędności metod pomiarowych.

Testy istotności pozwalają na porównanie w sposób obiektywny dwóch zbiorów 

wyników pochodzących z dwóch metod oraz na stwierdzenie, czy obydwa badania zbiory 

należą do tej samej populacji. Stosując testy sprawdza się, czy występują  istotne różnice 

odchyleń standartowych s

1

 oraz s

2

 charakterystycznych dla zbiorów uzyskanych z serii 1 

oraz z serii 2 i czy istotne statystycznie są różnice średnich 

x

x

oraz

2

1

dla obu serii wyników. 

36

background image

Negatywne wyniki sprawdzania hipotezy 

X

x

x

=

=

2

1

 oznaczają, że różnica średnich 

jest istotna i że obie serie wyników nie należą do tej samej populacji charakteryzującej się 

wartością średnią

X

.

4.6 Zastosowanie testu „F”

Test F – test istotności różnicy precyzji, cechujących obydwie porównywane

metody, polega na porównaniu rozrzutu wyników uzyskanych dwiema metodami w dwóch 

seriach pomiarowych 1 oraz 2. Porównywane są  dwie wartości odchyleń standartowych s

i   s

2

  dla   określenia,   czy   obydwu   badanym   seriom   można   przypisać     ten   sam   rozkład 

normalny.

Test F może zatem nam odpowiedzieć na pytanie czy obydwie badane metody, z których 

pochodzą   dwie   serie   wyników,   są   równorzędnie   precyzyjne   i   czy   byłoby   dozwolone 

połączenie wyników pochodzących z obydwu serii w jeden duży zbiór.

Należy   sprawdzić   hipotezę   o   równości   wariacji   w   dwóch   zbiorach   wyników 

s

1

2

=s

2

2

=s

2

wyznaczając wartość ilorazu

s

s

F

2

2

2

1

=

dla

ν

ν

2

1

=

 

(1)      

przy   takim ustawieniu porównywanych wariacji aby wartość F była zawsze większa od 

jedności. Hipoteza jest spełniona, gdy wartość F obliczona jest mniejsza od wartości F

kry 

np. na poziomie ufności P=95%. Wartość krytyczna F

kryt

  wskazuje, przy jakiej wartości 

różnicy wariacji hipoteza przestaje być spełniona.

4.7 Zastosowanie testu „t”

Test   t     ma   na   celu   zbadanie   istotności   różnicy   wartości   średnich   dwóch 

niezależnych grup wyników i jest badaniem spełnienia hipotezy zerowej H

o

 że 

x

x

2

1

=

Jeśli dane są dwie różne wartości średnie 

x

x

oraz

2

1

 obliczone dla dwóch serii licząc 

odpowiednie  N

1

  oraz  N

2

  wyników,  sprawdzić,   należy  czy  różnica   wartości  średnich  

37

background image

x

x

2

1

  jest   istotna   statystycznie.   Proces   porównania   rozpoczyna   się   od   obliczenia 

złożonego odchylenia standardowego s

c

 wyrażonego wzorem

(

) (

)

(

)

2

1

1

2

1

2

2

2

1

2

1

+

+

=

N

N

N

s

N

s

s

c

 

(2)

        

gdzie   s

1

oraz   s

2

-   odchylenie   standardowe   serii   pomiarowych   1   oraz   2,   N

1

  oraz   N

2

  –

liczebność wyników pomiarów wykonywanych w seriach pomiarowych 1 oraz 2 . Różnica 

wartości średnich 

x

x

2

1

 wyników uzyskanych w niezależnych seriach pomiarowych 

ma rozkład  t wyrażony wzorem

N

N

s

x

x

c

t

2

1

2

1

1

1

+

=

 

(3)   

Wartość t obliczona jest porównywana z wartością krytyczną t

kryt    

którą odczytuje się z 

tablic dla poziomu ufności P i dla liczby stopni swobody v obliczonej ze wzoru:

V=N

1

+N

2

-2

jeżeli t<t

kryt

  to można przyjąć, że różnica między wartościami średnimi z obydwu metod 

nie jest istotna statystycznie, co jest równoznaczne potwierdzeniu poprawności metody.

4.8 Metoda Placketta- Burmana

Testy odporności metod badawczych na czynniki zewnętrzne zostały opracowane 

przez Placketta i Burmana . Zasadą tego testu jest założenie, że tzw. główne efekty brane 

pod uwagę pochodzą od zmiennych, które są niezależne od efektów innych zmiennych, tak 

jakby nie istniały sprzężone ich oddziaływanie.

Plan eksperymentu P-B obejmuje siedem czynników (A-G) zmienianych kolejno w ośmiu 

eksperymentach. Każda kolumna planu eksperymentu zawiera równą liczbę znaków (+) (-) 

Znaki (+) dla danego czynnika oznacza, że pomiar został wykonany, gdy dany czynnik 

38

background image

został podniesiony na wyższy poziom. Znak (-) wskazuje, że wartość czynnika została 

obniżona.   Wszystkim   siedmiu   czynnikom   nadawano   określone   wartości   przed 

wykonaniem   każdego   z   siedmiu   pomiarów.   Założono,   że   w   trakcie   ósmego   pomiaru 

czynniki są na niskim poziomie i zmiany ich będą przypadkowe.

Rys.14.   Plan   eksperymentu   P-B   sprawdzającego   odporność   metody   analitycznej   na 

zakłócenia .

Eksperyment jest tak skonstruowany że zmiany każdego czterech czynników A(+) 

oraz A(-) są skojarzone z czterema przypadkami zmian B(+) oraz B(-) drugiego czynnika. 

Jeśli efekt A jest ortogonalny z efektem B to nie powinno to wynikać ze zmiany efektu B. 

Tak więc ortogonalność głównych efektów oraz zniekształceń estymacji przez interakcje 

stanowią największe problemy testów tego rodzaju.

Opracowanie wyników eksperymentu obejmuje :

-   obliczenie   wartości   każdego   z   efektów,   które   stanowią   średnią   wartość   pomiarów 

wykonywanych przy wzroście czynnika minus średnia z pomiarów wykonywanych przy 

jego spadku. Dla wyników podanych w tablicy powyżej obliczona ze wzoru:

( )

( )

( )

( )

[

]

+

=

+

=

B

A

N

N

B

N

A

efektA

2

2

2

                                                  (4) 

wartość efektu A jest następująca:

pom.

A

B

C

D

E

F

G

testu

1

+

+

+

-

+

-

-

1,1

2

-

+

+

+

-

+

-

6,3

3

-

-

+

+

+

-

+

1,2

4

+

-

-

+

+

+

-

0,8

5

-

+

-

-

+

+

+

6

6

+

-

+

-

-

+

+

0,9

7

+

+

-

+

-

-

+

1,1

8

-

-

-

-

-

-

-

1,4

39

background image

(

) (

)

[

]

75

,

2

4

,

1

0

,

6

2

,

1

3

,

6

1

,

1

9

,

0

8

,

0

1

,

1

8

2

=

+

+

+

+

+

+

=

efektA

- obliczenie wartości odchylenia standardowego dla dowolnego efektu, np. efektu A

N

s

efektu

s

2

=

                                                                                                                 (5)

gdzie N- liczba pomiarów , s- odchylenie standardowe pojedynczych pomiarów

-   obliczenie   wartości   t   dla   wykonania   testu   t   który   powinien   rozstrzygnąć,   czy   dany 

czynnik np.A, powoduje statystycznie znaczącą różnicę mierzonej wartości

N

s

efektA

śr

efektA

śr

t

s

efektA

śr

2

2

.

.

.

=

=

 

(6)

Procedury obliczania  wartości  odchylenia  standardowego  pojedynczych  pomiarów  s są 

różne :

- można je liczyć jako odchylenie standardowe wewnątrzlaboratoryjne

- można wyznaczyć jego wartość przeprowadzając eksperyment p-B dwa razy w kolejnych 

dniach.

4.9 Powtarzalność i odtwarzalność.

Jedną   podstawowych   zasad   doboru   sprzętu   pomiarowego   jest   określenie   jego 

niepewności w stosunku do szerokości pola tolerancji kontrolowanej wielkości. Ponadto na 

niepewność kontrolowanej wielkości poza niepewnością samego przyrządu mają wpływ 

dodatkowe zakłócenia procesu pomiarowego;

-umiejętności operatorów wykonujących pomiary

-zmieniające się czynniki zewnętrzne

Dlatego też niepewność pomiaru danym przyrządem jest związana z powtarzalnością i 

odtwarzalnością.

Na   wariancję   pomiaru   przyrządem   pomiarowym   składa   się   wariancja   wywołana 

powtarzalnością i wariancja wywołana odtwarzalnością.

δ

2

przyrz

=

δ

2

powt

+

δ

2

odtw                                                                                                              (7) 

W celu zobrazowania wpływu operatora na niepewność pomiaru przedstawiamy przykład 

przedstawiający   przykład   pomiaru   grubości   5   elementów   przez   2   operatorów   z 

40

background image

wykorzystaniem czujnika o rozdzielczości 0.01mm. Każdy element był mierzony 3-krotnie 

przez   jednego   i   drugiego   operatora.   Wyniki   przedstawiamy   w   tabelach   i   graficznie. 

Przedstawiony   na   wykresach   rozstęp   dotyczy   wyników   pomiarów   uzyskanych   przez 

danego   operatora   podczas   pomiaru   elementów   obrazuje   on   powtarzalność   przyrządu 

którego miernikiem może być rozstęp:

{ }

{ }

(

)

0

min

max

0

0

1

0

1

0

0

0

1

0

=

=

=

=

=

N

R

R

N

n

kn

n

kn

n

X

X

                          (8)

gdzie

O-liczba operatorów

X

kn

 –k-ty wynik pomiaru n-tego elementu

R

UCL

D

4

=

                                                                                                           (9)

gdzie D

4

  stała zależna od ilości wartości K (K- liczba wyników pomiaru tego samego 

elementu) których wyznaczono wartości pojedynczego rozstępu

Operator 1

Orerator2

Element 1

2

3

4

5

Element

1

2

3

4

Próba

Próba

1

8,17 8,2

8,17

8,14

8,16

1

8,16

8,16

8,16

8,16

2

8,16 8,16

8,16

8,12

8,19

2

8,19

8,16

8,15

8,12

3

8,16 8,18

8,16

8,12

8,2

3

8,2

8,2

8,16

8,12

Średnia 8,163 8,18

8,163

8,127 8,183

Średnia

8,183 8,173

8,157 8,133

Rozstęp 0,01 0,04

0,01

0,02

0,04

Rozstęp

0,04

0,04

0,01

0,04

41

background image

Rys.15. Karta kontrolna R rozstępu powtarzalności przyrządu.

0,00

0,03

0,04

0,01

0,02

0,05

0,06

0,07

1

2

3

4

5

Operator1 
UCL

0,00

0,03

0,04

0,01

0,02

0,05

0,06

0,07

1

2

3

4

5

Operator2
UCL

42

background image

Współczynnik A2 i D4 służące do wyznaczania granic kontrolnych.

Liczba pom. w podgrupie

A2

D4

2

1,88

3,267

3

1,023

2,575

4

0,729

2,282

5

0,577

2,115

6

0,483

2,004

7

0,419

1,924

8

0,373

1,864

9

0,337

1,816

10

0,308

1,777

11

0,285

1,744

12

0,266

1,716

13

0,249

1,692

14

0,235

1,671

Estymator odchylenia standardowego powtarzalności można wyznaczyć z zależności.

d

R

powt

*

2

=

δ

                                                                                                               (10)

d

*

2

-stała   zależna   od   liczby   wartości   m,   na   podstawie   których   wyznaczono   wartości 

poszczególnych rozstępów oraz liczbę rozstępów g z których wyznaczono rozstęp średni 

w naszym przykładzie m=K g=NO

N liczba elementów O liczba operatorów

   

43

background image

  Wartość współczynnika d

2

*

= f(m,g)

m

G

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

1

1,41

1,91

2,24

2,48

2,67

2,83

2,96

3,08

3,18

3,27

2

1,28

1,81

2,15

2,4

2,6

2,77

2,91

3,02

3,13

3,22

3

1,23

1,77

2,12

2,38

2,58

2,75

2,89

3,01

3,11

3,21

4

1,21

1,75

2,11

2,37

2,57

2,74

2,88

3

3,1

3,2

5

1,19

1,74

2,1

2,36

2,56

2,73

2,87

2,99

3,1

3,19

6

1,18

1,73

2,09

2,35

2,56

2,73

2,87

2,99

3,1

3,19

7

1,17

1,72

2,09

2,35

2,55

2,72

2,87

2,99

3,1

3,19

8

1,17

1,72

2,08

2,35

2,55

2,72

2,87

2,98

3,09

3,19

9

1,16

1,72

2,08

2,34

2,55

2,72

2,86

2,98

3,09

318

10

1,16

1,72

2,08

2,34

2,55

2,72

2,86

2,98

3,09

3,18

11

1,16

1,71

2,08

2,34

2,55

2,72

2,86

2,98

3,09

3,18

12

1,15

1,71

2,07

2,34

2,55

2,72

2,85

2,98

3,09

3,18

13

1,15

1,71

2,07

2,34

2,55

2,71

2,85

2,98

3,09

3,18

14

1,15

1,71

2,07

2,34

2,54

2,71

2,85

2,98

3,08

3,18

15

1,15

1,71

2,07

2,34

2,54

2,71

2,85

2,98

3,08

3,18

>15

1,123

1,693

2,059

2,326

2,534 2,704

2,847

2,97

3,078 3,173

Pozostaje   pytanie   w   jaki   sposób   wpływy   operatora   na   dokonywane   pomiary   a   zatem 

odtwarzalność.   Można   posłużyć   się   różnicą   między   max   wartością   średnią   spośród 

wartości średnich wyznaczonych  z wszystkich  pomiarów  zrealizowanych  przez danego 

operatora a wartością minimalną

 

=

=

N

N

N

n

o

n

N

n

o

n

o

x

x

R

1

1

min

max

                                                      (11)

Wówczas estymator odchylenia standardowego można wyznaczyć z zależności

d

R

o

odtw

*

2

=

δ

                                                                                                               (12)

Do wyznaczania odtwarzalności  użyliśmy  wartości które są obarczone niepewnościami 

związanymi   z   powtarzalnością   przyrządu   pomiarowego   należy   skorygować   estymator 

niepewności odtwarzalności

( ) ( )

NK

odtw

odtw

odtw

2

2

*

δ

δ

δ

=

                                                                              (13)

44

background image

Według QS9000 wyznaczany przedział niepewności odpowiada 99% wiec błąd związany 

z powtarzalnością EV  i odtwarzalnością AV oraz błąd sumaryczny R&R wynoszą :

EV=5,15

δ

*

powt

 

 

 

 

 

AV=5,15

δ

*

odtw

 

(14)

( ) ( )

2

*

2

*

15

,

5

&

δ

δ

odtw

powt

R

R

+

=

                                                                            (15)

Pozostaje do wyznaczenia przedział zmienności kontrolowanego parametru który wynosi:

KO

X

k

o

o

k

n

X

∑ ∑

=

,

                                                                                             (16)

Stąd można wyznaczyć estymator odchylenia standardowego produkcji:

{ }

{ }

d

n

n

prod

X

X

*

2

min

max

=

δ

                                                                   (17)

Ostatecznie estymator produkcji wyniesie:

PV=5,15

δ

prod

Rozrzut całkowity TV określony jest jako:

2

2

&

PV

R

R

TV

+

=

                                                                                                       (18)

W   celu   zobrazowania   czy   badanym   urządzeniom   pomiarowym   o   powtarzalności   EV 

można dokonać pomiaru produktywnych elementów, posłużymy się kartą Shewharta dla 

wartości średnich poszczególnych operatorów.

45

background image

Rys.16. Karty kontrolne X

SR

dla poszczególnych operatorów.

Dolną granicę LCL  górną granicę UCL wyznaczamy z zależności:

R

A

X

UCL

2

+

=

,    

R

A

X

LCL

2

=

                                                                               (19)

11

2

3

4

5

8,12

8,14

8,16

8,18

8,20

UCL

LCL

operator1

11

2

3

4

5

8,12

8,14

8,16

8,18

8,20

UCL

LCL

Operator2

46

background image

Pokazują nam one w których powinien się znaleźć wynik. Jeśli mniej niż 50% znajdzie się 

poza granicami  wówczas przyrząd jest dobry.

Według wytycznych QS9000 przyjmuje się kryteria:

- R&R/TV<=10%            - przyrząd nadaje się do dalszej eksploatacji

- 10%<R&R/TV<=30%  - przyrząd nadaje się do kontroli parametrów drugorzędnych

- R&R/TV>30%               - przyrząd nie nadaje się do pracy 

4.10 Badanie przyrządu do pomiaru.

Błąd   odtwarzalności   przyrządu   pomiarowego   przedstawiony   powyżej   może   w 

znacznym stopniu przekroczyć odtwarzalność rzeczywistą ze względu na błędy dlatego w 

tym przypadku pomiaru dokonamy w taki sposób, aby było możliwe wyznaczenie wartości 

min   i   max   kontrolowanego   elementu.   W   przypadku   pomiaru   elementu   walcowego   z 

wyrażanym   błędem kołowości należy poszukać przekroju o wymiarze najmniejszym x 

min i największym x max.

W oznaczeniu wymiaru przyjęto :

k=1 +K             - kolejne pomiary tego samego elementu realizowane przez tego samego 

operatora (K=2 lub 3)  

n = 1 + N         - kolejne numery mierzonego elementu najczęściej N=5

o = 1 + O         - operatorzy (O = 2 lub 3 )

Dla każdego elementu i każdego operatora należy wyznaczyć rozstępy   wyniki pomiaru 

zarówno dla przekroju min jak i max:

(

)

(

)

max

max

max

min

max

X

X

R

kno

kno

no

=

 

(20)

(

)

(

)

min

min

min

min

max

X

X

R

kno

kno

no

=

 

(21)

A następnie rozstęp średni:

47

background image

ON

R

o

o

n

no

n

no

R

R

2

min

max

∑ ∑

+

=

                                             (22)

Określając wymiar średni każdego elementu zmierzonego przez danego operatora:

K

k

n

kno

k

kno

no

X

X

X

2

max

min

∑ ∑

+

=

 

(23)

Można obliczyć wymiar średni wszystkich elementów zmierzonych przez operatora:

N

n

no

o

X

X

=

                                                                                                                  (24)

oraz rozstęp wartości średnich uzyskanych przez operatora:

( ) ( )

X

X

R

o

o

o

min

max

=

 

(25)

Dysponując rozstępem R

o

  wartości średnich dla różnych operatorów, można wyznaczyć 

błąd z powtarzalnością EV i odtwarzalnością AV oraz błąd sumaryczny R&R.

W celu określenia odchylenia standardowego produkcji należy wyznaczyć wymiar średni 

każdego elementu:

O

o

no

n

X

X

=

 

(26)

a następnie estymator odchylenia standardowego produkcji:

{ } { }

d

X

X

n

n

prod

*

2

min

max

=

δ

 

(27)

48

background image

Pozostaje   do   wyznaczenia   rozrzut   wartości   zmienności   wartości   zmienności   błędów 

kontrolowanych   elementów.   W   tym   celu   należy   obliczyć   błąd   kształtu   dla   każdej 

wyznaczonej średnicy, każdego elementu zmierzonego przez poszczególnego operatora:

min

max

X

X

kno

kno

kno

=

 

(28)

Następnie rozstęp uzyskany przez każdego z operatorów podczas wyznaczania wartości 

błędów kształtu dla poszczególnych elementów:

{ } { }

=

kno

kno

no

R

min

max

 

(29)

   

Ponadto należy wyznaczyć średni błąd kształtu dla każdego z elementów:

KO

o

k

kno

n

∑ ∑ ∆

=

 

(30)

a także średni błąd kształtu dla całej badanej populacji:

N

n

=

 

(31)

oraz rozstęp średni błędów kształtu:

49

background image

{ } { }

=

n

n

R

min

max

 

(32)

Estymator rozstępu błędów kształtu WIV można wyznaczyć z zależności:

WIV=

2

15

,

5

2

*

2

2

*

2

OK

NOd

R

d

R

n

o

no



+

∑ ∑

 

(33)

Rozrzut   całkowity   TV   w   stosunku   do   którego   wyznaczane   są   procentowe   udziały 

poszczególnych składowych (EV, AV i R&R) określony jest jako:

2

2

2

&

WIV

PV

R

R

TV

+

+

=

                                                                                     (34)

Podobnie jak w poprzednim przypadku jako miernik zdolności jakościowej   urządzenia 

pomiarowego   w   wytycznych   QS9000   przyjęto   stosunek   błędów   powtarzalności 

odtwarzalności R&R do rozrzutu globalnego TV przyjmując poniższe kryteria:

R&R/TV 

                      -  nadaje się do dalszej eksploatacji

10%<R&R/TV

30%      - przyrząd nadaje się do kontroli parametrów drugorzędnych

R&R/TV>30%                 - przyrząd nie nadaje się do dalszej eksploatacji.

4.11 Charakteryzacja metrologiczna przyrządu pomiarowego.

Zakres pomiarowy narzędzia pomiarowego - zakres wartości wielkości mierzonej 

(albo   innych   wielkości   wyznaczających   wielkość   mierzoną),   dla   których   narzędzie 

pomiarowe może być stosowane z błędem nie przekraczającym dopuszczalnych granic, 

bez   szkody   dla   wytrzymałości   trwałości   narzędzia   i   bez   naruszenia   warunków 

bezpieczeństwa. Wyróżnia się dolną i górną granicę zakresu pomiarowego. Zastrzeżenie co 

do   wytrzymałości   i   zachowania   warunków   bezpieczeństwa   dotyczy   sygnałów 

pomiarowych, które są nośnikami energii. Na przykład nie można mierzyć ciśnienia rzędu 

dziesiątek   mega   paskali   manometrem   przeznaczonym   do   pomiaru   ciśnienie   rzędu 

50

background image

kilkudziesięciu paskali. Przyrządy działający w oparciu o sygnał elektryczny najczęściej są 

wielozakresowe. Wówczas jako zakres przyrządu traktuje się zakres największy.

Zakres   wskazań   narzędzia   pomiarowego   -   zakres   wartości   wielkości   mierzonej,   które 

mogą   być   odczytywane   na   podzielni   narzędzia   pomiarowego.   Często   zakres   wskazań 

pokrywa się z zakresem pomiarowym, ale nie zawsze. Na przykład transametr o zakresie 

pomiarowym 0 ÷ 25 mm, ma zakres wskazań ±80 µm.

Wartość działki elementarnej (w

e

) - wartość wielkości mierzonej odpowiadająca zmianie 

wskazania o jedną działkę elementarną. Potocznie - całkowicie błędnie - mówi się, że jest 

to dokładność narzędzia pomiarowego. Wartość działki elementarnej nie jest ani błędem 

narzędzia pomiarowego ani tym bardziej jego dokładnością. Dla urządzeń wskazujących 

cyfrowych   jest   to   jednostka   wartości   z   ostatniej   (prawej)   pozycji   wyświetlacza.   Na 

przykład gdy wskazanie ma postać 20,456mm - wartość działki elementarnej wynosi 0,001 

mm.

Długość   działki   elementarnej   (l

e

)   -   odległość   między   dwoma   sąsiednimi   wskazami 

mierzona   wzdłuż   linii   podstawowej   podziałki.   Dla   podziałek   prostoliniowych   jest   to 

wprost   odległość   między   osiami   sąsiednich   wskazów.   Dla   podziałek   hakowych,   linię 

podstawową   wyznaczają   wewnętrzne   końce   kresek,   lub   środki   najkrótszych   kresek. 

Długość działki elementarnej decyduje o wyrazistości podziałki.

-   Czułość   narzędzia   pomiarowego   -   pochodna   wskazania   względem   wartości 

wielkości mierzonej, dla danej jej wartości:

dN

dW

k

=

                                                                                                     (35)

gdzie:

W – wskazanie przyrządu pomiarowego,

N – wielkość zmierzona

Czułość może też być wyrażona stosunkiem przyrostu wskazania do przyrostu: 

N

W

k

=

                                                                                                                  (36)

gdzie:

51

background image

∆W – przyrost wskazania przyrządu pomiarowego,

∆N – przyrost wielkości zmierzonej.

Jeśli wartość działki  elementarnej  i długość działki  elementarnej  są dla danego 

przyrządu stałe, wówczas czułość będzie równa stosunkowi długości działki elementarnej - 

l

e

, do wartości działki elementarnej - w

e

. Czułość jest wyrażana jako stosunek jednostki 

długości do jednostki wielkości mierzonej (np. mm/V)

W przypadku, gdy wskazanie i wielkość mierzona są tego samego rodzaju czułość jest 

przełożeniem.

Poprawność wskazań narzędzia pomiarowego - zdolność do dawania wskazań równych 

poprawnym   wartościom   wielkości   mierzonej.   Poprawność   jest   cechą   charakteryzującą 

narzędzie pomiarowe pod względem jego błędów systematycznych, a więc możliwych do 

wyeliminowania  z  wyniku  pomiaru.  Miarą   poprawności   jest  błąd  poprawności  -  suma 

algebraiczna (wypadkowa) błędów systematycznych, obarczających wskazania narzędzia 

pomiarowego w określonych warunkach użytkowania.

 Wierność wskazań narzędzia pomiarowego - zdolność do dawania wskazań zgodnych ze 

sobą dla tej samej wartości wielkości mierzonej, przy jednoczesnym pominięciu błędów 

systematycznych. Rozrzut wskazań narzędzia pomiarowego określa zmienność wyników 

w serii  pomiarów  tej samej  wartości wielkości  mierzonej. Rozrzut wskazań może  być 

wyrażony   ilościowo   przez   odchylenie   średnie   kwadratowe   (standardowe)   lub   zakres 

rozrzutu   wskazania   narzędzia   pomiarowego   -   obszar   zmienności   wskazań   narzędzia 

pomiarowego   wyrażony   różnicą   między   największym   x

max  

i   najmniejszym   x

min  

spośród 

wskazań   w   danej   serii   pomiarów,   odpowiadających   tej   samej   wartości   wielkości 

mierzonej:

min

max X

X

W

=

                                                                                 (37)

- Błąd wierności - jeden ze wskaźników rozrzutu wskazań narzędzia pomiarowego 

-najczęściej - średni błąd kwadratowy wierności wskazań. Błędy graniczne wierności - 

błędy   graniczne   pojedynczego   pomiaru   wartości   wielkości   mierzonej   wykonanego   w 

określonych   warunkach   użytkowania,   z   pominięciem   błędów   poprawności   narzędzia 

pomiarowego.   Błędy   graniczne   oblicza   się   zwykle   jako   iloczyn   średniego   błędu 

kwadratowego wierności współczynnika  t:

e

1

=+t

s                     

e

2

=+t

s

52

background image

W   przypadku   rozkładu   normalnego   błędów   oraz   dostatecznie   dużej   liczby   pomiarów 

przyjmuje się na ogół t = 3, co odpowiada prawdopodobieństwu P = 99,73%, że w serii 

pomiarów nie będą przekroczone błędy graniczne wierności, dla P = 95% - t = 1,96, a dla 

P   =   99%   -   t   =   2,58.   W   metrologii   prawnej   wyznacza   się   błędy   graniczne   wierności 

narzędzia pomiarowego jako różnicę algebraiczną największego x

max  

i najmniejszego x

min 

wskazania przyrządu i dla uproszczenia przyjmuje się, że błędy graniczne wierności są 

równe i wynoszą ±0,5 (x

max 

– x

min

)

-   Stałość   narzędzia   pomiarowego   -   zdolność   narzędzia   pomiarowego   do 

zachowywania niezmiennych cech metrologicznych w czasie.

- Odwracalność narzędzia pomiarowego - zdolność narzędzia pomiarowego do 

dawania tego samego wskazania, gdy tę samą wartość wielkości mierzonej osiąga się 

raz przez zwiększanie wartości wielkości mierzonej od wartości mniejszej, drugi raz 

przez jej zmniejszanie od wartości większej. Miarą zwrotności jest histereza pomiarowa 

- błąd odwracalności charakteryzujący się różnicą wskazań narzędzia  pomiarowego, 

gdy tę samą  wartość wielkości mierzonej  osiąga  się raz przy zwiększaniu  wartości 

wielkości mierzonej, drugi raz - przy jej zmniejszaniu.

-   Pobudliwość   narzędzia   pomiarowego   -   właściwość   charakteryzująca   zdolność 

narzędzia   pomiarowego   do   reagowania   na   małe   zmiany   wielkości   mierzonej.   Próg 

pobudliwości   to   najmniejsza   zmiana   wartości   wielkości   mierzonej,   która   wywołuje 

dostrzegalną zmianę wskazania narzędzia pomiarowego.

-   Dokładność   narzędzia   pomiarowego   -   właściwość   charakteryzująca   zdolność 

narzędzia pomiarowego do wskazywania wartości bliskich rzeczywistej wartości wielkości 

mierzonej.   Błąd   dokładności   -   wypadkowa   wartość   błędów   narzędzia   pomiarowego   w 

określonych warunkach użytkowania, zawierająca błędy poprawności i błędy wierności 

wskazań

- Klasa dokładności - zbiór właściwości metrologicznych, umownie oznaczonych 

wartością dopuszczalnego błędu podstawowego W przypadku przyrządów analogowych, 

wskazówkowych,   klasa   dokładności   charakteryzuje   wartość   graniczną   niedokładności 

wskazań wyrażoną w procentach wartości umownej Wartością umowną jest najczęściej 

górna   granica   zakresu   pomiarowego,   ale   może   nią   być   też   wartość   wskazana,   zakres 

wskazań,   długość   podziałki.   Informacje   o   rodzaju   wartości   umownej   podane   są   na 

przyrządzie w formie odpowiedniego symbolu.

0.5 -przyrząd kl.0.5 dla którego wartością umowną jest zakres pomiarowy.

53

background image

4.12 Przykładowa walidacja przyrządu pomiarowego.

Instrukcja sprawdzania przyrządów suwmiarkowych

Przebieg sprawdzenia

Zakres sprawdzenia przyrządu suwmiarkowego obejmuje:

- oględziny zewnętrzne

-sprawdzenie charakterystyk metrologicznych

Podczas oględzin zewnętrznych należy sprawdzić :

-poprawność oznaczeń

-wyrazistość kres i cyfr na podziałkach i suwaka

- działanie suwaka

-czy część przyrządu suwmiarkowego nie wykazują właściwości magnetycznych

-czy powierzchnie przyrządu suwmiarkowego nie mają wad utrudniających prawidłowe 

jego użytkowanie.

 Sprawdzenie charakterystyk metrologicznych obejmuje:

-sprawdzenie płaskości i prostoliniowości powierzchni pomiarowych

-płaskość powierzchni sprawdza się za pomocą liniału krawędzi

-szerokość szczeliny świetlnej ocenia się wzrokowo

-szczeliny wzorcowe otrzymuje się przywierając do płaskiej płytki interferencyjnej płytki 

wzorcowe

-prostoliniowość   szczęk   krawędziowych   oraz   tworzących   powierzchni   pomiarowych 

walcowych suwmiarki sprawdza się za pomocą płytki wzorcowej o dł. minimalnej 12mm., 

jeśli dł. sprawdzanych powierzchni nie przekracza 30mm., obserwując szczelinę świetlną

-nierównoległość   dolnej   powierzchni   płaskiej   szczęki   suwaka   wysokościomierza   oraz 

rysika można sprawdzić za pomocą czujnika z działką elementarną o wartości 1 m

µ

-pomiary należy wykonywać co najmniej trzech punktach równomiernie rozłożonych w 

całym zakresie pomiarowym.

  Wyznaczenie błędów wskazań:

-suwmiarka :

-błędy   suwmiarki   należy   wyznaczyć   przy   pomiarach   zewnętrznych,   wewnętrznych   i 

głębokości

-sprawdzenie dokonuje się w co najmniej trzech punktach w przybliżeniu równomiernie 

rozłożonych w całym zakresie pomiarowym suwmiarki

54

background image

- do wyznaczania błędów wskazań stosuje się płytki wzorcowe kl. 2

-   błędy   wskazań   suwmiarki   przy   pomiarach   zewnętrznych   wyznacza   się   dokonując 

pomiaru stosu płytek wzorcowych w dwóch położeniach a i b przy unieruchomionym i 

zwolnionym suwaku jeżeli taka możliwość występuje:

-błędem   wskazania   suwmiarki   w   danym   punkcie   pomiarowym   jest   większa   różnica 

między wskazaniem suwmiarki a wymiarem stosu płytek wzorcowych dla położenia a i b

-błędem   wskazania   suwmiarki   jest   największa   z   uzyskanych   różnic   dla   wszystkich 

punktów pomiarowych.

Błędy   wskazań   suwmiarki   przy   pomiarach   głębokości   należy   wyznaczyć   za   pomocą 

płytek wzorcowych w dwóch punktach zakresu pomiarowego.

 Dokumentowanie wyniku sprawdzenia:

Wynik sprawdzenia należy zapisać w protokole.

Protokół sprawdzenia suwmiarki :

1.   Nazwa   i   numer   identyfikacyjny   przyrządu   :   suwmiarka   jednostronna   o   zakresie 

pomiarowym 140mm., z noniuszem 0,1mm.,

2. Nr. Zgłoszenia:20/2000

3. zgłaszający : Fabryka Urządzeń Mechanicznych

Sprawdzenie stanu ogólnego:

Nie budzi  zastrzeżeń

Sprawdzenie   odchylenia   od   wymiaru   nominalnego   łącznej   szerokości   szczęk 

płaskowalcowych:

-przekrój osiowy +0,02

-przekroje katowe względem przekroju osiowego :+0.02mm.,

Sprawdzenie odchylenia od płaskości i prostoliniowości powierzchni pomiarowych:

- powierzchnie płaski

- przekrój osiowy 0,006mm.,/100mm.,

- przekroje przekątne : 0,006mm.,/100mm.,

-szczęki   krawędziowe   oraz   tworzące   powierzchni   pomiarowych   walcowych: 

0,004mm.,/100mm.

Sprawdzenie odchylenia od równoległości powierzchni pomiarowych płaskich

0,01mm., 0,008mm., 0,009mm.,

55

background image

5.PRZYDATNOŚĆ ŚRODKÓW KONTROLNYCH.

5.1 Przydatność środków kontrolnych.

Odbiór maszyny i urządzeń produkcyjnych ,ocena i nadzorowanie procesów i 

wyrobów dokonywane są w przypadku cech ilościowych na podstawie wartości 

pomiarowych uzyskanych z pomiarów produkowanego elementu albo z parametrów 

procesu. Do tego celu używane są standardowe przyrządy pomiarowe bądź też 

odpowiednio przystosowane systemy pomiarowe i specjalne czujniki. Decydujące 

znaczenie dla poprawności wnioskowania na podstawie danych pomiarowych ma 

wykazanie, że użyte tu wartości zebrane zostały z wystarczającą dokładnością w 

odniesieniu do tolerancji cechy lub procesu. W przeszłości kontrola przyrządu 

pomiarowego dokonywana była głównie w oparciu o zawarte w normach wymagania 

minimalne albo kontrole podawanych przez producenta parametrów urządzenia. Sposób 

postępowania w przypadku regularnych kwalifikacji i stawianie w nich wymagania wobec 

56

background image

maksymalnego rozrzutu wskazań, powtarzalności, itp. definiowane są indywidualnie dla 

każdego systemu pomiarowego. Badany jest przy tym w ogólności tylko sam przyrząd w 

idealnych warunkach: w laboratorium pomiarowym, przez wyszkolony personel, na 

wyidealizowanych wzorcach i standaryzowanymi urządzeniami. Droga postępowania i 

sposób kontroli opisane są przykładowo w wytycznych VDI/VDE/DGQ-2618 w formie 

instrukcji. Norma taka wymagana jest by móc sprawdzić podawane przez producenta dane 

dla nowych przyrządów. Przy regularnych kontrolach i nadzorowaniu środków 

kontrolnych metoda ta używana jest natomiast w celu stwierdzenia zmian i wad w samych 

urządzeniach. 

Ustalona w taki sposób dokładność nie mówi jednak nic o zachowaniu przyrządu w 

warunkach rzeczywistych, a w szczególności w sytuacji: 

● Pomiarów na stanowisku produkcyjnym

● Pomiarów przez wielu użytkowników

● Przyrządu pomiarowego w systemie pomiarowym 

● Pomiarów na rzeczywistych obrabianych elementach 

● Zmiennych warunków otoczenia

● Łańcuchów pomiarowych.

Opisaną wyżej metodą można więc dokonać co najwyżej teoretycznej oceny zasadniczej 

zdolności przyrządu pomiarowego przy zadanej z góry wielkości tolerancji. By jednak w 

sytuacji występowania wymienionych wpływów zewnętrznych móc w warunkach 

rzeczywistych stwierdzić czy dokładność lub rozrzut przyrządu wystarczają do pewnego 

nadzorowania procesu o być może bardzo małym rozrzucie parametrów, konieczne są inne 

procedury i inne sposoby podejścia.

Według zasady Neper Ending Improvement procesy należy rozpatrywać możliwe 

niezależnie od tolerancji i mające na celu ciągłe zmniejszenie ich rozrzutu. Wymagania te 

oznaczają wzrost dokładności i zmniejszenie rozrzutu systemów pomiarowych. W 

przeciwnym wypadku już w trakcie pomiarów następuje klasowanie rejestrowanych 

wartości i wyniki stają się mało przydatne do analizy statystycznej. 

Wszystkie systemy i przyrządy pomiarowe wskazują jednak określony poziom błędów i 

niedokładności pomiarowych. Ważna jest dlatego wiedza o wartości rozrzutu pomiarów 

spowodowanego przez nie tak, aby niedokładność te móc utrzymać w rozsądnych i 

odpowiednich dla danego rodzaju pomiarów granicach. 

W wyniku błędów pomiarowych nigdy nie otrzymamy dokładnie prawdziwej wartości, 

dlatego próbujemy zbliżyć się do wartości rzeczywistej na ile to jest  możliwe wybierając 

57

background image

wartości najbardziej rozsądną, jaka daje się wywnioskować z wartości pomiarowych. 

Chcemy przy tym oczywiście uwzględnić mający miejsce rozrzut przypadkowy pomiarów 

równocześnie jednak nie zapominając o nieprzypadkowym rozrzucie wyników 

pomiarowych. 

By określić wielkość rozrzutu pomiarów konieczne jest przeprowadzenie badania 

zdolności systemów i przyrządów pomiarowych lub krótko: badań zdolności środków 

kontrolnych, często nazywane też badaniem przydatności wzorców pomiarowych.

Pojęcia system pomiarowy nie należy rozumieć tylko jako przyrząd pomiarowy ale jako 

sumę wszystkich składników oprzyrządowanie oraz wpływów na proces pomiarowy.

  

Rys.17. Definicja systemu pomiarowego.

Przykładowo niektóre przyczyny błędów pomiarowych:

● Błędy kształtu i położenia: 

    własności powierzchni 

    deformacja obrabianych obiektów 

● Błędy w wyniku kolejności i sposobu dokonywania pomiarów:

    niedotrzymanie zasady Abbe’go 

    sposób nastawienia przyrządu 

    uwzględnienie zasad naprowadzenia przyrządów 

58

background image

    uwzględnienie ciężaru własnego 

    kierunek ruchu przyrządu

    sposób podejmowania próbek

           ●Błędy spowodowane przez wzorzec i przyrządy pomiarowe:

    błędy samych wzorców pomiarowych 

    powtarzalności wyników pomiarowych 

    obszar nie czułości przyrządów 

    nacisk pomiarowy 

    spłaszczenie

    błędy zerowania przyrządów 

    nieodpowiednie przyrządy pomiarowe

    nieliniowości wskazań 

    zużycie

●Wpływy otoczenia:

 

   wahanie temperatury 

   ciśnienie i względna wilgotności powietrza

   czystość

   pole magnetyczne

   drgania

●Personel:

   błędy odczytu np. paralaksa

   zdolności oceny sytuacji

   wyczucie podczas kontroli 

   sposób mocowania elementów 

Przyczyny te powodują w sumie, że uzyskany wynik pomiaru odbiega od wartości 

rzeczywistej.

Oznacza to łącznie, że wartość rzeczywista może tak naprawdę leżeć powyżej lub poniżej 

wartości pokazanej przez system pomiarowy. Przedział ten zwany jest niepewnością 

pomiarów. Porównując wyniki pomiarowe z granicami specyfikacji uzyskuje się w ten 

sposób trzy przedziały:

- Przedział zgodności 

  Przedział specyfikacji pomieszczony o niepewność pomiarów u 

- Przedział braku zgodności :

 Obszar poza przedziałem specyfikacji poszerzony o nie pewność u

59

background image

 - Przedział nieokreślony:

Obszary w pobliżu granic specyfikacji, w których przy uwzględnieniu niepewności 

pomiarów nie można wykazać zgodności ani braku zgodności.

Rys.18. 

Niepewność 

pomiarów 

na brzegach 

przedziału 

specyfikacji.

Nie każdy 

system i nie każdy proces kontrolny nadają się do rejestracji i prezentacji pomiarów 

wartości cech wyrobów lub procesów z małą tylko niepewnością oraz wystarczającą 

dokładnością i precyzją. Granice możliwości wyznaczane są przez rozdzielczość 

przyrządów oraz wpływy systematyczne  przypadkowe. Znaczenie takich wpływów dla 

procesu kontroli określić można w wielu przypadkach tylko przez zbadanie zdolności 

systemu pomiarowego bądź samego procesu kontroli. Zrezygnować z wykazania 

przydatności środków i procesów kontrolnych można zasadniczo wtedy, gdy wywołana 

przez proces kontrolny niedokładność pomiarów jest mała w porównaniu z rozrzutem 

kontrolnej cechy.

60

background image

Rys.19. Rozrzut przyrządu pomiarowego

Poniższy rysunek pokazuje w jaki sposób błędy i rozrzuty pomiarów w wyniku użycia 

niewłaściwych metod pomiarowych zmieniają obraz idealnego procesu.

61

background image

 

Rys.20. Skutki niedokładności przyrządów pomiarowych.

Błędy systematyczne są to błędy stałe co do znaku i wartości podczas pomiarów danego 

parametru w tych samych warunkach pomiarowych, np. ten sam przyrząd pomiarowy, to 

samo stanowisko kontrolne, takie same warunki otoczenia, itp., albo zmieniające się w 

sposób regularny wraz ze zmianą tych warunków. 

Przyczyny błędów systematycznych mogą być znane lub nie. Przyczyną błędów 

systematycznych jest przede wszystkim niedoskonałość przyrządów pomiarowych, metod 

kontrolnych i badanego przedmiotu oraz wpływy otoczenia.

62

background image

Wyznaczone metodą obliczania lub pomiarów mierzalne błędy systematyczne wykorzystać 

można do skorygowania wyników pomiarowych. Bez uwzględnienia mierzalnych błędów 

systematycznych otrzymywane wyniki pomiarowe są błędne. 

Niemierzalne błędy systematyczne są to błędy systematyczne, które nie dadzą się określić 

w prosty sposób, mogą jednak często zostać oszacowane. Błędy te mają zawsze określony 

znak ( + albo -). Znak ten nie jest jednak znany, dlatego dające się oszacować, ale nie 

dające się zmierzyć błędy systematyczne traktowane są jak błędy przypadkowe. Wchodzą 

one ze znakiem ± do obliczeń niepewności pomiarów. Błędy przypadkowe wywołane są 

przez nie dające się określić zmiany fizykalne przyrządów pomiarowych, badanych 

produktów, środowiska oraz przez wpływ mierzącego personelu. Błędy tego rodzaju mają 

w tych samych warunkach nie zawsze te same wartości. Nie dają się one określić 

jednostkowo, wprowadzają niepewność do wyników pomiarowych i w ten sposób 

stanowią część składową niepewności pomiarowej. 

Niepewność pomiarów u  - wynikiem serii pomiarów jest wartość średnia skorygowana o 

znane błędy systematyczne oraz związany z nią przedział w którym prawdopodobnie leży 

prawdziwa wartość mierzonej wielkości. Różnica między górną granicą przedziału i 

skorygowaną wartością średnią bądź różnicą między nią  a dolną granica podziału 

oznaczana jest jako niepewność. 

Całkowita szerokość przedziału w którym prawdopodobnie leży prawdziwa wartość 

mierzonej wielkości – stanowiąca różnicę między górną i dolną granicą przedziału – nie 

może być nazywana niepewnością pomiarów. 

Niepewność  u pomiarów składa się z dwu składników. Jeden składnik stanowią błędy 

przypadkowe u

p, 

drugim składnikiem są nieznane błędy systematyczne u

s.

Istnieją dwie metody obliczania niepewności u pomiarów z obu składników:

1. 

 

us

 

 

up

 

 

+

=

 

(38)

2. 

2

s

2
p

u

 

 

u

u

+

=

                                                                                                     (39)

63

background image

Pierwsza metoda jest najprostsza i mniej narażona na ryzyko niedoceniania składników 

niepewności pomiarów. Polecana jest zawsze wtedy, gdy oba składniki znacznie się 

między sobą różnią. W innych przypadkach należy stosować metodę drugą.

Jeśli nie można oszacować nieznanych błędów systematycznych, jako niepewności 

pomiarów podawane jest u

p. 

Ponieważ łatwo ustalić dają się tylko błędy przypadkowe użytkownika, dokładne 

określenie niepewności pomiarów nie jest na ogół możliwe. Jako wytyczną dla dobrych 

przyrządów pomiarowych przyjmuje się możliwy błąd o 1 działkę elementarną.

Suwmiarka o noniuszu 1/10mm miałby więc błąd około 0,1mm , czujnik o wartości działki 

elementarnej 1µm błąd ok. 1µm, a mikrometr cyfrowy o skoku wyświetlania 1µm błąd 

ok.2µm.

Dokładniejsze dane dla poszczególnych przyrządów pomiarowych zawarte są w normach 

DIN. Są to najczęściej wartości zbliżone do górnej granicy. Przyrządy są na ogół lepsze niż 

wymagania normy. W przeciwieństwie do tego informacje producentów SA często zbyt 

optymistyczne jeśli nie SA oparte na odpowiedniej normie.

Sprawdzanie przyrządów pomiarowych w rodzaju suwmiarek, mikrometrów, itp. jest 

często możliwe przy użyciu płytek wzorcowych. Czujniki mikronowe dają się w taki 

sposób sprawdzić jedynie w niewielu punktach, wymagają więc specjalnych urządzeń 

kontrolnych. Sprawdzenia szablonów dokonać można często przy pomocy wzorców 

końcowych lub sprawdzianów szczękowych i odpowiednich przyrządów pomiarowych.

Normy DIN zawierają przepisy i procedury kontrolne dzięki którym istnieje możliwość 

skontrowania danych podawanych przez producenta oraz możliwość sprawdzenia i 

nadzorowania zasadniczej zdolności standardowych systemów pomiarowych. 

64

background image

Tabela.21. Dopuszczalna niepewność pomiarów standardowych przyrządów 

pomiarowych.  

By ustalić zakres odchyleń przyrządów dla wybranych punktów z całego zakresu 

pomiarowego wyniki wskazań porównuje się z wartościami rzeczywistymi. Różnice 

przedstawione zostają na wykresie zakresu pomiarowego. odchylenia wskazań otrzymuje 

się z różnicy między największą i najmniejszą z uzyskiwanych wartości. Jeśli 

uwzględniany ma być przy tym nieczułości zwrotnej, pomiary wykonać należy w obu 

kierunkach zakresu.

65

background image

Przykłady:

1. Rozrzut wskaźnika fmax mikrometru

Rys.22.  rozrzut wskazań mikrometrów.

2. Rozrzut wskaźnika i zakresu nieczułości zwrotnej czujnika mikronowego

Rys.23. Rozrzut wskaźnika Fe i fcałk oraz nieczułości zwrotnej fz czujników 

mikronowych.

Badanie zdolności systemu pomiarowego przeprowadzać należy w warunkach 

rzeczywistych.

Warunki rzeczywiste oznaczają w tym przypadku, że badania wykonywane są w miejscu 

przyszłego stosowania przyrządu pomiarowego. Późniejsi użytkownicy sami rejestrują 

przy tym dane wymagania do wykazania zdolności w warunkach jak najbardziej 

66

background image

zbliżonych przyjąć można, że przeprowadzony dowód zdolności swoją ważność w 

przyszłych zastosowanych. 

Spełnienie takich warunków uzyskanie następujących korzyści: 

• możliwe jest porównanie urządzeń pomiarowych,

• potwierdzona jest przydatność urządzenia pomiarowego w produkcji, 

• możliwy staje się ciągły nadzór nad urządzenia pomiarowego,      

• potwierdzona zostaje zdolność funkcjonalna przyrządu pomiarowego,

• możliwe jest potwierdzenie poprawności wyników pomiarowych, 

• uwzględniony zostaje wpływ użytkowników i miejsc użytkowania urządzeń,

• analiza odchyłek pomiarów może dawać wskazówki co do przyczyn błędów.

Badanie zdolności umożliwia porównywania przyrządów pomiarowych między sobą. W 

ten sposób stworzona zostaje podstawa akceptacji lub odrzucenia nowego systemu 

pomiarowego.

Niekwalifikowana metoda pomiarowa nie może być z zasady stosowana. Zadaniem 

kwalifikacji jest kontrolowanie przestrzegania zasad w których skład wchodzą normy, 

dyrektywy, dane producenta, itp. oraz zapewnienie sprzężenia ich z normami narodowymi 

i międzynarodowymi. Dowód zdolności wykazuje przydatność metody kontrolnej do 

wykonania określonych zadań w miejscu ich rzeczywistego zastosowania. Jednocześnie 

ustalane jest powiązanie między produkowanymi elementami i metodami pomiarowymi. 

Dzięki temu możliwe staje się prześledzenie powstawania wyników z odwołaniem do 

metody pomiarowej. Może mieć to szczególnie duże znaczenie w przypadku 

odpowiedzialności za wyrób. 

Rys.24. Walidacje i dowód zdolności.

67

background image

5.2  Badania zdolności środków kontrolnych.

Rozróżnia się następujące procedury kontrolne:

- procedura 1 – niepewność pomiarów u oraz wskaźniki zdolności C

g

 i C

gk 

- procedura 2 – powtarzalność, odtwarzalność i rozrzut całkowity 

- procedura 3 – powtarzalność i rozrzut całkowity

Wskazówka dotycząca procedury 3

Rysunek poniżej pokazuje zakresy zastosowań wymienionych metod. Procedura 1 

wykorzystywana jest głównie przez konstruktorów i producentów przyrządów 

pomiarowych. Przy jej użyciu wykazać można zasadniczą przydatność i zdolność do 

osiągnięcia zamierzonego celu. Dopiero po pozytywnym zakończeniu takich badań 

możliwa jest ocena w rzeczywistych zastosowaniach zgodnie z procedurą 2 lub 3. Sposób 

postępowania, metoda obliczeniowa i wymagania minimalne wobec wskaźników powinny 

być integralną częścią każdej umowy dostawczej. 

68

background image

Rys.25. Schemat procedur walidacji i ich współzależność.

W zastosowaniu i użytkowaniu systemu pomiarowego niesłychanie ważne jest 

wykazanie że uzyskana raz kwalifikacja albo zdolność utrzymane są przez cały okres 

użytkowania. W oparciu o kontrole stabilności stwierdzić można czy system nadaje się 

jeszcze do rzeczywistych zastosowań. Okresy kontrolne należy ustalać  przy tym w 

zależności od rodzaju zadania. Pierwsze kontrole należy przeprowadzać w krótszych 

odstępach czasu. Po zebraniu wystarczającej ilości praktycznego doświadczenia okresy 

miedzy kontrolami można odpowiednio wydłużyć. W każdym wypadku konieczne jest 

przeszkolenie personelu ze wszelkie  w systemie pomiarowym pociągnąć mogą za sobą 

nieprzewidywalne konsekwencje. W takich przypadkach powinna być przeprowadzana 

kontrola stabilności.

69

background image

Dalsze kryteria rozróżniania metod obliczania wskaźników to:

- obliczanie rozstępu odchylenia standardowego albo analiza wariacji 

- poziom ufności 99% albo 99.73%

- analizowana wielkość kontrolna; tolerancja, rozrzut procesu lub wyrobu 

- wymagania minimalne dla wskaźników oceny przydatności 

- z kompensacją albo bez kompensacji rozrzutu przyrządu pomiarowego

- z uwzględnienie albo bez uwzględnienia wewnętrznego rozrzutu wyrobu.

Procedury analityczne róznią się miedzy sobą tym, że miara rozrzutu uzyskanych wartości 

szacowania jest bądź przez rozstępy metodą analizę wariacji albo przez odchylenie 

standardowe. Znaleziona w ten sposób wielkość porównana jest następnie z tolerancją 

cechy T, rozrzutem procesu albo rozrzutem wyrobu.

Rys.26  Metody analizy.

Która z metod zostanie wykorzystana zależy w pierwszej linii od samej firmy.

Niezależnie od metody badania zdolności przed wyborem procedury i urządzenia 

pomiarowego należy ustalić pewne ogólne zasady postępowania:

70

background image

- zdefiniować badane cechy 

-przyjąć procedurę pomiarową 

- określić zakres pomiarowy przyrządu 

- ustalić wymaganą rozdzielczość przyrządu

- uwzględnić maksymalną prędkość dokonywania pomiaru

- uwzględnić dokładność przyrządu

- oszacować wpływy otoczenia w miejscu ustawienia maszyny

- potwierdzić przydatność metody dla miejsca użytkownika.

W pierwszej procedurze u producenta lub w miejscu użytkowania badany jest przy 

pomocy wzorca zależny od urządzenia rozrzutu systemu pomiarowego. Wyznaczane są 

przy tym wskaźniki zdolności  C

i C

gk

. Badanie to zawiera dwie wielkości 

charakterystyczne: dokładność i powtarzalność.

Celem procedury 1 jest potwierdzenie podawanych przez producenta danych w 

szczególności dla nowych urządzeń albo po ich modyfikacji.

Najpierw wybieramy jest odpowiedni wzorzec pomiarowy. Jako wartość nominalną 

wzorca wybiera się wielkość leżącą blisko środka przedziału tolerancji. Wykonane zostać 

powinno 50 a co najmniej 25 pomiarów wzorca przy czym po każdym pomiarze wzorzec 

musi być odkładany na bok. Wyniki pomiarowe zebrane i przedstawione zostają w formie 

tabelarycznej i graficznej.

Przygotowanie:

 - Wzorzec lub standard powinien być podczas całego procesu pomiarowego zwrócony 

zawsze w tym samym kierunku.

- Jeśli jest to tylko możliwe, badania przeprowadzone być musi w otoczeniu zbliżonym do 

normalnych warunków produkcyjnych. 

Realizacja:

- Wybrany wzorzec mierzony jest 50-krotnie. Po każdym pomiarze wzorzec musi być 

wyjęty z urządzenia pomiarowego. Wyniki pomiarów przedstawić należy tabelarycznie i 

graficznie.

- Wyznaczona zostaje średnia i odchylenie standardowe z pomiarów.

- Przy pomocy wzorów obliczone zostają wskaźniki zdolności C

i C

gk 

 przyrządu 

pomiarowego.

71

background image

Rys.27 Schemat blokowy procedury 1.

 

72

background image

Rys.28 Obliczanie wskaźników zdolności.

                                      

                                                                         

         

73

background image

Na bazie tolerancji                                                                          Na bazie rozrzutu procesu

 

(

)

g

g

s

DGS

GGS

C

=

6

2

,

0

               (40)     

(

)

g

ocesu

g

ocesu

g

S

s

C

Pr

Pr

15

,

0

6

6

15

,

0

σ

σ

=

=

   (41)

dla 

m

g

X

X

>

(

)

g

g

m

gk

s

X

T

X

C

+

=

3

1

,

0

  (42)   

(

)

g

X

X

C

g

ocecu

m

gk

+

=

3

6

15

,

0

5

,

0

Pr

σ

 

(43)

  

(

)

g

g

ocesu

m

s

X

X

+

=

3

45

,

0

Pr

σ

dla 

m

g

X

X

<

:  

(

)

g

m

g

gk

s

T

X

X

C

+

=

3

1

,

0

 (44)  

(

)

g

ocesu

m

g

gk

s

X

X

C

=

3

45

,

0

Pr

σ

     (45)

gdzie 

m

X

oznacza rzeczywistą wartości wzorca, 

g

X

jest średnią arytmetyczną, a 

g

s

oznacza odchylenie standardowe z wyników pomiarowych:

=

=

n

i

i

g

x

n

X

1

1

                                    (46) oraz  

(

)

=

n

n

g

i

g

X

X

n

S

1

2

1

1

     (47) 

Analiza wykorzystaniem tolerancji i analizy z wykorzystaniem rozrzutu procesu dalej taki 
sam wynik jeśli spełniony jest warunek T=

ocecu

Pr

6

σ

. Rozróżnianie między 

m

g

X

X

>

m

g

X

X

<

 możne zostać zaniedbanie w obliczeniach 

gk

C

 w przypadku zastosowania 

następującego wzoru:

g

m

g

gk

s

X

X

T

C

=

3

1

,

0

                                                                                              (48)

Gdzie 

m

g

X

X

= wartości bezwzględna różnicy 

g

X

i

m

X

        (Wynik jest zawsze dodatni)

           

m

X

          = prawdziwa wielkości wzorcowa

            T             = GGS – DGS Przedział tolerancji cech 

W metodzie tej „dokładności” 

m

g

X

X

odejmowana jest od tolerancji cechy. Innym 

sposobem podejścia może być poszerzenie rozrzutu przyrządu o tę wielkość. Wzór dla 
tego przypadku wygląda następująco:

Założenie od obowiązujących norm zakładowych lub czasu obowiązywania instrukcji jako 

wielkość odniesienia brane jest n% tolerancji cechy albo 6 lub8 krotność rozrzutu procesu.

Podobnie tez wymagania minimalne dla wskaźników zdolności C

i C

gk 

 mogą się różnić 

miedzy sobą 

74

background image

Rys.29. Stosunek s

g

 do C

g

 dla tolerancji jako wielkość odniesienia.

Obliczenia procedurą 1 na bazie rozstępu R nie prowadzą do pozytywnych wyników 

ponieważ mierzone wartości pomiarowe różnią się w ogólności miedzy sobą tylko 

nieistotnie. 

Ocena na bazie wytycznych CNOMO.

Analiza na bazie norm CNOMO „Dopuszczanie zdolności funkcjonalnej urządzeń 

pomiarowych” łączy w sobie procedury 1 i 2. Badanie systemu pomiarowego następuje 

tutaj w trzech fazach:

Faza przygotowawcza:

- faza 1- w laboratorium z legalizowanym wzorem

- faza 2- w laboratorium z produkowanymi częściami

Odbiór u producenta/ w zakładzie:

- faza 3- w laboratorium dla każdego wyrobu

Ustalanie wskaźników: 

W kolejnych fazach wyznaczane są następujące wskaźniki:

Faza 1: Powtarzalność urządzenia pomiarowego dla wzorca

75

background image

Wzorzec mierzony jest pięciokrotnie i z wyników wyliczane są wskaźniki:

Średnia 

e

y

   

Wariacja 

e

V

Niepewność 

e

e

V

I

2

=

   

Faza  2: Powtarzalność urządzenia pomiarowego dla obrabianej części. Obrabiana część 

mierzona jest pięciokrotnie a z danych wyznaczane są:

Średnia 

r

y

Wariacja 

r

V

Niepewność 

r

r

V

I

2

=

Faza 3: Co najmniej 5 wyrobów jest pięciokrotnie(y

ij

). Te same elementy mierzone są 

ponownie w laboratorium pomiarów precyzyjnych (x

i

). po n – krotnych pomiarach 

laboratoryjnych dla każdego wyrobu jest  średnia i jednocześnie niepewność pomiarów 

laboratoryjnych podzielona jest przez pierwiastek n. Następnie dla różnic (y

ij

-x

i

)

wyznaczana jest średnia x i wariacji V

g

:

I

g

= niepewność urządzenia pomiarowego

(

)

e

g

V

V

x

+

+

=

2

                                                                                (49)

Niepewność pomiarowa z laboratorium pomiarów – albo rozdzielczość urządzenia 

pomiarowego –I

g  

oraz wyliczony wskaźników zdolności CMC = T/( 2*I

g

) spełniać muszą 

wymagania zawarte w tabeli.

76

background image

Rys.30. Granice zdolności urządzeń pomiarowych.

 Przykład zastosowania CNOMO.

Rys.31 formularz CNOMO

Nie wszystkie przyrządy pomiarowe dają się zbadać opisanymi metodami. Brak jest 

poprawnych metod oceny jakościowych systemów pomiarowych jak np. sprawdziany 

trzpieniowe czy wzorce funkcyjne. Oceny systemów pomiarowych w których cechy 

wyrobu dają się co prawda mierzyć ale w rzeczywistości nie dają się powtórzyć, np. 

przyrządy kontrolujące twardości, przyrządy do analizy powierzchni, itp. nie jest w ten 

sposób możliwa.

W przypadku przyrządów do badania twardości procedury kontrolne wykorzystać można 

tylko porównawczych jako podstawa odbioru nowych urządzeń. Metody te mogą jednak 

77

background image

być też użyte do porównania istniejących urządzeń w celu oceny i ilustracji ich aktualnej 

stabilności i zdolności. Wymienione systemy i przyrządy pomiarowe badane być muszą 

zgodnie z obowiązującymi normami i wytycznymi takimi jak ISO, DIN wytyczne 

producenta itp. Każdy przypadek powinien być przy tym analizowany oddzielnie tak by 

móc zdecydować czy badane zdolności systemu lub przyrządu pomiarowego powinno być 

mimo to przeprowadzone. Z doświadczenia wiadomo, że dla wąskich granic tolerancji 

bądź analogicznych wskaźników dla innych cech wykonalność techniczna badania 

zdolności systemów i przyrządów pomiarowych natrafia w praktyce na granice 

możliwości. Może to oznaczać że wynik analizy staje się nie do przyjęcia. W takim 

przypadku zastosować można procedurę 1 bez analizy statystycznej.

Typowe pytania o zdolność środków kontrolnych.

Uzyskanie dowodu zdolności jest z reguły bardzo czasochłonne i szczególnie przy dużej 

liczbie systemów pomiarowych, trudne do przeprowadzenia w całości. Dlatego w praktyce 

pojawiają się często pytania:

- dlaczego należy przeprowadzać dowody zdolności ?

- jak dokonać oceny nowego systemu pomiarowego?

- jak dokonać oceny podobnych systemów pomiarowych?

- czy przyrządy pomiarowe można połaczyć w grupy?

- jak często należy przeprowadzać dowód zdolności?

- czy przeprowadzać dowody zdolności systemów standardowych?

- czy możliwy jest dowód zdolności dla kontroli niszczących?

- jakie obowiązują kryteria odbioru?

- które kryteria odbioru nie muszą być spełnione?

- czy wytyczne danego klienta odbiorcy muszą być w pełni dotrzymywane?

- jak reagować w przypadku systemów pomiarowych?

Dowody zdolności wymagane są zasadniczo dla wszystkich cech krytycznych z 

obowiązkiem dokumentacji. Ważne jest to w szczególności przy wąskich granicach 

specyfikacji. Przy nowych systemach często brak jest odpowiednich procedur 

pomiarowych albo wielkości odniesienia dla ich poprawnej oceny, dlatego producent musi 

wypracować odpowiednie metody kontrolne.

Jeżeli różne systemy kontrolne albo ich elementy wykonują te same zadania pomiarowe, 

należy na przykładzie wykazać porównywalność poszczególnych systemów. Do tego celu 

wykorzystujemy procedurę 2. jeden pracownik obsługuje różne systemy pomiarowe, jeśli 

rozrzut całkowity systemów pomiarowych jest wystarczająco mały można przyjąć 

78

background image

założenie że do wykonania zadania pomiarowego wybrać można dowolny przyrząd z 

odpowiedniej grupy. 

Czystość przeprowadzania dowodów zdolności zależy od wyników badania i stabilności 

systemu pomiarowego. Częstsze kontrole są wymagane  gdy wynik dowodu zdolności leży 

blisko albo wychodzi poza granicą zdolności.

Dowód przydatności standardowych przyrządów pomiarowych można zaniedbać jeżeli 

oczekiwania niepewności pomiarów jest wystarczająco mała w stosunku do tolerancji 

cechy.

Zdolność innych standardowych przyrządów do wykonania pomiarów stwierdzić można 

metodą kontroli indywidualnych  albo pomiarów porównawczych.

W przypadku kontroli niszczących dowód zdolności jest z reguły niemożliwy. Gdy brak 

jest wzorów ref. nie można zastosować procedury 1. procedurę 2 można zastosować tylko 

wtedy, gdy założyć można jednorodność materiału tak, że możliwe jest powtarzanie 

pomiarów na oryginalnych wyrobach.

Kryteria odbioru zawarte są w wytycznych zakładowych. Z reguły znaleźć można tam 

uwagę, że do przyjęcia są też inne metody i wartości graniczne jeżeli klient je akceptuje. 

Stąd też należy ustalić indywidualne procedury wspólnie z klientem. 

 Wyżej wspomniana wzmianka pozwala przedsiębiorstwu na stworzenie własnych 

wytycznych dla procedur oceniających systemy pomiarowe  oraz ich realizacje na 

standardowych zasadach. Dostawca obsługujący wielu odbiorców nie może choćby z 

przyczyn ekonomicznych stosować różnorodnych procedur kontrolnych. 

Gdy brak jest odpowiednich systemów pomiarowych można w celu podtrzymania 

produkcji podjąć następujące środki tymczasowe zanim znalezione zostanie rozwiązanie 

długofalowe. 

79

background image

Rys.32.   Schemat   powiązań   składników   procesem   produkcyjnym   które   powinny   być 

wspomagane metodami statystycznymi.

5.3 Narzędzia do sterowania systemem pomiarowym – karty kontrolne.

Karty kontrolne jakości umożliwiają wizualizację wyśrodkowania i rozrzutu systemu. 

Ocena   tych   parametrów   wymaga   analizy   przebiegów   czasowych   wskaźników 

statystycznych takich jak liczba jednostek niezgodnych, liczba niezgodności na jednostkę, 

wartości pomiarowe, wartości średnie, mediany, odchylenia standardowe i rozstępy oraz 

porównania ich z liniami granicznymi. Na bazie takich porównań dokonać można oceny 

jakości   czyli   stabilności   procesów   produkcji.   Doskonalenie   procesu   z   użyciem   kart 

kontrolnych   jest   procedurą   iteracyjną,   powtarzającą   podstawowe   fazy   zbierania, 

kontrolowania i analizowania . Najpierw, według planu, są pobierane dane  następnie dane 

te   są   wykorzystywane   do   wyliczenia   granic   kontrolnych,   które   są   podstawą   do 

80

background image

interpretowania   danych   do   sterowania   statystycznego;   kiedy   system   pomitrowy   jest   w 

stanie   sterowania   statystycznego,   może   zostać   zinterpretowany   dla   określenia   jego 

zdolności. Dla oddziaływania na ulepszanie w sterowaniu i zdolności, zidentyfikowane 

muszą   być   specjalne   i   zwykłe   przyczyny   zmienności,   a   proces   odpowiednio 

zmodyfikowany; następnie cykl zaczyna się od nowa, gdy większa liczba danych zostanie 

zebrana, zinterpretowana i użyta jako podstawa do działania.

1. Zbieranie: Dane dla badanych charakterystyk, są zbierane i przekształcane w postać, 

która   może   być   naniesiona  na  kartę  kontrolną.  Danymi   tymi   mogą  być  zmierzone 

wartości wymiarów sztuki obrobionej mechanicznie, liczba skaz na zwoju z winylu, 

czasy przejazdu wózka szynowego, liczba pomyłek w księgowaniu itd.

2. Kontrola:   Próbne   granice   kontrolne   są   wyliczane   w   oparciu   o   te   dane.   Są   one 

narysowane na karcie jako wskazówki do analizy. Granice kontrolne nie są liniami 

granicznymi specyfikacji lub celami, ale są oparte na naturalnej zmienności procesu i 

planie pobierania próbek.

3. Analiza i doskonalenie: Po tym jak ustalono wszystkie specjalne przyczyny i system 

przebiega w stanie sterowania statystycznego, prowadzi się dalej kartę kontrolną jako 

narzędzie do monitorowania. Można także wyliczyć zdolność systemu pomiarowego. 

Jeżeli   zmienność   spowodowana   zwykłymi   przyczynami   jest   zbyt   duża,     nie   może 

wytwarzać wyjścia, które w sposób konsekwentny spełnia wymagania klienta. Proces 

jako   taki   musi   być   przebadany,   oraz,   zazwyczaj,   musi   być   podjęte   działanie 

kierownictwa mające na celu ulepszenie systemu.

Często stwierdza się, że chociaż system został ukierunkowany na pożądaną wartość w 

czasie jego początkowego ustawienia, aktualne położenie procesu (

X

) może nie spełniać 

tej wartości. Dla tych procesów, gdzie aktualne położenie odchyla się od pożądanego, a 

możliwość przeniesienia tego systemu pomiarowego jest ekonomicznie możliwa, należy 

rozważyć możliwość dostosowania go tak, aby bardziej przystawał do wartości pożądanej. 

Zakłada się tu, że to dostosowanie nie wpłynie na zmienność procesu. Może to nie zawsze 

pozostawać do końca prawdziwe, ale przyczyny wszelkiego możliwego zwiększenia się 

zmienności   procesu   po   jego   ponownym   ustawieniu   na   cel   powinny  być   zrozumiane   i 

ocenione w odniesieniu do zadowolenia kupującego, jak i czynników ekonomicznych.

Długoterminowe osiągi  muszą być analizowane w sposób ciągły. Jest to najłatwiejsze do 

wykonania przez okresowe i systematyczne przeglądanie bieżących kart kontrolnych. Przy 

tej   okazji   zazwyczaj   będzie   ujawniane   pojawianie   się   nowych   specjalnych   przyczyn. 

Wykrycie niektórych, gdy są tylko zrozumiałe, będzie korzystne przy redukowaniu ogólnej 

81

background image

zmienności procesu. Inne, szkodliwe dla procesu, będą wymagały zrozumienia, oraz ich 

skorygowania lub usunięcia.

Dla procesu, który jest „w stanie sterowania”, wysiłki mające na celu doskonalenie często 

będą   się   koncentrowały   na   redukowaniu   zwykłych   przyczyn   zmienności   w   procesie. 

Redukowanie tej zmienności będzie wpływało na „zacieśnianie się” granic kontrolnych na 

karcie kontrolnej, tj. granice te, po ich przeliczeniu, będą leżały bliżej siebie. Wiele osób 

nie zaznajomionych z kartami kontrolnymi będzie odbierało to jako „ukaranie” procesu za 

jego ulepszenie. Nie zdają sobie oni sprawy z tego, że jeżeli proces jest stabilny i granice 

kontrolne są wyliczone w prawidłowy sposób, szansa, że proces będzie dawał wadliwe 

wyniki   i   punkty   poza   kontrolą   jest   taka   sama,   niezależnie   od   odległości   pomiędzy 

granicami kontrolnymi .

Jednym  z obszarów  zasługujących  na wspomnienie  jest kwestia przeliczenia  granic na 

karcie   kontrolnej.   Raz   prawidłowo   wyliczone,   jeżeli   nie   zachodzą   żadne   zmiany   w 

zwykłych przyczynach zmienności procesu, wciąż pozostają jako obowiązujące. Sygnały o 

specjalnych przyczynach zmienności nie wymagają przeliczenia granic kontrolnych. Dla 

długookresowych   analiz   kart   kontrolnych   najlepszym   rozwiązaniem   jest   przeliczanie 

granic kontrolnych tak rzadko, jak to tyko jest możliwe, ale w sposób podyktowany przez 

system.

82

background image

KARTY KONTROLNE

órna granica kontrolna

Linia centralna

Dolna granica kontrolna

    Te trzy fazy są powtarzane dla ciągłego doskonalenia systemu:

1. Zbieranie:

 Zbierz dane i nanieś na wykres

2. Kontrola:

 Wylicz próbne linie kontrolne z danych z systemu

 Zdefiniuj specjalne przyczyny zmienności i podejmij w odniesieniu do nich odpowiednie

83

background image

Dla   ciągłego   doskonalenia   procesu   należy   powtórzyć   te   trzy   fazy.   Należy   zebrać 

odpowiednio   większą   liczbę   danych,   jak   będzie   to   wymagane;   pracować   nad 

redukowaniem zmienności  procesu przez trzymanie  biegu  procesu w stanie sterowania 

statystycznego; oraz kontynuować analizowanie zmienności procesu.

KORZYŚCI Z KART KONTROLNYCH

Właściwie użyte karty kontrolne mogą:

Być używane przez operatorów w celu bieżącej kontroli procesu

Pomagać   procesowi   przebiegać   w   sposób   konsekwentny,   przewidywalny,   ze 

względu na jakość i na koszt

Pozwala procesowi na osiągnięcie:

- Wyższej jakości

- Niższego kosztu jednostki

- Wyższej efektywnej zdolności

Zapewnia powszechny język do omawiania wydajności procesu

Zapewnia odróżnienie specjalnych przyczyn zmienności od zwykłych, co może 

stanowić wskazówki dla działań lokalnych lub działań na system

84

background image

Rys.33 . Dane Zmienne - Rezultaty z Mierzenia Pośredniego tub Końcowego .

KARTY kontrolne odnoszące się do systemu pomiarowego

Metoda pomiarów musi dawać dokładne i precyzyjne wyniki w czasie

85

Ludzie

Wyposażenie

Środowisko

Materiał

y

Metody

Mierzone jest wyjście

Jednostka miary (mm, kg, 
itp.)

początek (0 mm, 32

°

 F, 

itp.)

      1       2      3      4

Przykłady wyjścia

Przykłady kart kontrolnych

Średnica zewnętrzna wału (mm)

Odległość otworu od powierzchni odniesienia 
(mm)

Oporność obwodu (omów)

Czas przejazdu wagonu (godzin)

Czas opracowania zmian technicznych (godzin)

X

 dla Średniej z Pomiarów

Karta R dla rozstępów

w Pomiarach

Nieprecyzyjne

Precyzyjne

Niedokładne

Dokładne*

background image

5.4 Karta kontrolna dla danych zmiennych.

         Karty kontrolne dla danych zmiennych są potężnymi narzędziami, które mogą być 

zastosowane, gdy są dostępne pomiary z systemu pomiarowego. Przykładami mogą być 

średnica łożysk, siła zamykająca drzwi, lub czas na przejrzenie dokumentów. Karty dla 

zmiennych  - a szczególnie ich najbardziej  powszechna postać, karty

X

  (X bar) i R - 

przedstawiają   typowe   zastosowanie   kart   kontrolnych   dla   sterowania   systemem 

pomiarowym.

Karty Kontrolne dla zmiennych są szczególnie użyteczne z kilku powodów:

1. 

Większość   procesów   i   ich   wyjść   ma   charakterystyki,   które   są   mierzalne,   więc 

potencjalna możliwość stosowania kart jest szeroka.

2. 

Ilościowa wartość (np. „średnica ma 16,45 mm”) zawiera o wiele więcej informacji niż 

proste stwierdzenie tak - nie (np. „średnica jest w granicach specyfikacji”).

3. 

Chociaż   uzyskanie   pojedynczych   informacji   o   zmierzonej   wartości   zazwyczaj   jest 

bardziej   kosztowne   niż   uzyskanie   pojedynczej   informacji   typu   przechodzi   /   nie 

przechodzi, to mniej sztuk trzeba sprawdzić dla uzyskania większej ilości informacji o 

procesie,   tak   więc   w   niektórych   przypadkach   całkowity   koszt   pomiarów   może   być 

niższy.

4. 

Z uwagi na to, że przed podjęciem odpowiednich decyzji trzeba sprawdzać mniej sztuk, 

odstęp czasu pomiędzy wytworzeniem części i działaniami korygującymi często może 

zostać skrócony.

5. 

Przy danych zmiennych, osiągi procesu mogą być analizowane, a ulepszenia mogą być 

ustalane   pod   względem   ich   wartości,   nawet   jeżeli   wszystkie   wyniki   jednostkowe 

znajdują się w granicach specyfikacji; jest to ważne przy osiąganiu niekończącego się 

doskonalenia.

