background image

1. 

Omówić 

rodzaje 

modeli 

elementów 

półprzewodnikowych. 

W zależności od zakresu amplitud : 

- wielkosygnałowe (globalne, lokalne) 

- małosygnałowe  

W zależności od zakresu częstotliwości : 

- stało-prądowe (D.C.) (sterowanie niezmienne w czasie) 

-  quasi-stałoprądowe  (  sterowanie  zmienne  w  czasie,  ale 

sygnał odp. nadąża za syg. pobudzenia)  

- zmienno-prądowe (A.C.) 

2. Co to jest punkt pracy elementu i prosta robocza. 

Prosta  robocza 

–  mając  dany  układ  możemy  narysować 

charakterystykę  i

A

  =  f(u 

AB

),  wyznaczając  z  prawa  Kirchhoffa 

zależność  i 

A

  od  u 

AB

  i  przeprowadzić  prostą  pomocniczą 

(roboczą), która określi nam punkt pracy elementu. 

Punkt  pracy

  –  jest  to  określenie  punktu  spoczynkowego 

(I

0

,U

0

),  czyli  określenie  wartości  prądu  i  napięcia  płynącego 

przez element w

 

stanie spoczynku. 

 

3.  Wyjaśnić  zasadę  tworzenia  modelu  małosygnałowego 

elementów półprzewodnikowych. 

Sposób  tworzenia  małosygnałowych  modeli  liniowych  dla 

m.cz. na podstawie charakterystyk statycznych: 

Dla małych przyrostów dla dwójnika możemy zapisać : 

 

pochodna  liczona  jest  w punkcie  spoczynkowym  (pracy)  P  o 

współrzędnych  I

D

,U

D

  .  Pochodna  ta  ma  sens  konduktancji 

różniczkowej  elementu.  Skończone  przyrosty  ze  wzoru 

można 

zastąpić 

małymi 

amplitudami 

przebiegu 

harmonicznego.  

Inną  metodą  jest  rozwinięcie  funkcji  opisującej  model 

statyczny w szereg Taylora i ograniczenie tego rozwinięcie do 

dwóch pierwszych wyrazów.  

Modele  małosygnałowe  dla  w.cz.  tworzy  się  uzupełniając 

modele  małosygnałowe  dla  m.cz.  elementami  inercyjnymi 

tzn.  pojemnościami,  które  modelują  wpływ  napięcia  na 

ładunek elektryczny w danym elemencie. 

4. Co to jest półprzewodnik samoistny i domieszkowany 

Półprzewodnik  samoistny

  –  półprzewodnik  czysty  ,  nie 

zawierający 

żadnych 

zanieczyszczeń 

(domieszek).W 

półprzewodniku  takim  znajdującym  się  w  temperaturze 

różnej  od  0  K,  należy  oczekiwać  pojawienia  się  swobodnych 

nośników  ładunku,  gdyż  niektóre  elektrony  z  pasma 

podstawowego 

mogą 

zyskać 

energię 

termiczną 

umożliwiającą  przejście  do  pasma  przewodnictwa.  Pod 

wpływem  wzrostu  temperatury  pojawiają  się  elektrony  w 

paśmie  przewodnictwa  i  dziury  w  paśmie  podstawowym  – 

jest  to  proces 

generacji  termicznej

  par  elektron-dziura. 

Jednocześnie występuje zjawisko odwrotne – „wyłapywanie” 

elektronów przez dziury, tzw. 

rekombinacja

. . Półprzewodnik 

samoistny  nie  ma  dodatkowych  poziomów  energetycznych 

w paśmie zabronionym. 

Półprzewodnik  domieszkowany  –  powstaje  poprzez 

wprowadzenie 

atomów 

innych 

pierwiastków 

do 

przewodnika (domieszkowanie). Rozróżniamy domieszki:  

akceptorowe  (III-wartościowe  :  bor,  gal,  glin),  dająca 

dodatkowe dziury  

donorowe  (V-wartościowe  :  fosfor,  arsen,  antymon),  dająca 

dodatkowe elektrony 

Wprowadzenie  domieszki  powoduje  generację  pary 

ruchomy nośnik - nieruchomy jon, oraz generację termiczną 

par nośników samoistnych. Występuje też rekombinacja.  

5.  Co  wiesz  na  temat  koncentracji  nośników  samoistnych, 

mniejszościowych 

większościowych 

materiale 

półprzewodnikowym. 

Koncentracja  nośników  samoistnych  n

to  ilość  nośników 

generowanych termicznie w jednostce objętości. 

 

W  danej  temperaturze,  z  dwóch  różnych  półprzewodników 

w  półprzewodniku  o  mniejszej  wartości  szerokości  przerwy 

energetycznej,  wartość  koncentracji  samoistnej  n

i

  jest 

większa.  Koncentracja  bardzo  silnie  rośnie  przy  wzroście 

temperatury. 

W półprzewodniku silnie domieszkowanym typu n nośnikami 

większościowymi są elektrony, 

W półprzewodniku silnie domieszkowanym typu p nośnikami 

większościowymi są dziury,  

6. Wymień i omów parametry materiałowe 

Czas  życia   

p

:  jest  to  czas  jaki  upływa  od  chwili  wyłączenia 

czynnika generującego, po którym nadmiarowa koncentracja 

nośników  maleje  e-krotnie  .  Dla  krzemu  współczynnik  ten 

wynosi od 10

-9

s do 10

-5

s. 

Średnia  droga  dyfuzji  nośników  L

p

  to  odległość  po  przejściu 

której  koncentracja  nadmiarowych  nośników  maleje  e-

krotnie w stosunku do wartości na oświetlanej powierzchni . 

Typowa wartość dla Si w 300K: od 10

-5

cm do 10

-3

cm. Między 

czasem  życia  a  średnią  drogą  dyfuzji  zachodzi  związek: 

L=(D*  )

1/2 

7.  Omów  temperaturowe  zależności  konduktywności 

materiału półprzewodnikowego. 

Konduktywność półprzewodnika samoistnego opisuje wzór: 

 

We  wzorze  tym  od  temperatury  zależy  koncentracja 

samoistna  n

i

  oraz  ruchliwość    (   ~  T

-3/2

).  Rośnie  ona 

exponencjalnie  przy  wzroście  temperatury,  praktycznie 

identycznie jak n

i

 , gdyż czynnik potęgowy T

3/2

 w funkcji n

i

 (T) 

jest  znacznie  mniej  istotny  niż  czynnik  wykładniczy. 

Temperaturowy 

współczynnik 

względnych 

zmian 

konduktywności krzemu samoistnego wyraża się wzorem: 

 

Konduktywność  półprzewodnika  silnie  domieszkowanego 

wyraża się zależnością: 

 

We wzorze tym od temperatury zależy tylko ruchliwość   (  

~  T

-3/2

).  Konduktywność  materiału  silnie  domieszkowanego 

maleje,  przy  wzroście  temperatury,  lecz  wyraża  się 

zależnością  potęgową,  znacznie  słabszą  od  zależności 

wykładniczej dla materiału samoistnego. 

 

 

8. Wyjaśnij pojęcie ”niski poziom wprowadzania nośników” 

Jest  to  taki  stan,  w  którym  koncentracja  nośników 

nadmiarowych  jest  dużo  mniejsza  od  koncentracji 

równowagowej  nośników  większościowych.  Aby  efekt 

zakłócenia 

był 

widoczny, 

koncentracja 

nośników 

nadmiarowych, 

musi 

przewyższać 

koncentrację 

równowagową  nośników  mniejszościowych.  Przy  niskim 

poziomie 

wprowadzania 

koncentracja 

nośników 

większościowych  nie  ulega  zmianie,  ale  zmienia  się 

koncentracja nośników mniejszościowych.  

9. Omów zasadę działania złącza nie spolaryzowanego oraz 

pojęcia: złącze metalurgiczne, napięcia kontaktowe, obszar 

ładunku przestrzennego 

Zetknięcie  dwóch  obszarów  n  i  p,  powoduje  powstanie 

gradientów  koncentracji  nośników  i  przepływ  prądów 

dyfuzyjnych. Elektrony przemieszczają się z obszaru n do p, a 

dziury  z  p  do  n.  Przepływ  nośników  powoduje  zachwianie 

równowagi 

elektrycznej, 

sąsiedztwie 

złącza 

metalurgicznego tworzy się warstwa, w której powstaje pole 

elektryczne.  Przeciwdziałające  dyfuzji  nośników.  Istnienie 

pola  powoduje  przepływ  prądów  unoszenia  obu  rodzajów 

nośników.  Prądy  te  mają  przeciwny  zwrot  i  identyczną 

wartość  bezwzględną  w  stosunku  do  odpowiadających  im 

prądów dyfuzji –przy braku polaryzacji suma prądów dyfuzji i 

unoszenia zarówno dla elektronów i dziur musi być równa 0 

[zero].  

Złącze  metalurgiczne 

–  płaszczyzna  między  obszarem  p  i  n, 

na której koncentracje obu rodzajów domieszek są równe (x 

= x

j

). Położenie tego złącza, mierzone w głąb podłoża, zależy 

od temperatury i czasu dyfuzji. 

 

Napięcie  kontaktowe(dyfuzyjne,  bariery,  wbudowane

)  – 

różnica  potencjałów  między  obszarami  p  i  n,  spowodowana 

istnieniem pola elektrycznego w warstwie zaporowej. Dla Si 

w 300K ~ 600 – 800mV. 

Dla złącza skokowego wyraża się wzorem:  

 

Napięcie U

B

 zależy od koncentracji domieszek i temperatury. 

Wyższy potencjał występuje w obszarze  

typu n. 

Obszar  ładunku  przestrzennego  (opróżniony,  przejściowy, 

warstwa  zaporowa)

  –  warstwa  nieobojętna  elektrycznie,  w 

pobliżu  złącza  metalurgicznego,  pozbawiona  nośników 

swobodnych, o której ładunku przestrzennym decydują jony 

domieszek.  Pozostała  część  złącza,  to  obszary  neutralne 

elektrycznie.  Obszar  opróżniony  wnika  głębiej  w  obszar 

słabiej domieszkowany. 

 

10Przedstaw  i  omów  charakterystykę  i(u)  złącza  idealnego 

(hasło: potencjał termiczny, prąd nasycenia): 

Założenia upraszczające dla złącza idealnego: 

- złącze skokowe 

- jednowymiarowy charakter zjawisk w złączu 

- niski poziom wprowadzania 

- pole elektryczne występuje tylko w warstwie zaporowej 

- pominięta rezystywność- obszarów neutralnych 

-  brak  procesów  generacji  –  rekombinacji  w  obszarze 

zaporowym 

- nie występują efekty przebicia 

Wzór  na  statyczną  charakterystykę  i  (u)złącza  idealnego  ma 

postać: 

 

Postać  graficzna  modelu  (skala  log  –  lin)  ch-ka  odcinkowo 

liniowa: 

 

W  charakterystyce  odcinkowo  liniowej  pomija  się  przepływ 

prądu  dla  napięć  zaporowych  i  przewodzących  do  wartości 

napięcia U

p

. Dla Si U

p

 wynosi od 600-800mV. 

 

Potencjał  termiczny  (U

T

)  –  parametr,  którego  wartość  zależy 

od  wartości  temperatury,  jego  wartość  dla  300K  wynosi 

25,8mV: 

 

Prąd  nasycenia  –  parametr,  którego  wartość  zależy  od 

temperatury, wartość zawiera się w przedziale : 

 

 

11. Omów model małosygnałowy złącza idealnego 

 

Mały przyrost prądu I

a

 diody opisanej wzorem i

A

=f(u

AB

) wokół 

punktu  pracy  o  współrzędnych  (I

0

;  U

0

)  jest  równy  różniczce 

funkcji opisującej zależność i od u: 

 

gdzie przewodność dyfuzyjna:  

 

Rezystancja  dyfuzyjna  (dla  małych  sygnałów  przyrostowa, 

dynamiczna) 

 

Dla  kierunku  przewodzenia  można  w  liczniku  pominąć  I

S

 

wobec prądu polaryzującego. Dla polaryzacji zaporowej, gdy i 

= -I

S

 rezystancja różniczkowa jest nieskończenie duża. 

Dla  małych  amplitud  sygnałów  harmonicznych  m.cz.  można 

zapisać dla złącza idealnego: 

 

Schemat  zastępczy  dla  modelu  małosygnałowego  m.cz.  to 

rezystor, którego wartość rezystancji zależy od punktu pracy 

(składowej stałej). 

 

Dla  dużych  częstotliwości  należy  uwzględnić  elementy 

inercyjne (pojemność dyfuzyjną i bariery):  

Y= g

d

 + j  (C

d

 + C

j

I

t

= I

a

 + I

dj 

= Y * U

ab 

|I

t

| = [ g

d

2

 +   

2

 ( C

d

 + C

j

)

2

]

1/2

 * U

ab 

 

12.  Zdefiniować  pojęcia:  pojemność  złączowa,  pojemność 

dyfuzyjna złącza. 

Poj.  dyfuzyjna  –  C

d

  –  reprezentuje  zależność  nośników 

mniejszościowych  na  brzegu  obszarów  neutralnych  od 

wielkości napięcia na złączu 

 

czyli Cd ~ i – prąd dyfuzyjny 

τ  –    czasu  przelotu  nośników  mniejszościowych  przez  bazę 

złącza  

czyli  C

d

  ~  Io  –  istnieje  praktycznie  dla  kierunków 

przewodzenia 

Poj.  złączowa  –  jest  związana  z  ładunkiem  nie 

skompresowanych  jonów  domieszek  domieszek  obszarze 

opóźnionym  złączu.  Formalnie  można  przypisać  tej  wartości 

pojemność  identyczną  jak  dla  kondensatora  płaskiego  o 

odległości między okładkami różnej d. 

 

 

 

13. Omówić właściwości diod rzeczywistych. 

Złącze  liniowe

    W  rzeczywistych  złączach  rozkład  domieszek 

opisany  zazwyczaj  jest  funkcją  exponencjalną.  Takie  złącze 

(liniowe) różni się od  skokowego inną zależnością szerokości 

warstwy  ładunku  przestrzennego  i  pojemności  złączowej  od 

napięcia  (występują  wykładnik  potęgowy  1/3  a  nie  1/2): 

(Wzór jak dla Cj tylko ze 3 przy piweriwastku) 

Wysoki  poziom  wprowadzania

  –  dla  dużych  gęstości  prądu 

koncentracja  mniejszościowych  nośników  nadmiarowych  w 

bazie  diody,  staje  się  porównywalna  z  równowagową 

koncentracją nopśników większościowych  

 

 

Rezystancja  szeregowa  diody

  –  składa  się  na  nią  rezystancja 

obszarów  neutralnych  półprzewodnika,  głównie  bazy, 

rezystancja 

styków 

metal 

– 

półprzewodnik, 

oraz 

doprowadzeń  metalowych.  Największą  wartość  przyjmuje 

rezystancja  półprzewodnika.  Rezystancję  szeregową  należy 

uwzględnić  w  charakterystykach  statycznych  i  modelu 

małosygnałowym:  

 

 

Dla przypadku stałoprądowego:rys to dioda i rs... 

dla małego sygnału: 

 

Procesy  generacji  i  rekombinacji  w  warstwie  zaporowej

  .  W 

rzeczywistości przy polaryzacji zaporowej duże znaczenie ma 

generacja  nośników  w  warstwie  zaporowej.  Powstaje  p

rąd 

generacyjny

  i

G

  ,  dla  Si  jest  on  znacznie  większy  niż  I

S

  (  dla 

300K  i

G

    10

3

  I

S

  ).  Prąd  generacyjny  decyduje  o 

prądzie 

wstecznym

  diody  i  zależy  od  napięcia  tak  jak  szerokość 

warstwy zaporowej d(u). Zależy  

też od koncentracji samoistnej n

i

  

 

 

Dla  kierunku  przewodzenia  w  obszarze  bariery,  część 

przelatujących  nośników  rekombinuje.  Powstaje  dodatkowa 

składowa prądu, tzw. 

prąd rekombinacyjny

 ( m należy <1;2>): 

 

Przebicie  złącza 

–  zwiększanie  napięcia  wstecznego  na 

diodzie    powoduje  wzrost  prądu  wstecznego.  Przy  pewnej 

wartości  napięcia  wstecznego  niewielkie  zmiany  napięcia 

powodują  znaczny  wzrost  prądu  obszar  (zakres)  przebicia 

złącza. 

Zjawisko  Zenera

  –  ma  miejsce  w  złączach  o  silnie 

domieszkowanej  bazie,  zachodzi  przy  natężeniu  pola 

elektrycznego  E   10

6

V/  cm  oraz  małej  grubości  warsty 

opróżnionej  (typowo  poniżej  4V).  Zachodzi  bezpośrednie 

przechodzenie  nośników,  np.  dziur  z  pasma  podstawiowego 

w  obszarze  n  do  pasma  przewodnictwa  w  obszarze  p,  przez 

barierę  energetyczną,  którą  jest  warstwa  zaporowa.  Jest  to 

tzw. efekt tunelowy. 

zjawisko  jonizacji  zderzeniowej

  –  występuje  dla  złącz  słabiej 

domieszkowanych,  zachodzi  przy  mniejszych  natężeniach 

pola  ale  grubszych  warstwach  opróżnionych,(  typowo 

zachodzi  powyżej  10V).  Dla  odpowiednio  dużego  napięcia 

przechodzi w powielanie lawinowe. 

i

W

- prąd wsteczny w zakresie powielania lawinowego 

Iw=M*i0 

 

 

14. Omówić wpływ temperatury na właściwości diody 

- charakterystyka wsteczna 

 

β

Z

<0 – ef. Zenera; βZ>0 – ef. Lawinowy; βZ≈0 – dla u = 4÷6V 

≈8%K

-1 

≈16%k

 

- kierunek przewodzenia 

 

 

 

Dopuszczalna temperatura złącza: 

 

15.  Omówić  zakresy  i  konfiguracje  pracy  tranzystora 

bipolarnego (BJT).  

Zakresy pracy: 

aktywny  normalny  –  złącze  emiterowe  spolaryzowane 

przewodząco, a kolektorowe zaporowo 

nasycenia – E i C przewodząco 

odcięcia – oba  zaporowo 

aktywny inwersyjny – E zaporowo C przewodzaco 

Konfiguracje 

pracy 

jednoznacznie 

definiują 

sposób 

połączenia końcówek z układami zewnętrznymi: wejściowym 

(sterującym)  i  wyjściowym  (sterowanym).  W  nazwie 

konfiguracji jest informacja o końcówce wspólnej dla wejścia 

i  wyjścia.  Znaki  napięć  są  określone  przez  typ  tranzystora 

(npn, pnp).(WB WC WE) 

 

 

16.  Omówić  zasadę  działania  idealnego  BJT  w  zakresie 

aktywnym normalnym. 

Zakres aktywny normalny

 – złącze emiterowe spolaryzowane 

przewodząco, kolektorowe zaporowo.  

W  tranzystorze  npn  spolaryzowanym  przewodząco  złącze 

emiterowe  wstrzykuje  do  bazy  nadmiarowe  elektrony,  te 

przemieszczają  się  w  stronę  złącza  kolektorowego  i  po 

przejściu  przez  warstwę  zaporową  docierają  do  kolektora. 

Baza jest „linią transmisyjną”, przez którą płyną nośniki. Aby 

ten  przepływ  był  związany  z  możliwie  małymi  stratami  na 

rekombinację,  obszar  bazy  powinien  być  „krótki”  w  sensie 

używanym dla złącza pn. 

17. Co to jest model Ebersa-Molla (postać i przeznaczenie) 

Model  ten  jest  słuszny  dla  dowolnego  zakresu  pracy. 

Umożliwia  uzyskanie  charakterystyk  statycznych  dla 

dowolnego zakresu pracy.  

W  pierwszej  wersji  modelu  (injekcyjny)  zakłada  się,  że  prąd 

każdego  złącza  stanowi  superpozycję  prądu  własnego  oraz 

prądu zbieranego, wstrzykniętego przez drugie złącze. 

 

 iew icw - prądy własne  

 

N

  –  zwarciowy  współczynnik  wzmocnienia  prądowego  dla 

zakresu aktywnego normalnego, i dla inwersyjnego 

 

 

Pełna postać modelu: 

 

 

Druga  wersja  modelu  może  być  zapisana,  jako  równania 

admitancyjne,  w  których  prąd  emitera  i  kolektora 

uzależnione są od napięć na złączach: 

 

 

 

 

Z równania i

C

=... wynika postać charakterystyki przenoszenia: 

 

18.  Omówić  małosygnałowy  model  BJT  dla  m.cz.  w 

konfiguracji WB i WE. 

Modele  te  dotyczą  zakresu  aktywnego  normalnego,  są 

słuszne dla m.cz.: 

Konfiguracja WB: 

 

Dla obwodu wejściowego: 

 

gdzie: 

 

 

Więc: 

 

Prąd  emitera  w  zakresie  jest  ujemny,  więc  konduktancja  g

eb 

jest dodatnia. 

Z  charakterystyki  przenoszenia  i

C

(i

E

)=  -   i

E

  +I

CB0 

wynika,  że  w 

obwodzie  wejściowym  występuje  generator  prądowy  o 

wydajności   sterowany prądem wejściowym :Ic=-alfa *Ie 
 

 

 Transkonduktancja g

m

 jest zdefiniowana jako 

 i 

 

Między g

m

 i g

eb

 zachodzi zależność : g

m

=g

be

 *   

Schemat zastępczy : 

 

Konfiguracja WE: 

Dla obwodu wejściowego  

 

konduktancja wejściowa g

be

 jest zdefiniowana 

 

 

 

Dla obwodu wyjściowego : 

 

 

oraz 

 

Transkonduktancja  g

m

  zdefiniowana  jest  tak  jak  dla  układu 

WB. Zachodzi związek : g

m

=  * g

be 

Schemat

 

zastępczy : 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

20. Co wiesz na temat parametrów czwórnikowych BJT 

 

Impedancyjne  –  mierzone  w  warunkach  rozwarcia  wejścia 

lub wyjścia. 

 

lub 

 

Admitancyjne – mierzone przy zwarciu wejścia lub wyjścia 

 

lub 

 

 

 

Hybrydowe  –  mierzone  przy  rozwarciu  wejścia  lub  zwarciu 

wyjścia 

 

 

 

 

 

 

 

21. Co to jest tranzystor rzeczywisty? 

W  tranzystorze  rzeczywistym  uwzględnia  się  wpływ  zjawisk 

drugorzędnych,  nieuwzględnionych  w  analizie  tranzystora 

idealnego. 

Rezystancje szeregowe

.Rezystywność obszarów neutralnych 

powoduje 

powstanie 

rezystancji 

szeregowych 

(rozproszonych),  które  występują  między  końcówkami 

tranzystora idealnego a rzeczywistego.  

Największe  znaczenie  ma  rezystancja  szeregowa  bazy  r

b

  , 

która zależy od szerokości bazy. Im mniejsza szerokość bazy 

tym większa rezystancja. Nie jest liniowa. Wartości zawierają 

się w rzędzie od kilkunastu – kilkuset   .  

Rezystancja szeregowa kolektora (r

c

)  Wartości są rzędu kilku 

 . 

Rezystancja  szeregowa  emitera  przyjmuje  najmniejsze 

wartości  gdyż  jest  to  obszar  silnie  domieszkowany  o 

niewielkiej grubości. Wartość jest rzędu ułamka   .  

Małe gęstości prądu. 

Występuje  zjawisko  rekombinacji  w  złaczu  przewodzącym  ( 

złącze E-B – jak takie piwko). 

 

 

 

 

Duże gęstości prądu. 

Przy  wzroście  prądu  kolektora  w  zakresie  dużych  prądów 

maleje  współczynnik    oraz  częstotliwość  f

T

  –  właściwości 

użytkowe stają się gorsze. Występuje : 

- modulacja konduktywności bazy 

- rozszerzanie bazy (efekt Kirke’a) 

- quasi nasycenie  

- samo-nagrzewanie 

- zagęszczanie prądu emitera  

 

 

 

Prądy zerowe. 

Są  to  prądy  płynące  przez  tranzystor  włączony  w  układzie 

dwójnika,  tzn.  przy  polaryzacji  2  końcówek,  bez  oddzielnej 

polaryzacji końcówki 3-ej. 

 

O – rozwarcie 

S – zwarcie 

R – rezystor 

Przykłady: 

 

 

 

22. Co wiesz na temat zjawisk przebicia w BJT? 

Wartości napięcia przebicia obu złączy zależą od konfiguracji 

pracy,  sposobu  włączenia  zacisku  sterującego  oraz  od 

wartości  prądu  sterującego.  Najważniejsze  katalogowe 

parametry  charakterystyczne  dotyczą  rozwarcia  elektrody 

sterującej. 

Konfiguracja WB: 

i

E

=0 

dla  złącza  kolektorowego  (przebicie  lawinowe  U

CB0

  - 

kilkadziesiąt – kilkaset voltów) 

 

dla złącza emiterowego (przebicie Zenera U

EB0

 – do 10V) 

 

i

E  

 

 

       

 

M – współczynnik powielania lawinowego 

Wniosek:  napięcie  przebicia  nie  zależy  od  prądu  emitera  i 

U

BR

=U

CB0 

Konfiguracja WE: 

Napięcia przebicia w tej konfiguracji są mniejsze niż w WB 

dla rozwartej bazy: i

B

=0 

 

 

stąd: 

  

dla i

B  

 

 

background image

23. Wyjaśnić efekt Early’ego. 

Dla  zakresu  aktywnego  normalnego  ważna  jest  warstwa 

opróżniona  złącza  kolektorowego  spolaryzowana  zaporowo. 

