background image

Kontrola nośności podłoża gruntowego 

i warstw z kruszywa 

 

mgr inż. Dawid Ryś 
dawid.rys@wilis.pg.gda.pl

 

background image

Badanie płytą statyczną VSS 

background image

Nośność podłoża gruntowego  

Moduł odkształcenia wg PN-S-02205 

Moduł odkształcenia bada się 

metodą obciążeń płytowych.  

Średnica płyty wynosi 300 mm.  

nacisk na płytę [MPa] 

Za

ębieni

yty

 [mm]

 

E

1

 

– pierwotny moduł 

odkształcenia, MPa 
E

2

 

– wtórny moduł 

odkształcenia, MPa 

background image

  Moduł odkształcenia jest wyliczany z następującego 

wzoru: 

   

 

E =  ¾ (

p/

s) D 

  w którym: 

p – przyrost obciążenia (ciśnienia) [MPa], 

s – przyrost odkształcenia (osiadania płyty) [m], 

D – średnica płyty obciążającej [m]. 

  Z pierwszego obciążenia wylicza się pierwotny moduł 

odkształcenia (E

1

) a z drugiego wtórny moduł 

odkształcenia (E

2

).  

Moduł odkształcenia - definicja 

background image

Wymagane wartości wtórnego modułu 

odkształcenia - nasyp 

   

background image

Wymagane wartości wtórnego modułu 

odkształcenia - wykop 

background image

  Orientacyjne wartości wtórnego modułu odkształcenia 

(E

2

) osiągane dla gruntów: 

pospółka – 100 ÷ 120 MPa,  

piasek - 60 ÷ 100 MPa,  

piasek gliniasty/glina piaszczysta - 30 ÷ 60 MPa, 

glina - 10 ÷ 30 MPa,  

grunty organiczne, spoiste pl/mpl - 1 ÷ 10 MPa. 

  W przypadku gruntów spoistych nośność (E

II

) zależy w 

decydującym stopniu od wilgotności naturalnej i 
spoistości (stopnia plastyczności).  
 

Orientacyjne wartości wtórnego modułu 

odkształcenia 

background image

   
  
Zagęszczenie warstwy ocenia się na podstawie stosunku 

wtórnego i pierwotnego modułu odkształcenia.

  

 

I

o

 = E

2

/ E

  gdzie: 

I

o

 – wskaźnik odkształcenia, liczba niemianowana, 

E

2

 – wtórny moduł odkształcenia, 

E

1

 – pierwotny moduł odkształcenia.

  

Wskaźnik odkształcenia 

background image

  Kryteria według PN-S-02205 – wartość I

o

 nie powinna 

być większa od: 

dla żwirów, pospółek i piasków: 

2,2 jeżeli wymagana wartość Is 

 1,0  

2,5 jeżeli wymagana wartość Is < 1,0  

dla gruntów spoistych, drobnoziarnistych o równomiernym 

uziarnieniu (pyły, gliny, gliny pylaste, iły) – 2,0 

dla gruntów spoistych różnoziarnistych (żwiry gliniaste, 

pospółki gliniaste, pyły piaszczyste, piaski gliniaste, gliny 

piaszczyste) – 3,0 

narzutów kamiennych i rumoszy – 4,0 

Wskaźnik odkształcenia 

background image

Zadanie 

Na podstawie wyników z badań terenowych wyznacz 
moduł odkształcenia oraz wskaźnik zagęszczenia górnej 
warstwy nasypu wykonanego z piasku. 

Oceń nośność i 

zagęszczenie warstwy (Droga Ekspresowa) 

Me

I

 

  

  

  

  

  

  

Obciążenie 

0,00 

0,05 

0,10 

0,15 

0,20 

0,25 

Osiadanie 

0,00 

0,39 

0,80 

1,12 

1,56 

1,90 

Odprężanie 

1,04 

1,54 

  

1,77 

  

1,90 

Me

II

 

  

Obciążenie 

0,00 

0,05 

0,10 

0,15 

0,20 

0,25 

Osiadanie 

1,04 

1,35 

1,53 

1,68 

1,85 

2,05 

background image

Dynamiczny moduł odkształcenia 
 

- płyta dynamiczna ZFG 2000 

background image

Płyta bazowa o masie 15 kg i średnicy 300 mm, 

Geofon do pomiaru osiadania płyty zintegrowany z 
płytą, 

Ubijak udarowy o masie 10 kg, 

Prowadnica o masie 5 kg, 

Amortyzator: system talerzowy, 

Urządzenie pomiarowe. 

Elementy urządzenia: 
 

background image

Elementy urządzenia: 
 

background image

Do badania nośności (E

vd

)

 

zagęszczanych warstw 

podłoża gruntowego, 

Początki zastosowania w budownictwie kolejowym. 

Zakres pomiaru od 10 do 125 MPa, 
 

Przeznaczenie: 

background image

Szybki pomiar – ok.. 3 min. na punkt pomiarowy, 

Wynik znany od razu, 

Możliwość bezpośredniej kontroli robót ziemnych, 

Brak konieczności zastosowania przeciwwagi, 

Pomiar możliwy na nasypach i miejscach 
trudnodostępnych, 

Zalety urządzenia: 

background image

Metodyka badania wykorzystuje zjawisko elastycznych 

odkształceń podłoża gruntowego pod wpływem 

dynamicznego naprężenia równego 0,1 MPa, 

Przemieszczenie (zagłębienie płyty) mierzone jest jako 

powracająca fala akustyczna do geofonu, 

Głębokość oddziaływania płyty odpowiada jej około 1,5 – 

krotnej średnicy, tzn. 40 do 50 cm, 

Dynamiczny moduł odkształcenia obliczany jest ze wzoru: 

Evd=1,5·r·σ/ s 

gdzie: 
r – promień płyty, r=150 mm, 
σ – naprężenie w podłożu pod płytą, σ=0,1 MPa, 
s – średnia amplituda odkształcenia, mm  

Zasada pomiaru: 

background image

Korelacja E

vd

 – E

E

E

vd 

[MPa] 

[MPa] 

120 

60 

100 

50 

80 

40 

45 

25 

30 

20 

background image

Badanie CBR „insitu” - sonda DCP 
 

- Dynamic cone penetrometer DCP 

background image

Dynamic cone penetrometer DCP  

Badanie polega na  

wprowadzeniu sondy  

poprzez nadanie wpędu  

młotem o masie 8 kg 

opadającego swobodnie z 

wysokości 575 mm 
 

Parametrem mierzonym jest 

wpęd sondy (zagłębienie) 

przypadające na jedno 

uderzenie bijaka sondy DCP 
 

background image

Dynamic cone penetrometer DCP  

Na podstawie badania określić można wartość wskaźnika 

CBR korzystając z następującego wzoru korelacji: