Cw 27macie2j, TRANSPORT, SEMESTR VI, ELEKTRONIKA II, elektonika 2 lab(1), Cw 27


1.Charakterystyka przejściowa bramki NAND

W celu uzyskania charakterystyki przejściowej branki NAND realizowanej w technice tranzystorowo - tranzystorowej należało dokonać serii pomiarów. Pomiary polegały na podaniu napięcia wejściowego z generatora następnie należało odczytać napięcie wejściowe i napięcie wyjściowe. W ten sposób mogliśmy zaobserwować jaki wpływ na napięcie wyjściowe mają tranzystory. Wyniki przedstawiam w tabeli oraz na wykresie poniżej.

DC [V]

UIN [V]

UOUT [V]

0x08 graphic

0

0,05309

4,69

0,1

0,15186

4,68

0,2

0,25064

4,68

0,3

0,349421

4,686

0,4

0,448196

4,686

0,5

0,546958

4,66

0,6

0,645685

4,58

0,7

0,744397

4,437

0,8

0,843105

4,166

0,9

0,941812

3,857

1,0

1,04

3,544

1,1

1,139

3,23

1,2

1,237

2,893

1,3

1,336

2,177

1,31

1,346

2,018

1,32

1,356

1,832

1,33

1,366

1,616

1,34

1,375

1,37

1,35

1,385

1,091

1,36

1,395

0,76348

1,37

1,40

0,26827

1,38

1,409

0,005843

1,39

1,415

0,005877

1,4

1,421

0,00591

1,5

1,475

0,00626

2,0

1,835

0,00734

3,0

2,829

0,007389

4,0

3,823

0,007432

5,0

4,817

0,007475

2. Charakterystykę zmian prądu zasilającego bramkę NAND

Druga część ćwiczenia miała na celu uzyskanie charakterystyki zmian prądu bramki NAND TTL. W tym celu dokonaliśmy serii pomiarów napięcia na wejściu bramki podając napięcie z generatora oraz prąd Icc. Wyniki pomiarów i uzyskana charakterystyka przedstawione są poniżej.

DC[V]

UIN [V]

ICC [mA]

0

0,05309

1,06

0,1

0,15187

1,37

0,2

0,25064

1,012

0,3

0,34942

0,98844

0,4

0,4482

0,96458

0,5

0,54695

0,95551

0,6

0,64569

0,9893

0,7

0,7444

1,043

0,9

0,84311

1,104

1

0,94181

1,169

1,1

1,04

0x08 graphic
1,235

1,2

1,139

1,311

1,3

1,237

1,685

1,31

1,247

1,829

1,32

1,257

2,031

1,33

1,267

2,313

1,34

1,277

2,708

1,35

1,287

3,254

1,36

1,297

4

1,37

1,306

5

1,38

1,316

6,332

1,39

1,362

8,044

1,4

1,336

10,198

1,41

1,346

12,84

1,42

1,356

15,999

1,43

1,366

19,686

1,44

1,375

23,893

1,45

1,385

28,602

1,46

1,395

33,767

1,47

1,405

39,209

1,48

1,409

3,73

1,5

1,475

3,73

2

1,835

3,678

3

2,829

3,676

4

3,823

3,674

5

4,817

3,672

3.Charakterystyka wejściowa

Trzecia część ćwiczenia miała na celu uzyskanie charakterystyki wejściowej bramki NAND TTL. W tym celu dokonaliśmy serii pomiarów napięcia i prądu na wejściu bramki podając napięcie z generatora. Wyniki pomiarów i uzyskana charakterystyka przedstawione są poniżej.

DC[V]

Iwe(mA)

Uwe (mV)

0

-1,061

53,092

0,1

-1,037

151,868

0,2

-1,012

250,644

0,3

-0,98842

349,421

0,4

-0,96393

444,196

0,5

-0,93917

546,958

0,6

-0,91371

645,685

0,7

-0,88796

744,397

0,8

-0,86215

843,105

0,9

-0,83624

941,812

1

-0,81034

1040

1,1

-0,78442

1139

1,2

-758412

1237

1,3

-0,73037

1336

1,4

-0,42579

1421

1,41

-0,34149

1427

1,42

-0,25499

1437

1,43

-0,16655

1438

1,44

-0,07644

1443

1,45

-0,01514

1449

0x08 graphic

4.Wnioski

Charakterystyki przejściowa i wyjściowa uzyskane przez nas podczas symulacji komputerowej w programie TINA są zbliżone do charakterystyk teoretycznych. Badając charakterystykę przejściową zauważam Pewne różnice które mogą wynikać z rozbieżności budowy bramek i symulacji komputerowych. Przebieg zachował swoje charakterystyczne punkty X i Z, chociaż względem osi OY charakterystyka przejściowa przesunęła się ku górze o ok. 0,5 [V] w stosunku do charakterystyki teoretycznej. Nachylenie przebiegu za punktem Z nie jest tak strome jak w przypadku przebiegu teoretycznego. Na wykresie zmian prądu zasilającego widać wyraźną igłę prądową dla natężenia z przedziału 1,4-1,5 V. Na końcu dokonaliśmy pomiaru charakterystyki wejściowej której kształt również jest bardzo podobny do kształtu teoretycznego z literatury. Podsumowując wykonanie dobrze znanych przebiegów potwierdza zalety stosowania symulacji komputerowych w budowie układów elektronicznych. Jednocześnie zwraca to uwagę na różnice w działaniu modelu komputerowego i układu rzeczywistego.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Cw 27maciej, TRANSPORT, SEMESTR VI, ELEKTRONIKA II, elektonika 2 lab(1), Cw 27
Ćwiczenie 30 - notatki, TRANSPORT, SEMESTR VI, ELEKTRONIKA II, elektonika 2 lab(1), Cw 30
Ćwiczenie 30, TRANSPORT, SEMESTR VI, ELEKTRONIKA II, elektonika 2 lab(1), Cw 30
Ćw. 8, TRANSPORT, SEMESTR VI, ELEKTRONIKA II, elektonika 2 lab(1), CW8
Ćw. 8moje, TRANSPORT, SEMESTR VI, ELEKTRONIKA II, elektonika 2 lab(1), CW8
Ćwiczenie 29 - notatki, TRANSPORT, SEMESTR VI, ELEKTRONIKA II, elektonika 2 lab(1), Cw 29
sprwko 27 moje, TRANSPORT, SEMESTR VI, ELEKTRONIKA II, elektonika 2 lab(1), Cw 27
cw7teor, TRANSPORT, SEMESTR VI, ELEKTRONIKA II, elektonika 2 lab(1), cw7
sprawkomoje 8 do dokończenia, TRANSPORT, SEMESTR VI, ELEKTRONIKA II, elektonika 2 lab(1), CW8
Pytania Oprac 31, !Semestr VI, Elektronika II
pytania-odp 30, !Semestr VI, Elektronika II
32pytania, !Semestr VI, Elektronika II
Ćwiczenie 27 - notatki, !Semestr VI, Elektronika II
projekt-Kołodyński, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Technologia Prac Ładunko
Pomiary dlugosci, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Technoka Pomiarowa Laborat
Charakterystyki dynamiczne, Politechnika Warszawska Wydział Transportu, Semestr VI, Technoka Pomiaro
projekt lacza DWDM Niedzwiedz, TRANSPORT, SEMESTR VI, EST, projekty, projekty

więcej podobnych podstron