Wnika  ona  w  słabiej  domieszkowany  obszar,  a  wnikając  w 

nierównomiernie  domieszkowany  obszar  bazy,  napotyka  na 

półprzewodnik  coraz  silniej  domieszkowany.  Jest  to  tzw. 

zjawisko Early’ego

 

Efekt  ten  powoduje,  że  w  zależnosciach  statycznych  prąd 

kolektora  oraz  bazy  ,  jak  również  współczynnik    zależą  od 

napięcia  kolektor  –  emiter.  Statyczna  charakterystyka 

wyjściowa  z  uwzględnieniem  efektu  Early’ego  dla  zakresu 

aktywnego normalnego (z pominięciem I

CE0

): 

 

24. Omówić charakterystyki statyczne BJT 

 

Charakterystyki  statyczne  przedstawiają  zależności  między 

prądami:  I

E

  ,  I

C

  ,  I

B

  i  napięciami:  U

BE

  U

CE

  ,  U

CB

  ,  stałymi  lub 

wolno  zmiennymi.  Rozróżnia  się  charakterystyki:  wyjściowe, 

wejściowe, prądowe (przejściowe) i sprzężenia zwrotnego. 

Charakterystyki wyjściowe przedstawiają związek między I

C

 i 

U

CE

. Przebieg ich zależy od I

B

 , który jest parametrem rodziny 

krzywych.  Na  charakterystykach  wyjściowych  można 

wyróżnić  kilka  zakresów  związanych  z  polaryzacją  złączy 

emiter-baza  i  kolektor-baza.  Najczęściej  wykorzystuje  się 

zakres  aktywny,  w  którym  złącze  emiter-baza  jest 

spolaryzowany  w  kierunku  przewodzenia  (potencjał  bazy 

wyższy  od  potencjału  emitera),  zaś  złącze  kolektor-baza  w 

kierunku  wstecznym  (potencjał  kolektora  wyższy  od 

potencjału bazy). Tranzystor ma właściwości wzmacniające. 

Prądy  zerowe  tranzystora  wynikają  z  prądów  wstecznych 

złączy  kolektorowego  i  emiterowego.  W  tranzystorach 

krzemowych małej mocy jest on rzędu Na 

25. Zdefiniować obszar bezpiecznej pracy BJT (SOA) 

 

Jest  to  obszar  wyróżniony  przez  dopuszczalne  parametry 

katalogowe: 

- moc admisyjna P

- prąd max. I

Cmax 

- Prąd zerowy I

CE0 

- Napięcie max. U

CE0 

- Napięcie nasycenia U

CESat 

26. Omówić wpływ temperatury na właściwości BJT 

 

gdzie: 

 

oraz: 

 

gdzie: 

 

Temperatura wpływa na prądy zerowe: 

 

czyli: 

 

oraz: 

 

czyli  dwukrotny  wzrost  I

CB0

  przy  wzroście  temp  o  każde 

10

0

C!!! 

- wpływ temp. na współczynnik   (od ułamka do ok. 1 %/ K ). 

 

 

- wpływ temp na napięcie przebicia 

 

28.  Wyjaśnić  pojęcia:  tranzystor  z  kanałem  wbudowanym, 

tranzystor  pracujący  ze  zubożaniem,  tranzystor  normalnie 

wyłączony, tranzystor z kanałem n, napięcie progowe. 

tranzystor  z  kanałem  wbudowanym

  –  kanał  istnieje  w 

postaci wbudowanej warstwy półprzewodnika o przeciwnym 

typie przewodnictwa niż podłoże; 

tranzystor  pracujący  ze  zubożaniem

  (depletion  mode)  – 

płynie  w  nim  prąd  przy  napięciu  u

GS

=0;  może  to  być 

tranzystor  z  kanałem  wbudowanym  lub  indukowanym; 

DMOS 

tranzystor normalnie wyłączony

 - nie płynie w nim prąd przy 

napięciu  u

GS

=0;  tranzystor  pracujący  ze  wzbogacaniem  ( 

enhancemnet  mode);  może  to  być  tylko  tranzystor  z 

kanałem indukowanym; EMOS 

tranzystor z kanałem n 

– przewodnictwo typu n w kanale; 

napięcie  progowe  (threshold  voltage,  U

p

)

  –  określa  sytuację 

kiedy  powstaje  kanał  i  zaczyna  płynąć  prąd  drenu;  napięcie 

bramka  –  źródło  (u

GS

)  przy  którym  koncentracja  nośników 

mniejszościowych  pod  elektrodą  bramki  jest  równa 

równowagowej  koncentracji  nośników  większościowych  w 

podłożu; 

 

30.  Omówić  wpływ  temperatury  na  charakterystyki 

tranzystora MOS. 