Karty   dla   zmiennych   mogą   wyjaśnić   dane   z   systemu   zarówno   w   odniesieniu   do   ich 

rozrzutu (zmienność od sztuki do sztuki), jak i położenia (średniej dla systemu). Z tego 

powodu   karty   kontrolne   dla   zmiennych   zawsze   powinny   być   przygotowywane   i 

analizowane   w   parach   -   jedna   karta   dla   położenia,   a   druga   dla   rozrzutu.   Najczęściej 

używanymi parami są karty x i R. 

X

 jest średnią wartością w małych podgrupach - miarą 

położenia; R jest rozstępem wartości w każdej podgrupie (najwyższa minus najniższa) - 

miarą rozrzutu.

86

background image

PRZYGOTOWANIE DO STOSOWANIA KART KONTROLNYCH

 Ustal środowisko odpowiednie dla działania

 Zdefiniuj system

 Określ charakterystyki, na których będziesz przeprowadzał operacje

Rozważania dotyczące:

- Potrzeb klienta

- Obszarów obecnych i potencjalnych problemów

- Korelacji między charakterystykami

 Określ system pomiarowy

 Zminimalizuj zbędną zmienność              .

87

background image

5.5 Karta średnich i rozstępu (

X

 I R)

         Zanim będzie można używać kart

X

 i R, musi być wykonanych kilka kroków:

Ustal   środowisko  odpowiednie   dla   działania.   Każda   metoda   statystyczna   zawiedzie, 

jeżeli kierownictwo nie przygotuje odpowiedniego środowiska. Należy usunąć obawy w 

obrębie organizacji, które powstrzymują ludzi od bycia szczerymi. Kierownictwo musi 

zapewnić zasoby dla uczestnictwa w działaniach doskonalących i wspierania ich.

Zdefiniuj   system.   System   musi   być   rozumiany   w   odniesieniu   do   jego   związków   z 

innymi   operacjami   i   użytkownikami,   zarówno   w   górę,   jak   i   w   dół   łańcucha 

produkcyjnego,   oraz   w   odniesieniu   do   elementów   systemu   pomiarowego   (ludzi, 

wyposażenia, materiałów, metod i środowiska), które oddziałują na niego na każdym 

etapie.  Techniki   takie,   jak  wykres  przyczynowo  -  skutkowy oraz   wykres  przebiegu 

procesu   pomagają   w   tym,   aby   uwidocznić   te   zależności,   oraz   umożliwić   zebranie 

doświadczenia tych ludzi, którzy rozumieją różne aspekty systemu.

Określ   charakterystyki,   które   mają   być   nanoszone   na   kartę.   Działania   analityczne 

powinny   koncentrować   się   na   tych   charakterystykach,   które   z   największym 

prawdopodobieństwem   przyniosą   największe   korzyści   w   doskonaleniu   procesu 

(zastosowanie zasady Pareto). Właściwe są tu następujące rozważania:

Potrzeby kupującego: Obejmują one zarówno każdy kolejny system, który używa 

tego   wyrobu   lub   usługi   jako   wejścia,   jak   i   końcowego   użytkownika. 

Komunikowanie potrzeb klienta obu typów do punktu w systemie, gdzie może 

mieć miejsce udoskonalenie, wymaga pracy grupowej i zrozumienia.

Bieżące   i   potencjalne   obszary   problemów:   Należy   rozważyć   występowanie 

odpadów   lub   nienajlepszych   osiągów   (np.   złomu,   przerabiania,   nadmiernych 

ilości godzin nadliczbowych, nie osiągniętych celów) oraz obszarów ryzyka (np. 

nadchodzące   zmiany   projektu   wyrobu   lub   usługi,   lub   któregoś   z   elementów 

systemu).   Są   to   okazje   do   doskonalenia,   które   wymagają   zastosowania   we 

wszystkich służbach zaangażowanych w prowadzenie przedsiębiorstwa.

Korelacja   między   charakterystykami:   Dla   skutecznego   i   efektywnego 

analizowania   należy   korzystać   z   zależności   pomiędzy   charakterystykami.   Na 

przykład,   jeżeli   rozpatrywana   charakterystyka   jest   trudna   do   zmierzenia   (np. 

objętość), należy śledzić związaną z nią charakterystykę, która jest łatwiejsza do 

zmierzenia   (np.   masa).   Również,   jeżeli   kilka   indywidualnych   charakterystyk 

przedmiotu   ma   tendencję   do   zmieniania   się   razem,   może   być   wystarczające 

88

background image

nanoszenie   na   kartę   tylko   jednej   z   nich.  Uwaga:   Korelacje   statystyczne 

niekoniecznie oznaczają zależności przyczynowo - .skutkowe między zmiennymi. 

Przy  braku   wiedzy   o   istniejącym   procesie,   może   być   konieczny   zaplanowany 

eksperyment, mający na celu sprawdzenie takich zależności i ich znaczenia.

Określ system pomiarowy.  Charakterystyka musi być zdefiniowana operacyjnie, 

tak, aby wyniki  (wnioski) mogły być  zakomunikowane  wszystkim,  których  to 

dotyczy, w sposób, który ma to samo znaczenie zarówno dzisiaj, jak i wczoraj. 

Obejmuje to określenie, jaka informacja ma być zgromadzona, gdzie, jak i przy 

jakich   warunkach.   Samo   wyposażanie   pomiarowe   musi   być   przewidywalne, 

zarówno   co   do   dokładności,   jak   i   precyzji   -   okresowa   kalibracja   nie   jest 

wystarczająca.   Zdefiniowanie   charakterystyki   będzie   miało   wpływ   na   karty 

kontrolnej, jaki będzie stosowany,  karta danych zmiennych, taka, jak karta

X

 i 

R, lub karta dla danych atrybutowych, 

Zminimalizować zbędną zmienność.  Zbędne zewnętrzne przyczyny zmienności 

powinny zostać zredukowane przed rozpoczęciem badań. Oznacza to po prostu 

obserwowanie,   czy   system   działa   w   sposób   zamierzony,   albo   może   oznaczać 

przeprowadzenie   sterowanego   badania   z   użyciem   materiałów   wejściowych   o 

znanych parametrach, stałe ustawienia kontrolne itd. Celem jest zapobiegnięcie 

oczywistym   problemom,   które   mogą   i   powinny   być   skorygowane   nawet   bez 

używania   kart   kontrolnych;   obejmuje   to   nadmierne   regulowania   systemu   i 

nadmierne   sterowanie.   We   wszystkich   przypadkach,   należy   prowadzić 

sprawozdanie (dziennik) notując wszystkie stosowne zdarzenia takie, jak zmiana 

narzędzi, nowe partie surowców itd. Pomoże to następnych analizach systemu.

89

background image

        Rys.34. karty X i R

IN

S

T

RU

K

C

J

E

 DO

 D

Z

IA

Ł

A

Ń

1

N

IE

 W

P

R

O

W

A

D

Z

A

D

O

 P

R

O

C

E

S

U

Z

B

Ę

D

N

Y

C

H

N

IE

K

O

N

IE

CZ

N

Y

C

H

Z

M

IA

N

2

N

O

T

UJ

 

W

S

Z

Y

S

T

K

IE

 

Z

M

IA

N

Y

 

W

E

L

E

M

E

N

T

A

C

H

 

P

R

O

C

E

S

U

(L

U

DZ

IE

W

Y

P

O

S

A

Ż

E

N

IE

,

M

A

T

E

RI

A

Ł

M

E

T

O

DY

,

Ś

R

O

D

O

W

IS

K

O

 

L

U

B

 

S

Y

S

T

E

M

P

O

M

IA

R

O

W

Y

Z

 

T

Y

Ł

U

 

T

E

G

O

DR

U

K

U

90

D

 Z

 I A

 Ł

 A

 N

 I

 E

C

O

 D

O

 S

PE

C

JA

L

N

Y

C

H

 P

R

Z

Y

C

Z

Y

N

ja

ki

kol

w

ie

k punkt

 poz

gra

ni

ca

m

i kont

rol

nym

i

prz

ebi

eg 7 punkt

ów

 

w

sz

ys

tki

ch pona

d l

ub 

poni

że

j l

ini

i c

ent

ra

lne

j

prz

ebi

eg 7 punkt

ów

 

w

sz

ys

tki

ch w

 górę

 lub 

w

 dół

ka

żdy oc

zyw

is

ty i

nny 

ni

ż l

os

ow

y ukł

ad

P

R

O

C

E

S

 M

U

S

I B

Y

Ć

 

W

 S

T

A

N

IE

 

S

T

E

R

O

W

A

N

IA

 

Z

A

N

IM

 M

O

Ż

E

 B

Y

Ć

 

O

K

R

E

Ś

L

O

N

A

 

Z

D

O

L

N

O

ŚĆ

W

IE

L

K

O

Ś

Ć

 

P

O

D

G

R

U

P

Y

K

rok 

A

.1.

D

rozpoczęci

a:

R

O

Z

S

T

Ę

P

Y

 

(K

A

R

T

A

 A

)

Ś

R

E

D

N

IE

 

(K

A

R

T

A

 X

)

S

Z

C

Z

E

L

IN

A

WY

M

IA

R

 

"

A

"

D

la 

pr

ób 

m

ni

ej

szych 

od 

ni

m

dol

nej

 gr

ani

cy 

kont

rol

nej

S

u

m

a

il

ć 

odc

zyt

.

R

 =

 na

jw

sz

na

jni

żs

za

background image

Karty X i R, jako para, są opracowywane na podstawie pomiarów pewnych charakterystyk 

wyjścia   z   procesu.   Dane   te   są   podawane   w   raportach   w   małych   podgrupach   o   stałej 

wielkości, zazwyczaj obejmujących od 2 do 5 kolejnych sztuk, z okresowo pobieranymi 

podgrupami (np. co 15 minut, dwa razy na zmianę roboczą itd.). Plan zbierania danych 

musi być opracowany i stosowany jako podstawa dla zbierania, zapisywania i nanoszenia 

danych na kartę.

 Wybierz wielkość, częstość i liczbę podgrup

a) 

Wielkość   podgrup   -   Pierwszym   kluczowym   krokiem   przy   sporządzaniu   kart 

kontrolnych dla zmiennych jest ustalenie „racjonalnych podgrup” - będą one ustalały 

efektywność i skuteczność karty kontrolnej, która je wykorzystuje.

Podgrupy   powinny   być   wybierane   tak,   aby   możliwość   zmienności   pomiędzy 

jednostkami   w   obrębie   podgrupy   była   mała.   Jeżeli   zmienność   w   podgrupie 

reprezentuje zmienność od sztuki - do sztuki w bardzo krótkim przedziale czasu, 

wtedy   każda   nienormalna   zmienność   pomiędzy   podgrupami   będzie   mogła 

odzwierciedlać   zmiany   w   procesie,   które   powinny   być   zbadane,   dla   podjęcia 

stosownych działań.

Dla początkowego badania systemu, podgrupy typowo mogą składać się z 4 do 5 

kolejno   wytwarzanych   sztuk   reprezentujących   tylko   jedno   narzędzie,   głowicę, 

wykrój matrycy itd. Zamysłem jest, aby wszystkie sztuki w każdej podgrupie były 

wytwarzane   w  bardzo  podobnych   warunkach  produkcyjnych  i  w  bardzo  krótkim 

przedziale   czasu,   bez   występowania   żadnej   innej   systematycznej   zależności   od 

siebie; stąd zmienność w każdej podgrupie będzie przede wszystkim odzwierciedlała 

zwykłe   przyczyny.   Jeżeli   warunki   te   nie   są   spełnione,   wynikająca   z   nich   karta 

kontrolna może nie pokazywać w sposób efektywny przyczyn specjalnych, lub może 

wskazywać nietypowe wzory (konfiguracje) opisane w punktach C.1.a i C.4.c w tym 

Rozdziale. Wielkości próbek muszą pozostać takie same w każdej podgrupie.

b) 

Częstość  podgrup   -   Celem   jest   wykrycie   zmian   w   procesie   z   upływem   czasu. 

Podgrupy powinny być zbierane odpowiednio często, we właściwych porach, tak, 

aby   mogły   odzwierciedlać   potencjalne   możliwości   dla   zmian.   Takie   potencjalne 

przyczyny zmian mogą być spowodowane różnicami w czasie dniówki lub zmianą 

operatora, tendencją do rozgrzewania się, partiami materiału itp.

W czasie początkowego badania procesu, podgrupy często są zbierane kolejno lub w 

krótkich odstępach czasu, dla wykrycia, czy proces może się zmienić, aby pokazać 

inną   niestabilność   w   krótkich   przedziałach   czasu.   Gdy   tylko   proces   wykaże 

91

background image

stabilność   (lub   gdy   zostaną   zrobione   udoskonalenia   w   procesie),   okres   czasu 

pomiędzy   podgrupami   może   zostać   wydłużony.   Częstość   podgrup   dla   bieżącego 

monitorowania produkcji może wynosić dwa razy na zmianę, co godzinę, lub z inną 

dogodną częstotliwością.

c) 

Liczba Podgrup - Liczba podgrup powinna spełniać dwa kryteria. Z punktu widzenia 

procesu  należy  zebrać  wystarczającą   liczbę  podgrup  dla   zapewnienia,  że   główne 

źródła zmienności miały okazję do ujawnienia się. Ogólnie 25 lub więcej podgrup 

zawierających około 100 lub więcej jednostkowych odczytów dają dobrą stabilność 

badania i, gdy proces jest stabilny, dobre oszacowanie jego położenia i rozrzutu.

92

background image

   Rys.35. Karty 

X

 i R - Ustalanie danych.

93

* Dla prób mniejszych od 7 nie ma dolnej granicy kontrolnej

Krok A.3.: dla pierwszych podgrup

Krok A.2.: Pierwsze cztery podgrupy

ROZSTĘPY (Karta R)

Średnie (Karta X)

background image

Karty kontrolne

X

 i R zazwyczaj są rysowane tak, że karta

X

 jest powyżej karty R, 

oraz nad blokiem danych. Wartości

X

 i R będą na skalach pionowych, zaś sekwencja 

podgrup w czasie będzie na skali poziomej. Wartości danych i nanoszone punkty dla 

rozstępu i średnich powinny być umieszczane w pionie.

Blok   danych   powinien   obejmować   miejsce   dla   każdego   z   pojedynczych   odczytów. 

Powinien także zawierać miejsce dla sumy odczytów, średniej (

X

), rozstępu (R) i 

daty/czasu lub innych oznaczeń identyfikacyjnych dla podgrup.

Wpisz indywidualne wartości i oznaczenie (identyfikację) dla każdej z podgrup.

Wylicz średnią (

X

) i Rozstęp (R) dla każdej podgrupy 

Charakterystyki, które mają być nanoszone, są średnimi próby (

X

) i rozstępami próby 

(R)   dla   każdej   podgrupy;   łącznie   odzwierciedlają   one   odpowiednio   ogólną   średnią 

procesu i jego zmienność.

Dla każdej podgrupy wyliczamy:

                       

X

X

X

... X

n

1

2

n

=

+

+ +

 

(50)

R = X

X

najwyższy

najniższy

                                                                                              (51)

gdzie X

1

, X

2

... są indywidualnymi wartościami w obrębie podgrupy, a n jest wielkością 

próbki w podgrupie.

94

background image

Rys.36. Karty Kontrolne 

X

i R – „Badania Wstępne”.

Pionowe skale dla dwóch kart przynależą odpowiednio dla zmierzonych wartości

X

 i R. 

Pomocne   mogą   być   pewne   ogólne   wskazówki   dla   ustalenia   skal,   chociaż   w   pewnych 

okolicznościach być może konieczne będzie ich zmodyfikowanie. Dla karty

X

, różnica 

pomiędzy najwyższymi i najniższymi wartościami na skali powinna być przynajmniej 2 

razy większa od różnicy pomiędzy najwyższymi i najniższymi średnimi w podgrupach (

X

). Dla karty R, wartości powinny być rozciągnięte od najmniejszej wartości zero, do 

wartości górnej, będącej około dwukrotnie większa od największej wartości rozstępu (R) 

ustalonemu w czasie początkowego okresu.

95

* Dla prób mniejszych od 7 nie ma dolnej granicy kontrolnej

Krok A.3.: dla pierwszych podgrup

Krok A.4.

ROZSTĘPY (Karta R)

Średnie (Karta X)

Krok A.5.

background image

  Jedną   z   pomocnych   wskazówek   jest   ustalenie   takiej   podziałki   na   skali   dla   karty 

rozstępów, aby była dwa razy większa, niż dla karty średnich (np. jeżeli 1 jednostka skali 

odpowiada 0,01 cala na karcie dla średnich, 1 jednostka podziałki powinna odpowiadać 

0,02 cala na karcie dla rozstępów). Dla typowych wielkości podgrup, granice kontrolne dla 

średnich i rozstępów będą miały w przybliżeniu tą samą rozpiętość, jako wizualna pomoc 

w analizie.

Nanieś średnie i rozstępy na ich odpowiednie karty. Powinno to być zrobione tak szybko, 

jak to możliwe po tym, gdy zadecydowano już o wyskalowaniu kart. Połącz punkty liniami 

dla ułatwienia wizualizacji konfiguracji i trendów.

Krótko sprawdź naniesione punkty dla zobaczenia, czy wyglądają prawdopodobnie; jeżeli 

któreś punkty są znacznie wyżej lub niżej niż pozostałe, upewnij się, czy wyliczenia i 

naniesienie ich są prawidłowe. Upewnij się, czy naniesione punkty dla odpowiadających 

sobie

X

 i R są w linii pionowej w stosunku do siebie.

 Dla umocnienia zasady, że wszystkie karty na stanowiskach roboczych mają naniesione 

na nich granice kontrolne, początkowe karty, które nie mają jeszcze wyliczonych granic (z 

powodu niewystarczającej liczby danych), powinny być wyraźnie opisane jako „Badanie 

Wstępne”. Tak więc te karty „Badania Wstępnego”, czy to użyte do pierwotnego ustalenia 

zdolności, czy też badania po doskonaleniu / zmianach procesu, powinny być jedynymi 

kartami kontrolnymi dopuszczonymi na stanowiska robocze, które nie mają naniesionych 

na nie granic kontrolnych

96

background image

Rys.37. Karty 

X

 i R – z granicami kontrolnymi.

IN

S

T

R

U

K

C

JE

 D

O

 D

Z

IA

Ł

A

Ń

1.

 

N

IE

 W

P

R

O

W

A

D

Z

A

D

O

 P

R

O

C

E

S

U

Z

B

Ę

D

N

Y

C

H

N

IE

K

O

N

IE

C

Z

N

Y

C

H

Z

M

IA

N

2.

 

N

O

T

U

W

S

Z

Y

S

T

K

IE

 

Z

M

IA

N

Y

 

W

E

LE

M

E

N

T

A

C

H

 

P

R

O

C

E

S

U

(L

U

D

Z

IE

W

Y

P

O

S

A

Ż

E

N

IE

,

M

A

T

E

R

IA

Ł,

 

M

E

T

O

D

Y

,

Ś

R

O

D

O

W

IS

K

O

 

LU

B

 

S

Y

S

T

E

M

P

O

M

IA

R

O

W

Y

Z

 

T

Y

ŁU

 

T

E

G

O

D

R

U

K

U

97

Krok A.3.: dla pierwszych podgrup

D

la 

pr

ób 

m

ni

ej

szych 

od 

ni

m

dol

nej

 gr

ani

cy 

kont

rol

nej

D

 Z

 I A

 Ł

 A

 N

 I

 E

C

O

 D

O

 S

PE

C

JA

L

N

Y

C

H

 P

R

Z

Y

C

Z

Y

N

ja

ki

kol

w

ie

k punkt

 poz

gra

ni

ca

m

i kont

rol

nym

i

prz

ebi

eg 7 punkt

ów

 

w

sz

ys

tki

ch pona

d l

ub 

poni

że

j l

ini

i c

ent

ra

lne

j

prz

ebi

eg 7 punkt

ów

 

w

sz

ys

tki

ch w

 górę

 lub 

w

 dół

ka

żdy oc

zyw

is

ty i

nny 

ni

ż l

os

ow

y ukł

ad

W

IE

L

K

O

Ś

Ć

 

P

O

D

G

R

U

P

Y

P

R

O

C

E

S

 M

U

S

I B

Y

Ć

 

W

 S

T

A

N

IE

 

S

T

E

R

O

W

A

N

IA

 

Z

A

N

IM

 M

O

Ż

E

 B

Y

Ć

 

O

K

R

E

Ś

L

O

N

A

 

Z

D

O

L

N

O

ŚĆ

background image

 5.6 Wyliczanie granic kontrolnych.

Najpierw   wylicza   się   granice   kontrolne   dla   karty   rozstępu,   a   potem   dla   karty 

średnich. Przy wylczaniu granic kontrolnych dla kart danych zmiennych wykorzystywane 

są stałe, które pojawiają się jako litery w podanych dalej wzorach. Współczynniki te, które 

zmieniają się odpowiednio co do wielkości podgrupy (n), są pokazane w krótkich tabelach 

towarzyszących odpowiednim wzorom.

 Wylicz średnią rozstępu (

R

) i średnią (

X

Dla badanego okresu wylicz:

R

R

R ... R

k

1

2

k

=

+

+ +

                                                                                           (52)

X

X

X

... X

k

1

2

k

=

+

+ +

 

(53)

gdzie k jest liczbą podgrup, R

1

 i 

X

1

 są rozstępem i średnią dla pierwszej podgrupy, R

2

 i 

X

2

 dla drugiej podgrupy, itd.

 Wylicz Granice Kontrolne  

Granice kontrolne są wyliczone w celu pokazania zakresu, w jakim będą się zmieniać 

średnie i rozstępy w podgrupach, gdy występują tylko zwykłe przyczyny zmienności. Są 

one zależne od wielkości podgrup i rozmiaru zmienności wewnątrz podgrup, która ma 

odbicie w rozstępach. Wylicz górne i dolne granice kontrolne dla rozstępów i średnich:

UCL

R

 = D

4

R

                                                                                                               (54)

LCL

R

 = D

3

R

                                                                                                                (55)

UCL

X

 

=

X

 

+

 

A

2

R

 

(56)

LCL

X

 

=

X

 

-

 

A

2

R

 

(57)

gdzie D

4

, D

3

 i A

2

 są współczynnikami zmieniającymi się z wielkością próbki, których 

wartości dla wielkości próbek zmieniają się od 2 do 10, jak to pokazano w poniższej 

częściowej tabelce, :

98

background image

n

2

3

4

5

6

7

8

9

10

D

4

D

3

A

2

3,27

*

1,88

2,57

*

1,02

2,28

*

0,73

2,11

*

0,58

2,00

*

0,48

1,92

0,08

0,42

1,86

0,14

0,37

1,82

0,18

0,34

1,78

0,22

0,31

* ( Dla prób o wielkości poniżej 7, wartość LCL

R

  powinna być techniczne wartością 

ujemną; 

w takich przypadkach nie ma dolnej Dranicy kontrolnej; oznacza to, że dla podgrup o 

wielkości 6, sześć „identycznych” pomiarów nie będzie nierozsądne)

     Wykreśl Granice dla Średnich i Granice Kontrolne na Kartach 

Wykreśl linie dla średnich wartości rozstępu (

R

) i średniej procesu (

X

) jako grube 

poziome linie, zaś granice kontrolne (UCL

R

, LCL

R

, UCL

X

, LCL

X

) jako przerywane 

linie poziome; opisz linie. Podczas fazy początkowej analiz, są one uważane za próbne 

granice kontrolne.

99

background image

                   Rys.38. karta R- punkt poza granicami kontrolnym

 

                          

100

Krok A.3.: dla pierwszych podgrup

SYSTEM STEROWANY DLA ROZSTĘPÓW 

SYSTEM NIESTEROWANY DLA  ROZSTĘPÓW

(PUNKTY POZA LINIAMI KONTROLNYMI)

DZIAŁANIE

przy specjalnych 
przyczynach

jakikolwiek punkt 

poza granicami 

Krok C: punkt poza granicą kontrolną

background image

 5.7 Interpretacja dla zdolności systemu pomiarowego. 

Granice kontrolne mogą być interpretowane w następujący sposób: jeżeli 

zmienność procesu od sztuki do sztuki i średnia procesu pozostaną stałe na ich obecnym 

poziomie (jak oszacowano odpowiednio za pomocą 

R

 i 

X

), to rozstępy (

R

) i średnie (

X

) dla pojedynczych podgrup będą się zmieniać tylko losowo, ale rzadko będą one 

wychodzić poza granice kontrolne. Podobnie, nie będzie żadnych szczególnych trendów 

lub wzorów (konfiguracji) w danych poza takimi, które mogły by wyniknąć z losowości. 

Przedmiotem analizy kart kontrolnych jest identyfikowanie wszelkich oznak, że zmienność 

procesu lub średnia dla procesu nie utrzymują się na stałym poziomie - że jedna lub obie są 

poza sterowaniem statystycznym - i podjęcie właściwego działania. Karty 

R

 i 

X

 są 

analizowane oddzielnie, ale porównanie wzorów (konfiguracji) pomiędzy tymi dwoma 

kartami może dać czasami dodatkowe spostrzeżenia co do specjalnych przyczyn 

oddziałujących na proces.

Ponieważ możliwość zinterpretowania rozstępów dla podgrup lub średnich dla podgrup 

zależy od oczekiwanej zmienności typu od sztuki do sztuki, jako pierwsza jest analizowana 

karta R. Punkty danych są porównywane z granicami kontrolnymi, w poszukiwaniu 

punktów leżących poza granicami kontrolnymi, względnie wyjątkowych wzorów 

(konfiguracji) lub trendów.

a. 

Pomiary poza granicami kontrolnymi - Obecność jednego lub więcej punktów  poza 

którąś z granic kontrolnych jest pierwszym sygnałem braku sterowania w tym 

punkcie. Ponieważ punkty poza granicą kontrolną mogą pojawiać się bardzo rzadko, 

gdy występuje zmienność pochodząca tylko od zwykłych przyczyn, przyjmujemy, że 

specjalna przyczyna zaszła dla tej ekstremalnej wartości. Dlatego też wszystkie 

punkty poza granicami kontrolnymi są sygnałem do natychmiastowych analiz 

operacji w poszukiwaniu przyczyny specjalnej. Oznacz wszelkie punkty danych, 

które są poza granicami kontrolnymi dla dalszego badania i działania korygującego 

opartego o to, kiedy ta specjalna przyczyna rzeczywiście rozpoczęła swoje działanie.

Punkt powyżej górnej granicy kontrolnej dla rozstępów jest zazwyczaj oznaką 

występowania jednego lub większej ilości z następujących czynników:

Granica kontrolna lub naniesiony punkt został źle wyliczony lub źle naniesiony.

Zwiększyła się zmienność typu od sztuki do sztuki lub rozrzut rozkładu (tj. 

pogorszenie się), albo w tym jednym punkcie w czasie, albo jako część trendu.

Zmienił się system pomiarowy (np. inny inspektor lub przyrząd).

Systemowi pomiarowemu brakuje właściwego rozeznania.

101

background image

Punkt poniżej dolnej granicy kontrolnej (dla prób o wielkości 7 lub większej) jest 

zazwyczaj   oznaką   występowania   jednego   lub   większej   ilości   z   następujących 

czynników:

Granica kontrolna lub naniesiony punkt są błędne.

Rozrzut rozkładu zmniejszył się (tj. polepszył się).

Zmienił   się   system   pomiarowy   (włączając   w   to   edytowanie   lub   zmienianie 

danych).

Wzory   (konfiguracje)   lub   Trendy   w   Zakresie   Granic  Kontrolnych   -   Obecność 

niezwykłych  wzorów  lub  trendów, nawet  gdy wszystkie  rozstępy znajdują się w 

obrębie granic kontrolnych, może  być  dowodem braku sterowania lub zmiany w 

rozkładzie procesu w okresie występowania wzoru lub trendu. Może to dać pierwszy 

sygnał   ostrzegawczy   o   niesprzyjających   warunkach,   które   powinny   być 

skorygowane. Odwrotnie, niektóre wzory lub trendy mogą być korzystne i powinny 

być   badane   pod   kątem   możliwego   stałego   doskonalenia   procesu.   Porównanie 

wzorów   pomiędzy   kartami   dla   rozstępów   i   średnich   może   nasunąć   dodatkowe 

spostrzeżenia.

102

background image

           Rys.39.  Karta R – Przebiegi (Rozstępy)

103

background image

Oznacz punkt, który powoduje podjęcie decyzji; może być  pomocne przedłużenie linii 

odniesienia wstecz do początku przebiegu. Analiza powinna brać pod uwagę przybliżony 

czas, w którym okazało się, że rozpoczął się trend, lub zaczęło się przesunięcie systemu.

Przebieg powyżej średniego rozstępu, lub przebieg w górę, oznacza występowanie jednej 

lub dwóch z następujących rzeczy:

Większy rozrzut w wartościach wyjściowych, który może pochodzić od nieregularnej 

przyczyny (jak np. niesprawność wyposażenia lub poluzowanie zamocowań), lub od 

przesunięcia się jednego z elementów systemu (np. nowa partia surowca o mniejszej 

jednorodności); są to zazwyczaj problemy, które wymagają skorygowania.

Zmianą w systemie pomiarowym (np. nowy inspektor lub przyrząd)

Przebieg poniżej średniego rozstępu, lub przebieg w dół oznacza występowanie jednej lub 

dwóch z następujących rzeczy:

Mniejszy rozrzut w wartościach na wyjściu, co zazwyczaj jest dobrym stanem, który 

powinien być zbadany w celu szerszego zastosowania przy doskonaleniu procesu.

Zmianę   w   systemie   pomiarowym,   która   może   maskować   rzeczywiste   zmiany   w 

osiągach.

104

background image

       Rys.40. Karta R – Konfiguracje nieprzypadkowe.

105

background image

Wzory wyraźnie nielosowe  - Oprócz obecności punktów poza granicami kontrolnymi 

lub   długimi   przebiegami,   w   danych   mogą   pojawić   się   różne   wzory,   które   dają 

wskazówki co do specjalnych przyczyn. Należy zwracać uwagę na to, aby nadmiernie 

nie interpretować danych, ponieważ nawet dane losowe (tzn. od zwykłych przyczyn) 

mogą czasami sprawiać wrażenie nielosowości (tj. obecności specjalnych przyczyn). 

Przykładami konfiguracji wyraźnie nielosowych  mogą być oczywiste trendy (nawet, 

gdy nie spełniają one w sposób zadawalający przebiegów badań), cykle, ogólny rozkład 

punktów   danych   w   obrębie   granic   kontrolnych,   lub   nawet   zależności   pomiędzy 

wartościami w obrębie podgrup (np. pierwszy odczyt zawsze może być największy). 

Jedno badanie oceniające ogólny rozrzut punktów danych  w podgrupie jest opisane 

poniżej:

Odległość punktów od 

R

: Ogólnie, około 2/3 naniesionych punktów powinno leżeć w 

zakresie środkowej jednej trzeciej obszaru pomiędzy granicami kontrolnymi; około 1/3 

punktów powinno leżeć w zewnętrznych 2/3 tego obszaru. Jeżeli znacznie więcej niż 

2/3 naniesionych punktów leży blisko  

R

(dla 25 podgrup jeżeli ponad 90% punktów 

jest w środkowej jednej trzeciej obszaru między granicami kontrolnymi), zbadaj jedną 

lub więcej z następujących rzeczy: 

Granice   kontrolne   lub   naniesione   punkty   zostały   źle   wyliczone   lub   źle 

naniesione.

Proces   lub   metoda   pobierania   prób   nawarstwiają   się;   każda   podgrupa 

systematycznie zawiera pomiary z dwóch lub większej ilości strumieni procesu, 

które     mają bardzo różne średnie dla procesu (np. jedna sztuka z każdego z 

siedmiu      wrzecion).*

Dane były edytowane (podgrupy z rozstępami, które odchylały się mocno od 

średniej zostały zmienione lub usunięte).

Jeżeli znacznie mniej niż 2/3 naniesionych punktów leży blisko  

R

  (dla 25 podgrup 

jeżeli 40% punktów lub mniej jest w środkowej jednej trzeciej), zbadaj jedną lub obie z 

następujących rzeczy:

    Granice   kontrolne   lub   naniesione   punkty   zostały   źle   wyliczone   lub   źle 

naniesione.

  Proces   lub   metoda   pomiarowa   powodują,   że   kolejne   podgrupy   zawierają 

pomiary   z   dwóch   lub   większej   ilości   strumieni   procesu,   które   mają   bardzo 

różniącą się zmienność.

106

background image

Dla każdej wzmianki o specjalnej przyczynie w danych dla rozstępu przeprowadź analizę 

operacji systemu celem ustalenia przyczyny i dla poprawy zrozumienia systemu. Sama 

karta kontrolna powinna być użytecznym narzędziem przy analizie problemu, sugerując, 

kiedy ten stan się rozpoczął, i jak długo trwał. Jednakże zauważ, że nie wszystkie specjalne 

przyczyny   są   negatywne,   że   niektóre   przyczyny   specjalne   mogą   prowadzić   do 

pozytywnego wpływu na doskonalenie systemu pod względem zmniejszonej zmienności 

rozstępu - te specjalne przyczyny powinny być ocenione dla ewentualnego wprowadzenia 

ich do procesu, gdy jest to właściwe.

Ważna jest terminowość w analizie problemów, zarówno pod względem minimalizacji 

niezgodności   na   wyjściu,   oraz   pod   względem   posiadania   świeżych   informacji   dla 

diagnozowania. Na przykład, pojawienie się pojedynczego punktu poza granicą kontrolną 

jest   powodem   rozpoczęcia   niezwłocznej   analizy   procesu.   Dziennik   także   może   być 

pomocnym źródłem informacji dla identyfikowania specjalnych przyczyn zmienności.

Należy   podkreślić,   że   rozwiązywanie   problemów   jest   często   najtrudniejszym,   oraz 

pochłaniającym najwięcej czasu krokiem. Wejście statystyczne z karty kontrolnej może 

być odpowiednim punktem wyjścia, ale pomocne mogą być także inne metody, takie jak 

wykres Pareto, wykres przyczynowo - skutkowy lub inne analizy graficzne . Ostatecznie 

jednak, wyjaśnienie zachowania się leży w samym procesie oraz ludziach, którzy są w 

niego zaangażowani. Sumienność, cierpliwość, wnikliwość i zrozumienie będą konieczne 

dla rozwijania działań, które w sposób wymierny polepszą osiągi.

W czasie przeprowadzania wstępnego badania systemu, lub przy powtórnym ocenianiu 

zdolności   systemu,   należy   przeliczyć   granice   kontrolne   dla   wykluczenia   efektów 

pochodzących z tych okresów, gdy proces był poza sterowaniem, a dla których przyczyny 

wpływające na proces zostały w całkowicie zidentyfikowane i usunięte, lub jako korzystne 

wprowadzone do stałego stosowania. Wyklucz wszystkie podgrupy, na które oddziaływały 

specjalne   przyczyny,   a   które   zostały   zidentyfikowane   i   usunięte   lub   wprowadzone   do 

stosowania, a następnie przelicz ponownie i nanieś nowe linie dla średniego rozstępu (

R

i granice kontrolne. Potwierdź, że wszystkie punkty rozstępu pokazują, że są w stanie 

sterowania, gdy porówna się je z nowymi  granicami kontrolnymi,  powtarzając, gdy to 

konieczne, sekwencję identyfikacji / korygowania / przeliczania.

Jeżeli   jakiekolwiek   podgrupy   zostały   usunięte   z   karty   R   z   powodu   zidentyfikowania 

specjalnych   przyczyn,   powinny   również   być   usunięte   z   karty  

X

.   Zmodyfikowane 

wartości  

R

  i

X

powinny   być   użyte   do   ponownego   przeliczenia   próbnych   granic 

kontrolnych dla średnich, 

X

±

 A

2

R

.

107

background image

  Wyłączanie podgrup reprezentujących niestabilne warunki nie jest tylko „odrzucaniem 

złych danych”. Raczej, przez wyłączenie punktów, na które oddziaływały znane przyczyny 

specjalne,   mamy   lepszą   ocenę   drugorzędnego   (background)   poziomu   dla   zmienności, 

spowodowanej zwykłymi przyczynami. To z kolei, daje najbardziej odpowiednią podstawę 

dla   granic   kontrolnych   stosowanych   do   wykrywania   w   przyszłości   występowania 

specjalnych przyczyn zmienności. Przypomina się jednak, że proces musi być zmieniony 

tak, aby przyczyny specjalne nie pojawiły się ponownie (gdy są niepożądane) jako część 

procesu.

108

background image

      Rys.41. Karty 

X

 - punkty poza granicami kontrolnymi.

109

background image

Jeżeli rozstępy są pod sterowaniem statystycznym,  - zmienność w obrębie podgrup - jest 

uznawany za stabilny. Średnie mogą być więc analizowane dla zobaczenia, czy położenie 

systemu zmienia się w czasie. Ponieważ granice kontrolne dla X z kreską są oparte na 

wielkości zmienności w rozstępach, to jeżeli średnie są pod sterowaniem statystycznym, 

ich zmiana położenia jest związana z wielkością zmienności obserwowanej dla rozstępów - 

zmienności   systemu   pochodzącej   od   zwykłych   przyczyn.   Jeżeli   średnie   nie   są   pod 

sterowaniem, pewne specjalne przyczyny zmienności powodują, że położenie procesu jest 

niestabilne.

Punkty poza granicami kontrolnymi  - Obecność jednego lub więcej punktów poza którąś z 

granic kontrolnych jest pierwszą oznaką obecności specjalnej przyczyny w tym punkcie. 

Jest to sygnał dla podjęcia niezwłocznej analizy operacji. Oznacz takie punkty na wykresie 

Punkt poza którąś z granic kontrolnych ogólnie jest oznaką jednego lub większej ilości 

z następujących czynników:

granica kontrolna lub naniesiony punkt są błędne.

proces przesunął się, albo w tym jednym punkcie w czasie (możliwe, że jako wyizolowany 

incydent), lub jako część trendu.

zmienił się system pomiarowy (np. inny przyrząd lub inspektor).

110

background image

        Rys.42. Karty 

X

 - przebiegi.

111

background image

Wzory lub Trendy Pomiędzy Granicami Kontrolnymi - Obecność nietypowych wzorów 

lub trendów może świadczyć o braku sterowania w okresie występowania tego wzoru lub 

trendu. Pomocne może być porównanie wzorów pomiędzy kartami rozstępów i średnich.