Temperatura wpływa na parametr materiałowy B. Wynika to 

z zależności tego parametru od ruchliwości   (T). Wpływa to 

więc na charakterystyki wyjściowe: 

 

Wartość 

  wynika  z  wpływu  międzypowierzchni  na 

mechanizm rozpraszania nośników. 

Napięcie progowe zależy liniowo od temperatury: 

 

W  zakresie  małych  prądów  drenu  przy  ustalonym  napięciu 

u

GS

 prąd drenu rośnie przy wzroście temperatury, natomiast 

w  zakresie  dużych  prądów  –  maleje.  Istnieje  punkt 

autokompresji  termicznej,  w  którym  temperatura  nie 

wpływa  na  prąd  drenu.  Malenie  prądu  drenu  przy  wzroście 

temperatury  widoczne  dla  dużych  prądów,  jest  bardzo 

korzystną cechą tranzystora MOS. 

Jak  tworzy  się  model  małosygnałowy  tranzystora  MOS  – 

narysować taki model dla m.cz. sygnału. 

W  przypadku  modelu  m.cz,  model  małosygnałowy 

tranzystora  MOS  (sposób  tworzenia  w  pytaniu  3  o 

elementach  półprzewodnikowych)  należy  uzupełnić  o 

pojemności: 

- pojemność bramki: Cg 

- poj. Warstwy opróżnionej dren – podłoże: Cdb 

- pojemności pasożytnicze wynikające z nakładki powierzchni 

bramki nad źródło i dren: C

gse

, C

gde 

 

 

 

 

31. Jakie  dodatkowe  efekty  i w  jaki  sposób  uwzględnia  się 

w modelu rzeczywistego tranzystora MOS. 

Modulacja ruchliwości nośników – nośniki poruszające się w 

stronę  drenu  zderzają  się  z  międzypowierzchnią  Si-SiO

2

,  co 

wpływa  na  ich  ruchliwość;  na  częstość  zderzeń  wpływa 

napięcie  u

GS

  decydujące  o  polu  elektrycznym  poprzecznym 

do  kanału; modyfikuje  się  charakterystyki  statyczne  poprzez 

zmianę parametru B (zastąpienie   

przez   ); uwzględniając 

wpływ u

GS 

na ruchliwość mamy (  - parametr modelu): 

 

Modulacja  długości  kanału  (zakres  pentodowy)  –  w  zakresie 

pentodowym w tranzystorze idealnym kanał jest odcięty przy 

drenie;  w  tranzystorze  rzeczywistym  odcięcie  nie  jest 

punktowe  –  przy  wzroście  napięcia  u

DS

  odcięcie  kanału  ma 

miejsce  na  coraz  większym  odcinku;  występuje  więc 

modulacja napięciowa długości kanału – w miarę wzrosty u

DS

 

maleje  rezystancja  kanału,  więc  prąd  drenu  rośnie  (   - 

parametr  modelu,  1/   -  sens  tak  jak  napięcie  Early’ego  w 

BJT): 

 

Praca  w  zakresie  podprogowym  (odcięcia)  –  założono  że  w 

zakresie  odcięcia  prąd  drenu  nie  płynie;  w  rzeczywistości 

przy braku kanału między drenem i podłożem istnieje  złącze 

pn spolaryzowane zaporowo (drugie złącze podłoże – źródło 

jest  zwarte);  płynie  więc  prąd  drenu  o  wartości  zbliżonej  do 

prądu wstecznego złącza; prąd ten silnie rośnie przy wzroście 

temperatury; 

W  tranzystorze  rzeczywistym  może  wystąpić  przebicie 

zaporowo  spolaryzowanego  złącza  pn  dren  podłoże.Z 

powodu  charakteru  domieszkowania  podłoża  przebicie  ma 

charakter lawinowy. W katalogu określa się to napięcie przy 

określonym napięciu bramki np. u

GS

=0. 

Przebicie  między  bramką  a  podłożem  to  przebicie  warstwy 

izolatora,  gdy  natężenie  pola  elektrycznego  w  izolatorze 

osiąga  krytyczną  wartość.  Występuje  przy  kilkudziesięciu 

voltach,  przeważnie  niszczy  strukturę(w  izolatorze  powstają 

kanaliki zwierające bramkę i podłoże).