Przebiegi   - każda z następujących rzeczy jest sygnałem, że proces przesuwa się, lub że 

rozpoczął się trend:

7 punktów z rzędu po jednej stronie średniej.

7 punktów z rzędu, które konsekwentnie rosną, lub konsekwentnie maleją.

Oznacz punkt, który powoduje podjęcie decyzji; może być  pomocne przedłużenie linii 

odniesienia wstecz do początku przebiegu. Analiza powinna brać pod uwagę przybliżony 

czas, w którym okazało się, że rozpoczął się trend, lub zaczęło się przesunięcie systemu.

Przebieg będący w odniesieniu do średniej  z procesu ogólnie jest sygnałem jednego z 

następujących:

Średnia  zmieniła się - i wciąż może się zmieniać.

Zmienił się system pomiarowy (przesunięcie, odchylenie (bias), czułość itd.).

112

background image

      Rys.43. Karta 

X

 - Konfiguracje nieprzypadkowe.

113

background image

Wzory wyraźnie nielosowe    - Inne wyraźne wzory mogą również wskazywać obecność 

specjalnych przyczyn zmienności, chociaż należy zwracać uwagę na to, aby nadmiernie 

nie interpretować danych. Pomiędzy tymi wzorami są trendy, cykle i nietypowe rozrzuty 

punktów   pomiędzy   granicami   kontrolnymi,   oraz   zależności   pomiędzy   wartościami   w 

obrębie podgrup. Jedno z badań dla nietypowego rozrzutu jest podane poniżej:

Odległość punktów od średniej : Ogólnie, około 2/3 naniesionych punktów powinno leżeć 

w zakresie środkowej jednej trzeciej pomiędzy granicami kontrolnymi; około 1/3 punktów 

będzie leżało w zewnętrznych dwóch trzecich obszaru; około 1/20 punktów będzie leżało 

stosunkowo   blisko   granic   kontrolnych   (w   zewnętrznej   jednej   trzeciej   obszaru).   Także, 

istnieje prawdopodobieństwo, że około 1/150 może leżeć poza granicami kontrolnymi, ale 

ciągle będzie stanowić część stabilnego systemu będącego w stanie sterowania, tj. tylko 

około 99,73% punktów będzie leżało w zakresie pomiędzy granicami kontrolnymi.

Jeżeli znacznie więcej niż 2/3 punktów leży blisko średniej procesu (z 25 podgrup jeżeli 

więcej niż 90% jest w zakresie środkowej jednej trzeciej  obszaru granic kontrolnych), 

zbadaj jeden lub więcej z następujących elementów:

Granice kontrolne lub naniesione punkty zostały źle wyliczone, źle naniesione, lub źle 

przeliczone ponownie.

System lub metoda pobierania prób powoduje, że kolejne podgrupy zawierają pomiary 

z dwóch lub większej ilości bardzo różnych strumieni systemu (może to być wynik 

nadmiernej   regulacji   procesu,   którym   da   się   sterować,   gdy   zmiany   w   procesie   są 

wykonywane w odpowiedzi na losowe wahania danych z systemu).

Jeżeli   występuje   kilka   strumieni   systemu,   powinny   one   być   osobno   identyfikowane   i 

śledzone.

114

background image

          Rys. 44. Karty 

X

 i R - przeliczanie granic kontrolnych.

Dla   każdego   punktu   wskazującego   na   stan   poza   sterowaniem   w   danych   dla   średnich, 

przeprowadź analizę operacji procesu, aby ustalić powód specjalnej przyczyny; skoryguj 

115

background image

ten stan i zabezpiecz się przed jego powtórzeniem się. Użyj karty danych jako pomocy, 

gdzie taki warunek się rozpoczął  i jak długo trwał. Terminowość w analizowaniu jest 

ważna, zarówno dla diagnozowania, jak i dla zminimalizowania niezgodności na wyjściu. 

Ponownie, uważaj na to, że nie wszystkie specjalne przyczyny muszą być niepożądane.

Mogą tu być pomocne takie techniki rozwiązywania problemów jak analiza Pareto, oraz 

analiza przyczynowo - skutkowa .

Przy przeprowadzaniu początkowego badania systemu lub przy ponownej ocenie zdolności 

procesu,   wyklucz   wszelkie   punkty   będące   poza   sterowaniem,   dla   których   specjalne 

przyczyny  zostały  znalezione   i  usunięte;  przelicz   ponownie  i   nanieś  średnią   procesu  i 

granice   kontrolne.   Potwierdź,   że   wszystkie   punkty   danych   wskazują,   że   są   w   stanie 

sterowania   po   przyrównaniu   ich   do   nowych   granic,   powtarzając,   gdy   to   konieczne, 

sekwencję identyfikacji / korygowania / przeliczania.

Powyższe  rozważania  były  przeznaczone  dla  funkcjonalnego wprowadzenia  do analizy 

kart   kontrolnych.   Jednakże   są   i   inne   rozważania,   które   mogą   być   użyteczne   dla 

analizującego.  Jedną  z  najważniejszych  rzeczy  do zapamiętania  jest to,  że  nawet  przy 

procesie, który jest w stanie sterowania statystycznego, wraz z przeglądaniem większej 

liczby danych, stała szansa znalezienia fałszywych sygnałów o specjalnych przyczynach w 

którejś z pojedynczych podgrup zamienia się na rosnące prawdopodobieństwo znalezienia 

fałszywych sygnałów gdzieś na wykresie (wykresach).

Podczas, gdy rozsądnym jest zbadanie wszystkich zasygnalizowanych przypadków jako 

możliwych dowodów istnienia specjalnych przyczyn, należy zwrócić uwagę, że mogą one 

być   spowodowane   przez   system,   i   że   może   nie   istnieć   ukryty   za   nimi   żaden   lokalny 

problem   procesu.   Jeżeli   nie   znaleziono   wyraźnego   dowodu   wystąpienia   specjalnej 

przyczyny,   każde   działanie   „korygujące”   będzie   najprawdopodobniej   prowadziło   do 

zwiększenia,   niż   do     zmniejszenia,   całkowitej   zmienności   w   wyjściu   z   systemu 

pomiarowego.

116

background image

    Rys.45 Karty – rozszerzone granice.

117

background image

Jeżeli dane początkowe   w sposób konsekwentny utrzymują się w próbnych granicach 

kontrolnych, przedłuż te granice, aby objąć nimi przyszłe okresy. Może tu być potrzebne 

ustawienie procesu na cel, jeżeli środek procesu jest poza celami systemu. Granice te będą 

także używane dla bieżącego monitorowania procesu, gdzie operator lub lokalny nadzór 

reagują odpowiednio na sygnały o warunkach poza sterowaniem, albo na karcie 

X

, albo 

na karcie 

R

, oraz niezwłoczne podejmują właściwe działania.

Zmiana w wielkości prób podgrupy będzie wpływała na oczekiwany średni rozstęp i na 

granice   kontrolne,   równocześnie   dla   rozstępów   i   średnich.   Sytuacja   ta   mogła   by   się 

wydarzyć,   na   przykład,   gdy   podjęto   decyzję   o   pobieraniu   małych   prób   z   większą 

częstotliwością, tak aby szybciej wykrywać duże przesunięcia procesu, bez zwiększania 

ogólnej liczby próbek pobieranych w ciągu dnia. Aby dostosować linie centralne i granice 

kontrolne do nowej wielkości podgrupy, należy podjąć następujące kroki:

Oszacować średnie odchylenie standardowe procesu (oszacowanie jest oznaczane jako 

σ

 -

„sigma z daszkiem”). Stosując istniejącą wielkość podgrupy oblicz:

                       

/

σ =

R d

2

                                                                                              (58)

Gdzie  

R

  jest   średnią   dla   rozstępów   z   podgrup   (dla   okresów   z   rozstępami   w   stanie 

sterowania), a d

2

 jest stałą, zmieniającą się wraz z wielkością podgrupy, jak to pokazano w 

częściowej tablicy poniżej:

n

2

3

4

5

6

7

8

9

10

d

2

1,13

1,69

2,06

2,33

2,53

2,70

2,85

2,97

3,08

Używając współczynników wziętych z tabel dla d

2

, D

3

, D 

4

 i A

2

 opartych o nową wielkość 

podgrupy, wylicz nowy rozstęp i granice kontrolne:

R

nowe

 = 

σ

d

2                                                                                                                                        

(59)

UCL

R

 = D

4

R

nowe                                                                                                                              

(60)

LCL

R

 = D

3

R

nowe                                                                                                                               

(61)

UCL

X

X

 + A

2

R

nowe                                                                                                                

(62)

LCL

X

X

  - A

2

R

nowe                                                                                                                 

(63)

118

background image

Nanieś  te  nowe granice  kontrolne na wykres, jako podstawę dla bieżącego  sterowania 

systemem.

Tak   długo,   jak   system   pozostaje   w   stanie   sterowania   zarówno   dla   średnich,   jak   i   dla 

rozstępów, bieżące granice mogą zostać przedłużone na dodatkowe okresy. Jednak jeżeli 

wystąpi   oznaka,   że   średnia   procesu   lub   rozstęp   zmieniły   się   (w   dowolnym   kierunku), 

przyczyna tego powinna być ustalona, i, jeżeli zmiana jest uzasadniona, granice kontrolne 

powinny być ponownie przeliczone, w oparciu o bieżące osiągi.

„Doskonały stan sterowania nie jest nigdy osiągalny w procesie produkcyjnym. Celem kart 

kontrolnych   procesu   nie   jest   perfekcja,   ale   rozsądny   i   ekonomiczny   stan   sterowania. 

Dlatego też, dla celów  praktycznych,  proces w stanie sterowania to nie taki, gdzie na 

karcie nigdy nie wychodzi poza sterowanie. Gdyby zapis na karcie nigdy nie wychodził 

poza   stan   sterowania,   poważnie   byśmy   się   zastanawiali,   czy   ta   operacja   powinna   być 

nanoszona na kartę. Dla celów produkcyjnych za sterowany proces będzie się uważać taki, 

w którym tylko niewielki procent punktów będzie znajdował się poza sterowaniem, i gdzie 

po   wystąpieniu   punktów   poza   sterowaniem   będzie   przeprowadzane   odpowiednie 

działanie.” 

119

background image

SYSTEM   ZDOLNY   DO   SPEŁNIENIA   WYMAGAŃ   (POTENCJALNIE   CAŁE 

WYJŚCIE   JEST   W   GRANICACH   SPECYFIKACJI)   Z   RÓŻNIĄCYMI   SIĘ 

POZIOMAMI ZMIENNOŚCI

LSL – dolna granica specyfikacji

USL – górna granica specyfikacji

SYSTEM   ZDOLNY   DO   SPEŁNIANIA   SPECYFIKACJI   (WYJŚCIE   JEST 

WYTWARZANE POZA JEDNĄ LUB OBYDWOMA GRANICAMI SPECYFIKACJI)

ODCHYLENIE STANDARDOWE I ZAKRES (DLA DANEJ WIELKOŚCI PRÓBY. IM 

WIĘKSZY   JEST   ŚREDNI   ROZSTĘP  R,   TYM   WIĘKSZE   JEST   ODCHYLENIE 

STANDARDOWE)

Rys.46. Spełnieni wymagań w systemach zdolności

120

background image

Z   PRZYKŁADU   (SZACOWANIE   ODCHYLENIA   STANDARDOWEGO     ZE 

ŚREDNIEGO ROZSTĘPU)

R

=

.169

n

=

5

d2

=

2.33

=

R/d2 = .169/2.33 = .725

X

=

.738

LSL

=

.500

USL =

.900

Rys. 47. Zmienność systemu w odniesieniu do granic specyfikacji.

121

background image

Oczywiście,   są   różne   poziomy   lub   stopnie   sterowania   statystycznego.   Używana 

definicja sterowania może zawierać się między zwykłymi punktami nieprzystającymi 

(punktami poza granicami kontrolnymi), poprzez przebiegi, trendy lub nawarstwienia, 

aż do pełnej analizy strefy. Gdy używana definicja sterowania rozwija się aż do pełnej 

analizy strefy,  prawdopodobieństwo wykrycia  braku sterowania rośnie (na przykład, 

proces bez punktów poza granicami może wykazać brak sterowania przez oczywisty 

przebieg  utrzymujący się ciągle  pomiędzy  granicami  kontrolnymi).  Z tego  powodu, 

używana   definicja   sterowania   powinna   być   konsekwentna   z   twoją   możliwością 

wykrywania tego w punkcie sterowania, i powinna pozostać taka sama w ciągu jednego 

przedziału czasu, w obrębie jednego procesu. Niektórzy dostawcy mogą nie być zdolni 

do zastosowania pełniejszej definicji sterowania na poziomie produkcyjnym na bazie 

czasu   rzeczywistego   z   uwagi   na   niedojrzałe   stadia   szkolenia   operatorów   lub   braku 

„unaukowienia” zdolności operatorów. Zdolność do stwierdzenia braku sterowania w 

punkcie sterowania i w czasie rzeczywistym jest korzyścią płynącą z kart kontrolnych. 

Nadmierna interpretacja danych jest niebezpieczeństwem w utrzymaniu prawdziwego 

stanu sterowania ekonomicznego.

5.6 Interpretacja dla zdolności systemu.

Dla   kontynuowania   przykładu   ,   interpretacja   dla   zdolności   procesu   może   być 

omówiona, przy następujących założeniach:

System jest statystycznie stabilny.

Pojedyncze pomiary z procesu odpowiadają rozkładowi normalnemu.

Specyfikacje inżynierskie lub inne, dokładnie reprezentują potrzeby klienta.

Zaprojektowana wartość celowa jest w środku zakresu specyfikacji.

Zmienność pomiarów jest stosunkowo mała.

Po ustaleniu, że system jest w stanie sterowania statystycznego, pozostaje ciągle pytanie, 

czy system   jest zdolny do spełniania potrzeb klienta. Dla zrozumienia i doskonalenia 

zdolności   systemu   pomiarowego,   musi   nastąpić   istotna   zmiana   w   sposobie   myślenia: 

zdolność   odzwierciedla   zmienność   spowodowaną   zwykłymi   przyczynami   i   działanie 

kierownictwa na system jest prawie zawsze wymagane, dla polepszenia zdolności 

122

background image

Ocenianie  zdolności procesu zaczyna  się po tym,  gdy problemy dotyczące  sterowania, 

ujawnione   zarówno   na   katach   X   jak   i   R   zostały   rozwiązane   (specjalne   przyczyny 

zidentyfikowane, przeanalizowane, skorygowane i zabezpieczone przed ich powtórzenie 

się);   a   bieżące   karty   kontrolne   odzwierciedlają   proces   który   jest   w   stanie   sterowania 

statystycznego najlepiej dla 25 lub więcej podgrup. Ogólnie, rozkład wyjścia procesu jest 

porównywany ze specyfikacjami inżynierskimi dla stwierdzenia, czy specyfikacje te mogą 

być spełnione w sposób trwały.

Jest wiele technik dla oceniania zdolności systemu, który jest w sterowaniu statystycznym. 

Pewną oceną jest to, czy wyjście z procesu ma dzwonowy rozkład normalny. Jeżeli nie jest 

widocznym  czy rozkład jest normalny,  badanie  czy jest on normalny należy wykonać 

przez   przeglądnięcie   histogramu,   naniesienie   go   na   arkusz   rozkładu   normalnego,   lub 

stosując   dokładniejsze   metody.   Jeżeli   nienormalność   rozkładu   jest   domniemana   lub 

potwierdzona,   należy zastosować  bardziej  elastyczne  metody,   takie  jak przekształcenie 

danych   dla   jego   „znormalizowania”,   skomputeryzowane   dopasowanie   krzywych   lub 

analizę graficzną. Jeżeli kształt rozkładu jest normalny, może być zastosowana technika, 

która   jest   opisana   poniżej.   Obejmuje   ona   proste   wyliczenia   oparte   o   dane   z   kart 

kontrolnych, Średnia procesu

X

 jest używana jako miara położenia procesu. Jako miara 

rozrzutu   stosowane   jest   odchylenie   standardowe,   szacowane   z   prostego   wzoru 

obejmującego średni rozstęp R.

123

background image

124

Z przykładu:

X

= .738

σ

ˆ

= .0725

USL= .900
SLS= .500

Kiedy proces ma dwustronne tolerancje:

23

.

2

0725

.

162

.

0725

.

738

.

900

.

ˆ

=

=

=

=

σ

X

USL

Z

USL

28

.

3

0725

.

238

.

0725

.

500

.

738

.

ˆ

=

=

=

=

σ

LSL

X

Z

LSL

Z

min

= 2.23

Proporcje przypadków poza specyfikacją będą:

USL

Z

P

=.0129 (dane z tabeli znajdującej się w Załączniku F)

LSL

Z

P

=.0005 (dane z tabeli znajdującej się w Załączniku F)

P

całk

 = .0134 (około 1,3%)

Wskaźnik zdolności będzie :

74

.

3

23

.

2

3

min

=

=

Z

C

pk

(=minimum z CPU lub CPL)

UWAGA: Tylko dla celów porównawczych są użyte inne wskaźniki (patrz str.80)
C

P

 = .92, P

P

 = .88, CPU = .74, CPL = 1.06, i P

pk

 = .71, liczone w następujący sposób:

92

.

)

0725

(.

6

5

.

9

.

ˆ

6

2

/

=

=

=

d

R

p

LSL

USL

C

σ

   

X

=

=

=

=

=

=

80

1

2

0759

.

79

)

738

.

(

ˆ

,

88

.

)

0759

(.

6

5

.

9

.

ˆ

6

i

i

S

p

x

gdzie

LSL

USL

P

σ

σ

74

.

)

0725

(.

3

738

.

900

.

ˆ

3

2

/

=

=

=

d

R

X

USL

CPU

σ

09

.

1

)

0725

(.

3

500

.

738

.

ˆ

3

2

/

=

=

=

d

R

LSL

X

CPL

σ

71

.

3

0759

.

/

162

.

3

ˆ

/

)

738

.

900

(.

=

=

=

σ

pk

P

Stosunki zdolności wynoszą: CR = 1.09, PR = 1.14, wyliczone w następujący sposób:

09

.

1

5

.

9

.

)

0725

(.

6

ˆ

6

/

1

2

/

=

=

=

=

LSL

USL

C

CR

d

R

p

σ

14

.

1

5

.

9

.

)

0759

(.

6

ˆ

6

/

1

=

=

=

=

LSL

USL

P

PR

S

p

σ

Jeżeli ten proces może być wyregulowany do środka specyfikacji, proporcja części 
leżących poza jedną lub obiema granicami specyfikacji może być zredukowana
nawet bez zmiany 

σ

ˆ

. Np. jeżeli potwierdzi się kartami kontrolnymi że 

n

n-1

background image

 Wyliczanie odchylenia standardowego systemu.

Ponieważ   zmienność   systemu   między   podgrupami   znajduje   swoje   odzwierciedlenie   w 

rozstępach   tych   podgrup,   oszacowanie   standardowego   odchylenia   procesu  

σ

ˆ

(sigma   z 

daszkiem) może opierać się na średnim rozstępie 

R

.

σ

d

/

2

 =

σ

d

/

2

gdzie 

R

 jest średnim rozstępem dla podgrupy (dla czasu gdy rozstępy są w sterowaniu), a 

d

2

 jest wartością stałą zależną od wielkości próby.

n

2

3

4

5

6

7

8

9

10

d

2

1.13

1.69

2.06

2.33

2.53

2.70

2.85

2.97

3.08

Oszacowanie standardowego odchylenia  systemu(

σ

d

/

2

  ) może  być  przydatne  przy 

ocenianiu   zdolności   procesu     tak   długo   jak   i   rozstępy   i   średnie   są   w   sterowaniu 

statystycznym.

Zdolność może być przedstawiona jako odległość średniej  od granicy specyfikacji w jedno 

ostkach odchylenia standardowego, Z. Przy rysowaniu wykresu, który będzie przedstawiał 

krzywą rozkładu, pomocne będą wartości 

X

2

/

ˆ

d

R

σ

, granice specyfikacji i wartość Z.

Dla   tolerancji   jednostronnej   wylicz:  

2

/

ˆ

d

R

X

USL

Z

σ

=

lub  

2

/

ˆ

d

R

LSL

X

Z

σ

=

,   które   jest 

odpowiednie

gdzie SL = granica specyfikacji,  

X

= zmierzona średnia procesu i  

2

/

ˆ

d

R

σ

= oszacowane 

odchylenie standardowe procesu.

Dla tolerancji dwustronnych, wyliczamy:

2

/

ˆ

d

R

USL

X

USL

Z

σ

=

 

             

 

2

/

ˆ

d

R

LSL

LSL

X

Z

σ

=

 

(64)

Z

min

 = Minimum Z

USL

 lub Z

LSL

gdzie USL, LSL = górne lub dolne granice specyfikacji; ujemna wartość Z pokazuje, że 

średnia  znajduje się poza specyfikacją.

125

background image

Wartości   Z   wraz   z   tabelą   standardowego   rozkładu   normalnego     mogą   być   użyte   do 

oszacowania   proporcji   wyjścia,   które   będzie   poza   którąś   specyfikacją   (przybliżona 

wartość, przy założeniu, że proces znajduje się w sterowaniu statystycznym i ma normalny 

rozkład).

Dla tolerancji jednostronnej. Jednostki i liczby dziesiętne znajdują się po lewej stronie 

a liczby setne na górze. Liczby znajdujące się na przecięciu kolumny i rzędu to p

Z

proporcje znajdujące się poza specyfikacją. Na przykład dla Z = 1.56 przecięcie się 

rzędu 1.5 i kolumny x.x6 daje p

Z

=.0594, lub około 6%.

126

background image

Rys.48.  Przebieg zdolności systemu.

127

Z przykładu:

Jeżeli wymaganie co do zdolności, wyrażone poprzez Z min, było Z min > 4, wtedy bieżąca zdolność wyrażanie przez Z min będzie nie do przyjęcia 
gdyż Z min = 2.23 i około 1,3% wyjścia jest poza specyfikacją; nawet jeżeli proces mógłby być wycentrowany, Z min = 2.76. Musi być podjęte 
działanie.

dla   poprawienia  aktualnej   zdolności   procesu   (cel  długoterminowy),   zredukowana   musi   być   zmienność   od   zwykłych   przyczyn;   będzie  to 
mierzone jako mniejsze 

σ

Aktualna średnia procesu X jest używana do wyliczania zakresu koniecznego dla Z min = 4 odnoszącego się do istniejącej specyfikacji:

     USL – X

     X - LSL

σ

 nowe = ------------------

lub

σ

 nowe = ------------------

    Z min nowe

   Z min nowe

Zależnie od tego, która granica specyfikacji jest bliżej średniej procesu. Jako, że tutaj

bliżej jest USL:

    0,900 – 0,738

         0,162

σ

 nowe = ----------------------- = --------------- = 0,0405

4

4

oznacza to, że muszą być podjęte działania dla ograniczenia odchylenia standardowego procesu z 0,0725 do  0,0405, co oznacza poprawienie o około 

44%.

Jeżeli zostanie potwierdzone przy pomocy kart kontrolnych, że proces został wycentrowany i X nowe = 0,700, zakres procesu niezbędny dla Z min = 

4(X + 4

σ

), oparty na istniejących specyfikacjach, będzie wynosić:

     USL – X nowa

         0,900 – 0,700 0,200

σ

 nowe = ------------------------ = ----------------------- = -------------- = 0,0500

      Z min nowe

    4

   4

background image

Dla tolerancji dwustronnej wylicz osobno proporcje znajdujące się poza górną i dolną 

granicą specyfikacji. Na przykład, jeżeli Z

USL

 = 2.21 i Z

LSL

 = -2.58, całkowita ilość poza 

specyfikacją wynosi

0158

.

0

022

.

0

0136

.

0

=

+

=

+

LSL

USL

Z

Z

P

P

, lub około 1,6%.

Wartość Z

min

 może także być przekształcona we wskaźnik zdolności, C

pk

, zidentyfikowany 

jako:

=

=

3

min

Z

C

pk

minimum z CPU 



2

/

ˆ

3

.

d

R

X

USL

tj

σ

lub CPL 



2

/

ˆ

3

.,

d

R

LSL

X

tj

σ

gdzie USL i LSL są górną i dolną granicą specyfikacji inżynieryjnych,  

X

jest średnią z 

procesu   i  

σ

ˆ

jest   odchyleniem   standardowym   procesu,   wyliczonym   przy   zastosowaniu 

wzoru 

2

d

R

.

Proces z Z

min

 = 3 będzie miał wskaźnik zdolności C

pk

 = 1.00. Jeżeli Z

min

 = 4, proces będzie 

miał

C

pk

= 1.33.

W tym miejscu system został doprowadzony do stanu sterowania statystycznego a jego 

wskaźnik   zdolności   został   opisany   w   postaci   Z

min

  lub   C

pk

.   Następnym   krokiem   jest 

ocenianie zdolności procesu z punktu widzenia spełnienia wymagań klienta.

Fundamentalnym   celem   jest   nigdy   nie   kończące   się   doskonalenie   systemu.   Jednakże 

priorytety muszą być tak ustalone, aby po ustaleniu, które wymagają najszybszych zmian, 

im poświęcić najwięcej uwagi. Jest to decyzja podstawowa i ekonomiczna. Okoliczności 

zmieniają się od przypadku do przypadku, zależnie od rodzaju rozpatrywanego systemu 

oraz   osiągów   innych   systemów,   które   także   mogą   zasługiwać   na   objęcie   ich 

natychmiastowymi działaniami doskonalącymi.

Podczas gdy każda decyzja może być rozważana indywidualnie, często pomocnym jest 

używanie   szerszych   wytycznych   dla   ustalania   priorytetów   i   promowania   spójności   w 

wysiłkach związanych z doskonaleniem. Na przykład, niektóre procedury odwołują się do 

wymagań   zdolności   procesu   poprzez   granice   Z

min

3   lub   C

pk

 

1.00,   a   dalej   ustalają 

128

background image

wymagania   dotyczące   wskaźnika   zmienności   Z

min

 

4   lub   C

pk

 

1.33   dla   nowych 

procesów,   oddziałujących   na   wybrane   istotne     charakterystyki   wyrobu.   Wymagania   te 

mają na celu zapewnienie minimalnego poziomu, który jest spójny dla charakterystyk, 

wyrobów i środków wytwarzania. Jednak, dla lepszego zrozumienia i interpretacji C

pk

  i 

innych miar procesu, odnoszących się do ustalenia wymagań dla pomiarów, prosimy o 

zapoznanie się z Rozdziałem 5 tego działu.

Zarówno, w odpowiedzi na nie spełnienie kryterium wskaźnika zdolności jak i dla ciągłej 

potrzeby optymalizacji kosztów oraz osiągów jakościowych, ponad poziom wymagań dla 

minimalnego wskaźnika zdolności, wymagane działania są takie same:

Doskonalenie  osiągów  systemu  przez zredukowanie zmienności,  która pochodzi  od 

zwykłych przyczyn, lub przesunięcie średniej procesu bliżej celu. Zazwyczaj oznacza 

to podjęcie działania przez kierownictwo dla doskonalenia systemu.

W   tych   przypadkach   gdzie   potrzebne   jest   szybsze   działanie   dla   spełnienia   krótko   – 

terminowych potrzeb, mogą być zastosowane dwa rozwiązania:

Sortuj wyjście i złomuj lub naprawiaj stosownie do potrzeb (w ten sposób zwiększając 

koszty i tolerując straty)

Zmień specyfikacje dla dostosowania ich do osiągów  (nie poprawia to ani systemu, ani 

nie zwiększa satysfakcji klienta)

W   celu   poprawienia   zdolności   systemmu,   musi   być   poświęcona   większa   uwaga 

redukowaniu zwykłych przyczyn. Działania muszą być ukierunkowane na system, uwaga 

powinna być poświęcona tym podstawowym czynnikom , które liczą się w zmienności, 

takim jak: maszyny,  jednorodność materiałów na wejściu, podstawowe metody według 

których działa proces, metody szkolenia lub środowisko pracy. Zazwyczaj, przyczyny te, 

związane   z   systemem,   powodujące   niewystarczającą   jego   zdolność,   mogą   leżeć   poza 

możliwością skorygowania ich przez operatorów lub bezpośredni dozór. Odwrotnie, mogą 

one   wymagać   interwencji   kierownictwa   w   celu   dokonania   zasadniczych   zmian, 

rozdzielenie zasobów oraz przeprowadzeniu działań koordynacyjnych, koniecznych przy 

doskonaleniu ogólnych osiągów systemu. Próby skorygowania systemu poprzez lokalne 

działania w małym zakresie, nie będą skuteczne.

129

background image

Rozważania dotyczące technik analizy zmienności systemu są ujęte w szeregu odsyłaczy 

wyszczególnionych   w   Załączniku   H.   Użyteczne   mogą   tu   być   podstawowe   techniki 

rozwiązywania   problemów,   takie   jak   analizy   Pareto   lub   przyczynowo   –   skutkowe   . 

Jednakże,   dla   uzyskania   istotnego   obniżenia   zmienności   może   być   konieczne   użycie 

bardziej zaawansowanych metod analizy procesu, takich jak np. techniki statystyczne czy 

też planowanie eksperymentów.

Po przeprowadzeniu systematycznych  działań  dotyczących  procesu, ich efekt powinien 

być   uwidoczniony   na   kartach   kontrolnych.   Karty   staną   się   sposobem   służącym   do 

weryfikacji efektywności działania.

Gdy wdrożone zostaną zmiany , karty kontrolne powinny być uważnie monitorowane. Ten 

okres zmian może powodować zakłócenia w operacjach , potencjalnie powodując nowe 

problemy w sterowaniu, które mogą zaciemniać efekt zmian w systemie.

Po usunięciu wszelkich niestabilności okresu zmian, należy ocenić nową zdolność procesu 

i stosować ją jako podstawę dla nowych  granic kontrolnych  w przyszłych  operacjach. 

Zazwyczaj   25   podgrup   danych   zebranych   po   wprowadzeniu   zmian   jest   wystarczającą 

ilością dla ustalenia nowych granic kontrolnych.

130

background image

ZBIERANIE DANYCH                    GRUBOŚĆ PODKŁADU (Mils)

WIELKOŚĆ PRÓBY – 10 KOLEJNYCH SZTUK DWA RAZY DZIENNIE

1-11

1

2

1-12

1

2

1-13

1

2

1-14

1

2

1-15

1

2

1-18

1

2

1-19

1

2

1

1.30 1.01 1.22 1.08

.98

1.12

.92

1.04

1.08

1.20

1.25

1.24

1.13

1.08

2

1.10 1.10 1.05 1.12

1.30

1.30

1.10

1.14

.92

1.13

.91

1.34

1.16

1.31

3

1.20 1.15 .93

1.11

1.31

1.01

1.13

1.18

1.14

1.19

.96

1.40

1.12

1.12

4

1.25 .97

1.08 1.28

1.12

1.20

1.02

1.12

1.20

1.16

1.04

1.26

1.22

1.18

5

1.05 1.25 1.15 1.00

1.08

1.11

.93

1.00

1.02

1.03

.93

1.13

1.12

1.15

6

.95

1.12 1.27 .95

1.10

.93

1.17

1.02

1.04

1.25

1.08

1.15

1.07

1.17

7

1.10 1.10 .95

1.15

1.15

1.02

1.24

1.05

.94

1.20

1.29

1.08

1.04

.98

8

1.16 .90

1.11 1.14

1.35

1.25

.98

1.34

1.05

1.24

1.42

1.02

1.28

1.05

9

1.37 1.04 1.12 1.28

1.12

1.05

1.34

1.12

1.12

1.10

1.10

1.05

1.12

1.00

10

.98

1.08 1.10 1.31

1.26

1.10

1.12

1.05

1.06

1.03

1.00

1.18

1.10

1.26

x

1.15 1.07 1.10 1.14

1.18

1.11

1.10

1.11

1.06

1.15

1.10

1.19

1.14

1.13

S

.136 .098 .106 .120

.121

.115

.136

.101

.086

.079

.170

.125

.070

.107

1-20

1-21

1-22

1

2

1

2

1

2

1

1.08 1.14 1.06 1.14

1.07

1.13

2

1.26 1.02 1.12 1.22

1.05

.90

3

1.13 1.14 .98

1.18

.97

1.12

4

.94

.94

1.12 1.27

1.05

1.04

5

1.30 1.30 1.20 1.17

1.16

1.40

6

1.15 1.08 1.02 1.26

1.02

1.12

7

1.07 .94

1.19 1.15

1.02

1.15

8

1.02 1.12 1.03 1.07

1.14

1.01

9

1.22 1.15 1.02 1.02

1.07

1.30

10

1.18 1.36 1.09 1.36

1.00

1.14

x

1.14 1.12 1.08 1.18

1.06

1.13

S

.111 .137 .074 .099

.059

.141

Rys.49. zbieranie danych.

6. ANALIZA ZDOLNOŚCI SYSTEMU

131

background image

6.1 Analiza zdolności systemu momentu wkręcania.

Rys.50. Wygląd wkrętarki typu Mona

Rys.51. Rura aluminiowa z zaworkiem

132

background image

Rys.52. Wkręcanie zaworka na wkrętarce typu Mona

Rys.53. Wkręcanie zaworka.

133

background image

Rys.54. Wyrób gotowy.

134

background image

Rys. 55 Karta kontrolna

135

background image

Rys. 56 Karta kontrolna

136

background image

Rys. 57 Karta kontrolna

137

background image

Rys. 58 Karta kontrolna

138

background image

7. PODSUMOWANIE I WNIOSKI.

 * Prawidłowe nadzorowanie procesu produkcyjnego wymaga zastosowania 

zwalidowanych metod i przyrządów systemów pomiarowych. Jeśli proces produkcji jest 

poddany obserwacji za pomocą pewnego narzędzia pomiarowego, wówczas wyniki 

pomiaru przedstawiają nie tylko wartości wyrobu powstałe podczas produkcji. Każdy 

pojedynczy wynik pomiaru pochodzi bowiem z nałożenia rzeczywistej wartości 

właściwości i zmienności działania narzędzia pomiarowego. A więc zaobserwowany 

rozrzut pochodzi z nałożenia nieznanego rozrzutu rzeczywistego procesu oraz znanego 

rozrzutu procesu pomiarowego.

* Żeby ocenić prawidłowość produkcji musimy zminimalizować ryzyko niewłaściwego 

postępowania przy pomiarach miedzy innymi musimy zadbać o dokładność tych pomiarów 

a to wymaga miedzy innymi walidacji stosowanych metod przyrządów pomiarowych.

* Niepewność pomiaru może mieć ujemny wpływ na przebieg oceny procesu produkcji 

stwierdzająca, że narzędzie pomiarowe o niepewności zakresie 10%-20% tolerancji nadaje 

się do zastosowania, nie może być użyta do oceny i sterowania procesem produkcji 

metodami statycznymi.

* Poprawność wniosków z wyników zastosowania testów „t” i „f” zależy od tego że 

rozkłady wyników pomiarów podlegają rozkładowi normalnemu w przeciwnym razie 

wnioskowanie będzie obarczone dużym ryzykiem błędu z tego względu poleca się przed 

walidacją wspomnianymi testami dokonać oceny co do normalności badanego rozkładu. 

* Częstość przeprowadzania dowodów zdolności zależy od wyników badania i stabilności 

systemu pomiarowego. Częste kontrole są wymagane gdy wynik dowodu leży blisko albo 

wychodzi poza granice zdolności.

* Dowód przydatności przyrządów pomiarowych można zaniedbać jeżeli oczekiwania 

niepewności pomiarów jest wystarczająco mała w stosunku do tolerancji cechy.

* Istniejące normy nie zawierają informacji w jaki sposób przeprowadzać proces walidacji.

Jednak dotychczasowa praktyka wskazuje ze stosowania odpowiednich metod 

statystycznych jest uzasadniona. Z uwagi na fakt, że w praktyce do przeprowadzania 

walidacji wykorzystać można niepełną informacje o wynikach pomiarów (ograniczona 

liczba pomiarów, niepewność pomiarowa, niedokładność wzorca itp.)jest to podejście w 

pełni uzasadnione.

* Z przeprowadzonej analizy wynika, że nie istnieje jedna uniwersalna metoda. Każde 

nadanie walidacyjne pomiaru powinno być rozważane z uwzględnieniem jego 

139

background image

indywidualnego charakteru. Z reguły należy wybrać kilka równoległych testów 

statystycznych.

* Nawet stosunkowo proste metody, układy lub systemy pomiarowe wymagają 

specjalnego podejścia przy walidowaniu bowiem należy analizować poszczególne 

składniki systemu np. metodą PN-EN14253-2

* Dość rozpowszechniona metoda R&R jest dosyć praktycznym narzędziem walidacji ale 

wymagają w praktyce  wspomagania komputerowego( z uwagi na dużą liczbę obliczeń ). 

Wymaga ona ponadto pewnej wiedzy dla zinterpretowania otrzymanych wyników.

Nie nadaje się ona do zastosowania dla metody opartej o alternatywną ocenę właściwości.

140

background image

8. LITERATURA

[1].  Dietrich   E.   ,   Schulze   A.   „Metody   satystyczne   w   kwalifikacji   środków 

pomiarowych maszyn i procesów produkcyjnych” Notika System Czerwiec2005r.

[2].  Arendarski   J.,   Gliwa-Gliwiński   J.,   Jabłoński   Z.,   Ratajczyk   E.,   Tomasik   J., 

Żebrowska-Łucyk S. „Sprawdzanie przyrządów do pomiaru długości i kąta” pod 

redakcją   Jana   Tomasika.   Oficyna   Wydawnicza   Poliechniki   Warszawskiej 

Warszawa 2003.

[3]. Praca zbiorowa „Ocena i kontrola jakości wyników pomiarów analitycznych” pod 

redakcją Konieczki P.,  i Namieśnika J..

[4]. Norma ISO 5725-6: 1994(E) 

[5].  „ Statystyczne sterowanie procesem SPC” wydana przez „Chrysler Corporation, 

Ford Motor Company, General Motors Company ”  

[6]. PN-ENV ISO 14253-2 “Część druga. Szacowanie niepewności pomiaru GPS przy 

wzorcowaniu sprzętu pomiarowego kontroli wyrobów PKN Warszawa 2006”;

[7]. Polska norma PN-EN ISO/IEC 17025 

[8]. Piotrowski J. , Kostyrka K. „Wzorcowanie aparatury pomiarowej”

141


Document Outline